视觉算法模块与 SDK 开发服务
面向设备制造商、系统集成商和企业研发团队,按任务选择图像处理与测量、激光光点与激光线、红外图像与热成像算法服务。结合原始样本、设备条件、接口和验收要求,明确开发、SDK封装、设备适配与版本维护范围。
按任务选择算法服务
服务范围
视觉算法项目通常同时涉及成像、数据、算法、接口和设备运行环境。服务从客户的检测或测量任务出发,将所需能力组合成可执行方案。
| 客户需求 | 服务内容 | 主要输出 |
|---|---|---|
| 新设备算法开发 | 样本评估、方案设计、算法组合、接口开发与设备联调 | 项目软件、参数配置、接口文档和验证报告 |
| 现有设备优化 | 问题复现、样本分析、参数或算法调整、新旧版本回归 | 优化版本、问题记录、对比结果和升级说明 |
| 算法模块集成 | 输入输出确认、库或程序接入、异常状态和结果格式适配 | 调用接口、示例、状态码和部署说明 |
| 多设备复制部署 | 固定软件与配置、设备许可、安装检查和版本管理 | 许可记录、部署包、设备台账和恢复方案 |
| 持续维护与迭代 | 原场景问题处理、回归测试、受控更新和变更评估 | 维护记录、版本说明和迭代计划 |
重点算法能力
算法能力按企业任务组织。一个项目可组合多个模块,并根据成像、标定、业务规则和运行平台增加项目适配。
| 能力页面 | 适用任务 | 典型输出 | 项目确认重点 |
|---|---|---|---|
| 激光光点定位与光斑分析 | 单点、多点和光斑检测 | 中心坐标、形态参数、质量状态和标定结果 | 波长、曝光、光斑尺度、参考位置和设备平台 |
| 接触角与液滴轮廓分析 | 座滴轮廓、基线和动态过程分析 | 接触角、拟合参数、几何量和接触线状态 | 液滴模型、基线、尺度、试验条件和参考方法 |
| 二维尺寸与轮廓测量 | 边缘、轮廓和二维点集测量 | 位置、尺寸、拟合残差和形状偏差 | 图纸、公差、基准、标定、光学条件和量值参考 |
| 图像配准与相机标定 | 图像对齐、二维映射、标定与去畸变 | 变换矩阵、相机参数、畸变参数和残差 | 坐标系、变换模型、标定板、视场和重标定条件 |
| 图像分割与颗粒分析 | 区域提取、颗粒计数、粘连分离和形态统计 | 掩膜、对象、计数、轮廓、骨架和分布 | 前景定义、标注规则、粘连、边界对象和尺度 |
| 运动时序与过程统计 | 运动估计、趋势、周期、事件和异常评分 | 位移、轨迹、频谱、周期、事件和评分 | 时间戳、采样率、尺度、工况、正常基线和事件定义 |
| 润湿物性与界面参数反演 | 表面能、临界张力、粉末吸液和悬滴计算 | 物性分量、回归结果、残差和状态 | 模型、液体物性、单位、温度、标定和参考方法 |
| 测量重复性与不确定度评估 | 测量系统分析、标定回归和不确定度计算 | 方差分量、区间、回归参数和不确定度 | 试验设计、参考器具、量程、公差和误差模型 |
| 设备授权与持续优化服务 | 首型开发、设备复制、维护和版本升级 | 许可范围、版本台账、维护记录和变更方案 | 设备数量、场景、期限、换机、离线运行和服务范围 |
项目选型方法
- 明确业务结果: 确定需要坐标、尺寸、角度、计数、掩膜、趋势、物性参数还是合格判定,并说明单位和下游用途。
- 提供代表性数据: 提交正常、边界和异常样本,以及视野、分辨率、曝光、工作距离、采样率和现场变化。
- 确定评价方法: 明确参考值、标注规则、样本分层、统计分母和通过阈值。
- 确认运行环境: 说明操作系统、CPU/GPU/NPU、内存、调用语言、接口、并发、设备数量和离线要求。
- 完成样本验证: 在独立数据上检查效果、失败处理、耗时和资源占用,再确定开发和部署范围。
已有设备升级项目还需提供当前软件版本、问题样本、运行日志、相机与光源配置及近期硬件变更记录。
样本验证与性能确认
算法性能与成像条件、样本分布、目标平台和评价口径直接相关。项目采用分阶段验证,使精度、检出率、误报率、处理节拍和稳定性具有明确的适用范围。
