Algorithme de vision et adaptation de l'appareil·Aperçu des capacités
Module d'algorithme de vision et services de développement SDK
Pour les fabricants d'équipements, les intégrateurs de systèmes et les équipes R&D des entreprises, les services de traitement et de mesure d'images, de points et lignes laser, d'images infrarouges et d'algorithmes d'imagerie thermique peuvent être sélectionnés en fonction des tâches. Combinez les échantillons d'origine, les conditions de l'équipement, les interfaces et les exigences d'acceptation pour clarifier la portée du développement, le packaging du SDK, l'adaptation de l'équipement et la maintenance des versions.
Sélectionnez les services d'algorithme par tâche
Traitement d'images, mesures et analyses expérimentalesAngle de contact des gouttelettes, dimensions 2D, contours, enregistrement, segmentation, synchronisation et évaluation des mesures.Algorithmes pour points et lignes laserLe positionnement des points lumineux, l'analyse des points lumineux, l'étalonnage et les directions de scène d'application potentielles sont évalués en fonction des conditions d'imagerie réelles.Algorithmes d’imagerie infrarouge et thermiqueCorrection des données, analyse des cartes thermiques, détection de cibles, enregistrement multimodal et domaines d'application industriels.
Portée du service
Les projets d’algorithmes de vision impliquent généralement simultanément l’imagerie, les données, les algorithmes, les interfaces et les environnements d’exploitation des appareils. Le service part de la tâche de détection ou de mesure du client et combine les capacités requises dans une solution exécutable.
| Besoins du client | Contenu des services | sortie principale |
|---|---|---|
| Développement d’un nouvel algorithme de périphérique | Évaluation d'échantillons, conception de solutions, combinaison d'algorithmes, développement d'interfaces et débogage conjoint d'équipements | Logiciel de projet, configuration des paramètres, documentation de l'interface et rapport de vérification |
| Optimisation des équipements existants | Récurrence des problèmes, analyse d'échantillons, ajustement de paramètres ou d'algorithmes, régression des anciennes et des nouvelles versions | Version optimisée, enregistrements de problèmes, résultats de comparaison et instructions de mise à niveau |
| Intégration du module d'algorithme | Confirmation des entrées et des sorties, accès à la bibliothèque ou au programme, statut d'exception et adaptation du format des résultats | Interface d'appel, exemples, codes d'état et instructions de déploiement |
| Déploiement de réplication multi-périphériques | Logiciel fixe et configuration, licences d'appareils, vérifications d'installation et gestion des versions | Dossiers de licences, packages de déploiement, registres d'appareils et plans de récupération |
| Maintenance et itération continues | Gestion des problèmes du scénario original, tests de régression, mises à jour contrôlées et évaluation des modifications | Tenir à jour les enregistrements, les notes de version et les plans d'itération |
Capacités algorithmiques clés
Les capacités algorithmiques sont organisées par mission d'entreprise. Un projet peut combiner plusieurs modules et ajouter des adaptations de projet basées sur l'imagerie, l'étalonnage, les règles métier et les plates-formes d'exploitation.
| Page de capacité | Tâches applicables | Sortie typique | Points clés de la confirmation du projet |
|---|---|---|---|
| Positionnement de points laser et analyse de points | Détection monopoint, multipoint et spot lumineux | Coordonnées du centre, paramètres morphologiques, état de qualité et résultats d'étalonnage | Longueur d'onde, exposition, taille du spot, position de référence et plate-forme d'équipement |
| Analyse de l'angle de contact et du profil des gouttelettes | Profil de gouttelettes, analyse de base et analyse de processus dynamique | Angle de contact, paramètres d'ajustement, grandeurs géométriques et état de la ligne de contact | Modèles de gouttelettes, lignes de base, échelles, conditions de test et méthodes de référence |
| Mesure dimensionnelle et de contour 2D | Mesures de bords, de contours et d'ensembles de points 2D | Position, taille, résidus d'ajustement et écarts de forme | Dessins, tolérances, données, étalonnages, conditions optiques et grandeurs de référence |
| Enregistrement d'images et calibrage de la caméra | Alignement d'image, cartographie 2D, calibrage et dédistorsion | Matrice de transformation, paramètres de caméra, paramètres de distorsion et résidus | Système de coordonnées, modèle de transformation, plaque d'étalonnage, champ de vision et conditions de réétalonnage |
| Segmentation d'images et analyse de particules | Extraction de régions, comptage de particules, séparation d'adhésion et statistiques morphologiques | Masques, objets, comptes, contours, squelettes et distributions | Définition du premier plan, règles d'annotation, colle, objets de contour et échelles |
| Synchronisation des mouvements et statistiques de processus | Estimations de mouvements, tendances, cycles, événements et notation des anomalies | Déplacements, trajectoires, spectres, périodes, événements et scores | Horodatage, taux d'échantillonnage, échelle, conditions de fonctionnement, référence normale et définition des événements |
| Propriétés physiques de mouillage et inversion des paramètres d'interface | Calculs d'énergie de surface, de tension critique, d'imbibition de poudre et de chute suspendue | Composantes des propriétés physiques, résultats de régression, résidus et statut | Modèles, propriétés des liquides, unités, températures, méthodes d'étalonnage et de référence |
| Répétabilité des mesures et évaluation de l'incertitude | Analyse du système de mesure, régression d'étalonnage et calcul d'incertitude | Composantes de variance, intervalles, paramètres de régression et incertitude | Conception d'expériences, d'équipements de référence, de plages de mesure, de tolérances et de modèles d'erreurs |
| Services d’autorisation d’équipement et d’optimisation continue | Développement des premiers prototypes, duplication des équipements, maintenance et montées de versions | Portée de la licence, registre des versions, enregistrements de maintenance et plans de modification | Nombre d'appareils, scénarios, délais, remplacement, fonctionnement hors ligne et étendue du service |
Méthode de sélection des projets
- Définir les résultats commerciaux : Déterminez si des coordonnées, des dimensions, des angles, des décomptes, des masques, des tendances, des paramètres physiques ou un jugement sont nécessaires, et décrivez les unités et les utilisations en aval.
