視覺演算法模組與 SDK 開發服務
面向設備製造商、系統整合商和企業研發團隊,依任務選擇影像處理與測量、雷射光點與雷射線、紅外線影像與熱成像演算法服務。結合原始樣本、設備條件、介面和驗收要求,明確開發、SDK封裝、設備適配與版本維護範圍。
按任務選擇演算法服務
服務範圍
視覺演算法專案通常同時涉及成像、資料、演算法、介面和設備運行環境。服務從客戶的檢測或測量任務出發,將所需能力組合成可執行方案。
| 客戶需求 | 服務內容 | 主要輸出 |
|---|---|---|
| 新設備演算法開發 | 樣本評估、方案設計、演算法組合、介面開發與設備聯調 | 專案軟體、參數配置、介面文件和驗證報告 |
| 現有設備優化 | 問題復現、樣本分析、參數或演算法調整、新舊版本迴歸 | 優化版本、問題記錄、比較結果和升級說明 |
| 演算法模組集成 | 輸入輸出確認、函式庫或程式存取、異常狀態和結果格式適配 | 呼叫介面、範例、狀態碼和部署說明 |
| 多設備複製部署 | 固定軟體與設定、設備許可、安裝檢查和版本管理 | 授權記錄、部署包、設備台帳和復原方案 |
| 持續維護與迭代 | 原場景問題處理、回歸測試、受控更新和變更評估 | 維護記錄、版本說明和迭代計劃 |
重點演算法能力
演算法能力依企業任務組織。一個專案可組合多個模組,並根據成像、標定、業務規則和運行平台增加專案適配。
| 能力頁面 | 適用任務 | 典型輸出 | 項目確認重點 |
|---|---|---|---|
| 雷射光點定位與光斑分析 | 單點、多點和光斑檢測 | 中心座標、形態參數、質量狀態和標定結果 | 波長、曝光、光斑尺度、參考位置與設備平台 |
| 接觸角與液滴輪廓分析 | 座滴輪廓、基線和動態過程分析 | 接觸角、擬合參數、幾何量和接觸線狀態 | 液滴模型、基線、尺度、試驗條件和參考方法 |
| 二維尺寸與輪廓測量 | 邊緣、輪廓和二維點集測量 | 位置、尺寸、擬合殘差和形狀偏差 | 圖面、公差、基準、標定、光學條件和量值參考 |
| 影像配準與相機標定 | 影像對齊、二維映射、標定與去畸變 | 變換矩陣、相機參數、畸變參數和殘差 | 座標系、變換模型、標定板、視野和重標定條件 |
| 影像分割與顆粒分析 | 區域萃取、顆粒計數、沾黏分離和形態統計 | 掩膜、物件、計數、輪廓、骨架和分佈 | 前景定義、標註規則、沾黏、邊界物件和尺度 |
| 運動時序與過程統計 | 運動估計、趨勢、週期、事件和異常評分 | 位移、軌跡、頻譜、週期、事件和評分 | 時間戳、取樣率、尺度、工況、正常基線和事件定義 |
| 潤濕物性與界面參數反演 | 表面能、臨界張力、粉末吸液和懸滴計算 | 物性分量、迴歸結果、殘差和狀態 | 模型、液體物性、單位、溫度、標定和參考方法 |
| 測量重複性與不確定度評估 | 測量系統分析、標定迴歸和不確定度計算 | 變異數分量、區間、迴歸參數和不確定度 | 試驗設計、參考器具、量程、公差和誤差模型 |
| 設備授權與持續優化服務 | 首型开发、设备复制、维护和版本升级 | 許可範圍、版本台帳、維護記錄和變更方案 | 設備數量、場景、期限、換機、離線運作和服務範圍 |
項目選用方法
- 明確業務結果: 確定需要座標、尺寸、角度、計數、掩膜、趨勢、物性參數或合格判定,並說明單位和下游用途。
- 提供代表性數據: 提交正常、邊界和異常樣本,以及視野、解析度、曝光、工作距離、取樣率和現場變化。
- 確定評價方法: 明確參考值、標註規則、樣本分層、統計分母和通過閾值。
