Makalah Asli Pusat Simetri Radial
Penempatan pusat subpiksel dari target yang kira-kira simetris secara radial
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →LSP242 · Instrumen penelitian mikroskop dan pinset optik · Pencitraan mikroskopis dan penelitian partikel
Dapat digunakan kembali sebagian
Stabilitas sentral berkas datang sebelum pembentukan lembaran cahaya
Menghadapi mikroskop lembaran cahaya, waktu dan penyimpangan titik cahaya digunakan sebagai rute pengamatan, dan lintasan tengah titik cahaya datang direncanakan untuk dihasilkan. Halaman ini untuk evaluasi proyek dan tidak berarti bahwa pembangunan telah selesai atau telah diterima di lokasi.
Ringkasan Penilaian Proyek
Produk/Perangkatmikroskop lembaran cahaya
Ukur ruteWAKTU · Waktu dan penyimpangan titik cahaya
Penilaian KemampuanDapat digunakan kembali sebagian
Status verifikasiPenerimaan domain mesin/produk sebenarnya dari skenario ini belum dilakukan
Adegan alam:Skenario penerapan potensial serupa untuk titik laser. Skenario penerapan potensial belum dikembangkan menjadi sistem produk yang lengkap; penerimaan domain mesin/produk sebenarnya dari skenario ini belum dilakukan. Kuantitas penerimaan produk/domain produk sebenarnya dalam statistik katalog adalah 0.
Tugas bisnis dan keluaran yang diharapkan
- target audiens
- Mikroskop lembaran cahaya: penentuan waktu dan penyimpangan
- keluaran semu
- Lintasan pusat titik cahaya insiden
- Ketentuan yang berlaku
- Ketebalan lembaran cahaya tidak ditentukan secara langsung dari titik datangnya
- prioritas
- Ekstensi umum. Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Input pencitraan dan perutean algoritma
Kondisi pencitraan dan perangkat
Rana global atau waktu pembacaan yang diketahui, menyimpan stempel waktu, dan eksposur disesuaikan dengan frekuensi gerakan. Mikroskop, pengambilan sampel relai, dan kamera yang disesuaikan dengan panjang gelombang
WAKTU · Waktu dan penyimpangan titik cahaya
Rana global atau waktu pembacaan yang diketahui, menghemat stempel waktu, eksposur sesuai dengan frekuensi gerakan
- A22penyaring Kalman
- A25Estimasi spektrum daya Welch
- A72Penyaringan anomali deviasi absolut median Hampel
- A101Centroid skala abu-abu titik laser ambang batas adaptif
- A107Diagnostik kualitas dan kegunaan titik laser
- A112Laser spot pengulangan dua dimensi dan cakupan elips
Bukti algoritmik yang ada:A101–A112 hanya menyelesaikan tempat sintesis analitik dan verifikasi geometri terkontrol; lihat laser_spot_benchmark.json
Kemampuan dan kemampuan saat ini yang perlu ditambah
Dapat digunakan kembali sebagian
Memerlukan kalibrasi, sinkronisasi, atau integrasi
Modul front-end deteksi titik cahaya atau statistik waktu dapat digunakan kembali, tetapi proyek masih perlu menambahkan kalibrasi geometris, sinkronisasi waktu, kompensasi gerak, atau integrasi sistem peralatan.
Kesenjangan dalam skenario ini:Memerlukan verifikasi laju pengambilan sampel/eksposur, sinkronisasi waktu, dan kompensasi gerakan kamera target referensi; bukan pengganti vibrometer laser Doppler. Ketebalan lembaran cahaya tidak ditentukan secara langsung dari titik datangnya. Penentuan posisi gambar partikel merupakan migrasi algoritma dan model gambar harus diverifikasi ulang.
Kesenjangan tingkat rute:Memerlukan verifikasi laju pengambilan sampel/eksposur, sinkronisasi waktu, dan kompensasi gerakan kamera target referensi; bukan pengganti vibrometer laser Doppler
"Dapat digunakan kembali sebagian" hanya menggambarkan volume pengembangan relatif dan bukan merupakan komitmen terhadap akurasi, tempo, stabilitas, atau waktu pengiriman.
Metode verifikasi dan prasyarat penerimaan
Verifikasi aliasing, fase, penyimpangan, dan kehilangan bingkai dengan pengocok frekuensi atau perbandingan encoder yang diketahui. Tahap mikrosfer, penggaris mikroskopis, dan referensi posisi independen
| Barang penerimaan | Bukti diperlukan untuk konfirmasi proyek | Status saat ini |
|---|---|---|
| Masukan dan sampel | Bingkai asli perangkat nyata, sampel normal/tidak normal, kondisi paparan dan jalur cahaya, pengelompokan sampel dan sisihkan | Tidak disediakan, menunggu masukan proyek |
| Besaran dan Kesalahan | Nilai referensi independen, catatan kalibrasi, kaliber statistik kesalahan, dan ambang batas konfirmasi bersama | Tidak terverifikasi |
| Pengecualian dan batasan | Penanganan yang diantisipasi atas deteksi yang terlewat, deteksi palsu, paparan berlebih, oklusi, refleksi, ketidaknormalan di luar pandangan, dan komunikasi | Untuk didefinisikan |
| Integrasi sistem | Antarmuka, sinkronisasi waktu, platform penerapan, tempo, log, versi, dan catatan berjalan berkelanjutan | Tidak terintegrasi |
Sumber bukti dan batasan kutipan
Sumbernya mendukung prinsip pengukuran atau aplikasi serupa; kombinasi modul, perangkat, dan metode penerimaan dalam skenario ini merupakan derivasi rekayasa, dan verifikasi produk belum selesai.
Penelitian kalibrasi posisi kamera pinset optik
Deteksi posisi partikel terbatas dan dampak paparan serta pengambilan sampel pada kalibrasi
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →Pengukuran sinar kecil Ophir
Kondisi optik dalam pengukuran medan dekat, medan jauh, dan mode sinar kecil
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →Cakupan penggunaan sumber:Informasi publik digunakan untuk mendukung prinsip pengukuran atau keberadaan aplikasi serupa, dan tidak membuktikan bahwa skenario ini telah dikembangkan, diterapkan, atau diterima oleh Jishi Technology.
Konsultasi proyek
xuzhiyang0928@gmail.com
Kirimkan sampel dan kondisi peralatan untuk memperjelas cakupan pengembangan dan pengiriman
Stabilitas sentral berkas datang sebelum pembentukan lembaran cahaya
Harap jelaskan objek tugas, gambar atau video asli, indikator target, platform perangkat, antarmuka, dan situasi sampel.
Telepon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com