視覺演算法與設備適配 · 能力總覽

視覺演算法模組與 SDK 開發服務

面向設備製造商、系統整合商和企業研發團隊,依任務選擇影像處理與測量、雷射光點與雷射線、紅外線影像與熱成像演算法服務。結合原始樣本、設備條件、介面和驗收要求,明確開發、SDK封裝、設備適配與版本維護範圍。

按任務選擇演算法服務

服務範圍

視覺演算法專案通常同時涉及成像、資料、演算法、介面和設備運行環境。服務從客戶的檢測或測量任務出發,將所需能力組合成可執行方案。

客戶需求 服務內容 主要輸出
新設備演算法開發 樣本評估、方案設計、演算法組合、介面開發與設備聯調 專案軟體、參數配置、介面文件和驗證報告
現有設備優化 問題復現、樣本分析、參數或演算法調整、新舊版本迴歸 優化版本、問題記錄、比較結果和升級說明
演算法模組集成 輸入輸出確認、函式庫或程式存取、異常狀態和結果格式適配 呼叫介面、範例、狀態碼和部署說明
多設備複製部署 固定軟體與設定、設備許可、安裝檢查和版本管理 授權記錄、部署包、設備台帳和復原方案
持續維護與迭代 原場景問題處理、回歸測試、受控更新和變更評估 維護記錄、版本說明和迭代計劃

重點演算法能力

演算法能力依企業任務組織。一個專案可組合多個模組,並根據成像、標定、業務規則和運行平台增加專案適配。

能力頁面 適用任務 典型輸出 項目確認重點
雷射光點定位與光斑分析 單點、多點和光斑檢測 中心座標、形態參數、質量狀態和標定結果 波長、曝光、光斑尺度、參考位置與設備平台
接觸角與液滴輪廓分析 座滴輪廓、基線和動態過程分析 接觸角、擬合參數、幾何量和接觸線狀態 液滴模型、基線、尺度、試驗條件和參考方法
二維尺寸與輪廓測量 邊緣、輪廓和二維點集測量 位置、尺寸、擬合殘差和形狀偏差 圖面、公差、基準、標定、光學條件和量值參考
影像配準與相機標定 影像對齊、二維映射、標定與去畸變 變換矩陣、相機參數、畸變參數和殘差 座標系、變換模型、標定板、視野和重標定條件
影像分割與顆粒分析 區域萃取、顆粒計數、沾黏分離和形態統計 掩膜、物件、計數、輪廓、骨架和分佈 前景定義、標註規則、沾黏、邊界物件和尺度
運動時序與過程統計 運動估計、趨勢、週期、事件和異常評分 位移、軌跡、頻譜、週期、事件和評分 時間戳、取樣率、尺度、工況、正常基線和事件定義
潤濕物性與界面參數反演 表面能、臨界張力、粉末吸液和懸滴計算 物性分量、迴歸結果、殘差和狀態 模型、液體物性、單位、溫度、標定和參考方法
測量重複性與不確定度評估 測量系統分析、標定迴歸和不確定度計算 變異數分量、區間、迴歸參數和不確定度 試驗設計、參考器具、量程、公差和誤差模型
設備授權與持續優化服務 首型开发、设备复制、维护和版本升级 許可範圍、版本台帳、維護記錄和變更方案 設備數量、場景、期限、換機、離線運作和服務範圍

項目選用方法

  1. 明確業務結果: 確定需要座標、尺寸、角度、計數、掩膜、趨勢、物性參數或合格判定,並說明單位和下游用途。
  2. 提供代表性數據: 提交正常、邊界和異常樣本,以及視野、解析度、曝光、工作距離、取樣率和現場變化。
  3. 確定評價方法: 明確參考值、標註規則、樣本分層、統計分母和通過閾值。
  4. 確認運作環境: 說明作業系統、CPU/GPU/NPU、記憶體、呼叫語言、介面、並發、裝置數量和離線需求。
  5. 完成樣本驗證: 在獨立資料上檢查效果、失敗處理、耗時和資源佔用,再確定開發和部署範圍。