- 確認運作環境: 說明作業系統、CPU/GPU/NPU、記憶體、呼叫語言、介面、並發、裝置數量和離線需求。
- 完成樣本驗證: 在獨立資料上檢查效果、失敗處理、耗時和資源佔用,再確定開發和部署範圍。
已有設備升級專案還需提供目前軟體版本、問題樣本、運作日誌、相機與光源配置及近期硬體變更記錄。
樣本驗證與效能確認
演算法性能與成像條件、樣本分佈、目標平台和評估口徑直接相關。專案採用分階段驗證,使精準度、檢出率、誤報率、處理拍子和穩定性有明確的適用範圍。
| 階段 | 主要工作 | 客戶可獲得的結果 |
|---|---|---|
| 數據檢查 | 核對原始資料、參考值、異常樣本和評價規則 | 輸入清單、缺口和驗證計劃 |
| 樣本基線 | 比較演算法路線,記錄參數、結果和失敗條件 | 可行性結論、基線結果和實施建議 |
| 專案開發 | 完成模組組合、介面、設定、狀態與日誌 | 可運行版本、介面資料和測試記錄 |
| 獨立資料驗收 | 使用未參與調參的數據或約定工位複測 | 指標統計、逐樣本結果及驗收記錄 |
| 設備運作驗證 | 檢查連續運作、異常復原、資源與版本管理 | 運行報告、部署說明和回退方案 |
效能指標在專案立項時定義,並與樣本範圍、硬體配置、軟體版本和測試條件一併記錄。
112項演算法能力目錄
下表用於初步技術選型,列出主要輸入、可提供的輸出及項目確認要點。最終介面欄位、單位、閾值、平台和驗收標準在專案方案中確定。
F01 液滴輪廓與接觸角(9項)
| 編號 | 演算法模組 | 常見輸入 | 可提供輸出 | 專案確認要點 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A01 | 高寬法(θ/2) | 座滴輪廓、接觸基線及座標約定 | 接觸角及用於複核的幾何量 | 適用球冠近似;不是任意液滴形狀模型 |
| ALG-A02 | 代數最小二乘圓擬合 | 座滴輪廓及接觸點定義 | 擬合圓參數與接觸角 | 整體圓弧假設;需檢查重力變形影響 |
| ALG-A03 | 橢圓擬合 | 二維輪廓點 | 橢圓中心、軸長及方向 | 用於輸出幾何橢圓參數;接觸角需結合基線、接觸點和角度定義計算 |
| ALG-A04 | 穩健局部多項式擬合 | 座滴輪廓、多項式階數及擬合區間 | 接觸點切線與角度 | 擬合區間和基線須按樣本確認 |
| ALG-A05 | 平滑三次 B 樣條擬合 | 座滴輪廓、控制點與平滑參數 | 平滑輪廓、局部切線與角度 | 平滑不能恢復被遮蔽的真實輪廓 |
| ALG-A06 | Young-Laplace / ADSA | 滿足軸對稱及靜力平衡條件的座滴輪廓 | 座滴模型擬合參數及角度 | 座滴模型不會自動變成懸滴影像反演產品 |
| ALG-A28 | 軸對稱輪廓數值積分 | 軸向與半徑輪廓、長度尺度 | 軸對稱體積及表面積 | 需軸對稱及可靠輪廓;物理量依賴尺度 |
| ALG-A92 | 傾斜基線座標校正 | 輪廓點、基線端點及影像軸方向 | 校正座標及變換 | 座標校正不能修復錯誤接觸點 |
| ALG-A93 | 接觸線運動狀態識別 | 時間、接觸半徑、角度及速度閘限 | 接觸線運動狀態與分段 | 狀態判定受採樣率及閾值限制 |
F02 幾何測量與輪廓分析(16項)
| 編號 | 演算法模組 | 常見輸入 | 可提供輸出 | 專案確認要點 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A07 | 總最小平方法直線擬合 | 同一座標系的二維點集 | 直線方向、位置及擬合殘差 | 最小平方法結果不自動排除離群點 |