- Fournissez des données représentatives : Soumettez des échantillons normaux, limites et anormaux, ainsi que le champ de vision, la résolution, l'exposition, la distance de travail, la fréquence d'échantillonnage et les variations de champ.
- Déterminez la méthode d’évaluation : Clarifier les valeurs de référence, les règles d'étiquetage, la stratification des échantillons, les dénominateurs statistiques et les seuils de réussite.
- Confirmez l'environnement d'exploitation : Décrivez le système d'exploitation, CPU/GPU/NPU, la mémoire, la langue d'appel, l'interface, la concurrence, le nombre d'appareils et les exigences hors ligne.
- Vérification complète de l'échantillon : Vérifiez l'effet, la gestion des échecs, la consommation de temps et l'utilisation des ressources sur des données indépendantes, puis déterminez la portée du développement et du déploiement.
Les projets de mise à niveau d'équipement existants doivent également fournir la version actuelle du logiciel, des exemples de problèmes, des journaux d'opérations, des configurations de caméras et de sources lumineuses, ainsi que des enregistrements de modifications matérielles récentes.
Vérification des échantillons et confirmation des performances
Les performances de l'algorithme sont directement liées aux conditions d'imagerie, à la distribution des échantillons, à la plate-forme cible et au calibre d'évaluation. Le projet adopte une vérification progressive, de sorte que la précision, le taux de détection, le taux de fausses alarmes, le rythme de traitement et la stabilité aient un champ d'application clair.
| scène | travail principal | Résultats disponibles pour les clients |
|---|---|---|
| Vérification des données | Vérifiez les données originales, les valeurs de référence, les échantillons anormaux et les règles d'évaluation | Entrez la liste de contrôle, les lacunes et le plan de vérification |
| exemple de référence | Comparez les itinéraires des algorithmes et enregistrez les paramètres, les résultats et les conditions de défaillance | Conclusions de faisabilité, résultats de base et recommandations de mise en œuvre |
| développement de projet | Combinaison complète de modules, interface, configuration, état et journal | Version exécutable, informations sur l'interface et enregistrements de test |
| Acceptation indépendante des données | Utiliser des données qui n'ont pas participé au réglage des paramètres ou à un nouveau test sur un poste de travail convenu | Statistiques des indicateurs, résultats échantillon par échantillon et enregistrements d'acceptation |
| Vérification du fonctionnement des équipements | Vérifier le fonctionnement continu, la récupération des exceptions, la gestion des ressources et des versions | Exécutez des rapports, des instructions de déploiement et des scénarios de secours |
Les mesures de performances sont définies au lancement du projet et documentées avec la plage d'échantillons, la configuration matérielle, la version du logiciel et les conditions de test.
112 Catalogue de capacités d'algorithme
Le tableau ci-dessous est utilisé pour la sélection préliminaire des technologies et répertorie les principaux intrants, les résultats disponibles et les points de confirmation du projet. Les champs d'interface finaux, les unités, les seuils, les plates-formes et les critères d'acceptation sont déterminés dans le plan du projet.
F01 Profil de gouttelette et angle de contact (9 éléments)
| numéro de série | Module algorithme | Entrées communes | Sortie disponible | Points de confirmation du projet |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A01 | Méthode hauteur-largeur (θ/2) | Contour des gouttelettes, ligne de base du contact et convention de coordonnées | Angle de contact et grandeurs géométriques utilisées pour l'examen | Le rapprochement de la calotte sphérique s'applique ; modèle de forme de goutte non arbitraire |
| ALG-A02 | Ajustement du cercle des moindres carrés algébriques | Aperçu de la chute du siège et définition du point de contact | Paramètres du cercle d'ajustement et angle de contact | Hypothèse globale d’arc ; nécessité de vérifier l'influence de la déformation gravitationnelle |
| ALG-A03 | Raccord elliptique | Points de contour 2D | Centre de l'ellipse, longueur et direction de l'axe | Utilisé pour générer des paramètres d'ellipse géométrique ; L'angle de contact doit être calculé en fonction des définitions de la ligne de base, du point de contact et de l'angle. |
| ALG-A04 | Ajustement polynomial local robuste | Contour des gouttelettes, ordre polynomial et intervalle d'ajustement | Tangente et angle du point de contact | L'intervalle d'ajustement et la ligne de base doivent être confirmés en fonction de l'échantillon |
| ALG-A05 | Ajustement cubique B-spline lisse | Contour des gouttelettes, points de contrôle et paramètres de lissage | Contours lisses, tangentes et angles locaux | Le lissage ne peut pas restaurer les véritables contours occlus |
| ALG-A06 | Young-Laplace / ADSA | Le contour d'une chute de siège qui satisfait aux conditions de symétrie axiale et d'équilibre statique | Paramètres et angles d'ajustement du modèle Zuodi | Le modèle de goutte assise ne devient pas automatiquement le produit d'inversion d'image de goutte suspendue |
| ALG-A28 | Intégration numérique de contours axisymétriques | Profils axiaux et radiaux, échelles de longueur | Volume et surface axisymétrique | Nécessite une symétrie axiale et des contours fiables ; les quantités physiques dépendent de l'échelle |