已有設備升級專案還需提供目前軟體版本、問題樣本、運作日誌、相機與光源配置及近期硬體變更記錄。

樣本驗證與效能確認

演算法性能與成像條件、樣本分佈、目標平台和評估口徑直接相關。專案採用分階段驗證,使精準度、檢出率、誤報率、處理拍子和穩定性有明確的適用範圍。

階段 主要工作 客戶可獲得的結果
數據檢查 核對原始資料、參考值、異常樣本和評價規則 輸入清單、缺口和驗證計劃
樣本基線 比較演算法路線,記錄參數、結果和失敗條件 可行性結論、基線結果和實施建議
專案開發 完成模組組合、介面、設定、狀態與日誌 可運行版本、介面資料和測試記錄
獨立資料驗收 使用未參與調參的數據或約定工位複測 指標統計、逐樣本結果及驗收記錄
設備運作驗證 檢查連續運作、異常復原、資源與版本管理 運行報告、部署說明和回退方案

效能指標在專案立項時定義,並與樣本範圍、硬體配置、軟體版本和測試條件一併記錄。

112項演算法能力目錄

下表用於初步技術選型,列出主要輸入、可提供的輸出及項目確認要點。最終介面欄位、單位、閾值、平台和驗收標準在專案方案中確定。

F01 液滴輪廓與接觸角(9項)

編號 演算法模組 常見輸入 可提供輸出 專案確認要點
ALG-A01 高寬法(θ/2) 座滴輪廓、接觸基線及座標約定 接觸角及用於複核的幾何量 適用球冠近似;不是任意液滴形狀模型
ALG-A02 代數最小二乘圓擬合 座滴輪廓及接觸點定義 擬合圓參數與接觸角 整體圓弧假設;需檢查重力變形影響
ALG-A03 橢圓擬合 二維輪廓點 橢圓中心、軸長及方向 用於輸出幾何橢圓參數;接觸角需結合基線、接觸點和角度定義計算
ALG-A04 穩健局部多項式擬合 座滴輪廓、多項式階數及擬合區間 接觸點切線與角度 擬合區間和基線須按樣本確認
ALG-A05 平滑三次 B 樣條擬合 座滴輪廓、控制點與平滑參數 平滑輪廓、局部切線與角度 平滑不能恢復被遮蔽的真實輪廓
ALG-A06 Young-Laplace / ADSA 滿足軸對稱及靜力平衡條件的座滴輪廓 座滴模型擬合參數及角度 座滴模型不會自動變成懸滴影像反演產品
ALG-A28 軸對稱輪廓數值積分 軸向與半徑輪廓、長度尺度 軸對稱體積及表面積 需軸對稱及可靠輪廓;物理量依賴尺度
ALG-A92 傾斜基線座標校正 輪廓點、基線端點及影像軸方向 校正座標及變換 座標校正不能修復錯誤接觸點
ALG-A93 接觸線運動狀態識別 時間、接觸半徑、角度及速度閘限 接觸線運動狀態與分段 狀態判定受採樣率及閾值限制

F02 幾何測量與輪廓分析(16項)

