| อุปกรณ์วิชันซิสเต็มสามารถและการพัฒนาบอร์ดควบคุมอุปกรณ์ต่อพ่วงพอร์ตอนุกรม | ตัวรับส่งสัญญาณบัส อินเทอร์เฟซทางไฟฟ้า เครื่องควบคุมสถานะคำสั่ง การกู้คืนข้อผิดพลาด และเฟิร์มแวร์ระดับบอร์ด | คำจำกัดความทางไฟฟ้า โปรโตคอลต่อพ่วง และการโหลดบัส |
| การพัฒนาระบบโฟกัสไฟฟ้าของกล้องและการควบคุมการป้อนกลับตำแหน่ง | อินเทอร์เฟซของมอเตอร์ การตอบรับตำแหน่ง ขีดจำกัด การโฟกัส และการเชื่อมโยงความชัดเจนของภาพ | ข้อมูลแอคชูเอเตอร์และข้อมูลป้อนกลับของเลนส์สำเร็จรูป |
| ระยะกล้องจุลทรรศน์และการพัฒนาการควบคุมการเคลื่อนไหวด้วยการสแกน | การควบคุมแพลตฟอร์มที่มีจำหน่ายทั่วไป ขีดจำกัดเริ่มต้น เส้นทางการสแกน และความสัมพันธ์ของตำแหน่งภาพ | โปรโตคอลแพลตฟอร์ม แผนการเดินทาง และข้อกำหนดการกำหนดเป้าหมายซ้ำ |
| การพัฒนาบอร์ดสุ่มตัวอย่างแบบซิงโครนัสของแรง-การเคลื่อนที่-อุณหภูมิ | ส่วนหน้าแบบอะนาล็อก, ADC, นาฬิกาสุ่มตัวอย่าง, การทริกเกอร์ และความสัมพันธ์ของข้อมูลภาพ | ข้อกำหนดเกี่ยวกับช่วงสัญญาณ แบนด์วิธ เซ็นเซอร์ และข้อผิดพลาดด้านเวลา |
| การพัฒนาเฟิร์มแวร์ควบคุมอุณหภูมิที่ใช้งาน Visual Terminal | การสุ่มตัวอย่างอุณหภูมิ ส่วนต่อประสานของพัดลมหรือเทอร์โมสตัท กลยุทธ์การควบคุม และบันทึกการป้องกัน | การออกแบบการระบายความร้อน วัตถุควบคุม และการจัดการข้อยกเว้น แผนกแรงงาน |
| การทำความสะอาดอุปกรณ์การมองเห็นและการพัฒนาการควบคุมการดำเนินการป้องกันหมอก | ที่ปัดน้ำฝน ม่านอากาศ หรืออินเทอร์เฟซส่วนประกอบการทำความร้อน การกำหนดการดำเนินการ และการเชื่อมโยงสถานะรูปภาพที่เสร็จสิ้นแล้ว | ส่วนประกอบการทำงานที่มีจำหน่ายทั่วไป แหล่งจ่ายไฟ และสภาวะแวดล้อม |
| การพัฒนาการควบคุมการป้อนชิ้นงานและการควบคุมจังหวะการปฏิเสธด้วยภาพ | คิวผลการตรวจสอบ ตำแหน่งตัวเข้ารหัส การชดเชยความล่าช้าในการดำเนินการ และการยืนยันการปฏิเสธ | ความเร็วลำเลียง แอคทูเอเตอร์ รอบเวลา และวิธีการติดตาม |
| การพัฒนาการจดจำหัวกล้องที่เปลี่ยนแปลงอย่างรวดเร็วและการจัดการพารามิเตอร์ | การระบุการเข้าถึง รหัสโมดูล การเชื่อมโยงการกำหนดค่า การตรวจสอบการสอบเทียบ และการแจ้งเตือนการรวมข้อผิดพลาด | ขั้วต่อ กฎทางไฟฟ้า และขั้นตอนการเปลี่ยน |