| 阶段 | 主要工作 | 客户可获得的结果 |
|---|---|---|
| 数据检查 | 核对原始数据、参考值、异常样本和评价规则 | 输入清单、缺口和验证计划 |
| 样本基线 | 比较算法路线,记录参数、结果和失败条件 | 可行性结论、基线结果和实施建议 |
| 项目开发 | 完成模块组合、接口、配置、状态与日志 | 可运行版本、接口资料和测试记录 |
| 独立数据验收 | 使用未参与调参的数据或约定工位复测 | 指标统计、逐样本结果和验收记录 |
| 设备运行验证 | 检查连续运行、异常恢复、资源与版本管理 | 运行报告、部署说明和回退方案 |
性能指标在项目立项时定义,并与样本范围、硬件配置、软件版本和测试条件一并记录。
112项算法能力目录
下表用于初步技术选型,列出主要输入、可提供的输出及项目确认要点。最终接口字段、单位、阈值、平台和验收标准在项目方案中确定。
F01 液滴轮廓与接触角(9项)
| 编号 | 算法模块 | 常见输入 | 可提供输出 | 项目确认要点 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A01 | 高宽法(θ/2) | 座滴轮廓、接触基线及坐标约定 | 接触角及用于复核的几何量 | 适用球冠近似;不是任意液滴形状模型 |
| ALG-A02 | 代数最小二乘圆拟合 | 座滴轮廓及接触点定义 | 拟合圆参数与接触角 | 整体圆弧假设;需检查重力变形影响 |
| ALG-A03 | 椭圆拟合 | 二维轮廓点 | 椭圆中心、轴长及方向 | 用于输出几何椭圆参数;接触角需结合基线、接触点和角度定义计算 |
| ALG-A04 | 鲁棒局部多项式拟合 | 座滴轮廓、多项式阶数及拟合区间 | 接触点切线与角度 | 拟合区间和基线须按样本确认 |
| ALG-A05 | 平滑三次 B 样条拟合 | 座滴轮廓、控制点与平滑参数 | 平滑轮廓、局部切线与角度 | 平滑不能恢复被遮挡的真实轮廓 |
| ALG-A06 | Young-Laplace / ADSA | 满足轴对称及静力平衡条件的座滴轮廓 | 座滴模型拟合参数及角度 | 座滴模型不自动变为悬滴图像反演产品 |
| ALG-A28 | 轴对称轮廓数值积分 | 轴向与半径轮廓、长度尺度 | 轴对称体积及表面积 | 需轴对称及可靠轮廓;物理量依赖尺度 |
| ALG-A92 | 倾斜基线坐标校正 | 轮廓点、基线端点及图像轴方向 | 校正坐标及变换 | 坐标校正不能修复错误接触点 |
| ALG-A93 | 接触线运动状态识别 | 时间、接触半径、角度及速度门限 | 接触线运动状态与分段 | 状态判定受采样率及阈值限制 |
F02 几何测量与轮廓分析(16项)
| 编号 | 算法模块 | 常见输入 | 可提供输出 | 项目确认要点 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A07 | 总最小二乘直线拟合 | 同一坐标系的二维点集 | 直线方向、位置及拟合残差 | 最小二乘结果不自动排除离群点 |
| ALG-A08 | RANSAC 鲁棒模型估计 | 二维点集、模型类型及内点阈值 | 直线或圆模型、内点与残差 | 模型类型与阈值明确后才能比较结果 |
| ALG-A09 | 霍夫直线检测 | 灰度或边缘图、长度和连接阈值 | 候选线段及位置 | 候选线段不是已识别的产品边缘类别 |
| ALG-A10 | 亚像素梯度卡尺 | 图像、卡尺采样线及边缘极性 | 采样线上的亚像素边缘位置 | 像素位置不直接等于物理尺寸准确度 |
| ALG-A17 | 凸包旋转卡尺法 | 同一坐标系的轮廓点 | 最大及最小Feret径 | 物理尺寸需要尺度标定 |
| ALG-A18 | 法线截面双边缘测宽 | 二值掩膜、中心线及法线采样参数 | 沿中心线的截面宽度 | 不能将二维宽度解释为沟槽深度 |
