Papier original du centre de symétrie radiale
Positionnement central sous-pixel de cibles approximativement symétriques radialement
Date de vérification : 2026-10-24
Afficher les informations publiques originales →LSP246 · Instruments de recherche pour microscopes et pinces optiques · Imagerie microscopique et recherche sur les particules
Modules réutilisables
Vérification du retour du point de faisceau après changement d'objectif
Face à la tête d'éclairage du microscope laser, en prenant la position du point lumineux sur la surface cible comme voie d'observation, la différence centrale avant et après la commutation de l'objectif est destinée à être émise. La page est destinée à l'évaluation du projet et ne signifie pas que le développement est terminé ou a été accepté sur place.
Résumé du jugement du projet
Produit/AppareilTête d'éclairage pour microscope laser
Mesurer l'itinéraireXY · Position du point lumineux de la surface cible
Classement des capacitésModules réutilisables
Statut de vérificationL'acceptation réelle du domaine machine/produit de ce scénario n'a pas été effectuée
Nature de la scène :Scénarios d’application potentiels similaires pour les spots laser. Le scénario d'application potentiel n'a pas encore été développé en un système de produit complet ; l'acceptation réelle du domaine machine/produit de ce scénario n'a pas été effectuée. La quantité réelle d'acceptation de produit/domaine de produit dans les statistiques du catalogue est de 0.
Tâches commerciales et résultats attendus
- public cible
- Tête d'éclairage du microscope laser : position du spot sur la surface cible
- pseudo-sortie
- Différence centrale avant et après le changement d'objectif
- Conditions applicables
- La relation entre l'aberration chromatique de l'objectif et le plan focal arrière doit être vérifiée
- priorité
- Extension générale. La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Entrée d’imagerie et routage d’algorithme
Conditions d’imagerie et de l’appareil
Fixez la caméra et la surface cible, enregistrez l'exposition et le gain, et couvrez le point lumineux et l'arrière-plan dans le champ de vision. Microscopes, échantillonnages relais et caméras adaptées aux longueurs d'onde
XY · Position du point lumineux de la surface cible
Fixez la caméra et la surface cible, enregistrez l'exposition et le gain, et couvrez le point lumineux et l'arrière-plan dans le champ de vision
- A101Centre de gravité du point laser à seuil adaptatif en niveaux de gris
- A107Diagnostic de qualité et d'utilisabilité du spot laser
- A112Répétabilité bidimensionnelle du point laser et ellipse de couverture
Preuves algorithmiques existantes :A101–A112 uniquement par point de synthèse analytique complet et vérification de la géométrie contrôlée ; voir laser_spot_benchmark.json
Capacités actuelles et capacités à compléter
Modules réutilisables
Les modules existants peuvent être utilisés comme hôtes
Les modules existants de positionnement de points lumineux, de diagnostic de qualité ou de statistiques peuvent être utilisés comme base de calcul principale ; ROI, l'étalonnage, la vérification du seuil et de l'interface doivent encore être effectués par appareil.
Lacunes dans ce scénario :Le retour sur investissement, l'étalonnage de la règle/du plan et la définition du point de référence sont requis ; seule la position bidimensionnelle de la surface cible peut être directement observée. La relation entre l'aberration chromatique de l'objectif et le plan focal arrière doit être vérifiée. Le positionnement des images de particules est une migration d'algorithme et le modèle d'image doit être revérifié.
Écarts au niveau de l'itinéraire :Nécessite ROI, un calibrage de règle/plan et une définition de point de référence ; ne peut observer directement que la position bidimensionnelle de la surface cible
Les « modules réutilisables » décrivent uniquement le volume relatif de développement et ne constituent pas un engagement sur la précision, le rythme, la stabilité ou le délai de livraison.
Méthodes de vérification et conditions préalables à l’acceptation
Testé indépendamment avec une platine de déplacement bidimensionnelle et un point de référence fixe, erreur du centre de reporting P95, détections manquées et fausses détections. Platine à microsphères, règle microscopique et référence de positionnement indépendante
| Articles d'acceptation | Preuves requises pour la confirmation du projet | Statut actuel |
|---|---|---|
| Entrées et échantillons | Cadres originaux de l'appareil réel, échantillons normaux/anormaux, conditions d'exposition et de trajet lumineux, regroupement d'échantillons et mise de côté | Non fourni, en attente de commentaires sur le projet |
| Ampleur et erreur | Valeur de référence indépendante, enregistrement d'étalonnage, calibre statistique d'erreur et seuil de confirmation mutuelle | Non vérifié |
| Exceptions et limites | Traitement anticipé des détections manquées, des fausses détections, des surexpositions, des occlusions, des réflexions, des anomalies de visibilité et de communication. | A définir |
| Intégration du système | Interface, synchronisation temporelle, plateforme de déploiement, tempo, journal, version et enregistrement d'exécution continue | Non intégré |
Sources de preuves et limites des citations
La source prend en charge les principes de mesure ou des applications similaires ; la combinaison de modules, le dispositif et la méthode d'acceptation dans ce scénario sont des dérivations techniques et la vérification du produit n'est pas terminée.
Recherche sur l'étalonnage de position d'une caméra à pince optique
Détection limitée de la position des particules et impact de l'exposition et de l'échantillonnage sur l'étalonnage
Date de vérification : 2026-10-24
Afficher les informations publiques originales →Mesure de petit faisceau Ophir
Conditions optiques dans les mesures de champ proche, de champ lointain et de champ de mode à petits faisceaux
Date de vérification : 2026-10-24
Afficher les informations publiques originales →Portée d'utilisation de la source :Les informations publiques sont utilisées pour étayer le principe de mesure ou l'existence d'applications similaires, et ne prouvent pas que ce scénario a été développé, déployé ou accepté par Jishi Technology.
Consultation de projet
xuzhiyang0928@gmail.com
Soumettre des échantillons et les conditions de l'équipement pour clarifier la portée du développement et de la livraison
Vérification du retour du point de faisceau après changement d'objectif
Veuillez décrire l'objet de la tâche, l'image ou la vidéo originale, les indicateurs cibles, la plate-forme de l'appareil, l'interface et un exemple de situation.
Téléphone : 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com