編號 演算法模組 常見輸入 可提供輸出 專案確認要點
ALG-A07 總最小平方法直線擬合 同一座標系的二維點集 直線方向、位置及擬合殘差 最小平方法結果不自動排除離群點
ALG-A08 RANSAC 穩健模型估計 二維點集、模型類型及內點閾值 直線或圓模型、內點與殘差 模型類型與閾值明確後才能比較結果
ALG-A09 霍夫直線檢測 灰階或邊緣圖、長度和連接閾值 候選線段及位置 候選線段不是已識別的產品邊緣類別
ALG-A10 亞像素梯度卡尺 影像、卡尺採樣線及邊緣極性 採樣線上的亞像素邊緣位置 像素位置不直接等於物理尺寸準確度
ALG-A17 凸包旋轉卡尺法 同一座標系的輪廓點 最大及最小Feret徑 物理尺寸需要尺度標定
ALG-A18 法線截面雙邊緣測寬 二值掩膜、中心線及法線採樣參數 沿中心線的截面寬度 不能將二維寬度解釋為溝槽深度
ALG-A19 符號距離場輪廓偏差分析 已配準的參考及觀測掩膜 符號距離和輪廓偏差 配準誤差須與形狀誤差區分
ALG-A29 幾何正交距離圓擬合 二維近圓點集及迭代參數 幾何距離擬合圓及殘差 收斂結果受初值、點集品質及離群點比例影響
ALG-A30 Huber IRLS 穩健直線擬合 二維點集、迭代及Huber調節參數 穩健直線及權重訊息 穩健性有適用範圍,不能取代樣本品質檢查
ALG-A34 Chamfer 距離範本匹配 影像及模板邊緣 Chamfer匹配代價及候選位置 匹配距離不是類別機率
ALG-A35 Hu 不變矩輪廓匹配 兩個二維輪廓及比較方式 Hu形狀差異分數 分數不等同於經過校準的辨識置信度
ALG-A36 傅立葉輪廓描述子 有序閉合輪廓、取樣數和諧波數 傅立葉輪廓描述子 描述子不自動提供產品分類標籤
ALG-A41 三維點集正交平面擬合 有物理意義的三維點集 平面法向、位置及殘差 不能從普通二維照片憑空產生三維點
ALG-A45 雙向 Hausdorff 與 Chamfer 輪廓距離 兩個同座標系輪廓 雙向Hausdorff與Chamfer距離 距離閾值須依產品公差和採樣定義
ALG-A46 最小面積旋轉包絡矩形 二維點集 旋轉包絡矩形、方向與尺寸 外包矩形不取代全部尺寸與形位公差
ALG-A99 二維最小區域直線度 有限二維採樣點 最小包絡平行帶寬度及方向 不直接構成整套ISO或ASME型位公差檢驗

F03 分割顆粒與影像增強(32項)