| อุปกรณ์ Bootloader และการพัฒนาโหมดการกู้คืน | กระบวนการเริ่มต้น, อิมเมจพาร์ติชัน, การตรวจสอบการอัพเกรด, การกู้คืนความล้มเหลว และเครื่องมือการย้อนกลับ | ซอร์สโค้ดลูกโซ่สตาร์ทอัพ เค้าโครงพื้นที่จัดเก็บ และสิทธิ์ในการแก้ไขจุดบกพร่อง |
| ความคงอยู่ของพารามิเตอร์ผลิตภัณฑ์กล้องและการพัฒนาการกู้คืนจากโรงงาน | การแบ่งชั้นพารามิเตอร์ การโยกย้ายที่เข้ากันได้ ความสอดคล้องในการปิดเครื่อง ค่าจากโรงงาน และกระบวนการกู้คืน | สิทธิ์ในการแก้ไขเฟิร์มแวร์ อายุการจัดเก็บ และโมเดลพารามิเตอร์ |
| การพัฒนาโมเดลฟีเจอร์ GenICam ในด้านอุปกรณ์กล้อง | คำอธิบายโหนดฝั่งอุปกรณ์ การแมปการลงทะเบียน การควบคุมการเข้าถึง และการตรวจสอบความถูกต้องของโฮสต์ | อุปกรณ์ ข้อมูลโปรโตคอล และโฮสต์การทดสอบที่พัฒนาขึ้นเองหรือได้รับอนุญาต |
| ข้อมูลเมตาภายในเฟรมของกล้องและการพัฒนาช่องทางเหตุการณ์ | หมายเลขเฟรม การเปิดรับแสง ทริกเกอร์ อุณหภูมิและการเข้ารหัสข้อมูลสถานะและการแยกวิเคราะห์ | อินเทอร์เฟซเฟิร์มแวร์ฝั่งอุปกรณ์และโปรโตคอลเมตาดาต้า |
| พารามิเตอร์กล้องเหตุการณ์และการพัฒนาเฟิร์มแวร์การจัดการเสียงรบกวน | เสร็จสิ้นการควบคุมพารามิเตอร์โมดูล การกรองเหตุการณ์ การรีเซ็ตเวลา และอินเทอร์เฟซการวินิจฉัยข้อมูล | สิทธิ์เฟิร์มแวร์และการลงทะเบียนที่โมดูลสามารถเปิดได้ |
| การพัฒนาเฟิร์มแวร์การดำเนินการวัดภายในกล้อง | เครื่องสถานะงานในเครื่องจักร การสลับสูตร ผลการวัด และเอาต์พุตอินเทอร์เฟซทางอุตสาหกรรม | การควบคุมหลักที่ตั้งโปรแกรมได้ ทรัพยากรอัลกอริทึม และไทม์มิ่งของอินเทอร์เฟซ |
| การสุ่มตัวอย่างความเร็วตัวแปรการสแกนเส้นและการพัฒนาประสานงานการสร้างใหม่ | การสุ่มตัวอย่างตัวเข้ารหัส การจัดการการเปลี่ยนแปลงความเร็ว ความสัมพันธ์ของตำแหน่งเส้น และการแก้ไขมาตราส่วนภาพ | ตัวเข้ารหัส เส้นโค้งการเคลื่อนที่ และสเกลอ้างอิง |
| การจับคู่ความเร็วของกล้อง TDI และการพัฒนาการรับข้อมูล | พารามิเตอร์กล้อง TDI เชิงพาณิชย์ การเชื่อมโยงความถี่ของสาย การได้มา และการวินิจฉัยที่ไม่ตรงกัน | โปรโตคอลกล้อง TDI แพลตฟอร์มการเคลื่อนไหว และแบนด์วิธอินเทอร์เฟซ |