| ALG-A92 | Correction des coordonnées de base d'inclinaison | Points de contour, points finaux de la ligne de base et directions de l'axe de l'image | Coordonnées de correction et transformation | La correction des coordonnées ne peut pas corriger les mauvais points de contact |
| ALG-A93 | Identification de l'état de mouvement de la ligne de contact | Temps, rayon de contact, angle et seuil de vitesse | Statut de mouvement et segmentation de la ligne de contact | La détermination de l'état est limitée par le taux d'échantillonnage et le seuil |
F02 Mesure géométrique et analyse de profil (16 éléments)
| numéro de série | Module algorithme | Entrées communes | Sortie disponible | Points de confirmation du projet |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A07 | Ajustement de la ligne droite totale des moindres carrés | Point bidimensionnel défini dans le même système de coordonnées | Direction de la ligne, position et résidus de montage | Les résultats des moindres carrés n’excluent pas automatiquement les valeurs aberrantes |
| ALG-A08 | RANSAC Estimation de modèle robuste | Ensemble de points 2D, type de modèle et seuil de point intérieur | Modèles de lignes ou de cercles, points intérieurs et résidus | Les résultats ne peuvent être comparés qu’une fois que le type de modèle et le seuil sont clairs. |
| ALG-A09 | Détection linéaire de Hough | Niveaux de gris ou carte des bords, longueur et seuils de connexion | Segments et emplacements de lignes candidats | Le segment de ligne candidat n'est pas une catégorie périphérique de produit identifiée |
| ALG-A10 | Pied à coulisse de dégradé sous-pixel | Image, ligne d'échantillonnage du pied à coulisse et polarité des bords | Position du bord du sous-pixel sur la ligne d'échantillon | La position des pixels n'est pas directement égale à la précision de la taille physique |
| ALG-A17 | Méthode de l'étrier rotatif à coque convexe | Points de contour dans le même système de coordonnées | Diamètre Féret maximum et minimum | Les dimensions physiques nécessitent une mise à l'échelle |
| ALG-A18 | Mesure de la largeur du double bord de la section normale | Paramètres du masque binaire, de la ligne médiane et de l'échantillonnage normal | Largeur de section le long de la ligne médiane | La largeur 2D ne peut pas être interprétée comme la profondeur de la tranchée |
| ALG-A19 | Analyse de l'écart de contour du champ de distance des symboles | Masques de référence et d'observation enregistrés | Distance signée et écart de contour | L'erreur d'enregistrement doit être distinguée de l'erreur de forme |
| ALG-A29 | Ajustement de cercle de distance orthogonale géométrique | Ensemble de points bidimensionnels proches du cercle et paramètres d'itération | Cercle d'ajustement de distance géométrique et erreur résiduelle | Le résultat de convergence est affecté par la valeur initiale, la qualité de l'ensemble de points et la proportion de valeurs aberrantes. |
| ALG-A30 | Raccord droit robuste Huber IRLS | Paramètres de jeu de points bidimensionnels, d'itération et d'ajustement de Huber | Informations robustes sur la ligne droite et le poids | La robustesse a un champ d'application et ne peut pas remplacer l'inspection de la qualité des échantillons |
| ALG-A34 | Correspondance du modèle de distance de chanfrein | Bords de l'image et du modèle | Coût de correspondance du chanfrein et positions des candidats | La distance correspondante n'est pas une probabilité de classe |
| ALG-A35 | Correspondance de contour invariante du moment Hu | Deux contours 2D et comment les comparer | Score de différence de forme Hu | Le score n’est pas équivalent à la confiance d’identification calibrée |
| ALG-A36 | Descripteur de contour de Fourier | Contours fermés ordonnés, nombre d'échantillons et nombre d'harmoniques | Descripteur de contour de Fourier | Le descripteur ne fournit pas automatiquement les étiquettes de classification des produits |
| ALG-A41 | Ajustement de plan orthogonal d'ensemble de points tridimensionnels | Un point tridimensionnel doté d'une signification physique | Plan normal, position et résiduel | Les points tridimensionnels ne peuvent pas être générés à partir de rien à partir de photos bidimensionnelles ordinaires. |
| ALG-A45 | Distance de contour bidirectionnelle Hausdorff et Chanfrein | Deux contours dans le même système de coordonnées | Distance Hausdorff et chanfrein bidirectionnelle | Des seuils de distance doivent être définis en fonction des tolérances des produits et de l'échantillonnage |
| ALG-A46 | Surface minimale du rectangle d'enveloppe pivoté | Ensemble de points 2D | Faire pivoter le rectangle de l'enveloppe, son orientation et sa taille | Le rectangle extérieur ne remplace pas toutes les tolérances dimensionnelles et géométriques |
| ALG-A99 | Rectitude de la surface minimale bidimensionnelle | Points d'échantillonnage bidimensionnels limités | Largeur et direction minimales de la bande parallèle à l'enveloppe | Ne constitue pas directement un ensemble complet d’inspections de tolérances géométriques ISO ou ASME |
F03 Segmentation de particules et amélioration d'image (32 éléments)
| numéro de série | Module algorithme | Entrées communes | Sortie disponible | Points de confirmation du projet |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A11 | Segmentation du seuil Otsu Otsu | Paramètres d'échelle de gris, de couleur inversée et de lissage | Seuil global, masque binaire | Distribution en niveaux de gris qui doit être adaptée au seuil global |
| ALG-A12 | Étiquetage et filtrage des domaines connectés | Masque binaire, limite inférieure de zone et règles de connectivité | Liste des zones, taille et emplacement | Les domaines connectés ne peuvent pas distinguer automatiquement les catégories de produits |