| ALG-A19 | 符号距离场轮廓偏差分析 | 已配准的参考及观测掩膜 | 符号距离和轮廓偏差 | 配准误差须与形状误差区分 |
| ALG-A29 | 几何正交距离圆拟合 | 二维近圆点集及迭代参数 | 几何距离拟合圆及残差 | 收敛结果受初值、点集质量和离群点比例影响 |
| ALG-A30 | Huber IRLS 鲁棒直线拟合 | 二维点集、迭代及Huber调节参数 | 鲁棒直线及权重信息 | 鲁棒性有适用范围,不能替代样本质量检查 |
| ALG-A34 | Chamfer 距离模板匹配 | 图像及模板边缘 | Chamfer匹配代价及候选位置 | 匹配距离不是类别概率 |
| ALG-A35 | Hu 不变矩轮廓匹配 | 两个二维轮廓及比较方式 | Hu形状差异分数 | 分数不等同于经过校准的识别置信度 |
| ALG-A36 | 傅里叶轮廓描述子 | 有序闭合轮廓、采样数和谐波数 | 傅里叶轮廓描述子 | 描述子不自动提供产品分类标签 |
| ALG-A41 | 三维点集正交平面拟合 | 有物理含义的三维点集 | 平面法向、位置及残差 | 不能从普通二维照片凭空生成三维点 |
| ALG-A45 | 双向 Hausdorff 与 Chamfer 轮廓距离 | 两个同坐标系轮廓 | 双向Hausdorff与Chamfer距离 | 距离阈值须按产品公差和采样定义 |
| ALG-A46 | 最小面积旋转包络矩形 | 二维点集 | 旋转包络矩形、方向与尺寸 | 外包矩形不替代全部尺寸与形位公差 |
| ALG-A99 | 二维最小区域直线度 | 有限二维采样点 | 最小包络平行带宽度及方向 | 不直接构成整套ISO或ASME形位公差检验 |
F03 分割颗粒与图像增强(32项)
| 编号 | 算法模块 | 常见输入 | 可提供输出 | 项目确认要点 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A11 | Otsu 大津阈值分割 | 灰度图、反色及平滑设置 | 全局阈值、二值掩膜 | 需适合全局阈值的灰度分布 |
| ALG-A12 | 连通域标记与筛选 | 二值掩膜、面积下限及连通规则 | 区域列表、面积及位置 | 连通域不能自动区分产品类别 |
| ALG-A13 | 标记控制分水岭 | 图像、前景掩膜或种子参数 | 分水岭区域及标签 | 种子和前景质量决定可分离条件 |
| ALG-A14 | 归一化互相关模板匹配 | 参考模板及待搜索图像 | 匹配分数和候选位置 | 旋转、缩放或透视变化需选择相应配准方法并单独验证 |
| ALG-A15 | Zhang-Suen 骨架细化 | 二值掩膜及迭代上限 | 单像素骨架 | 骨架不自动包含缺陷语义 |
| ALG-A16 | 欧氏距离变换 | 二值掩膜 | 像素距离场 | 二维掩膜距离不等于物理深度 |
| ALG-A27 | U-Net 语义分割 | 合法可用的产品域ONNX权重及预处理定义 | 分割掩膜及接口约定结果 | 项目需提供或训练适用产品类别的模型权重,并确认权重许可和产品域验证 |
| ALG-A43 | 多尺度 LoG 斑点检测 | 图像、多尺度及响应阈值 | 斑点候选中心、尺度及响应 | 候选尺度不直接等于物理粒径 |
| ALG-A44 | DBSCAN 密度聚类 | 点或特征、邻域半径及密度下限 | 聚类标签及噪声点 | 聚类不能自动命名缺陷种类 |
| ALG-A47 | 自适应高斯阈值 | 灰度图、窗口和偏置 | 局部阈值及二值掩膜 | 参数需结合缺陷尺度,不能通用于任意纹理 |
| ALG-A48 | Sauvola 局部阈值 | 灰度图、窗口及局部统计参数 | 局部阈值图与掩膜 | 需独立标注确认,不是无条件缺陷检测 |
| ALG-A49 | 三角阈值分割 | 灰度图及反色设置 | 三角法阈值与掩膜 | 需符合阈值模型的成像分布 |