| การเขียนโปรแกรมและการพัฒนาลำดับการรับแสงของกล้องหลายตัว | สูตรการรับแสง ลำดับทริกเกอร์ ป้ายเฟรม และการจัดการเฟรมข้อยกเว้น | ความสามารถด้านลำดับของกล้องและทริกเกอร์ฮาร์ดแวร์ |
| การพัฒนาการรับแคชความเร็วสูงก่อนและหลังเหตุการณ์ | แคชวงแหวน, การเก็บรักษาล่วงหน้า, กรอบเวลาเหตุการณ์, กำหนดการเขียนและการตรวจสอบความสมบูรณ์ | เป้าหมายปริมาณงาน หน่วยความจำ พื้นที่จัดเก็บ และคำจำกัดความของทริกเกอร์ |
| การพัฒนาการวินิจฉัยข้อผิดพลาดเกี่ยวกับจังหวะการมองเห็นและการควบคุมมอเตอร์ | การบันทึกการประทับเวลาการได้มาและการดำเนินการ การสลายตัวส่วนเบี่ยงเบน การตรวจสอบการดริฟท์ และเครื่องมือวินิจฉัย | นาฬิกาที่สังเกตได้และการอ้างอิงเวลาแบบอิสระ |
| การพัฒนากระบวนการรับแสงจากกล้องวิทยาศาสตร์แบบเปิดรับแสงนาน | Darkfield และกำหนดการรับข้อมูลอ้างอิง การบันทึกอุณหภูมิ การคัดกรองเฟรมที่ไม่ดี และการเก็บรักษาข้อมูลดิบ | SDK กล้องวิทยาศาสตร์ ตัวอย่าง Darkfield และเงื่อนไขการควบคุมอุณหภูมิ |
| การพัฒนาเครื่องมือวินิจฉัยความแออัดของกล้อง GigE และการสูญเสียแพ็กเก็ต | การวิเคราะห์หมายเลขลำดับแพ็คเก็ต การจัดสรรแบนด์วิธ การรวบรวมสถานะการส่งสัญญาณซ้ำ และการบันทึกการเกิดซ้ำ | กล้องเป้าหมาย การ์ดเครือข่าย สวิตช์ และเงื่อนไขการจับเครือข่าย |
| การพัฒนาเลเยอร์การปรับตัว GenTL ของการ์ดการซื้อกิจการทางอุตสาหกรรม | ระบุการแจงนับการ์ดจับภาพ การบัฟเฟอร์ เหตุการณ์ รูปแบบข้อมูล และแพ็คเกจการกู้คืนข้อยกเว้น | SDK การ์ดจับภาพ ไดรเวอร์ และแพลตฟอร์มเป้าหมาย |
| การพัฒนาการปรับตัวเชื่อมโยงส่วนขยายของกล้องอุตสาหกรรม | การเข้าถึงตัวขยายไฟเบอร์สำเร็จรูป ช่องควบคุม การกู้คืนลิงก์ และการวิเคราะห์ลิงก์ | เงื่อนไขการทดสอบลิงก์ แหล่งจ่ายไฟ และเวลาในการตอบสนองที่เสร็จสิ้นแล้ว |
| ที่เก็บข้อมูลรูปภาพและการพัฒนาการเล่นที่ติดตามได้ | เฟรมดั้งเดิม การปรับเทียบ พารามิเตอร์ เวลา และเวอร์ชันจะถูกจัดเก็บและเล่นซ้ำร่วมกัน | ปริมาณข้อมูล คำจำกัดความของข้อมูลเมตา และนโยบายการเก็บรักษา |
| การพัฒนาความสม่ำเสมอในการปิดเครื่องของอุปกรณ์บันทึก | การเขียนแบบแบ่งส่วน การกู้คืนดัชนี การซ่อมแซมไฟล์ และการตรวจสอบขอบเขตข้อมูลไฟฟ้าดับ | สื่อจัดเก็บข้อมูล รุ่นการปิดเครื่อง และสภาวะการจ่ายไฟ |