| ALG-A13 | Marquage des bassins versants de contrôle | Paramètres d’image, de masque de premier plan ou de graine | Zones de bassins versants et étiquettes | La qualité des graines et du premier plan détermine les conditions de détachement |
| ALG-A14 | Correspondance de modèle de corrélation croisée normalisée | Modèles de référence et images à rechercher | Résultats des correspondances et emplacements des candidats | Les changements de rotation, de mise à l'échelle ou de perspective doivent sélectionner la méthode d'enregistrement correspondante et la vérifier séparément |
| ALG-A15 | Affinement du squelette de Zhang-Suen | Masque binaire et limite supérieure d'itération | squelette d'un seul pixel | Les squelettes n'incluent pas automatiquement la sémantique des défauts |
| ALG-A16 | Transformation de distance euclidienne | masque binaire | Champ de distance des pixels | La distance du masque 2D n'est pas égale à la profondeur physique |
| ALG-A27 | Segmentation sémantique U-Net | Domaine de produit légalement disponible ONNX Définition du poids et du prétraitement | Résultats du masque de segmentation et de l’accord d’interface | Les projets doivent fournir ou former des modèles de poids pour les catégories de produits applicables, et confirmer la licence de poids et la vérification du domaine du produit. |
| ALG-A43 | Détection de blob LoG multi-échelle | Seuils d’image, multi-échelles et de réponse | Centre de détection des candidats, échelle et réponse | L'échelle candidate n'est pas directement égale à la taille physique des particules |
| ALG-A44 | Regroupement de densité DBSCAN | Point ou entité, rayon du quartier et limite inférieure de densité | Étiquettes de cluster et points de bruit | Le clustering ne peut pas nommer automatiquement les types de défauts |
| ALG-A47 | Seuil gaussien adaptatif | Niveaux de gris, fenêtres et décalages | Seuil local et masque binaire | Les paramètres doivent être combinés avec l’échelle des défauts et ne peuvent être appliqués à aucune texture. |
| ALG-A48 | Seuil local Sauvola | Image en niveaux de gris, fenêtre et paramètres statistiques locaux | Carte et masque de seuil local | Nécessite un marquage et une confirmation indépendants, et non une détection inconditionnelle des défauts |
| ALG-A49 | Segmentation à seuil triangulaire | Image en niveaux de gris et paramètres de couleur inversés | Seuil et masquage par triangulation | Distribution d'imagerie qui doit être conforme au modèle de seuil |
| ALG-A50 | Segmentation du premier plan GrabCut | Image couleur et rectangle ou étiquette initiale | Étiquettes et masques de premier plan | Nécessite une initialisation, pas un modèle sémantique du domaine de produit |
| ALG-A51 | K-means segmentation des couleurs | Carte des couleurs, espace colorimétrique et nombre de clusters | Étiquettes de cluster de couleurs et résultats associés | Les groupes de couleurs ne sont pas équivalents aux catégories de réussite et de défaut |
| ALG-A52 | Ensemble de niveaux Chan-Vese | Image en niveaux de gris, masque initial et paramètres d'évolution | Masques de région et résultats d’itération | Les textures complexes doivent être vérifiées à l'aide d'autres méthodes ou combinaisons |
| ALG-A53 | Bord de passage à zéro LoG | Image en niveaux de gris, échelle de filtre et seuil de contraste | bord de passage à zéro | La réponse des bords ne forme pas automatiquement les résultats d'acceptation dimensionnelle |
| ALG-A54 | Bord dégradé Scharr | Image en niveaux de gris et seuil de dégradé | Réponse du dégradé et bords | L'intensité du gradient ne correspond pas directement à la profondeur des fissures |
| ALG-A55 | Correction de l'arrière-plan du chapeau haut de forme à plusieurs échelles | Images, éléments structurels multi-échelles et propriétés cibles de lumière et d'obscurité | Correction de fond et réponse multi-échelle | Le traitement ne démontre pas les propriétés physiques du matériau cible |
| ALG-A56 | Prise de contraste locale CLAHE | Images, limites de contraste et grilles | Améliorer les images | Les changements d'apparence améliorés ne constituent pas de nouvelles informations de mesure |
| ALG-A57 | Correction de l'éclairage du Retinex à une seule échelle | Échelle d’image et d’éclairage | Tableau de correction Retinex et résultats associés | Ne récupère pas les informations perdues en raison d'une occlusion ou d'une saturation |
| ALG-A58 | Filtrage bilatéral | Image, voisinage et poids bilatéraux | Image débruitée | L'effet débruiteur doit être évalué en relation avec la chaîne de mesure |
| ALG-A59 | Débruitage moyen non local | Image, intensité du bruit et fenêtre de recherche | Image débruitée | Aucun engagement à récupérer des structures en dessous de la résolution d'imagerie |
| ALG-A60 | Reconstruction morphologique | Graphique de départ, graphique de contraintes et règles de connectivité | Résultats de la reconstruction et statut de l'itération | Les erreurs de départ modifieront les résultats et ne pourront pas remplacer le jugement sémantique. |
| ALG-A61 | Remplissage de trou binaire | Masque binaire et règles de connectivité | Masque de remplissage de trous et résultats de traitement | Si de vrais trous sont des cibles de détection, ils ne peuvent pas être effacés par le prétraitement. |
| ALG-A62 | Champ de distance graines h-maxima | Masque binaire, valeur h et intervalle minimum | Semences de plein champ à distance et résultats associés | Seules les graines de segmentation sont générées, ce qui ne signifie pas que les cibles ont été correctement séparées. |