| ALG-A50 | GrabCut 前景分割 | 彩色图及矩形或初始标签 | 前景标签与掩膜 | 需要初始化,不是产品域语义模型 |
| ALG-A51 | K-means 颜色分割 | 彩色图、颜色空间及聚类数 | 颜色簇标签和相关结果 | 颜色簇不等同于合格与缺陷类别 |
| ALG-A52 | Chan-Vese 水平集 | 灰度图、初始掩膜及演化参数 | 区域掩膜与迭代结果 | 复杂纹理需采用其他方法或组合验证 |
| ALG-A53 | LoG 零交叉边缘 | 灰度图、滤波尺度及对比阈值 | 零交叉边缘 | 边缘响应不自动形成尺寸验收结果 |
| ALG-A54 | Scharr 梯度边缘 | 灰度图及梯度阈值 | 梯度响应与边缘 | 梯度强度不直接对应裂纹深度 |
| ALG-A55 | 多尺度 Top-hat 背景校正 | 图像、多尺度结构元素及目标明暗属性 | 背景校正及多尺度响应 | 处理不能证明目标材料的物理性质 |
| ALG-A56 | CLAHE 局部对比度增强 | 图像、对比限制及网格 | 增强图像 | 增强后的外观变化不是新增测量信息 |
| ALG-A57 | 单尺度 Retinex 照明校正 | 图像及照明尺度 | Retinex校正图与相关结果 | 不恢复被遮挡、饱和丢失的信息 |
| ALG-A58 | 双边滤波 | 图像、邻域及双边权重 | 去噪图像 | 去噪效果须结合测量链评价 |
| ALG-A59 | 非局部均值去噪 | 图像、噪声强度及搜索窗口 | 去噪图像 | 不承诺恢复低于成像分辨能力的结构 |
| ALG-A60 | 形态学重建 | 种子图、约束图及连通规则 | 重建结果及迭代状态 | 种子错误会改变结果,不能替代语义判断 |
| ALG-A61 | 二值孔洞填充 | 二值掩膜及连通规则 | 填孔掩膜和处理结果 | 真实孔洞若是检测目标,不可被预处理抹除 |
| ALG-A62 | 距离场 h-maxima 种子 | 二值掩膜、h值及最小间隔 | 距离场种子及相关结果 | 仅生成分割种子,不代表目标已正确分开 |
| ALG-A63 | 骨架图路径追踪 | 单像素骨架或显式细化选项 | 骨架节点、分支与路径 | 路径追踪不自动区分裂纹、划伤和灰尘 |
| ALG-A64 | 动态规划边界路径 | 二维代价图、路径轴及端点约束 | 约束路径及代价 | 路径依赖代价图,不是通用轮廓真值 |
| ALG-A65 | 灰度重心激光中心线 | 激光线图像、扫描轴及背景参数 | 灰度重心中心线 | 像素中心线不等于已标定三维轮廓 |
| ALG-A66 | Gabor 纹理特征 | 图像、方向与波长滤波参数 | Gabor纹理响应与特征 | 特征提取不自动完成缺陷分类 |
| ALG-A80 | 局部二值模式 LBP 纹理 | 灰度图 | LBP编码及纹理统计 | 编码本身没有缺陷类别含义 |
| ALG-A81 | GLCM 灰度共生矩阵纹理 | 量化灰度图、级数及空间偏移 | 共生矩阵与纹理特征 | 特征阈值需按任务验证 |
| ALG-A82 | 频域高斯陷波去周期条纹 | 图像、条纹频率位置及陷波带宽 | 去周期条纹图像 | 需区分真实重复结构和干扰条纹 |
F04 配准相机与激光几何(10项)
| 编号 | 算法模块 | 常见输入 | 可提供输出 | 项目确认要点 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A20 | Steger 亚像素脊线提取 | 灰度线状图像、尺度及曲率参数 | 亚像素脊线位置与相关响应 | 脊线提取不是已完成的三维扫描系统 |
| ALG-A21 | 激光三角测量 | 相机内外参、激光平面及图像位置 | 射线与标定平面的三维交点 | 必须使用实际设备标定,不能以合成参数交付物理精度 |
| ALG-A31 | 相位相关平移配准 | 具有重叠纹理的参考图与移动图 | 二维平移及相关响应 | 适用于平移估计;旋转或三维姿态需选择相应模型 |