| การพัฒนาบริการจัดตารางเวลางานการรวบรวมหลายอุปกรณ์ | การอนุญาโตตุลาการทรัพยากรกล้อง ลำดับความสำคัญของงาน การล็อคสูตร และการกู้คืนการยกเลิกที่ผิดปกติ | กฎการเข้าถึงหลายกระบวนการและขอบเขตการทำงานพร้อมกัน |
| การพัฒนาการปรับตัว SDK แบบรวมสำหรับอุปกรณ์หลายยี่ห้อ | เลเยอร์การปรับอุปกรณ์ การสืบค้นความสามารถ การแมปพารามิเตอร์ และรายการความเข้ากันได้ของโมเดล | รุ่นที่เลือก, SDK ของผู้ผลิต และใบอนุญาต |
| คำอธิบายความสามารถของอุปกรณ์แสดงผลและการพัฒนาอินเทอร์เฟซปลั๊กอิน | คำอธิบายการทำงาน, ปลั๊กอิน ABI, พารามิเตอร์ทางเลือก และการตรวจสอบความเข้ากันได้ของรันไทม์ | กฎการเผยแพร่ปลั๊กอินและกลยุทธ์เวอร์ชันอินเทอร์เฟซ |
| อุปกรณ์จำลองกล้องและการพัฒนา SDK ออฟไลน์ | อุปกรณ์เล่นข้อมูล การจำลองพารามิเตอร์ การฉีดข้อผิดพลาด และไม่มีอินเทอร์เฟซการพัฒนาเครื่องจักรจริง | ตัวอย่างพฤติกรรมอุปกรณ์จริงและช่วงจำลอง |
| การเชื่อมโยงภาษา SDK ของอุปกรณ์และการพัฒนาโครงการตัวอย่าง | ระบุตัวห่อ C, C# หรือ Python กฎหน่วยความจำ และแพ็กเกจสำหรับอินเทอร์เฟซ C++ | ซอร์สโค้ดอินเทอร์เฟซ ภาษาเป้าหมาย และข้อกำหนดการเผยแพร่ |
| การพัฒนาเครื่องมือการจัดการข้อมูลการสอบเทียบอุปกรณ์วิชั่น | เวอร์ชันการสอบเทียบ การผูกหมายเลขซีเรียล การตรวจสอบความถูกต้อง การนำเข้าและส่งออก และการติดตามการเปลี่ยนแปลง | รูปแบบการสอบเทียบ ตัวอย่างอ้างอิง และกฎหมายเลขซีเรียล |
| การวินิจฉัยทางวิศวกรรมอุปกรณ์และการพัฒนาเครื่องมือรวบรวมบันทึก | สถานะการเชื่อมโยงเฟรม พารามิเตอร์ฮาร์ดแวร์ รหัสข้อผิดพลาด การบรรจุบันทึก และข้อมูลการเกิดซ้ำระยะไกล | สถานะที่เปิดเผย การอนุญาตข้อมูล และอินเทอร์เฟซการวินิจฉัย |
| วิธีทดสอบเครื่องมือและการพัฒนาซอฟต์แวร์กระบวนการทำงาน | ตัวอย่าง วิธีการ ขั้นตอน การได้มา การคำนวณ การทบทวน และการรายงานขั้นตอนการทำงาน | วิธีการวัด บทบาท และข้อกำหนดในการบันทึก |
| สูตรอุปกรณ์และการพัฒนาซอฟต์แวร์เปลี่ยนแบบจำลอง | แบบจำลองสูตร การตรวจสอบการเปลี่ยนแปลง การตรวจสอบพารามิเตอร์ และการกู้คืนการเปลี่ยนแปลง | รุ่นผลิตภัณฑ์ การขึ้นต่อกันของพารามิเตอร์ และกฎการอนุญาต |
