LSP241 · Instrumen penelitian mikroskop dan pinset optik · Pencitraan mikroskopis dan penelitian partikel
Modul yang dapat digunakan kembali

Penjajaran berkas eksitasi dengan fidusia lubang jarum

Menghadapi jalur cahaya confocal, dengan mengambil posisi titik cahaya permukaan target sebagai rute observasi, offset titik cahaya permukaan konjugasi dimaksudkan sebagai keluaran. Halaman ini untuk evaluasi proyek dan tidak berarti bahwa pembangunan telah selesai atau telah diterima di lokasi.

Ringkasan Penilaian Proyek

Produk/PerangkatJalur cahaya konfokal
Ukur ruteXY · Targetkan posisi titik cahaya permukaan
Penilaian KemampuanModul yang dapat digunakan kembali
Status verifikasiPenerimaan domain mesin/produk sebenarnya dari skenario ini belum dilakukan
Adegan alam:Skenario penerapan potensial serupa untuk titik laser. Skenario penerapan potensial belum dikembangkan menjadi sistem produk yang lengkap; penerimaan domain mesin/produk sebenarnya dari skenario ini belum dilakukan. Kuantitas penerimaan produk/domain produk sebenarnya dalam statistik katalog adalah 0.

Tugas bisnis dan keluaran yang diharapkan

target audiens
Jalur cahaya confocal: posisi titik target
keluaran semu
Konjugasi offset titik cahaya permukaan
Ketentuan yang berlaku
Resolusi aksial aktual memerlukan pengukuran sampel fluoresen secara terpisah
prioritas
Ekstensi umum. Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.

Input pencitraan dan perutean algoritma

Kondisi pencitraan dan perangkat

Perbaiki kamera dan permukaan target, rekam eksposur dan penguatan, serta tutupi titik cahaya dan latar belakang di bidang pandang. Mikroskop, pengambilan sampel relai, dan kamera yang disesuaikan dengan panjang gelombang

XY · Targetkan posisi titik cahaya permukaan

Perbaiki kamera dan permukaan target, rekam eksposur dan penguatan, serta tutupi titik cahaya dan latar belakang di bidang pandang

  • A101Centroid skala abu-abu titik laser ambang batas adaptif
  • A107Diagnostik kualitas dan kegunaan titik laser
  • A112Laser spot pengulangan dua dimensi dan cakupan elips

Bukti algoritmik yang ada:A101–A112 hanya menyelesaikan tempat sintesis analitik dan verifikasi geometri terkontrol; lihat laser_spot_benchmark.json

Kemampuan dan kemampuan saat ini yang perlu ditambah

Modul yang dapat digunakan kembali

Modul yang ada dapat digunakan sebagai host

Penempatan titik lampu yang ada, diagnosis kualitas atau modul statistik dapat digunakan sebagai dasar perhitungan utama; ROI, kalibrasi, ambang batas, dan verifikasi antarmuka masih perlu diselesaikan oleh perangkat.

Kesenjangan dalam skenario ini:ROI, kalibrasi penggaris/bidang, dan definisi titik referensi diperlukan; hanya posisi dua dimensi dari permukaan target yang dapat diamati secara langsung. Resolusi aksial sebenarnya perlu diukur secara terpisah pada sampel fluoresen. Penentuan posisi gambar partikel merupakan migrasi algoritma dan model gambar harus diverifikasi ulang.

Kesenjangan tingkat rute:Memerlukan ROI, kalibrasi penggaris/bidang, dan definisi titik referensi; hanya dapat mengamati secara langsung posisi dua dimensi permukaan target

"Modul yang dapat digunakan kembali" hanya menggambarkan volume pengembangan relatif dan bukan merupakan komitmen terhadap akurasi, tempo, stabilitas, atau waktu pengiriman.

Metode verifikasi dan prasyarat penerimaan

Diuji secara independen dengan tahap perpindahan dua dimensi dan titik referensi tetap, kesalahan pusat pelaporan P95, deteksi terlewat dan deteksi palsu. Tahap mikrosfer, penggaris mikroskopis, dan referensi posisi independen

Barang penerimaanBukti diperlukan untuk konfirmasi proyekStatus saat ini
Masukan dan sampelBingkai asli perangkat nyata, sampel normal/tidak normal, kondisi paparan dan jalur cahaya, pengelompokan sampel dan sisihkanTidak disediakan, menunggu masukan proyek
Besaran dan KesalahanNilai referensi independen, catatan kalibrasi, kaliber statistik kesalahan, dan ambang batas konfirmasi bersamaTidak terverifikasi
Pengecualian dan batasanPenanganan yang diantisipasi atas deteksi yang terlewat, deteksi palsu, paparan berlebih, oklusi, refleksi, ketidaknormalan di luar pandangan, dan komunikasiUntuk didefinisikan
Integrasi sistemAntarmuka, sinkronisasi waktu, platform penerapan, tempo, log, versi, dan catatan berjalan berkelanjutanTidak terintegrasi

Sumber bukti dan batasan kutipan

Sumbernya mendukung prinsip pengukuran atau aplikasi serupa; kombinasi modul, perangkat, dan metode penerimaan dalam skenario ini merupakan derivasi rekayasa, dan verifikasi produk belum selesai.

LS-S20 · Pabrik asli/lembaga penelitian ilmiah/kertas asli

Makalah Asli Pusat Simetri Radial

Penempatan pusat subpiksel dari target yang kira-kira simetris secara radial

Tanggal verifikasi: 24-10-2026

Lihat informasi publik asli →
LS-S21 · Pabrik asli/lembaga penelitian ilmiah/kertas asli

Penelitian kalibrasi posisi kamera pinset optik

Deteksi posisi partikel terbatas dan dampak paparan serta pengambilan sampel pada kalibrasi

Tanggal verifikasi: 24-10-2026

Lihat informasi publik asli →
LS-S30 · Pabrik asli/lembaga penelitian ilmiah/kertas asli

Pengukuran sinar kecil Ophir

Kondisi optik dalam pengukuran medan dekat, medan jauh, dan mode sinar kecil

Tanggal verifikasi: 24-10-2026

Lihat informasi publik asli →
Cakupan penggunaan sumber:Informasi publik digunakan untuk mendukung prinsip pengukuran atau keberadaan aplikasi serupa, dan tidak membuktikan bahwa skenario ini telah dikembangkan, diterapkan, atau diterima oleh Jishi Technology.
Konsultasi proyek

Kirimkan sampel dan kondisi peralatan untuk memperjelas cakupan pengembangan dan pengiriman

Penjajaran berkas eksitasi dengan fidusia lubang jarum

Harap jelaskan objek tugas, gambar atau video asli, indikator target, platform perangkat, antarmuka, dan situasi sampel.

Telepon: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

Informasi yang diisi hanya akan digunakan untuk evaluasi dan kontak untuk proyek ini. Harap jangan mengirimkan informasi pribadi yang tidak sah atau data sensitif.