Makalah Asli Pusat Simetri Radial
Penempatan pusat subpiksel dari target yang kira-kira simetris secara radial
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →LSP246 · Instrumen penelitian mikroskop dan pinset optik · Pencitraan mikroskopis dan penelitian partikel
Modul yang dapat digunakan kembali
Verifikasi pengembalian titik sinar setelah mengganti lensa objektif
Menghadapi kepala penerangan mikroskop laser, mengambil posisi titik cahaya pada permukaan target sebagai rute pengamatan, perbedaan pusat sebelum dan sesudah penggantian lensa objektif dimaksudkan sebagai keluaran. Halaman ini untuk evaluasi proyek dan tidak berarti bahwa pembangunan telah selesai atau telah diterima di lokasi.
Ringkasan Penilaian Proyek
Produk/PerangkatKepala Penerangan Mikroskop Laser
Ukur ruteXY · Targetkan posisi titik cahaya permukaan
Penilaian KemampuanModul yang dapat digunakan kembali
Status verifikasiPenerimaan domain mesin/produk sebenarnya dari skenario ini belum dilakukan
Adegan alam:Skenario penerapan potensial serupa untuk titik laser. Skenario penerapan potensial belum dikembangkan menjadi sistem produk yang lengkap; penerimaan domain mesin/produk sebenarnya dari skenario ini belum dilakukan. Kuantitas penerimaan produk/domain produk sebenarnya dalam statistik katalog adalah 0.
Tugas bisnis dan keluaran yang diharapkan
- target audiens
- Kepala penerangan mikroskop laser: posisi titik pada permukaan target
- keluaran semu
- Perbedaan pusat sebelum dan sesudah pergantian lensa objektif
- Ketentuan yang berlaku
- Hubungan antara penyimpangan kromatik lensa objektif dan bidang fokus belakang perlu diverifikasi
- prioritas
- Ekstensi umum. Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Input pencitraan dan perutean algoritma
Kondisi pencitraan dan perangkat
Perbaiki kamera dan permukaan target, rekam eksposur dan penguatan, serta tutupi titik cahaya dan latar belakang di bidang pandang. Mikroskop, pengambilan sampel relai, dan kamera yang disesuaikan dengan panjang gelombang
XY · Targetkan posisi titik cahaya permukaan
Perbaiki kamera dan permukaan target, rekam eksposur dan penguatan, serta tutupi titik cahaya dan latar belakang di bidang pandang
- A101Centroid skala abu-abu titik laser ambang batas adaptif
- A107Diagnostik kualitas dan kegunaan titik laser
- A112Laser spot pengulangan dua dimensi dan cakupan elips
Bukti algoritmik yang ada:A101–A112 hanya menyelesaikan tempat sintesis analitik dan verifikasi geometri terkontrol; lihat laser_spot_benchmark.json
Kemampuan dan kemampuan saat ini yang perlu ditambah
Modul yang dapat digunakan kembali
Modul yang ada dapat digunakan sebagai host
Penempatan titik lampu yang ada, diagnosis kualitas atau modul statistik dapat digunakan sebagai dasar perhitungan utama; ROI, kalibrasi, ambang batas, dan verifikasi antarmuka masih perlu diselesaikan oleh perangkat.
Kesenjangan dalam skenario ini:ROI, kalibrasi penggaris/bidang, dan definisi titik referensi diperlukan; hanya posisi dua dimensi dari permukaan target yang dapat diamati secara langsung. Hubungan antara penyimpangan kromatik lensa objektif dan bidang fokus belakang perlu diverifikasi. Penentuan posisi gambar partikel merupakan migrasi algoritma dan model gambar harus diverifikasi ulang.
Kesenjangan tingkat rute:Memerlukan ROI, kalibrasi penggaris/bidang, dan definisi titik referensi; hanya dapat mengamati secara langsung posisi dua dimensi permukaan target
"Modul yang dapat digunakan kembali" hanya menggambarkan volume pengembangan relatif dan bukan merupakan komitmen terhadap akurasi, tempo, stabilitas, atau waktu pengiriman.
Metode verifikasi dan prasyarat penerimaan
Diuji secara independen dengan tahap perpindahan dua dimensi dan titik referensi tetap, kesalahan pusat pelaporan P95, deteksi terlewat dan deteksi palsu. Tahap mikrosfer, penggaris mikroskopis, dan referensi posisi independen
| Barang penerimaan | Bukti diperlukan untuk konfirmasi proyek | Status saat ini |
|---|---|---|
| Masukan dan sampel | Bingkai asli perangkat nyata, sampel normal/tidak normal, kondisi paparan dan jalur cahaya, pengelompokan sampel dan sisihkan | Tidak disediakan, menunggu masukan proyek |
| Besaran dan Kesalahan | Nilai referensi independen, catatan kalibrasi, kaliber statistik kesalahan, dan ambang batas konfirmasi bersama | Tidak terverifikasi |
| Pengecualian dan batasan | Penanganan yang diantisipasi atas deteksi yang terlewat, deteksi palsu, paparan berlebih, oklusi, refleksi, ketidaknormalan di luar pandangan, dan komunikasi | Untuk didefinisikan |
| Integrasi sistem | Antarmuka, sinkronisasi waktu, platform penerapan, tempo, log, versi, dan catatan berjalan berkelanjutan | Tidak terintegrasi |
Sumber bukti dan batasan kutipan
Sumbernya mendukung prinsip pengukuran atau aplikasi serupa; kombinasi modul, perangkat, dan metode penerimaan dalam skenario ini merupakan derivasi rekayasa, dan verifikasi produk belum selesai.
Penelitian kalibrasi posisi kamera pinset optik
Deteksi posisi partikel terbatas dan dampak paparan serta pengambilan sampel pada kalibrasi
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →Pengukuran sinar kecil Ophir
Kondisi optik dalam pengukuran medan dekat, medan jauh, dan mode sinar kecil
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →Cakupan penggunaan sumber:Informasi publik digunakan untuk mendukung prinsip pengukuran atau keberadaan aplikasi serupa, dan tidak membuktikan bahwa skenario ini telah dikembangkan, diterapkan, atau diterima oleh Jishi Technology.
Konsultasi proyek
xuzhiyang0928@gmail.com
Kirimkan sampel dan kondisi peralatan untuk memperjelas cakupan pengembangan dan pengiriman
Verifikasi pengembalian titik sinar setelah mengganti lensa objektif
Harap jelaskan objek tugas, gambar atau video asli, indikator target, platform perangkat, antarmuka, dan situasi sampel.
Telepon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com