Micro-Epsilon 雷射三角測量原理
發射、接收成像與標定後的距離測量
核對日期：2026-10-24
看原始公開資料 →項目判斷摘要
產品/裝置平行玻璃窗
測量路線XY · 靶面光點位置
能力分級可複用模組
驗證狀態未進行該場景實機/產品域驗收
場景性質：雷射光點同類潛在應用場景。潛在應用場景，尚未開發成完整產品系統；未進行該場景實機/產品域驗收。目錄統計中的產品實機/產品域驗收數量為0。
業務任務與擬輸出
- 目標對象
- 平行玻璃窗：靶面光點位置
- 擬輸出
- 透射中心變化
- 適用條件
- 不據中心變化反演完整應力場
- 優先權
- 常規擴展。需依所列光學條件、標定及樣件完成驗證
成像輸入與演算法路線
成像與裝置條件
固定相機與靶面，記錄曝光與增益，視野覆蓋光點及背景。反射/透射可切換的試片工裝與編碼掃描
XY · 靶面光點位置
固定相機與靶面，記錄曝光與增益，視野覆蓋光點及背景
- A101自適應閾值雷射點灰階質心
- A107雷射點品質與可用性診斷
- A112雷射點二維重複性與覆蓋橢圓
現有演算法證據：A101–A112只完成解析合成光點與受控幾何驗證；參見laser_spot_benchmark.json
現有能力與待補能力
可複用模組
現有模組可作為主體
現有光點定位、品質診斷或統計模組可作為主要計算基礎；仍需依設備完成ROI、標定、閾值及介面驗證。
本場景缺口：需ROI、標尺/平面標定及參考點定義；只能直接觀測靶面二維位置。不據中心變化反演完整應力場。透明或鏡面材質需專門收發光學，不承諾通用適配
路線級缺口：需ROI、標尺/平面標定及參考點定義；只能直接觀測靶面二維位置
「可重複使用模組」只描述相對開發量，不構成精確度、節拍、穩定性或交付週期承諾。
驗證方法與驗收前提
用二維位移台和固定參考點獨立測試，報告中心誤差P95、漏檢和誤檢。標準台階、干涉/輪廓量具與材料分組盲測
| 驗收項 | 項目需確認的證據 | 目前狀態 |
|---|---|---|
| 輸入與樣本 | 真實設備原始影格、正常/異常樣本、曝光與光路條件、樣本分組及留出集 | 未提供，待項目輸入 |
| 量值與誤差 | 獨立參考量值、標定記錄、誤差統計口徑及雙方確認閾值 | 未驗證 |
| 異常與邊界 | 漏檢、誤檢、過曝、遮蔽、反光、出視場和通訊異常的預期處理 | 待定義 |
| 系統整合 | 介面、時間同步、部署平台、節拍、日誌、版本和連續運行記錄 | 未集成 |
證據來源與引用邊界
來源支援測量原理或同類應用；本場景的模組組合、裝置與驗收方法為工程推導，未完成產品驗證
NIST 三維成像技術說明
主動點三角測量、掃描幾何和誤差傳播
核對日期：2026-10-24
看原始公開資料 →雷射三角測量散斑不確定度研究
散斑對位置和距離不確定度的影響
核對日期：2026-10-24
看原始公開資料 →來源使用範圍：公開資料用於支援測量原理或同類應用存在性，不證明本場景已由極視科技完成開發、部署或驗收。
專案諮詢
xuzhiyang0928@gmail.com
提交樣本與設備條件，明確開發與交付範圍
視窗裝夾應力造成的束走動比較
請說明任務物件、原始圖片或影片、目標指標、裝置平台、介面和樣本情況。
電話：13910119357xuzhiyang0928@gmail.com