| ALG-A08 | RANSAC 穩健模型估計 | 二維點集、模型類型及內點閾值 | 直線或圓模型、內點與殘差 | 模型類型與閾值明確後才能比較結果 |
| ALG-A09 | 霍夫直線檢測 | 灰階或邊緣圖、長度和連接閾值 | 候選線段及位置 | 候選線段不是已識別的產品邊緣類別 |
| ALG-A10 | 亞像素梯度卡尺 | 影像、卡尺採樣線及邊緣極性 | 採樣線上的亞像素邊緣位置 | 像素位置不直接等於物理尺寸準確度 |
| ALG-A17 | 凸包旋轉卡尺法 | 同一座標系的輪廓點 | 最大及最小Feret徑 | 物理尺寸需要尺度標定 |
| ALG-A18 | 法線截面雙邊緣測寬 | 二值掩膜、中心線及法線採樣參數 | 沿中心線的截面寬度 | 不能將二維寬度解釋為溝槽深度 |
| ALG-A19 | 符號距離場輪廓偏差分析 | 已配準的參考及觀測掩膜 | 符號距離和輪廓偏差 | 配準誤差須與形狀誤差區分 |
| ALG-A29 | 幾何正交距離圓擬合 | 二維近圓點集及迭代參數 | 幾何距離擬合圓及殘差 | 收斂結果受初值、點集品質及離群點比例影響 |
| ALG-A30 | Huber IRLS 穩健直線擬合 | 二維點集、迭代及Huber調節參數 | 穩健直線及權重訊息 | 穩健性有適用範圍,不能取代樣本品質檢查 |
| ALG-A34 | Chamfer 距離範本匹配 | 影像及模板邊緣 | Chamfer匹配代價及候選位置 | 匹配距離不是類別機率 |
| ALG-A35 | Hu 不變矩輪廓匹配 | 兩個二維輪廓及比較方式 | Hu形狀差異分數 | 分數不等同於經過校準的辨識置信度 |
| ALG-A36 | 傅立葉輪廓描述子 | 有序閉合輪廓、取樣數和諧波數 | 傅立葉輪廓描述子 | 描述子不自動提供產品分類標籤 |
| ALG-A41 | 三維點集正交平面擬合 | 有物理意義的三維點集 | 平面法向、位置及殘差 | 不能從普通二維照片憑空產生三維點 |
| ALG-A45 | 雙向 Hausdorff 與 Chamfer 輪廓距離 | 兩個同座標系輪廓 | 雙向Hausdorff與Chamfer距離 | 距離閾值須依產品公差和採樣定義 |
| ALG-A46 | 最小面積旋轉包絡矩形 | 二維點集 | 旋轉包絡矩形、方向與尺寸 | 外包矩形不取代全部尺寸與形位公差 |
| ALG-A99 | 二維最小區域直線度 | 有限二維採樣點 | 最小包絡平行帶寬度及方向 | 不直接構成整套ISO或ASME型位公差檢驗 |
F03 分割顆粒與影像增強(32項)
| 編號 | 演算法模組 | 常見輸入 | 可提供輸出 | 專案確認要點 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A11 | Otsu 大津閾值分割 | 灰度图、反色及平滑设置 | 全域閾值、二值掩膜 | 需適合全域閾值的灰階分佈 |
| ALG-A12 | 連通域標記與篩選 | 二值掩膜、面積下限及連通規則 | 區域列表、面積及位置 | 連通域不能自動區分產品類別 |
| ALG-A13 | 標記控制分水嶺 | 影像、前景遮罩或種子參數 | 分水嶺區域及標籤 | 種子和前景品質決定可分離條件 |