編號 演算法模組 常見輸入 可提供輸出 專案確認要點
ALG-A11 Otsu 大津閾值分割 灰度图、反色及平滑设置 全域閾值、二值掩膜 需適合全域閾值的灰階分佈
ALG-A12 連通域標記與篩選 二值掩膜、面積下限及連通規則 區域列表、面積及位置 連通域不能自動區分產品類別
ALG-A13 標記控制分水嶺 影像、前景遮罩或種子參數 分水嶺區域及標籤 種子和前景品質決定可分離條件
ALG-A14 歸一化互相關模板匹配 參考模板及待搜尋圖片 匹配分數和候選位置 旋轉、縮放或透視變化需選擇對應配準方法並單獨驗證
ALG-A15 Zhang-Suen 骨架細化 二值掩膜及迭代上限 單像素骨架 骨架不自動包含缺陷語義
ALG-A16 歐氏距離變換 二值掩膜 像素距離場 二維掩膜距離不等於物理深度
ALG-A27 U-Net 語意分割 合法可用的產品域ONNX權重及預處理定義 分割掩膜及介面約定結果 項目需提供或訓練適用產品類別的模型權重,並確認權重許可和產品域驗證
ALG-A43 多尺度 LoG 斑點偵測 影像、多尺度及響應閾值 斑點候選中心、尺度及響應 候選尺度不直接等於物理粒徑
ALG-A44 DBSCAN 密度聚類 點或特徵、鄰域半徑及密度下限 聚類標籤及雜訊點 聚類不能自動命名缺陷種類
ALG-A47 自適應高斯閾值 灰階圖、視窗和偏置 局部閾值及二值掩膜 參數需結合缺陷尺度,不能通用於任意紋理
ALG-A48 Sauvola 局部閾值 灰階圖、視窗及局部統計參數 局部閾值圖與掩膜 需獨立標註確認,不是無條件缺陷檢測
ALG-A49 三角閾值分割 灰階圖及反色設置 三角法閾值與掩膜 需符合閾值模型的成像分佈
ALG-A50 GrabCut 前景分割 彩色圖及矩形或初始標籤 前景標籤與遮罩 需要初始化,不是產品域語意模型
ALG-A51 K-means 顏色分割 彩色圖、色彩空間及聚類數 顏色簇標籤和相關結果 顏色簇不等於合格與缺陷類別
ALG-A52 Chan-Vese 水平集 灰階圖、初始遮罩及演化參數 區域掩膜與迭代結果 複雜紋理需採用其他方法或組合驗證
ALG-A53 LoG 零交叉邊緣 灰階圖、濾波尺度及對比閾值 零交叉邊緣 邊緣響應不自動形成尺寸驗收結果
ALG-A54 Scharr 梯度邊緣 灰階圖及梯度閾值 梯度響應與邊緣 梯度強度不直接對應裂紋深度
ALG-A55 多尺度 Top-hat 背景校正 影像、多尺度結構元素及目標明暗屬性 背景校正及多尺度響應 處理不能證明目標材料的物理性質
ALG-A56 CLAHE 局部對比度增強 影像、對比限制及網格 增強影像 增強後的外觀變化不是新增測量訊息
ALG-A57 單尺度 Retinex 照明校正 影像及照明尺度 Retinex校正圖與相關結果 不恢復被遮蔽、飽和遺失的訊息
ALG-A58 雙邊濾波 影像、鄰域及雙邊權重 去雜訊影像 去噪效果須結合測量鏈評價
ALG-A59 非局部均值去噪 影像、雜訊強度及搜尋窗口 去雜訊影像 不承諾恢復低於成像分辨能力的結構
ALG-A60 形態學重建 種子圖、約束圖及連通規則 重建結果及迭代狀態 種子錯誤會改變結果,不能取代語意判斷
ALG-A61 二值孔洞填充 二值掩膜及連通規則 填孔掩膜和處理結果 真實孔洞若是偵測目標,不可被預處理抹除
ALG-A62 距離場 h-maxima 種子 二值掩膜、h值及最小間隔 距離場種子及相關結果 僅產生分割種子,不代表目標已正確分開
ALG-A63 骨架圖路徑追蹤 單像素骨架或顯式細化選項 骨架節點、分支與路徑 路徑追蹤不自動區分裂紋、刮傷和灰塵
ALG-A64 動態規劃邊界路徑 二維代價圖、路徑軸及端點約束 約束路徑及代價 路徑依賴代價圖,不是通用輪廓真值
ALG-A65 灰階重心雷射中心線 雷射線影像、掃描軸及背景參數 灰階重心中心線 像素中心線不等於已標定三維輪廓
ALG-A66 Gabor 紋理特徵 影像、方向與波長濾波參數 Gabor紋理反應與特徵 特徵提取不自動完成缺陷分類
ALG-A80 局部二值模式 LBP 紋理 灰階圖 LBP編碼及紋理統計 編碼本身沒有缺陷類別意義
ALG-A81 GLCM 灰階共生矩陣紋理 量化灰階圖、級數及空間偏移 共生矩陣與紋理特徵 特徵閾值需按任務驗證
ALG-A82 频域高斯陷波去周期条纹 影像、條紋頻率位置及陷波頻寬 去週期條紋影像 需區分真實重複結構與乾擾條紋

F04 配準相機與雷射幾何(10項)

