LSP273Cần thêm lõi mới
Cách tử nhiễu xạ tiêu chuẩn·Đảo ngược vị trí thứ tự nhiễu xạ
Góc nhiễu xạ và chu kỳ ứng cử viên
- danh tính
- Ứng dụng tương tự điểm laser
Phát triển đặc biệt:Lõi đo lường/điều khiển cần được bổ sung và xác minh theo phê duyệt dự án đặc biệt
Xem đầu vào, đầu ra, khoảng trống và phương pháp xác thực →
LSP274Cần thêm lõi mới
Bàn xoay cách tử · Đảo ngược vị trí thứ tự nhiễu xạ
Góc quỹ đạo điểm tương ứng
- danh tính
- Ứng dụng tương tự điểm laser
Phát triển đặc biệt:Lõi đo lường/điều khiển cần được bổ sung và xác minh theo phê duyệt dự án đặc biệt
Xem đầu vào, đầu ra, khoảng trống và phương pháp xác thực →
LSP275Cần thêm lõi mới
Dụng cụ giảng dạy bước sóng laser·Đảo ngược vị trí thứ tự nhiễu xạ
Khoảng cách điểm nhiễu xạ và bước sóng
- danh tính
- Ứng dụng tương tự điểm laser
Phát triển đặc biệt:Lõi đo lường/điều khiển cần được bổ sung và xác minh theo phê duyệt dự án đặc biệt
Xem đầu vào, đầu ra, khoảng trống và phương pháp xác thực →
LSP276Cần thêm lõi mới
Mẫu vật cấu trúc vi mô định kỳ·Đảo ngược vị trí thứ tự nhiễu xạ
Thay đổi khoảng cách lớp
- danh tính
- Ứng dụng tương tự điểm laser
Phát triển đặc biệt:Lõi đo lường/điều khiển cần được bổ sung và xác minh theo phê duyệt dự án đặc biệt
Xem đầu vào, đầu ra, khoảng trống và phương pháp xác thực →
LSP277Có thể tái sử dụng một phần
Bàn thử nghiệm thiết bị quang âm·So sánh mảng điểm sáng tách biệt
Quỹ đạo điểm cấp một và năng lượng tương đối
- danh tính
- Ứng dụng tương tự điểm laser
Phần mở rộng chung:Việc xác minh cần phải được hoàn thành theo các điều kiện quang học, hiệu chuẩn và mẫu được liệt kê.
Xem đầu vào, đầu ra, khoảng trống và phương pháp xác thực →
LSP278Có thể tái sử dụng một phần
Bộ tách chùm nhiễu xạ đa bậc · So sánh mảng điểm sáng tách biệt
Độ lệch thứ tự dương và âm
- danh tính
- Ứng dụng tương tự điểm laser
Phần mở rộng chung:Việc xác minh cần phải được hoàn thành theo các điều kiện quang học, hiệu chuẩn và mẫu được liệt kê.
Xem đầu vào, đầu ra, khoảng trống và phương pháp xác thực →
LSP279Có thể tái sử dụng một phần
Mẫu thử mảng vi lỗ · Hiệu chuẩn tọa độ bề mặt mục tiêu/lệnh hai chiều
Góc mảng và căn chỉnh dư
- danh tính
- Ứng dụng tương tự điểm laser
Phần mở rộng chung:Việc xác minh cần phải được hoàn thành theo các điều kiện quang học, hiệu chuẩn và mẫu được liệt kê.
Xem đầu vào, đầu ra, khoảng trống và phương pháp xác thực →
LSP280Có thể tái sử dụng một phần
Thành phần chiếu nhiễu xạ·So sánh mảng điểm sáng tách biệt
Khoảng cách điểm và đường cong nhiệt độ
- danh tính
- Ứng dụng tương tự điểm laser
Phần mở rộng chung:Việc xác minh cần phải được hoàn thành theo các điều kiện quang học, hiệu chuẩn và mẫu được liệt kê.
Xem đầu vào, đầu ra, khoảng trống và phương pháp xác thực →