| ALG-A14 | 歸一化互相關模板匹配 | 參考模板及待搜尋圖片 | 匹配分數和候選位置 | 旋轉、縮放或透視變化需選擇對應配準方法並單獨驗證 |
| ALG-A15 | Zhang-Suen 骨架細化 | 二值掩膜及迭代上限 | 單像素骨架 | 骨架不自動包含缺陷語義 |
| ALG-A16 | 歐氏距離變換 | 二值掩膜 | 像素距離場 | 二維掩膜距離不等於物理深度 |
| ALG-A27 | U-Net 語意分割 | 合法可用的產品域ONNX權重及預處理定義 | 分割掩膜及介面約定結果 | 項目需提供或訓練適用產品類別的模型權重,並確認權重許可和產品域驗證 |
| ALG-A43 | 多尺度 LoG 斑點偵測 | 影像、多尺度及響應閾值 | 斑點候選中心、尺度及響應 | 候選尺度不直接等於物理粒徑 |
| ALG-A44 | DBSCAN 密度聚類 | 點或特徵、鄰域半徑及密度下限 | 聚類標籤及雜訊點 | 聚類不能自動命名缺陷種類 |
| ALG-A47 | 自適應高斯閾值 | 灰階圖、視窗和偏置 | 局部閾值及二值掩膜 | 參數需結合缺陷尺度,不能通用於任意紋理 |
| ALG-A48 | Sauvola 局部閾值 | 灰階圖、視窗及局部統計參數 | 局部閾值圖與掩膜 | 需獨立標註確認,不是無條件缺陷檢測 |
| ALG-A49 | 三角閾值分割 | 灰階圖及反色設置 | 三角法閾值與掩膜 | 需符合閾值模型的成像分佈 |
| ALG-A50 | GrabCut 前景分割 | 彩色圖及矩形或初始標籤 | 前景標籤與遮罩 | 需要初始化,不是產品域語意模型 |
| ALG-A51 | K-means 顏色分割 | 彩色圖、色彩空間及聚類數 | 顏色簇標籤和相關結果 | 顏色簇不等於合格與缺陷類別 |
| ALG-A52 | Chan-Vese 水平集 | 灰階圖、初始遮罩及演化參數 | 區域掩膜與迭代結果 | 複雜紋理需採用其他方法或組合驗證 |
| ALG-A53 | LoG 零交叉邊緣 | 灰階圖、濾波尺度及對比閾值 | 零交叉邊緣 | 邊緣響應不自動形成尺寸驗收結果 |
| ALG-A54 | Scharr 梯度邊緣 | 灰階圖及梯度閾值 | 梯度響應與邊緣 | 梯度強度不直接對應裂紋深度 |
| ALG-A55 | 多尺度 Top-hat 背景校正 | 影像、多尺度結構元素及目標明暗屬性 | 背景校正及多尺度響應 | 處理不能證明目標材料的物理性質 |
| ALG-A56 | CLAHE 局部對比度增強 | 影像、對比限制及網格 | 增強影像 | 增強後的外觀變化不是新增測量訊息 |
| ALG-A57 | 單尺度 Retinex 照明校正 | 影像及照明尺度 | Retinex校正圖與相關結果 | 不恢復被遮蔽、飽和遺失的訊息 |
| ALG-A58 | 雙邊濾波 | 影像、鄰域及雙邊權重 | 去雜訊影像 | 去噪效果須結合測量鏈評價 |
| ALG-A59 | 非局部均值去噪 | 影像、雜訊強度及搜尋窗口 | 去雜訊影像 | 不承諾恢復低於成像分辨能力的結構 |
| ALG-A60 | 形態學重建 | 種子圖、約束圖及連通規則 | 重建結果及迭代狀態 | 種子錯誤會改變結果,不能取代語意判斷 |
| ALG-A61 | 二值孔洞填充 | 二值掩膜及連通規則 | 填孔掩膜和處理結果 | 真實孔洞若是偵測目標,不可被預處理抹除 |
| ALG-A62 | 距離場 h-maxima 種子 | 二值掩膜、h值及最小間隔 | 距離場種子及相關結果 | 僅產生分割種子,不代表目標已正確分開 |