編號 演算法模組 常見輸入 可提供輸出 專案確認要點
ALG-A20 Steger 亞像素脊線擷取 灰階線狀影像、尺度及曲率參數 亞像素脊線位置與相關響應 脊線提取不是已完成的三維掃描系統
ALG-A21 雷射三角測量 相機內外參、雷射平面及影像位置 射線與標定平面的三維交點 必須使用實際設備標定,不能以合成參數交付實體精度
ALG-A31 相位相關平移配準 具有重疊紋理的參考圖與移動圖 二維平移及相關響應 適用於平移估計;旋轉或三維姿態需選擇對應模型
ALG-A32 ECC 強度配準 重疊影像、運動模型及初值 指定二維變換及相關指標 依賴初值和影像相似性,專案需設定失敗判定
ALG-A33 ORB 與 RANSAC 單應配準 具有足夠特徵的來源圖與目標圖 特徵關聯及單應變換 適用單應關係;不自動覆蓋多深度場景
ALG-A37 二維剛體 ICP 配準 二維點集、接近的初始姿態和修剪參數 二維剛體變換及配準殘差 不是全域配準,也不是立體機器人手眼標定
ALG-A38 對應點單應擬合 同一平面對應點 二維單應矩陣 不能將單平面關係取代完整三維標定
ALG-A39 多視棋盤格相機標定 多視棋盤格圖或角點、尺寸和圖像規格 相機內參、畸變及標定結果 裝機與鏡頭狀態變化後須復核
ALG-A40 影像及點去畸變 影像或像素點、相機內參及畸變 校正影像或點座標 依賴有效內參,不承諾消除所有光學誤差
ALG-A42 SVD 剛體及相似配準 順序對應的二維點集合及尺度選項 剛體或相似變換 適用於二維對應點;三維配準需建立獨立資料與座標鏈路

F05 運動時序與過程統計(20項)

編號 演算法模組 常見輸入 可提供輸出 專案確認要點
ALG-A22 卡爾曼濾波 初始位置、時間步長及噪音設定 二維位置及速度狀態估計 濾波輸出不能把無效測量偽裝成實測位置
ALG-A23 匈牙利匹配 代價矩陣與拒配閾值 一對一關聯及未匹配項 關聯結果不構成真實身份識別
ALG-A24 Savitzky-Golay 平滑與求導 序列、視窗、階數、取樣間隔及導數階 平滑或導數序列 均勻採樣和參數合法性須明確
ALG-A25 Welch 功率譜估計 訊號、取樣率及分段窗口 頻率和功率譜密度 不能用單段譜推斷長期設備健康
ALG-A26 馬氏距離異常檢測 正常訓練特徵、正則化與待測特徵 距離評分及經確認的異常判斷 需真實正常分佈,不是通用缺陷辨識器
ALG-A67 Lucas-Kanade 稀疏光流 連續兩幀、初始角點及追蹤參數 稀疏點運動與有效狀態 光流追蹤不等於跨鏡身份關聯
ALG-A68 Farneback 稠密光流 連續兩幀及光流參數 稠密二維位移場 影像位移不直接等於三維速度
ALG-A69 MOG2 背景分離 連續幀及背景學習參數 前景掩膜 前景不是人員、火焰等具體類別
ALG-A70 雙幀差分運動檢測 兩幀、差分閾值及形態參數 運動差分掩膜 不能獨立判斷運動目標類別或危險等級
ALG-A71 指數移動平均 EWMA 數值序列、平滑係數及初值 EWMA平滑序列 平滑不能消除系統漂移
ALG-A72 Hampel 中值絕對偏差異常濾波 數值序列、視窗及MAD閾值 離群標記與處理序列 替換值不能冒充原始有效測量
ALG-A73 雙側 CUSUM 變化檢測 序列、目標平均值、允許偏差及閾值 變化統計量及警報候選 警報門限和設備處置另行約定
ALG-A74 短時傅立葉變換 STFT 訊號、取樣率、視窗及步長 時頻譜 取樣率不足時無法恢復混疊訊息
ALG-A75 FFT 自相關週期估計 序列、取樣率及搜尋延遲範圍 週期或頻率估計及相關量 週期存在不直接證明設備故障類型
ALG-A76 動態時間規整 DTW 兩段序列及路徑視窗 DTW距離與對齊路徑 相似距離不等於真實事件身份
ALG-A77 遞迴最小平方法 RLS 特徵向量、觀測值及遞歸參數 線上模型係數與狀態 需定義模型與資料激勵條件
ALG-A78 Welford 線上均值與協方差 維度一致的觀測序列 線上均值、協方差及計數 統計量不自動給予過程合格判定
ALG-A79 PCA 重建殘差異常評分 正常樣本、特徵標準化和主成分數 重建殘差異常分數 需建立正常基準,不是通用故障診斷
ALG-A83 短時 RMS 包絡 訊號、視窗及步長 短時RMS包絡 物理單位依賴輸入標定
ALG-A84 一維峰值顯著度檢測 一維序列、顯著度及最小間隔 峰值位置與峰值相關量 峰值不能自動命名為缺陷事件