| การพัฒนาซอฟต์แวร์เทอร์มินัลภาพออฟไลน์ | งานในพื้นที่ พื้นที่จัดเก็บ การดำเนินการตัดการเชื่อมต่อเครือข่าย การส่งออกข้อมูล และการจัดการข้อขัดแย้งในการส่งข้อมูลเสริม | ระยะเวลาออฟไลน์ พื้นที่จัดเก็บ และกฎการรวมข้อมูล |
| การพัฒนาซอฟต์แวร์เชิงโต้ตอบหลายภาษาสำหรับอุปกรณ์ของแบรนด์ | ทรัพยากรคำศัพท์ รูปแบบหน่วย กระบวนการสัมผัส วิธีใช้ และแพ็คเกจการอัพเกรดการติดตั้ง | ข้อกำหนดภาษา หน้าจอ และอินเทอร์เฟซของแบรนด์เป้าหมาย |
| การพัฒนาเว็บคอนโซลภายในอุปกรณ์แสดงผล | การกำหนดค่า การแสดงตัวอย่าง งาน สิทธิ์ การวินิจฉัย และการประสานงานทรัพยากรหลายไคลเอนต์ | เครือข่ายท้องถิ่น เบราว์เซอร์ และสิทธิ์การเข้าถึง |
| การกำหนดค่ากลุ่มอุปกรณ์และการพัฒนาบริการจำหน่ายซอฟต์แวร์ | การกำหนดค่ากลุ่ม การตรวจสอบความเข้ากันได้ การอัพเกรดเป็นชุด การกู้คืนความล้มเหลว และการติดตามสถานะ | จำนวนอุปกรณ์ เครือข่าย และการอนุญาตการกระจาย |
| การพัฒนาซอฟต์แวร์เผยแพร่ความไม่แน่นอนของผลการวัด | การแพร่กระจายข้อผิดพลาดในการสอบเทียบและการปรับเทียบ สถิติความสามารถในการทำซ้ำ และช่วงผลที่เกี่ยวข้อง | แบบจำลองการวัดที่ชัดเจนและปริมาณอ้างอิงที่ตรวจสอบย้อนกลับได้ |
| การพัฒนาการคำนวณการกระจัดและความเครียดของ DIC | สหสัมพันธ์แบบจุด การกระจัดของพิกเซลย่อย การคำนวณความเครียด และการเปรียบเทียบการทดสอบอ้างอิง | สภาพการถ่ายภาพ ตัวอย่างจุด และการอ้างอิงการกระจัดและความเครียดที่เป็นอิสระ |
| การพัฒนาการคำนวณสนามความเร็ว PIV | การประมวลผลภาพอนุภาค ความสัมพันธ์ข้าม การตรวจสอบเวกเตอร์ และการสอบเทียบปริมาณทางกายภาพ | ระบบการทดลองสำเร็จรูป ช่วงเวลา และการสอบเทียบเชิงพื้นที่ |
| การพัฒนาระยะขอบสัญญาณรบกวนและการพัฒนาการคำนวณทางสัณฐานวิทยา | การแยกเฟส การแกะออก การชดเชยข้อผิดพลาดอย่างเป็นระบบ และการคำนวณความสูงหรือเส้นทางแสง | ระบบอินเทอร์เฟอโรเมตริก ข้อมูลเฟส และพื้นผิวอ้างอิงที่มีจำหน่ายทั่วไป |
| การพัฒนาฟิวชั่นผลลัพธ์ของเครื่องมือหลายรูปแบบ | การสอบเทียบ ความสัมพันธ์ และเอาต์พุตร่วมของภาพ สเปกตรัม แผนที่ความร้อน หรือข้อมูลทางกล | ข้อมูลดิบ ความสัมพันธ์เชิงพื้นที่ และป้ายอ้างอิงของแต่ละรูปแบบ |
