LSP276 · Nhiễu xạ cách tử và cấu trúc tuần hoàn · Thiết bị ánh sáng và nhiễu xạ có cấu trúc
Cần thêm lõi mới

Nghiên cứu sự thay đổi khoảng cách điểm nhiễu xạ sau khi kéo dãn mẫu

Đối mặt với mẫu cấu trúc vi mô định kỳ, việc đảo ngược vị trí thứ tự nhiễu xạ được sử dụng làm lộ trình quan sát và các thay đổi về khoảng cách thứ tự được dự định là đầu ra. Trang này dùng để đánh giá dự án và không có nghĩa là quá trình phát triển đã được hoàn thành hoặc đã được chấp nhận tại chỗ.

Tóm tắt phán quyết dự án

Sản phẩm/Thiết bịMẫu thử cấu trúc vi mô định kỳ
Đo lộ trìnhKHÁC NHAU·Đảo ngược vị trí thứ tự nhiễu xạ
Chấm điểm năng lựcCần thêm lõi mới
Trạng thái xác minhViệc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện
Tính chất cảnh:Các kịch bản ứng dụng tiềm năng tương tự cho các điểm laze. Kịch bản ứng dụng tiềm năng vẫn chưa được phát triển thành hệ thống sản phẩm hoàn chỉnh; việc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện. Số lượng chấp nhận sản phẩm/miền sản phẩm thực tế trong thống kê danh mục là 0.

Nhiệm vụ kinh doanh và sản lượng dự kiến

đối tượng mục tiêu
Mẫu vi cấu trúc định kỳ: đảo ngược vị trí thứ tự nhiễu xạ
đầu ra giả
Thay đổi khoảng cách lớp
Điều kiện áp dụng
Đảo ngược biến dạng đòi hỏi phải bù thời gian và thái độ
sự ưu tiên
Phát triển đặc biệt. Lõi đo lường/điều khiển cần được bổ sung và xác minh theo phê duyệt dự án đặc biệt

Đầu vào hình ảnh và định tuyến thuật toán

Điều kiện hình ảnh và thiết bị

Một thiết bị trường xa trong đó đã biết một trong các bước sóng hoặc chu kỳ, bậc nhiễu xạ và hướng tới. Ánh sáng đơn sắc, hình ảnh bề mặt trường xa/Fourier và tham chiếu góc tới

KHÁC NHAU·Đảo ngược vị trí thứ tự nhiễu xạ

Một thiết bị trường xa trong đó đã biết một trong các bước sóng hoặc chu kỳ, bậc nhiễu xạ và hướng tới

  • A102Trích xuất ứng cử viên miền được kết nối nhiều điểm laser
  • A103Tâm điểm pixel phụ bề mặt logarit
  • A108Kết hợp một-một các bit tham chiếu điểm đa tia laser
  • A111Chuyển đổi pixel điểm laser sang góc nhìn của camera

Bằng chứng thuật toán hiện có:A101–A112 chỉ hoàn thiện điểm tổng hợp phân tích và xác minh hình học có kiểm soát; xem laser_spot_benchmark.json

Năng lực hiện tại và khả năng cần bổ sung

Cần thêm lõi mới

Cần bổ sung thêm tính toán lõi

Việc trích xuất điểm sáng chỉ có thể được sử dụng làm giao diện quan sát và các khả năng cốt lõi như tái tạo ba chiều, điều khiển vòng kín, mặt sóng hoặc đảo ngược đại lượng vật lý cần được phát triển và xác minh riêng.

Những khoảng trống trong cảnh này:Cần bổ sung thêm phương trình cách tử/mô hình nhiễu xạ, nhận dạng bậc và bù độ lệch nhiệt độ bước sóng. Sự đảo ngược sức căng đòi hỏi phải bù đắp thời gian và thái độ. Chỉ có giao diện người dùng vị trí phụ là có sẵn và lõi đảo ngược vật lý cần được phát triển.

Khoảng trống ở cấp độ tuyến đường:Cần bổ sung thêm phương trình cách tử/mô hình nhiễu xạ, nhận dạng thứ tự và bù trôi nhiệt độ bước sóng

"Yêu cầu lõi mới" chỉ mô tả khối lượng phát triển tương đối và không cấu thành cam kết về độ chính xác, nhịp độ, độ ổn định hoặc thời gian phân phối.

Phương pháp xác minh và điều kiện tiên quyết chấp nhận

Kiểm tra chéo với cách tử tiêu chuẩn và tham chiếu bước sóng/góc độc lập để khắc phục sự không rõ ràng về thứ tự. Cách tử tiêu chuẩn, máy đo bước sóng và kiểm tra chéo bảng góc

Mặt hàng chấp nhậnBằng chứng cần thiết để xác nhận dự ánTình trạng hiện tại
Đầu vào và mẫuKhung gốc của thiết bị thực, mẫu bình thường/bất thường, điều kiện phơi sáng và đường dẫn ánh sáng, nhóm mẫu và đặt sang một bênChưa được cung cấp, đang chờ đầu vào của dự án
Độ lớn và lỗiGiá trị tham chiếu độc lập, bản ghi hiệu chuẩn, cỡ nòng thống kê lỗi và ngưỡng xác nhận lẫn nhauChưa được xác minh
Ngoại lệ và ranh giớiDự kiến ​​xử lý các phát hiện bị bỏ sót, phát hiện sai, phơi sáng quá mức, tắc nghẽn, phản chiếu, ngoài tầm nhìn và các bất thường trong giao tiếpĐể được xác định
Tích hợp hệ thốngGiao diện, đồng bộ hóa thời gian, nền tảng triển khai, nhịp độ, nhật ký, phiên bản và bản ghi chạy liên tụcKhông tích hợp

Nguồn bằng chứng và ranh giới trích dẫn

Nguồn hỗ trợ các nguyên tắc đo lường hoặc các ứng dụng tương tự; sự kết hợp mô-đun, thiết bị và phương pháp chấp nhận trong trường hợp này là nguồn gốc kỹ thuật và việc xác minh sản phẩm chưa được hoàn thành.

LS-S16 · Nhà máy gốc/cơ quan nghiên cứu khoa học/giấy gốc

Bộ tách chùm nhiễu xạ Holo/Hoặc đa điểm

Mạng laser, bậc nhiễu xạ, khoảng cách điểm và cấu hình quang học

Ngày xác minh: 24-10-2026

Xem thông tin công khai ban đầu →
LS-S23 · Nhà máy gốc/cơ quan nghiên cứu khoa học/giấy gốc

Nguyên lý nhiễu xạ cách tử Newport

Mối liên hệ giữa bậc nhiễu xạ, góc, bước sóng và chu kỳ cách tử

Ngày xác minh: 24-10-2026

Xem thông tin công khai ban đầu →
Phạm vi sử dụng nguồn:Thông tin công khai được sử dụng để hỗ trợ nguyên tắc đo lường hoặc sự tồn tại của các ứng dụng tương tự và không chứng minh rằng kịch bản này đã được Jishi Technology phát triển, triển khai hoặc chấp nhận.
Tư vấn dự án

Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng

Nghiên cứu sự thay đổi khoảng cách điểm nhiễu xạ sau khi kéo dãn mẫu

Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.

Điện thoại: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

Thông tin điền vào sẽ chỉ được sử dụng để đánh giá và liên hệ cho dự án này. Vui lòng không gửi thông tin cá nhân trái phép hoặc dữ liệu nhạy cảm.