| ALG-A63 | Traçage du chemin du graphique squelette | Squelette à pixel unique ou options de raffinement explicites | Nœuds squelettes, branches et chemins | Le traçage de chemin ne fait pas automatiquement la différence entre les fissures, les rayures et la poussière. |
| ALG-A64 | Planification dynamique des chemins de délimitation | Carte des coûts 2D, axe du chemin et contraintes de point final | Chemins de contraintes et coûts | Carte des coûts de dépendance au chemin, et non vérité terrain du contour universel |
| ALG-A65 | Centre de gravité en niveaux de gris, ligne centrale du laser | Image de la ligne laser, axe de balayage et paramètres d'arrière-plan | Ligne centrale en niveaux de gris | La ligne centrale du pixel n'est pas égale au contour 3D calibré |
| ALG-A66 | Caractéristiques de la texture Gabor | Paramètres de filtre d'image, de direction et de longueur d'onde | Réponse et caractéristiques de la texture Gabor | L'extraction des fonctionnalités ne complète pas automatiquement la classification des défauts |
| ALG-A80 | Texture LBP à motif binaire local | Image en niveaux de gris | Codage LBP et statistiques de texture | Le codage lui-même n’a aucune signification de catégorie de défauts |
| ALG-A81 | Texture de la matrice de cooccurrence de niveau de gris GLCM | Images quantifiées en niveaux de gris, niveaux et décalages spatiaux | Caractéristiques de matrice et de texture de cooccurrence | Les seuils de fonctionnalités doivent être vérifiés en fonction des tâches |
| ALG-A82 | Encoche gaussienne dans le domaine fréquentiel pour supprimer les franges périodiques | Image, position de fréquence marginale et bande passante d'encoche | Image de frange dépériodique | Nécessité de distinguer les véritables structures répétitives des franges d'interférence |
F04 Caméra d'enregistrement et géométrie laser (10 articles)
| numéro de série | Module algorithme | Entrées communes | Sortie disponible | Points de confirmation du projet |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A20 | Extraction de crête de sous-pixel Steger | Paramètres d'image linéaire, d'échelle et de courbure en niveaux de gris | Position de la crête sous-pixel et réponse associée | L'extraction de crête n'est pas un système de numérisation 3D fini |
| ALG-A21 | Triangulation laser | Paramètres internes et externes de la caméra, plan laser et position de l'image | Le point d'intersection tridimensionnel du rayon et du plan d'étalonnage | Doit être calibré à l'aide d'un équipement réel, la précision physique ne peut pas être fournie avec des paramètres synthétiques |
| ALG-A31 | Enregistrement de traduction dépendant de la phase | Images de référence et mobiles avec des textures superposées | Traduction 2D et réponses associées | Convient pour l'estimation de la traduction ; la rotation ou la posture tridimensionnelle nécessite de sélectionner le modèle correspondant |
| ALG-A32 | Enregistrement de l'intensité ECC | Images superposées, modèles de mouvement et valeurs initiales | Spécifier les transformations bidimensionnelles et les indicateurs associés | En s'appuyant sur la valeur initiale et la similarité de l'image, le projet doit établir une détermination d'échec |
| ALG-A33 | Enregistrement d'homographie ORB et RANSAC | Images source et cible avec suffisamment de fonctionnalités | Corrélation de caractéristiques et transformation d'homographie | Applicable à l'homographie ; ne couvre pas automatiquement les scènes à plusieurs profondeurs |
| ALG-A37 | Enregistrement ICP de corps rigide 2D | Ensemble de points 2D, pose initiale approximative et paramètres d'élagage | Transformation de corps rigide bidimensionnel et résidus d'enregistrement | Il ne s’agit pas d’un enregistrement global, ni d’un étalonnage œil-main d’un robot 3D. |
| ALG-A38 | Les points correspondants doivent être installés | Points correspondants sur le même plan | Matrice d'homographie bidimensionnelle | Les relations à un seul plan ne peuvent pas remplacer un étalonnage tridimensionnel complet |
| ALG-A39 | Calibrage de la caméra en damier multi-vues | Damier multi-vues ou points d'angle, dimensions et spécifications de l'image | Paramètres internes de la caméra, résultats de distorsion et d'étalonnage | L'installation et l'état de l'objectif doivent être révisés après des modifications. |
| ALG-A40 | Dédistorsion d'image et de point | Image ou pixels, paramètres intrinsèques de la caméra et distorsion | Corriger les coordonnées de l'image ou du point | S'appuie sur des paramètres internes efficaces et ne promet pas d'éliminer toutes les erreurs optiques |
| ALG-A42 | Enregistrement de corps rigide SVD et de similarité | Ensemble de points bidimensionnels et options d'échelle correspondant séquentiellement | Corps rigide ou transformation similaire | Convient aux points correspondants bidimensionnels ; l'enregistrement tridimensionnel nécessite l'établissement de données indépendantes et de liens de coordonnées |
F05 Synchronisation des mouvements et statistiques de processus (20 éléments)
| numéro de série | Module algorithme | Entrées communes | Sortie disponible | Points de confirmation du projet |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A22 | Filtre de Kalman | Paramètres de position initiale, de pas de temps et de bruit | Estimation bidimensionnelle de la position et de l'état de vitesse | La sortie filtrée ne peut pas masquer les mesures invalides en positions mesurées |
