Arah ini menguraikan dan menjelaskan produk tertentu, tugas pengukuran, masukan pencitraan, rute algoritma, keluaran yang diusulkan, dan metode penerimaan, yang dapat digunakan untuk mengevaluasi sampel dan kondisi sistem sebelum pembentukan proyek perusahaan.
Ruang lingkup industri:Pencitraan mikroskop dan penelitian partikel.
Melibatkan rute pengukuran:Posisi titik cahaya permukaan target, waktu dan penyimpangan titik cahaya, perintah dua dimensi/kalibrasi koordinat permukaan target, migrasi pencitraan partikel titik, bentuk titik, dan distribusi relatif.
Jalur cahaya confocal·posisi titik target
Konjugasi offset titik cahaya permukaan
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Mikroskop lembaran cahaya · Waktu dan penyimpangan titik cahaya
Lintasan pusat titik cahaya insiden
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Meja pemrosesan mikrolaser · Kalibrasi koordinat permukaan perintah/target dua dimensi
Residu koordinat XY mikroskopis
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Perangkat eksperimental pinset optik · Migrasi pencitraan partikel seperti titik
Lintasan mikrosfer dan bingkai yang hilang
Pengembangan khusus:Inti pengukuran/kontrol perlu dilengkapi dan diverifikasi sesuai dengan persetujuan proyek khusus
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Platform pengamatan partikel mikrofluida · Migrasi pencitraan partikel bertitik
Posisi Partikel 2D dan Hitung Kandidat
Pengembangan khusus:Inti pengukuran/kontrol perlu dilengkapi dan diverifikasi sesuai dengan persetujuan proyek khusus
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Kepala penerangan mikroskop laser · Posisi titik permukaan target
Perbedaan pusat sebelum dan sesudah pergantian lensa objektif
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Platform sampel titik neon · Migrasi pencitraan partikel seperti titik
Titik tengah dan sisa posisi
Pengembangan khusus:Inti pengukuran/kontrol perlu dilengkapi dan diverifikasi sesuai dengan persetujuan proyek khusus
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Probe microfiber · Bentuk titik dan distribusi relatif
Dekat pusat bidang dan lebar sumbu utama
Ekstensi umum:Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Lihat masukan, keluaran, kesenjangan dan metode validasi →Instrumen penelitian mikroskop dan pinset optik: 8 skenario penerapan potensial algoritma titik laser dan titik cahaya
Harap jelaskan objek tugas, gambar atau video asli, indikator target, platform perangkat, antarmuka, dan situasi sampel.
Telepon: 13910119357