Papier original du centre de symétrie radiale
Positionnement central sous-pixel de cibles approximativement symétriques radialement
Date de vérification : 2026-10-24
Afficher les informations publiques originales →LSP243 · Instruments de recherche pour microscopes et pinces optiques · Imagerie microscopique et recherche sur les particules
Partiellement réutilisable
Enregistrement bidimensionnel du champ de vision microscopique et du point laser
Face à la plate-forme de traitement microlaser, l'étalonnage des coordonnées de commande/surface cible bidimensionnelle est utilisé comme voie d'observation, et l'erreur résiduelle de la coordonnée microscopique XY est prévue pour être sortie. La page est destinée à l'évaluation du projet et ne signifie pas que le développement est terminé ou a été accepté sur place.
Résumé du jugement du projet
Produit/AppareilTable de traitement microlaser
Mesurer l'itinéraireCAL · Étalonnage bidimensionnel des coordonnées de commande/cible
Classement des capacitésPartiellement réutilisable
Statut de vérificationL'acceptation réelle du domaine machine/produit de ce scénario n'a pas été effectuée
Nature de la scène :Scénarios d’application potentiels similaires pour les spots laser. Le scénario d'application potentiel n'a pas encore été développé en un système de produit complet ; l'acceptation réelle du domaine machine/produit de ce scénario n'a pas été effectuée. La quantité réelle d'acceptation de produit/domaine de produit dans les statistiques du catalogue est de 0.
Tâches commerciales et résultats attendus
- public cible
- Table de traitement microlaser : commande bidimensionnelle/étalonnage des coordonnées de la surface cible
- pseudo-sortie
- Résidus microscopiques de coordonnées XY
- Conditions applicables
- Le grossissement de l'objectif et le verre de protection doivent être fixés
- priorité
- Extension générale. La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Entrée d’imagerie et routage d’algorithme
Conditions d’imagerie et de l’appareil
Couvrez les points correspondants calibrés et les points d'implantation indépendants du champ de vision bidimensionnel, et fixez le chemin optique et le plan de travail. Microscopes, échantillonnages relais et caméras adaptées aux longueurs d'onde
CAL · Étalonnage bidimensionnel des coordonnées de commande/cible
Points correspondants d'étalonnage et points d'implantation indépendants couvrant le champ de vision bidimensionnel, le chemin optique fixe et le plan de travail
- A101Centre de gravité du point laser à seuil adaptatif en niveaux de gris
- A107Diagnostic de qualité et d'utilisabilité du spot laser
- A109Pixel bidimensionnel pour l'étalonnage polynomial des coordonnées physiques
- A110Cartographie d'étalonnage de point laser et propagation de covariance
- A112Répétabilité bidimensionnelle du point laser et ellipse de couverture
Preuves algorithmiques existantes :A101–A112 uniquement par point de synthèse analytique complet et vérification de la géométrie contrôlée ; voir laser_spot_benchmark.json
Capacités actuelles et capacités à compléter
Partiellement réutilisable
Nécessite un calibrage, une synchronisation ou une intégration
Le module frontal de détection de points lumineux ou le module de statistiques de synchronisation peuvent être réutilisés, mais le projet doit encore ajouter un étalonnage géométrique, une synchronisation temporelle, une compensation de mouvement ou une intégration de système d'équipement.
Lacunes dans ce scénario :L'acquisition de l'étalonnage, la définition des coordonnées et la vérification sont nécessaires ; la cartographie empirique bidimensionnelle ne représente aucun étalonnage tridimensionnel ou robotique. Le grossissement de l'objectif et le verre de protection doivent être fixés. Le positionnement des images de particules est une migration d'algorithme et le modèle d'image doit être revérifié.
Écarts au niveau de l'itinéraire :L'acquisition de l'étalonnage, la définition des coordonnées et la vérification sont nécessaires ; la cartographie empirique bidimensionnelle ne représente aucun étalonnage tridimensionnel ou robotique
« Partiellement réutilisable » décrit uniquement le volume relatif de développement et ne constitue pas un engagement quant à l'exactitude, au rythme, à la stabilité ou au délai de livraison.
Méthodes de vérification et conditions préalables à l’acceptation
Séparez les points d'étalonnage et les points d'implantation pour vérifier les erreurs de bord, de va-et-vient, de température et de serrage répétées. Platine à microsphères, règle microscopique et référence de positionnement indépendante
| Articles d'acceptation | Preuves requises pour la confirmation du projet | Statut actuel |
|---|---|---|
| Entrées et échantillons | Cadres originaux de l'appareil réel, échantillons normaux/anormaux, conditions d'exposition et de trajet lumineux, regroupement d'échantillons et mise de côté | Non fourni, en attente de commentaires sur le projet |
| Ampleur et erreur | Valeur de référence indépendante, enregistrement d'étalonnage, calibre statistique d'erreur et seuil de confirmation mutuelle | Non vérifié |
| Exceptions et limites | Traitement anticipé des détections manquées, des fausses détections, des surexpositions, des occlusions, des réflexions, des anomalies de visibilité et de communication. | A définir |
| Intégration du système | Interface, synchronisation temporelle, plateforme de déploiement, tempo, journal, version et enregistrement d'exécution continue | Non intégré |
Sources de preuves et limites des citations
La source prend en charge les principes de mesure ou des applications similaires ; la combinaison de modules, le dispositif et la méthode d'acceptation dans ce scénario sont des dérivations techniques et la vérification du produit n'est pas terminée.
Recherche sur l'étalonnage de position d'une caméra à pince optique
Détection limitée de la position des particules et impact de l'exposition et de l'échantillonnage sur l'étalonnage
Date de vérification : 2026-10-24
Afficher les informations publiques originales →Mesure de petit faisceau Ophir
Conditions optiques dans les mesures de champ proche, de champ lointain et de champ de mode à petits faisceaux
Date de vérification : 2026-10-24
Afficher les informations publiques originales →Portée d'utilisation de la source :Les informations publiques sont utilisées pour étayer le principe de mesure ou l'existence d'applications similaires, et ne prouvent pas que ce scénario a été développé, déployé ou accepté par Jishi Technology.
Consultation de projet
xuzhiyang0928@gmail.com
Soumettre des échantillons et les conditions de l'équipement pour clarifier la portée du développement et de la livraison
Enregistrement bidimensionnel du champ de vision microscopique et du point laser
Veuillez décrire l'objet de la tâche, l'image ou la vidéo originale, les indicateurs cibles, la plate-forme de l'appareil, l'interface et un exemple de situation.
Téléphone : 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com