| ALG-A23 | match de Hongrie | Matrice de coûts et seuil de rejet | Associations individuelles et éléments inégalés | Les résultats de l'association ne constituent pas une véritable identification. |
| ALG-A24 | Lissage et dérivation Savitzky-Golay | Séquence, fenêtre, ordre, intervalle d'échantillonnage et ordre dérivé | Séquence lisse ou dérivée | L’échantillonnage uniforme et la légalité des paramètres doivent être clairs |
| ALG-A25 | Estimation du spectre de puissance Welch | Fenêtres de signal, de fréquence d'échantillonnage et de segmentation | Densité spectrale de fréquence et de puissance | L’état à long terme des équipements ne peut pas être déduit d’un seul segment du spectre |
| ALG-A26 | Détection des anomalies de distance de Mahalanobis | Fonctionnalités normales d’entraînement, fonctionnalités de régularisation et de test | Score de distance et jugement d'anomalie confirmé | Nécessite une véritable distribution normale, pas un identifiant de défaut universel |
| ALG-A67 | Flux optique clairsemé de Lucas-Kanade | Deux images consécutives, points d'angle initiaux et paramètres de suivi | Mouvement ponctuel clairsemé et état effectif | Le suivi du flux optique n'équivaut pas à une corrélation d'identité entre miroirs |
| ALG-A68 | Flux optique dense Farneback | Deux images consécutives et paramètres de flux optique | Champ de déplacement bidimensionnel dense | Le déplacement de l'image n'est pas directement égal à la vitesse tridimensionnelle |
| ALG-A69 | Séparation d'arrière-plan MOG2 | Paramètres d’apprentissage continu et en arrière-plan | masque de premier plan | Les prospects ne sont pas des catégories spécifiques comme les personnes, les flammes, etc. |
| ALG-A70 | Détection de mouvement différentielle à double image | Deux frames, seuil de différence et paramètres morphologiques | masque différentiel de mouvement | Incapable de juger de manière indépendante la catégorie ou le niveau de danger de la cible en mouvement |
| ALG-A71 | Moyenne mobile exponentielle EWMA | Séquence numérique, coefficient de lissage et valeur initiale | Série lissée EWMA | Le lissage ne peut pas éliminer la dérive du système |
| ALG-A72 | Filtrage des anomalies de déviation absolue médiane de Hampel | Séquences numériques, fenêtres et seuils MAD | Marqueurs aberrants et séquences de traitement | Les valeurs de remplacement ne peuvent pas usurper l'identité des mesures originales valides |
| ALG-A73 | Détection bilatérale des changements de CUSUM | Séquence, moyenne cible, écart admissible et seuil | Modifier les statistiques et les candidats aux alarmes | Les seuils d’alarme et l’élimination des équipements seront convenus séparément. |
| ALG-A74 | transformée de Fourier en temps court STFT | Signal, fréquence d'échantillonnage, fenêtre et taille de pas | spectre temporel | Les informations d'alias ne peuvent pas être récupérées lorsque le taux d'échantillonnage est insuffisant |
| ALG-A75 | Estimation de la période d'autocorrélation FFT | Séquence, fréquence d'échantillonnage et plage de retard de recherche | Estimations de période ou de fréquence et quantités associées | L'existence de cycles ne prouve pas directement le type de panne de l'équipement. |
| ALG-A76 | Déformation temporelle dynamique DTW | Fenêtre à deux séquences et chemin | Distance DTW et chemin d'alignement | La distance de similarité n'est pas égale à la véritable identité de l'événement |
| ALG-A77 | RLS des moindres carrés récursifs | Vecteurs de caractéristiques, observations et paramètres de récursion | Coefficients et statut du modèle en ligne | Les conditions d’incitation aux modèles et aux données doivent être définies |
| ALG-A78 | Moyenne en ligne et covariance de Welford | Séquence d'observation dimensionnellement cohérente | Moyenne, covariance et comptage en ligne | Les statistiques ne donnent pas automatiquement de jugement sur la qualification des processus |
| ALG-A79 | Score d'anomalie résiduelle de reconstruction PCA | Échantillons normaux, normalisation des caractéristiques et scores des composants principaux | fraction différentielle résiduelle reconstruite | Il est nécessaire d'établir une base de référence normale, et non un diagnostic général de panne. |
| ALG-A83 | Enveloppe RMS à court terme | Signaux, fenêtres et marches | Enveloppe RMS à court terme | Les unités physiques dépendent de l'étalonnage des entrées |
| ALG-A84 | Détection unidimensionnelle de la signification des pics | Séquence unidimensionnelle, saillance et intervalle minimum | Position maximale et quantité de corrélation maximale | Les pics ne peuvent pas être automatiquement désignés comme événements de défaut |
F06 Inversion des propriétés physiques du mouillage (7 éléments)
| numéro de série | Module algorithme | Entrées communes | Sortie disponible | Points de confirmation du projet |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A85 | OWRK Inversion d'énergie de surface solide | Angle de contact du liquide multi-sondes et propriétés physiques des composants | Composant énergétique de surface solide OWRK | Des unités de propriété physique cohérentes et des modèles de surface applicables doivent être utilisés |
| ALG-A86 | Wu Inversion d'énergie de surface moyenne harmonique | Angle de contact et dispersion du liquide de la sonde et composants polaires | Composant d'énergie de surface Wu | Ne pas déduire directement les propriétés physiques à partir d'un seul graphique non calibré |
| ALG-A87 | vOCG Inversion d'énergie de surface acide-base | Angle de contact, liquide de sonde LW et teneur acido-basique | Composant d'énergie de surface vOCG | Les combinaisons de fluides de la sonde et les hypothèses du modèle doivent être claires |