F06 潤濕物性反演(7項)

編號 演算法模組 常見輸入 可提供輸出 專案確認要點
ALG-A85 OWRK 固體表面能反演 多探針液接觸角與分量物性 OWRK固體表面能分量 需採用一致物性單位及適用表面模型
ALG-A86 Wu 調和均值表面能反演 接觸角及探針液分散與極性分量 Wu表面能分量 不從單張未標定圖直接推斷物性
ALG-A87 vOCG 酸鹼表面能反演 接觸角及探針液LW與酸鹼分量 vOCG表面能分量 探針液組合與模型假設必須明確
ALG-A88 Zisman 臨界表面張力外推 系列接觸角與液體表面張力 臨界表面張力外推及擬合 外推值不等同於通用固體表面能真值
ALG-A89 Washburn 粉末吸液接觸角 時間、吸液品質、材料常數及SI制液體物性 粉末吸液接觸角及回歸量 同裝填條件校準材料常數;不同約定常數不可混用
ALG-A90 懸滴 Young-Laplace 正向積分 Bond參數、積分弧長與步長 無量綱懸滴正向輪廓 不是從照片求未知表面張力的完整ADSA
ALG-A91 懸滴曲率回歸張力估計 以米計的預平滑半輪廓、密度差和重力 曲率回歸張力估計 高度方向須一致;不是完整非線性ADSA擬合

F07 計量統計與不確定度(6項)

編號 演算法模組 常見輸入 可提供輸出 專案確認要點
ALG-A94 Bootstrap 百分位置信區間 樣本、統計函數、置信水準及重採樣設置 百分位區間及統計結果 置信水準設定不等於有限樣本的實際覆蓋證明
ALG-A95 蒙特卡洛測量不確定度傳播 測量模型、輸入平均值與協方差、抽樣設置 模型輸出分佈及不確定度統計 遺漏的系統項不會由抽樣自動補全
ALG-A96 交叉 ANOVA 量具 R&R 按零件、操作者、重複次數排列的平衡數據 量具R&R及變異數分量 不自動合併交互項或執行完整顯著性檢驗
ALG-A97 加權最小平方法線性標定 參考x與測量y及標準不確定度 線性標定係數及殘差 迴歸殘差不是完整設備不確定度
ALG-A98 Deming 雙變量誤差回歸 兩變量觀測及誤差方差比 Deming回歸係數 誤差方差比需有依據
ALG-A100 一階靈敏度不確定度傳播 測量模型、平均值、協方差及差分步長 靈敏度與一階傳播結果 強非線性和遺漏系統量需另行評價

F08 雷射光點分析(12項)

