Papier original du centre de symétrie radiale
Positionnement central sous-pixel de cibles approximativement symétriques radialement
Date de vérification : 2026-10-24
Afficher les informations publiques originales →LSP244 · Instruments de recherche pour microscopes et pinces optiques · Imagerie microscopique et recherche sur les particules
Besoin d'ajouter un nouveau noyauMigration d'algorithmes · Applications de produits non laser
Capturer l'extrémité avant de synchronisation de position 2D des microsphères
Face au dispositif expérimental de pincettes optiques, en utilisant la migration d'imagerie de particules ponctuelles comme voie d'observation, il est prévu de produire des trajectoires de microsphères et des images manquantes. La page est destinée à l'évaluation du projet et ne signifie pas que le développement est terminé ou a été accepté sur place.
Résumé du jugement du projet
Produit/AppareilDispositif expérimental de pincettes optiques
Mesurer l'itinérairePARTICULE · Migration d'imagerie de particules ponctuelles
Classement des capacitésBesoin d'ajouter un nouveau noyau
Statut de vérificationL'acceptation réelle du domaine machine/produit de ce scénario n'a pas été effectuée
Instructions de migration :La migration de l’algorithme de positionnement des images de particules/points lumineux ne doit pas être considérée comme une application éprouvée d’un produit laser. Le scénario d'application potentiel n'a pas encore été développé en un système de produit complet ; l'acceptation réelle du domaine machine/produit de ce scénario n'a pas été effectuée. La quantité réelle d'acceptation de produit/domaine de produit dans les statistiques du catalogue est de 0.
Tâches commerciales et résultats attendus
- public cible
- Dispositif expérimental de pincettes optiques : migration d'imagerie de particules ponctuelles
- pseudo-sortie
- Trajectoires des microsphères et images manquantes
- Conditions applicables
- La rigidité du piège nécessite une compensation d'exposition et un calibrage dynamique.
- priorité
- Développement spécial. Le noyau de mesure/contrôle doit être complété et vérifié conformément à l'approbation du projet spécial.
Entrée d’imagerie et routage d’algorithme
Conditions d’imagerie et de l’appareil
Les images de particules peuvent être séparées sous éclairage laser, et une règle microscopique, un étalonnage de l'exposition et de l'échantillonnage peuvent être effectués. Microscopes, échantillonnages relais et caméras adaptées aux longueurs d'onde
PARTICULE · Migration d'imagerie de particules ponctuelles
Les images de particules peuvent être séparées sous éclairage laser, règle microscopique, exposition et étalonnage d'échantillonnage
- A22Filtre de Kalman
- A25Estimation du spectre de puissance Welch
- A102Extraction de candidats de domaine connectés par points multi-laser
- A104Centre du point lumineux à symétrie radiale dégradée
- A108Correspondance un à un des bits de référence de points multi-laser
Preuves algorithmiques existantes :A101–A112 uniquement par point de synthèse analytique complet et vérification de la géométrie contrôlée ; voir laser_spot_benchmark.json
Capacités actuelles et capacités à compléter
Besoin d'ajouter un nouveau noyau
Besoin d'ajouter du calcul de base
L'extraction de points lumineux ne peut être utilisée que comme interface d'observation, et des capacités de base telles que la reconstruction tridimensionnelle, le contrôle en boucle fermée, l'inversion du front d'onde ou de la quantité physique doivent être développées et vérifiées séparément.
Lacunes dans ce scénario :La corrélation/dynamique/compensation des particules doit être ajoutée ; l'image des particules est migrée par l'algorithme de positionnement et ne peut pas être utilisée comme centre du faisceau laser d'origine. La rigidité du piège nécessite une compensation d'exposition et un calibrage dynamique. Le positionnement des images de particules est une migration d'algorithme et le modèle d'image doit être revérifié.
Écarts au niveau de l'itinéraire :La corrélation/dynamique/compensation des particules doit être ajoutée ; l'image des particules est migrée par l'algorithme de positionnement et ne peut pas être utilisée comme centre du faisceau laser d'origine
« Nouveaux noyaux requis » décrit uniquement le volume relatif de développement et ne constitue pas un engagement quant à la précision, au rythme, à la stabilité ou au délai de livraison.
Méthodes de vérification et conditions préalables à l’acceptation
Les microsphères sont entraînées par un étage de déplacement et testées avec un marquage de trajectoire indépendant, et un étalonnage fluide/force de référence est utilisé pour l'inversion des propriétés physiques. Platine à microsphères, règle microscopique et référence de positionnement indépendante
| Articles d'acceptation | Preuves requises pour la confirmation du projet | Statut actuel |
|---|---|---|
| Entrées et échantillons | Cadres originaux de l'appareil réel, échantillons normaux/anormaux, conditions d'exposition et de trajet lumineux, regroupement d'échantillons et mise de côté | Non fourni, en attente de commentaires sur le projet |
| Ampleur et erreur | Valeur de référence indépendante, enregistrement d'étalonnage, calibre statistique d'erreur et seuil de confirmation mutuelle | Non vérifié |
| Exceptions et limites | Traitement anticipé des détections manquées, des fausses détections, des surexpositions, des occlusions, des réflexions, des anomalies de visibilité et de communication. | A définir |
| Intégration du système | Interface, synchronisation temporelle, plateforme de déploiement, tempo, journal, version et enregistrement d'exécution continue | Non intégré |
Sources de preuves et limites des citations
La source prend en charge les principes de mesure ou des applications similaires ; la combinaison de modules, le dispositif et la méthode d'acceptation dans ce scénario sont des dérivations techniques et la vérification du produit n'est pas terminée.
Recherche sur l'étalonnage de position d'une caméra à pince optique
Détection limitée de la position des particules et impact de l'exposition et de l'échantillonnage sur l'étalonnage
Date de vérification : 2026-10-24
Afficher les informations publiques originales →Mesure de petit faisceau Ophir
Conditions optiques dans les mesures de champ proche, de champ lointain et de champ de mode à petits faisceaux
Date de vérification : 2026-10-24
Afficher les informations publiques originales →Portée d'utilisation de la source :Les informations publiques sont utilisées pour étayer le principe de mesure ou l'existence d'applications similaires, et ne prouvent pas que ce scénario a été développé, déployé ou accepté par Jishi Technology.
Consultation de projet
xuzhiyang0928@gmail.com
Soumettre des échantillons et les conditions de l'équipement pour clarifier la portée du développement et de la livraison
Capturer l'extrémité avant de synchronisation de position 2D des microsphères
Veuillez décrire l'objet de la tâche, l'image ou la vidéo originale, les indicateurs cibles, la plate-forme de l'appareil, l'interface et un exemple de situation.
Téléphone : 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com