| ALG-A88 | Zisman Extrapolation de la tension superficielle critique | Angle de contact en série et tension superficielle du liquide | Extrapolation et ajustement de la tension superficielle critique | La valeur extrapolée n'est pas équivalente à la valeur réelle de l'énergie universelle de surface solide |
| ALG-A89 | Washburn Angle de contact d'absorption de liquide en poudre | Temps, qualité d'absorption du liquide, constantes du matériau et propriétés physiques du liquide SI | Angle de contact d'absorption de liquide en poudre et quantité de régression | Les constantes du matériau sont calibrées avec les mêmes conditions de remplissage ; différentes constantes convenues ne peuvent pas être mélangées. |
| ALG-A90 | Intégration avancée Young-Laplace suspendue | Paramètres de liaison, longueur de l'arc d'intégration et taille du pas | Profil de suspension sans dimension vers l'avant | Il n’est pas nécessaire de trouver le ADSA complet de la tension superficielle inconnue à partir de la photo. |
| ALG-A91 | Estimation de la tension de régression de courbure de chute suspendue | Semi-contours pré-lissés, différences de densité et gravité en mètres | Estimation de la tension de régression de courbure | La direction de la hauteur doit être cohérente ; ce n'est pas un raccord ADSA non linéaire complet |
F07 Statistiques de mesure et incertitude (6 éléments)
| numéro de série | Module algorithme | Entrées communes | Sortie disponible | Points de confirmation du projet |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A94 | Intervalle de confiance percentile Bootstrap | Échantillons, fonctions statistiques, niveaux de confiance et paramètres de rééchantillonnage | Intervalles centiles et résultats statistiques | Le paramètre de niveau de confiance n'équivaut pas à une preuve de couverture réelle pour des échantillons finis |
| ALG-A95 | Propagation de l'incertitude des mesures de Monte Carlo | Modèle de mesure, moyennes d'entrée et covariances, paramètres d'échantillonnage | Distribution des résultats du modèle et statistiques d’incertitude | Les éléments système manquants ne sont pas automatiquement complétés par échantillonnage |
| ALG-A96 | Jauge ANOVA croisée R&R | Données d'équilibre par pièce, opérateur, nombre de répétitions | Composants R&R et variance de l'instrumentation | N'incorporez pas automatiquement les termes d'interaction et n'effectuez pas de tests de signification complets |
| ALG-A97 | Calibrage linéaire des moindres carrés pondérés | Référence x et mesure y et incertitude type | Coefficients d'étalonnage linéaire et résidus | Les résidus de régression ne sont pas des incertitudes complètes sur l'équipement |
| ALG-A98 | Régression d'erreur bivariée de Deming | Deux observations variables et taux de variance d'erreur | Coefficient de régression de Deming | Le taux de variance d'erreur doit avoir une base |
| ALG-A100 | Propagation de l'incertitude de sensibilité de premier ordre | Modèle de mesure, moyenne, covariance et incrément de différence | Résultats de sensibilité et de propagation du premier ordre | Une forte non-linéarité et les quantités système manquantes doivent être évaluées séparément. |
Analyse de points laser F08 (12 articles)
| numéro de série | Module algorithme | Entrées communes | Sortie disponible | Points de confirmation du projet |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A101 | Centre de gravité du point laser à seuil adaptatif en niveaux de gris | Cadre en niveaux de gris, ROI, paramètres de filtrage d'arrière-plan et de candidat | Centre de point lumineux unique, superficie et quantités liées à l'énergie | La sortie des coordonnées physiques doit être vérifiée avec la caméra cible, l'objectif et les données d'étalonnage. |
| ALG-A102 | Extraction de candidats de domaine connectés par points multi-laser | Cadre en niveaux de gris, ROI et paramètres de filtrage des domaines connectés | Plusieurs candidats phares et leurs caractéristiques | Les points lumineux de contact ou qui se chevauchent ne se séparent pas automatiquement |
| ALG-A103 | Centre du point de sous-pixel de surface quadratique logarithmique | Paramètres approximatifs du spot gaussien, de la fenêtre et de l'arrière-plan | Centre quadratique logarithmique et résultats d'ajustement | Une forte saturation, une troncature non gaussienne et une fenêtre peuvent produire un biais |
| ALG-A104 | Centre du point lumineux à symétrie radiale dégradée | Paramètres de dépistage de points et de gradients à symétrie quasi radiale | Centre de symétrie radiale et résiduel | L'effet de positionnement doit être vérifié en fonction de la forme de la cible réfléchissante et des conditions d'imagerie. |
| ALG-A105 | Deuxième moment du point laser et diamètre de l'axe principal | Réponse linéaire à l'intensité du spot, à l'arrière-plan et à ROI | Centre de masse, moment de second ordre, diamètres et directions des axes primaires et secondaires | Seul le calcul du moment de second ordre est mis en œuvre, et non un système de mesure ISO11146 complet. |
| ALG-A106 | Tache laser entourant le diamètre de l'énergie | Spot, centre, rapport énergétique et échelle | Rapport spécifié entre le rayon et le diamètre de l'énergie environnante | L'intégrale en niveaux de gris ne se convertit pas automatiquement en watts ou en joules |
| ALG-A107 | Diagnostic de qualité et d'utilisabilité du spot laser | Spot, informations relatives à l'exposition et limites de qualité | Grandeurs de diagnostic et contrôles de limites tels que la saturation, la troncature et le rapport des axes | Les seuils de qualité nécessitent des tests d'équipement et ne constituent pas des critères d'acceptation automatiques. |