| ALG-A32 | ECC 强度配准 | 重叠图像、运动模型及初值 | 指定二维变换及相关指标 | 依赖初值和图像相似性,项目需设置失败判定 |
| ALG-A33 | ORB 与 RANSAC 单应配准 | 具有足够特征的源图与目标图 | 特征关联及单应变换 | 适用单应关系;不自动覆盖多深度场景 |
| ALG-A37 | 二维刚体 ICP 配准 | 二维点集、接近的初始姿态和修剪参数 | 二维刚体变换及配准残差 | 不是全局配准,也不是三维机器人手眼标定 |
| ALG-A38 | 对应点单应拟合 | 同一平面对应点 | 二维单应矩阵 | 不能将单平面关系替代完整三维标定 |
| ALG-A39 | 多视棋盘格相机标定 | 多视棋盘格图或角点、尺寸和图像规格 | 相机内参、畸变及标定结果 | 装机与镜头状态变化后须复核 |
| ALG-A40 | 图像及点去畸变 | 图像或像素点、相机内参及畸变 | 校正图像或点坐标 | 依赖有效内参,不承诺消除所有光学误差 |
| ALG-A42 | SVD 刚体及相似配准 | 顺序对应的二维点集及尺度选项 | 刚体或相似变换 | 适用于二维对应点;三维配准需建立独立数据与坐标链路 |
F05 运动时序与过程统计(20项)
| 编号 | 算法模块 | 常见输入 | 可提供输出 | 项目确认要点 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A22 | 卡尔曼滤波 | 初始位置、时间步长及噪声设置 | 二维位置及速度状态估计 | 滤波输出不能把无效测量伪装成实测位置 |
| ALG-A23 | 匈牙利匹配 | 代价矩阵与拒配阈值 | 一对一关联及未匹配项 | 关联结果不构成真实身份识别 |
| ALG-A24 | Savitzky-Golay 平滑与求导 | 序列、窗口、阶数、采样间隔及导数阶 | 平滑或导数序列 | 均匀采样和参数合法性须明确 |
| ALG-A25 | Welch 功率谱估计 | 信号、采样率及分段窗口 | 频率和功率谱密度 | 不能用单段谱推断长期设备健康 |
| ALG-A26 | 马氏距离异常检测 | 正常训练特征、正则化与待测特征 | 距离评分及经确认的异常判断 | 需真实正常分布,不是通用缺陷识别器 |
| ALG-A67 | Lucas-Kanade 稀疏光流 | 连续两帧、初始角点及追踪参数 | 稀疏点运动与有效状态 | 光流跟踪不等于跨镜身份关联 |
| ALG-A68 | Farneback 稠密光流 | 连续两帧及光流参数 | 稠密二维位移场 | 图像位移不直接等于三维速度 |
| ALG-A69 | MOG2 背景分离 | 连续帧及背景学习参数 | 前景掩膜 | 前景不是人员、火焰等具体类别 |
| ALG-A70 | 双帧差分运动检测 | 两帧、差分阈值及形态参数 | 运动差分掩膜 | 不能独立判断运动目标类别或危险等级 |
| ALG-A71 | 指数移动平均 EWMA | 数值序列、平滑系数及初值 | EWMA平滑序列 | 平滑不能消除系统漂移 |
| ALG-A72 | Hampel 中值绝对偏差异常滤波 | 数值序列、窗口及MAD阈值 | 离群标记与处理序列 | 替换值不能冒充原始有效测量 |
| ALG-A73 | 双侧 CUSUM 变化检测 | 序列、目标均值、允许偏差及阈值 | 变化统计量及报警候选 | 报警门限和设备处置另行约定 |
| ALG-A74 | 短时傅里叶变换 STFT | 信号、采样率、窗口及步长 | 时频谱 | 采样率不足时不能恢复混叠信息 |
| ALG-A75 | FFT 自相关周期估计 | 序列、采样率及搜索延迟范围 | 周期或频率估计及相关量 | 周期存在不直接证明设备故障类型 |
| ALG-A76 | 动态时间规整 DTW | 两段序列及路径窗口 | DTW距离与对齐路径 | 相似距离不等于真实事件身份 |