| ALG-A63 | 骨架圖路徑追蹤 | 單像素骨架或顯式細化選項 | 骨架節點、分支與路徑 | 路徑追蹤不自動區分裂紋、刮傷和灰塵 |
| ALG-A64 | 動態規劃邊界路徑 | 二維代價圖、路徑軸及端點約束 | 約束路徑及代價 | 路徑依賴代價圖,不是通用輪廓真值 |
| ALG-A65 | 灰階重心雷射中心線 | 雷射線影像、掃描軸及背景參數 | 灰階重心中心線 | 像素中心線不等於已標定三維輪廓 |
| ALG-A66 | Gabor 紋理特徵 | 影像、方向與波長濾波參數 | Gabor紋理反應與特徵 | 特徵提取不自動完成缺陷分類 |
| ALG-A80 | 局部二值模式 LBP 紋理 | 灰階圖 | LBP編碼及紋理統計 | 編碼本身沒有缺陷類別意義 |
| ALG-A81 | GLCM 灰階共生矩陣紋理 | 量化灰階圖、級數及空間偏移 | 共生矩陣與紋理特徵 | 特徵閾值需按任務驗證 |
| ALG-A82 | 频域高斯陷波去周期条纹 | 影像、條紋頻率位置及陷波頻寬 | 去週期條紋影像 | 需區分真實重複結構與乾擾條紋 |
F04 配準相機與雷射幾何(10項)
| 編號 | 演算法模組 | 常見輸入 | 可提供輸出 | 專案確認要點 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A20 | Steger 亞像素脊線擷取 | 灰階線狀影像、尺度及曲率參數 | 亞像素脊線位置與相關響應 | 脊線提取不是已完成的三維掃描系統 |
| ALG-A21 | 雷射三角測量 | 相機內外參、雷射平面及影像位置 | 射線與標定平面的三維交點 | 必須使用實際設備標定,不能以合成參數交付實體精度 |
| ALG-A31 | 相位相關平移配準 | 具有重疊紋理的參考圖與移動圖 | 二維平移及相關響應 | 適用於平移估計;旋轉或三維姿態需選擇對應模型 |
| ALG-A32 | ECC 強度配準 | 重疊影像、運動模型及初值 | 指定二維變換及相關指標 | 依賴初值和影像相似性,專案需設定失敗判定 |
| ALG-A33 | ORB 與 RANSAC 單應配準 | 具有足夠特徵的來源圖與目標圖 | 特徵關聯及單應變換 | 適用單應關係;不自動覆蓋多深度場景 |
| ALG-A37 | 二維剛體 ICP 配準 | 二維點集、接近的初始姿態和修剪參數 | 二維剛體變換及配準殘差 | 不是全域配準,也不是立體機器人手眼標定 |
| ALG-A38 | 對應點單應擬合 | 同一平面對應點 | 二維單應矩陣 | 不能將單平面關係取代完整三維標定 |
| ALG-A39 | 多視棋盤格相機標定 | 多視棋盤格圖或角點、尺寸和圖像規格 | 相機內參、畸變及標定結果 | 裝機與鏡頭狀態變化後須復核 |
| ALG-A40 | 影像及點去畸變 | 影像或像素點、相機內參及畸變 | 校正影像或點座標 | 依賴有效內參,不承諾消除所有光學誤差 |
| ALG-A42 | SVD 剛體及相似配準 | 順序對應的二維點集合及尺度選項 | 剛體或相似變換 | 適用於二維對應點;三維配準需建立獨立資料與座標鏈路 |
F05 運動時序與過程統計(20項)
| 編號 | 演算法模組 | 常見輸入 | 可提供輸出 | 專案確認要點 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A22 | 卡爾曼濾波 | 初始位置、時間步長及噪音設定 | 二維位置及速度狀態估計 | 濾波輸出不能把無效測量偽裝成實測位置 |