| ALG-A108 | Correspondance un à un des bits de référence de points multi-laser | Points de détection, points de référence et limite supérieure de distance dans le même système de coordonnées | Correspondances individuelles et éléments manquants | Il n'estime pas les paramètres externes et ne prouve pas l'identité de la cible. |
| ALG-A109 | Pixel bidimensionnel pour l'étalonnage polynomial des coordonnées physiques | Pixels dans le même plan que les coordonnées de référence et l'ordre de mappage | Coefficients de cartographie bidimensionnelle et résultats d'ajustement | La cartographie empirique bidimensionnelle ne remplace pas l’étalonnage tridimensionnel |
| ALG-A110 | Cartographie d'étalonnage de point laser et propagation de covariance | Points de pixel, calibrage 2D efficace et covariance des pixels | Cartographie des coordonnées et propagation des covariances données | Les plaques d'étalonnage, la dérive de température et les écarts du modèle ne sont pas automatiquement inclus |
| ALG-A111 | Conversion du pixel du point laser en angle de vue de la caméra | Pixels, caractéristiques intrinsèques de l'appareil photo et distorsion | Ligne de visée et angle de l'unité du système de coordonnées de la caméra | Informations de distance manquantes, les points 3D ne peuvent pas être récupérés individuellement |
| ALG-A112 | Répétabilité bidimensionnelle du point laser et ellipse de couverture | Répétez les mêmes conditions pour les coordonnées 2D et les niveaux de couverture | Moyenne, covariance, RMS radiale et ellipse couvrante | L'hypothèse de couverture normale bidimensionnelle ne prouve pas l'exactitude physique ou la stabilité à long terme |
De l'évaluation à la livraison
- Besoin d'une confirmation : Clarifiez les tâches, les données, les résultats, les indicateurs, les plateformes, les interfaces, le nombre d'appareils et le temps prévu.
- Exemple de vérification : Les échantillons fixes et les calibres d'évaluation constituent la base de l'algorithme, les conditions applicables et la portée de la mise en œuvre.
- Développement et débogage conjoint : Combinaison complète d'algorithmes, accès aux données, configuration des paramètres, statut anormal, interface de résultats et journal.
- Acceptation indépendante : Vérifiez l'effet, la consommation de temps, la stabilité et le mécanisme de récupération en fonction des données ou des stations d'équipement convenues.
- Autorisation et maintenance : Déterminez la licence en cours d'exécution en fonction de l'appareil, du scénario et de la version, et gérez en permanence les problèmes du scénario d'origine et les mises à niveau contrôlées.
Le contenu de la livraison peut inclure des bibliothèques ou des programmes d'algorithmes, des exemples d'appel, des descriptions d'interface et de paramètres, des fichiers de configuration ou d'étalonnage, des rapports de test, des notes de version et des plans de récupération. Le code source, les modèles spécifiques au projet, les composants tiers, le matériel et les nouvelles adaptations de plate-forme sont confirmés séparément dans le devis.
FAQ
Comment puis-je savoir si un algorithme existant fonctionnera avec mon appareil ?
Fournissez d’abord les échantillons originaux, les objectifs de la mission, les résultats de référence et les conditions de l’équipement. Après avoir terminé l'inspection des données et la vérification des échantillons, la réutilisabilité, le développement qui doit être complété, les livrables attendus et les méthodes d'acceptation peuvent être clarifiés.
Windows, Linux et les plateformes embarquées sont-ils pris en charge ?
L'adaptation peut être évaluée en fonction du système cible, du processeur et de l'interface d'appel. Le projet confirmera également les dépendances, les ressources, le formulaire de livraison, la méthode d'installation et les conditions de test de performances.
Pourquoi la précision et la vitesse de traitement doivent-elles être confirmées projet par projet ?
Les indicateurs varient en fonction de la difficulté de l'échantillon, de la résolution de l'image, de la combinaison d'algorithmes, du matériel et du calibre statistique. Grâce à des échantillons de clients et à des tests de plate-forme cible, des indicateurs de projet acceptables peuvent être formés.
Est-il possible d'attribuer une licence en fonction du nombre d'appareils ?
Les licences peuvent être convenues en fonction des entités client, des équipements ou des postes de travail, des scénarios d'algorithmes, des versions de livraison et des délais. Les règles de remplacement des machines, de fonctionnement hors ligne, de récupération et de nouveaux équipements sont précisées dans le contrat.
Pouvons-nous continuer à optimiser à l’avenir ?
Il peut reproduire, améliorer et vérifier par régression de nouveaux échantillons, des problèmes d'erreur de jugement et des changements dans les conditions de travail dans la scène originale. Les nouveaux produits, matériels ou fonctionnalités sont évalués en fonction de l'ampleur du changement.
Consultation de projet
xuzhiyang0928@gmail.com
Soumettre des échantillons et les conditions de l'équipement pour clarifier la portée du développement et de la livraison
Module d'algorithme de vision et services de développement SDK
Veuillez décrire l'objet de la tâche, l'image ou la vidéo originale, les indicateurs cibles, la plate-forme de l'appareil, l'interface et un exemple de situation.
Téléphone : 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com