Cette direction décompose et explique les produits spécifiques, les tâches de mesure, les entrées d'imagerie, les itinéraires algorithmiques, les sorties proposées et les méthodes d'acceptation, qui peuvent être utilisés pour évaluer les échantillons et les conditions du système avant l'établissement de projets d'entreprise.
Portée de l'industrie :Imagerie microscopie et recherche sur les particules.
Implique la mesure des itinéraires :Position du point lumineux de la surface cible, synchronisation et dérive du point lumineux, étalonnage des coordonnées de commande/surface cible en deux dimensions, migration de l'imagerie des particules ponctuelles, forme du point et distribution relative.
Trajet lumineux confocal·Position du point cible
Décalage du point lumineux de la surface conjuguée
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Microscopie à feuille de lumière · Synchronisation et dérive des points lumineux
Trajectoire centrale du point lumineux incident
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Table de traitement microlaser · Commande bidimensionnelle/étalonnage des coordonnées de la surface cible
Résidus microscopiques de coordonnées XY
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Dispositif expérimental de pincettes optiques · Migration d'imagerie de particules ponctuelles
Trajectoires des microsphères et images manquantes
Développement spécial :Le noyau de mesure/contrôle doit être complété et vérifié conformément à l'approbation du projet spécial.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Plateforme d'observation de particules microfluidiques · Migration d'imagerie de particules en pointillés
Position des particules 2D et nombre de candidats
Développement spécial :Le noyau de mesure/contrôle doit être complété et vérifié conformément à l'approbation du projet spécial.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Tête d'éclairage pour microscope laser · Position du point de la surface cible
Différence centrale avant et après le changement d'objectif
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Plateforme d'échantillons de points fluorescents · Migration d'imagerie de particules de type point
Centre du point et résidu de positionnement
Développement spécial :Le noyau de mesure/contrôle doit être complété et vérifié conformément à l'approbation du projet spécial.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Sonde en microfibre · Forme du spot et répartition relative
Centre du champ proche et largeur de l'axe principal
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Instruments de recherche en microscopie et pincettes optiques : 8 scénarios d'application potentiels des algorithmes de point laser et de point lumineux
Veuillez décrire l'objet de la tâche, l'image ou la vidéo originale, les indicateurs cibles, la plate-forme de l'appareil, l'interface et un exemple de situation.
Téléphone : 13910119357