VCSEL與DOE點陣缺點及位置偏差偵測應用方案

項目判斷摘要

任務與影像輸入

弱點、缺點、多餘點和陣列裝偏會產生不同結果，點序誤配還可能把真實偏差掩蓋。

輸入資料：參考點陣、正常與異常原始幀、預期點數/點距，以及必要的分時驅動、曝光和觸發資訊。

演算法處理與輸出

候選點擷取→局部效度檢查→參考點序對應→缺點/額外點、點距與配準殘差計算。

输出结果：逐点坐标、缺失/额外编号、点距偏差和失配列表；相对灰度与几何结果分开。

實施與驗證

形成限定型號的參考範本、點序規則、異常配方及結果介面；脈衝陣列需另做同步測試。

驗證方法：以樣件/批次隔離測試集，逐類統計漏點、誤點、誤配及位置誤差，加入弱點、飽和、遮蔽和置亂資料。

適用邊界與現有依據

密集重疊和相干串擾不能預設套用分離點方法；漏點不一定是發射器失效，灰階差不等於絕對功率差。

現有多點擷取與距離符合為運算基礎，真實陣列串擾及產品檢出率沒有驗收資料。

對應演算法：雷射點陣檢測與二維標定演算法；雷射光點定位與光斑分析演算法。

企業專案推廣與驗收

1. 範圍確認明確物件、工位、輸入、輸出、單位、介面和必須涵蓋的異常條件。
2. 樣本驗證使用代表性正常及異常樣本建立基線，記錄可行項、失敗項及資料缺口。
3. 開發聯調依核准範圍完成演算法、標定、介面和裝置適配，保留版本、參數和異常狀態。
4. 分項驗收使用獨立樣本及參考量值複測，分別確認誤差、檢出、拍、穩定性及交付件。

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