| ALG-A77 | 递归最小二乘 RLS | 特征向量、观测值及递归参数 | 在线模型系数与状态 | 需定义模型与数据激励条件 |
| ALG-A78 | Welford 在线均值与协方差 | 维度一致的观测序列 | 在线均值、协方差及计数 | 统计量不自动给出过程合格判定 |
| ALG-A79 | PCA 重建残差异常评分 | 正常样本、特征标准化和主成分数 | 重建残差异常分数 | 需建立正常基准,不是通用故障诊断 |
| ALG-A83 | 短时 RMS 包络 | 信号、窗口及步长 | 短时RMS包络 | 物理单位依赖输入标定 |
| ALG-A84 | 一维峰值显著度检测 | 一维序列、显著度及最小间隔 | 峰位置与峰值相关量 | 峰不能自动命名为缺陷事件 |
F06 润湿物性反演(7项)
| 编号 | 算法模块 | 常见输入 | 可提供输出 | 项目确认要点 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A85 | OWRK 固体表面能反演 | 多探针液接触角与分量物性 | OWRK固体表面能分量 | 需采用一致物性单位及适用表面模型 |
| ALG-A86 | Wu 调和均值表面能反演 | 接触角及探针液分散与极性分量 | Wu表面能分量 | 不从单张未标定图直接推断物性 |
| ALG-A87 | vOCG 酸碱表面能反演 | 接触角及探针液LW与酸碱分量 | vOCG表面能分量 | 探针液组合与模型假设必须明确 |
| ALG-A88 | Zisman 临界表面张力外推 | 系列接触角与液体表面张力 | 临界表面张力外推及拟合 | 外推值不等同于通用固体表面能真值 |
| ALG-A89 | Washburn 粉末吸液接触角 | 时间、吸液质量、材料常数及SI制液体物性 | 粉末吸液接触角及回归量 | 同装填条件校准材料常数;不同约定常数不可混用 |
| ALG-A90 | 悬滴 Young-Laplace 正向积分 | Bond参数、积分弧长与步长 | 无量纲悬滴正向轮廓 | 不是从照片求未知表面张力的完整ADSA |
| ALG-A91 | 悬滴曲率回归张力估计 | 以米计的预平滑半轮廓、密度差和重力 | 曲率回归张力估计 | 高度方向须一致;不是完整非线性ADSA拟合 |
F07 计量统计与不确定度(6项)
| 编号 | 算法模块 | 常见输入 | 可提供输出 | 项目确认要点 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A94 | Bootstrap 百分位置信区间 | 样本、统计函数、置信水平及重采样设置 | 百分位区间及统计结果 | 置信水平设置不等于有限样本的实际覆盖证明 |
| ALG-A95 | 蒙特卡洛测量不确定度传播 | 测量模型、输入均值与协方差、抽样设置 | 模型输出分布及不确定度统计 | 遗漏的系统项不会由抽样自动补全 |
| ALG-A96 | 交叉 ANOVA 量具 R&R | 按零件、操作者、重复次数排列的平衡数据 | 量具R&R及方差分量 | 不自动合并交互项或执行完整显著性检验 |
| ALG-A97 | 加权最小二乘线性标定 | 参考x与测量y及标准不确定度 | 线性标定系数及残差 | 回归残差不是完整设备不确定度 |
| ALG-A98 | Deming 双变量误差回归 | 两变量观测及误差方差比 | Deming回归系数 | 误差方差比需有依据 |
| ALG-A100 | 一阶灵敏度不确定度传播 | 测量模型、均值、协方差及差分步长 | 灵敏度与一阶传播结果 | 强非线性和遗漏系统量需另行评价 |
F08 激光光点分析(12项)
| 编号 | 算法模块 | 常见输入 | 可提供输出 | 项目确认要点 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A101 | 自适应阈值激光点灰度质心 | 灰度帧、ROI、背景及候选筛选参数 | 单个亮点中心、面积和能量相关量 | 物理坐标输出需结合目标相机、镜头和标定数据验证 |