| ALG-A23 | 匈牙利匹配 | 代價矩陣與拒配閾值 | 一對一關聯及未匹配項 | 關聯結果不構成真實身份識別 |
| ALG-A24 | Savitzky-Golay 平滑與求導 | 序列、視窗、階數、取樣間隔及導數階 | 平滑或導數序列 | 均勻採樣和參數合法性須明確 |
| ALG-A25 | Welch 功率譜估計 | 訊號、取樣率及分段窗口 | 頻率和功率譜密度 | 不能用單段譜推斷長期設備健康 |
| ALG-A26 | 馬氏距離異常檢測 | 正常訓練特徵、正則化與待測特徵 | 距離評分及經確認的異常判斷 | 需真實正常分佈,不是通用缺陷辨識器 |
| ALG-A67 | Lucas-Kanade 稀疏光流 | 連續兩幀、初始角點及追蹤參數 | 稀疏點運動與有效狀態 | 光流追蹤不等於跨鏡身份關聯 |
| ALG-A68 | Farneback 稠密光流 | 連續兩幀及光流參數 | 稠密二維位移場 | 影像位移不直接等於三維速度 |
| ALG-A69 | MOG2 背景分離 | 連續幀及背景學習參數 | 前景掩膜 | 前景不是人員、火焰等具體類別 |
| ALG-A70 | 雙幀差分運動檢測 | 兩幀、差分閾值及形態參數 | 運動差分掩膜 | 不能獨立判斷運動目標類別或危險等級 |
| ALG-A71 | 指數移動平均 EWMA | 數值序列、平滑係數及初值 | EWMA平滑序列 | 平滑不能消除系統漂移 |
| ALG-A72 | Hampel 中值絕對偏差異常濾波 | 數值序列、視窗及MAD閾值 | 離群標記與處理序列 | 替換值不能冒充原始有效測量 |
| ALG-A73 | 雙側 CUSUM 變化檢測 | 序列、目標平均值、允許偏差及閾值 | 變化統計量及警報候選 | 警報門限和設備處置另行約定 |
| ALG-A74 | 短時傅立葉變換 STFT | 訊號、取樣率、視窗及步長 | 時頻譜 | 取樣率不足時無法恢復混疊訊息 |
| ALG-A75 | FFT 自相關週期估計 | 序列、取樣率及搜尋延遲範圍 | 週期或頻率估計及相關量 | 週期存在不直接證明設備故障類型 |
| ALG-A76 | 動態時間規整 DTW | 兩段序列及路徑視窗 | DTW距離與對齊路徑 | 相似距離不等於真實事件身份 |
| ALG-A77 | 遞迴最小平方法 RLS | 特徵向量、觀測值及遞歸參數 | 線上模型係數與狀態 | 需定義模型與資料激勵條件 |
| ALG-A78 | Welford 線上均值與協方差 | 維度一致的觀測序列 | 線上均值、協方差及計數 | 統計量不自動給予過程合格判定 |
| ALG-A79 | PCA 重建殘差異常評分 | 正常樣本、特徵標準化和主成分數 | 重建殘差異常分數 | 需建立正常基準,不是通用故障診斷 |
| ALG-A83 | 短時 RMS 包絡 | 訊號、視窗及步長 | 短時RMS包絡 | 物理單位依賴輸入標定 |
| ALG-A84 | 一維峰值顯著度檢測 | 一維序列、顯著度及最小間隔 | 峰值位置與峰值相關量 | 峰值不能自動命名為缺陷事件 |
F06 潤濕物性反演(7項)
| 編號 | 演算法模組 | 常見輸入 | 可提供輸出 | 專案確認要點 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A85 | OWRK 固體表面能反演 | 多探針液接觸角與分量物性 | OWRK固體表面能分量 | 需採用一致物性單位及適用表面模型 |
