Cette direction décompose et explique les produits spécifiques, les tâches de mesure, les entrées d'imagerie, les itinéraires algorithmiques, les sorties proposées et les méthodes d'acceptation, qui peuvent être utilisés pour évaluer les échantillons et les conditions du système avant l'établissement de projets d'entreprise.
Portée de l'industrie :Formation à l'enseignement et à la recherche scientifique.
Implique la mesure des itinéraires :Position du point lumineux de la surface cible, forme du point lumineux et distribution relative, synchronisation et dérive du point lumineux, retour du point lumineux et contrôle du pointage, étalonnage bidimensionnel des coordonnées de la surface cible/commande, inversion de la position de l'ordre de diffraction, angle du levier optique de réflexion.
Plateforme d'expérimentation optique · Position du point lumineux de la surface cible
Erreur centrale et dépendance à la luminosité
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Tableau pédagogique de traitement d'image · Forme du spot et répartition relative
Écart central et échelle de saturation
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Tableau de formation à la vision MCU · Synchronisation et dérive des points lumineux
Temps d'exécution, perte de trame et coordonnées
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Plateforme de formation au contrôle électromécanique·Retour de point lumineux et contrôle de pointage
Suivi des résidus et du statut de déverrouillage
Développement spécial :Le noyau de mesure/contrôle doit être complété et vérifié conformément à l'approbation du projet spécial.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Plateforme de formation à l'étalonnage géométrique · Étalonnage bidimensionnel des coordonnées de commande/cible
Résidus d’entraînement et erreurs d’extrapolation
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Instrument expérimental en optique ondulatoire · Inversion de position de l'ordre de diffraction
Coordonnées de niveau et espacement
Développement spécial :Le noyau de mesure/contrôle doit être complété et vérifié conformément à l'approbation du projet spécial.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Faisceau d'enseignement des vibrations · Synchronisation et dérive du point lumineux
Candidats en fréquence et en amplitude
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Instrument d'expérimentation à levier optique · Angle de levier optique réfléchissant
Angle de table et courbe de déplacement cible
Extensions générales :La vérification doit être effectuée conformément aux conditions optiques, à l'étalonnage et aux échantillons répertoriés.
Afficher les entrées, les sorties, les lacunes et les méthodes de validation →Enseignement et formation en ingénierie : 8 scénarios d'application potentiels des algorithmes de point laser et de point lumineux
Veuillez décrire l'objet de la tâche, l'image ou la vidéo originale, les indicateurs cibles, la plate-forme de l'appareil, l'interface et un exemple de situation.
Téléphone : 13910119357