| ALG-A102 | 多激光点连通域候选提取 | 灰度帧、ROI及连通域筛选参数 | 多个亮点候选及其特征 | 接触或重叠亮斑不自动分离 |
| ALG-A103 | 对数二次曲面亚像素光点中心 | 近似高斯光斑、窗口和背景参数 | 对数二次中心及拟合结果 | 强饱和、非高斯和窗口截断可能产生偏差 |
| ALG-A104 | 梯度径向对称光点中心 | 近径向对称光斑及梯度筛选参数 | 径向对称中心及残差 | 需按反射目标形态和成像条件验证定位效果 |
| ALG-A105 | 激光光斑二阶矩与主轴直径 | 线性响应光斑强度、背景及ROI | 质心、二阶矩主次轴直径与方向 | 只实现二阶矩计算,不是完整ISO11146测量系统 |
| ALG-A106 | 激光光斑环围能量直径 | 光斑、中心、能量比例和尺度 | 指定比例的环围能量半径及直径 | 灰度积分不自动转换为瓦特或焦耳 |
| ALG-A107 | 激光点质量与可用性诊断 | 光斑、曝光相关信息及质量限值 | 饱和、截断、轴比等诊断量与限值检查 | 质量门限需设备试验,不是自动验收标准 |
| ALG-A108 | 多激光点参考位一对一匹配 | 同坐标系检测点、参考点和距离上限 | 一对一匹配及遗漏项 | 不估计外参,也不证明目标身份 |
| ALG-A109 | 二维像素到物理坐标多项式标定 | 同平面像素与参考坐标、映射阶数 | 二维映射系数及拟合结果 | 二维经验映射不代替三维标定 |
| ALG-A110 | 激光点标定映射与协方差传播 | 像素点、有效二维标定和像素协方差 | 映射坐标及给定协方差的传播 | 不自动包含标定板、温漂及模型偏差 |
| ALG-A111 | 激光点像素到相机视线角转换 | 像素点、相机内参和畸变 | 相机坐标系单位视线及角度 | 缺少距离信息,不能单独恢复三维点 |
| ALG-A112 | 激光点二维重复性与覆盖椭圆 | 同条件重复二维坐标和覆盖水平 | 均值、协方差、径向RMS及覆盖椭圆 | 二维正态覆盖假设不证明物理准确度或长期稳定 |
从评估到交付
- 需求确认: 明确任务、数据、输出、指标、平台、接口、设备数量和计划时间。
- 样本验证: 固定样本与评价口径,形成算法基线、适用条件和实施范围。
- 开发与联调: 完成算法组合、数据接入、参数配置、异常状态、结果接口和日志。
- 独立验收: 按约定数据或设备工位验证效果、耗时、稳定性和恢复机制。
- 授权与维护: 按设备、场景和版本确定运行许可,持续处理原场景问题与受控升级。
交付内容可包括算法库或程序、调用示例、接口与参数说明、配置或标定文件、测试报告、版本说明和恢复方案。源码、项目专用模型、第三方组件、硬件和新增平台适配在报价中分别确认。
常见问题
如何判断现有算法能否用于我的设备?
先提供原始样本、任务目标、参考结果和设备条件。完成数据检查与样本验证后,可明确可复用能力、需要补充的开发、预期交付物和验收方法。
是否支持Windows、Linux和嵌入式平台?
可根据目标系统、处理器和调用接口评估适配。项目会同时确认依赖、资源、交付形式、安装方式和性能测试条件。
为什么准确率和处理速度需要按项目确认?
指标会随样本难度、图像分辨率、算法组合、硬件和统计口径变化。通过客户样本和目标平台测试,可形成可验收的项目指标。
是否可以按设备数量授权?
可以按客户主体、设备或工位、算法场景、交付版本和期限约定许可。换机、离线运行、恢复和新增设备规则在合同中明确。
后续是否可以持续优化?
可以针对原场景新增样本、误判问题和工况变化进行复现、改进与回归验证。新增产品、硬件或功能按变更范围评估。
提交样本与设备条件,明确开发与交付范围
视觉算法模块与 SDK 开发服务
请说明任务对象、原始图片或视频、目标指标、设备平台、接口和样本情况。
电话:13910119357xuzhiyang0928@gmail.com