| ALG-A86 | Wu 調和均值表面能反演 | 接觸角及探針液分散與極性分量 | Wu表面能分量 | 不從單張未標定圖直接推斷物性 |
| ALG-A87 | vOCG 酸鹼表面能反演 | 接觸角及探針液LW與酸鹼分量 | vOCG表面能分量 | 探針液組合與模型假設必須明確 |
| ALG-A88 | Zisman 臨界表面張力外推 | 系列接觸角與液體表面張力 | 臨界表面張力外推及擬合 | 外推值不等同於通用固體表面能真值 |
| ALG-A89 | Washburn 粉末吸液接觸角 | 時間、吸液品質、材料常數及SI制液體物性 | 粉末吸液接觸角及回歸量 | 同裝填條件校準材料常數;不同約定常數不可混用 |
| ALG-A90 | 懸滴 Young-Laplace 正向積分 | Bond參數、積分弧長與步長 | 無量綱懸滴正向輪廓 | 不是從照片求未知表面張力的完整ADSA |
| ALG-A91 | 懸滴曲率回歸張力估計 | 以米計的預平滑半輪廓、密度差和重力 | 曲率回歸張力估計 | 高度方向須一致;不是完整非線性ADSA擬合 |
F07 計量統計與不確定度(6項)
| 編號 | 演算法模組 | 常見輸入 | 可提供輸出 | 專案確認要點 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A94 | Bootstrap 百分位置信區間 | 樣本、統計函數、置信水準及重採樣設置 | 百分位區間及統計結果 | 置信水準設定不等於有限樣本的實際覆蓋證明 |
| ALG-A95 | 蒙特卡洛測量不確定度傳播 | 測量模型、輸入平均值與協方差、抽樣設置 | 模型輸出分佈及不確定度統計 | 遺漏的系統項不會由抽樣自動補全 |
| ALG-A96 | 交叉 ANOVA 量具 R&R | 按零件、操作者、重複次數排列的平衡數據 | 量具R&R及變異數分量 | 不自動合併交互項或執行完整顯著性檢驗 |
| ALG-A97 | 加權最小平方法線性標定 | 參考x與測量y及標準不確定度 | 線性標定係數及殘差 | 迴歸殘差不是完整設備不確定度 |
| ALG-A98 | Deming 雙變量誤差回歸 | 兩變量觀測及誤差方差比 | Deming回歸係數 | 誤差方差比需有依據 |
| ALG-A100 | 一階靈敏度不確定度傳播 | 測量模型、平均值、協方差及差分步長 | 靈敏度與一階傳播結果 | 強非線性和遺漏系統量需另行評價 |
F08 雷射光點分析(12項)
| 編號 | 演算法模組 | 常見輸入 | 可提供輸出 | 專案確認要點 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A101 | 自適應閾值雷射點灰階質心 | 灰階幀、ROI、背景及候選篩選參數 | 單一亮點中心、面積和能量相關量 | 物理座標輸出需結合目標相機、鏡頭和標定資料驗證 |
| ALG-A102 | 多雷射點連通域候選萃取 | 灰階幀、ROI及連通域篩選參數 | 多個亮點候選及其特徵 | 接觸或重疊亮斑不自動分離 |
| ALG-A103 | 對數二次曲面亞像素光點中心 | 近似高斯光斑、視窗和背景參數 | 對數二次中心及擬合結果 | 強飽和、非高斯和視窗截斷可能產生偏差 |