編號 演算法模組 常見輸入 可提供輸出 專案確認要點
ALG-A101 自適應閾值雷射點灰階質心 灰階幀、ROI、背景及候選篩選參數 單一亮點中心、面積和能量相關量 物理座標輸出需結合目標相機、鏡頭和標定資料驗證
ALG-A102 多雷射點連通域候選萃取 灰階幀、ROI及連通域篩選參數 多個亮點候選及其特徵 接觸或重疊亮斑不自動分離
ALG-A103 對數二次曲面亞像素光點中心 近似高斯光斑、視窗和背景參數 對數二次中心及擬合結果 強飽和、非高斯和視窗截斷可能產生偏差
ALG-A104 梯度徑向對稱光點中心 近徑向對稱光斑及梯度篩選參數 徑向對稱中心及殘差 需依反射目標形態和成像條件驗證定位效果
ALG-A105 雷射光斑二階矩與主軸直徑 線性響應光斑強度、背景及ROI 質心、二階矩主次軸直徑與方向 只實現二階矩計算,不是完整ISO11146測量系統
ALG-A106 雷射光斑環圍能量直徑 光斑、中心、能量比例和尺度 指定比例的環圍能量半徑及直徑 灰階積分不自動轉換為瓦特或焦耳
ALG-A107 雷射點品質與可用性診斷 光斑、曝光相關資訊及質量限值 饱和、截断、轴比等诊断量与限值检查 品質門限需設備試驗,不是自動驗收標準
ALG-A108 多雷射點參考位元一對一匹配 同座標系偵測點、參考點和距離上限 一對一匹配及遺漏項 不估計外參,也不證明目標身份
ALG-A109 二維像素到物理座標多項式標定 同平面像素與參考座標、映射階數 二維映射係數及擬合結果 二維經驗映射不取代三維標定
ALG-A110 雷射點標定映射與協方差傳播 像素點、有效二維標定和像素協方差 映射座標及給定協方差的傳播 不自動包含標定板、溫漂及模型偏差
ALG-A111 雷射點像素到相機視線角轉換 像素點、相機內參和畸變 相機座標系單位視線及角度 缺少距離訊息,不能單獨恢復三維點
ALG-A112 雷射點二維重複性與覆蓋橢圓 同條件重複二維座標和覆蓋水平 平均值、協方差、徑向RMS及覆蓋橢圓 二維常態覆蓋假設不證明物理準確度或長期穩定

從評估到交付

  1. 需求確認: 明確任務、數據、輸出、指標、平台、介面、設備數量和規劃時間。
  2. 樣本驗證: 固定樣本與評估口徑,形成演算法基線、適用條件與實作範圍。
  3. 開發與聯調: 完成演算法組合、資料存取、參數配置、異常狀態、結果介面和日誌。
  4. 獨立驗收: 依約定資料或設備工位驗證效果、耗時、穩定性及恢復機制。
  5. 授權與維護: 依裝置、場景和版本確定運行許可,持續處理原場景問題與受控升級。

交付內容可包括演算法庫或程式、呼叫範例、介面與參數說明、配置或標定檔案、測試報告、版本說明和復原方案。原始碼、項目專用模型、第三方元件、硬體和新增平台適配在報價中分別確認。

常見問題

如何判斷現有演算法能否用於我的設備?

先提供原始樣本、任務目標、參考結果和設備條件。完成資料檢查與樣本驗證後,可明確可重複使用能力、需要補充的開發、預期交付物和驗收方法。

是否支援Windows、Linux和嵌入式平台?

可根據目標系統、處理器和呼叫介面評估適配。專案會同時確認依賴、資源、交付形式、安裝方式和效能測試條件。

為什麼準確率和處理速度需要依項目確認?

指標會隨樣本難度、影像解析度、演算法組合、硬體和統計口徑變化。透過客戶樣本和目標平台測試,可形成可驗收的項目指標。

是否可以依設備數量授權?

可依客戶主體、設備或工位、演算法場景、交付版本和期限約定許可。換機、離線運作、恢復和新增設備規則在合約中明確。

後續是否可以持續優化?

可針對原始場景新增樣本、誤判問題和工況變化進行復現、改進與迴歸驗證。新增產品、硬體或功能依變更範圍評估。

專案諮詢

提交樣本與設備條件,明確開發與交付範圍

視覺演算法模組與 SDK 開發服務

請說明任務物件、原始圖片或影片、目標指標、裝置平台、介面和樣本情況。

電話:13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

所填資訊僅用於本次項目評估與聯繫,請勿提交未經授權的個人資訊或敏感資料。