| ALG-A104 | 梯度徑向對稱光點中心 | 近徑向對稱光斑及梯度篩選參數 | 徑向對稱中心及殘差 | 需依反射目標形態和成像條件驗證定位效果 |
| ALG-A105 | 雷射光斑二階矩與主軸直徑 | 線性響應光斑強度、背景及ROI | 質心、二階矩主次軸直徑與方向 | 只實現二階矩計算,不是完整ISO11146測量系統 |
| ALG-A106 | 雷射光斑環圍能量直徑 | 光斑、中心、能量比例和尺度 | 指定比例的環圍能量半徑及直徑 | 灰階積分不自動轉換為瓦特或焦耳 |
| ALG-A107 | 雷射點品質與可用性診斷 | 光斑、曝光相關資訊及質量限值 | 饱和、截断、轴比等诊断量与限值检查 | 品質門限需設備試驗,不是自動驗收標準 |
| ALG-A108 | 多雷射點參考位元一對一匹配 | 同座標系偵測點、參考點和距離上限 | 一對一匹配及遺漏項 | 不估計外參,也不證明目標身份 |
| ALG-A109 | 二維像素到物理座標多項式標定 | 同平面像素與參考座標、映射階數 | 二維映射係數及擬合結果 | 二維經驗映射不取代三維標定 |
| ALG-A110 | 雷射點標定映射與協方差傳播 | 像素點、有效二維標定和像素協方差 | 映射座標及給定協方差的傳播 | 不自動包含標定板、溫漂及模型偏差 |
| ALG-A111 | 雷射點像素到相機視線角轉換 | 像素點、相機內參和畸變 | 相機座標系單位視線及角度 | 缺少距離訊息,不能單獨恢復三維點 |
| ALG-A112 | 雷射點二維重複性與覆蓋橢圓 | 同條件重複二維座標和覆蓋水平 | 平均值、協方差、徑向RMS及覆蓋橢圓 | 二維常態覆蓋假設不證明物理準確度或長期穩定 |
從評估到交付
- 需求確認: 明確任務、數據、輸出、指標、平台、介面、設備數量和規劃時間。
- 樣本驗證: 固定樣本與評估口徑,形成演算法基線、適用條件與實作範圍。
- 開發與聯調: 完成演算法組合、資料存取、參數配置、異常狀態、結果介面和日誌。
- 獨立驗收: 依約定資料或設備工位驗證效果、耗時、穩定性及恢復機制。
- 授權與維護: 依裝置、場景和版本確定運行許可,持續處理原場景問題與受控升級。
交付內容可包括演算法庫或程式、呼叫範例、介面與參數說明、配置或標定檔案、測試報告、版本說明和復原方案。原始碼、項目專用模型、第三方元件、硬體和新增平台適配在報價中分別確認。
常見問題
如何判斷現有演算法能否用於我的設備?
先提供原始樣本、任務目標、參考結果和設備條件。完成資料檢查與樣本驗證後,可明確可重複使用能力、需要補充的開發、預期交付物和驗收方法。
是否支援Windows、Linux和嵌入式平台?
可根據目標系統、處理器和呼叫介面評估適配。專案會同時確認依賴、資源、交付形式、安裝方式和效能測試條件。
為什麼準確率和處理速度需要依項目確認?
指標會隨樣本難度、影像解析度、演算法組合、硬體和統計口徑變化。透過客戶樣本和目標平台測試,可形成可驗收的項目指標。
是否可以依設備數量授權?
可依客戶主體、設備或工位、演算法場景、交付版本和期限約定許可。換機、離線運作、恢復和新增設備規則在合約中明確。
後續是否可以持續優化?
可針對原始場景新增樣本、誤判問題和工況變化進行復現、改進與迴歸驗證。新增產品、硬體或功能依變更範圍評估。
提交樣本與設備條件,明確開發與交付範圍
視覺演算法模組與 SDK 開發服務
請說明任務物件、原始圖片或影片、目標指標、裝置平台、介面和樣本情況。
電話:13910119357xuzhiyang0928@gmail.com