| ตัวดำเนินการอุปกรณ์ภาพพิเศษและการพัฒนาปลั๊กอินวิธีการ | เวอร์ชันของวิธีการ ข้อจำกัดของพารามิเตอร์ ส่วนต่อประสานการดำเนินการของอัลกอริทึม และการปรับฟิลด์รายงาน | คำจำกัดความวิธีการใช้เครื่องมือ ตัวอย่างอัลกอริทึม และการอนุญาตอินเทอร์เฟซ |
| การพัฒนาซอฟต์แวร์เครื่องมือปรับโฟกัสอัตโนมัติสำหรับการผลิตกล้องจำนวนมาก | ตัวกระตุ้นการโฟกัสเสร็จสิ้น เกณฑ์ความคมชัด กระบวนการโฟกัส และบันทึกผลลัพธ์ | กลไกการโฟกัส ต้นแบบ เป้าหมาย และวิธีการตัดสิน |
| การพัฒนาซอฟต์แวร์เครื่องมือสอบเทียบการผลิตจำนวนมากที่มีกล้องหลายตัว | กระบวนการในสถานีงาน โซลูชันการสอบเทียบ การระบุข้อผิดพลาดตกค้าง การเขียนพารามิเตอร์ และความสามารถในการตรวจสอบย้อนกลับ | ความสัมพันธ์ระหว่างเวิร์กสเตชัน เป้าหมาย และการติดตั้งผลิตภัณฑ์ |
| การพัฒนาการตรวจสอบอัตโนมัติของฮาร์ดแวร์ในวงรอบ | I/O จริง ข้อมูลการเล่น การยืนยันเวลา การแทรกข้อยกเว้น และโค้ดการรายงานการทดสอบ | อินเทอร์เฟซที่ทดสอบ แท่นทดสอบ และแบบจำลองความล้มเหลวที่ทำซ้ำได้ |
| การพัฒนาการตรวจสอบอัตโนมัติเพื่อความมั่นคงในการได้มาในระยะยาว | การบันทึกความสมบูรณ์ของเฟรม อุณหภูมิ หน่วยความจำ ปริมาณการประมวลผล และพฤติกรรมการกู้คืนโดยอัตโนมัติ | ต้นแบบ สภาพการทำงาน วงจรและเกณฑ์ความล้มเหลว |
| การพัฒนาระบบการเขียนพารามิเตอร์โรงงานและการสอบเทียบ | หมายเลขซีเรียล เฟิร์มแวร์ การสอบเทียบ การกำหนดค่า ความสัมพันธ์ของคำสั่งงาน และการส่งออกผลลัพธ์ | เขียนอินเทอร์เฟซ รูปแบบข้อมูล และการอนุญาตระบบของโรงงาน |
| ความเข้ากันได้ของเวอร์ชันอุปกรณ์จะกลับสู่การพัฒนาโดยอัตโนมัติ | การทดสอบฮาร์ดแวร์ เฟิร์มแวร์ SDK อัลกอริธึมและระบบปฏิบัติการ และการรายงานความแตกต่าง | รองรับเมทริกซ์ แท่นทดสอบ และตัวอย่างการถดถอย |
| การพัฒนาแพลตฟอร์มสาธารณะสำหรับอุปกรณ์ภาพต่างๆ | บอร์ดสาธารณะและซอฟต์แวร์ โมดูลที่เปลี่ยนได้ การกำหนดค่าโมเดล และการออกแบบอนุพันธ์ | ตระกูลผลิตภัณฑ์ ตารางความแตกต่าง และช่วงความเสถียรของอินเทอร์เฟซ |
| วิชันซิสเต็มเปลี่ยนการควบคุมหลักและการพัฒนาสร้างใหม่ | อนุญาตให้มีการปลูกถ่ายการออกแบบดั้งเดิม การเปลี่ยนอินเทอร์เฟซ ไดรเวอร์ ประสิทธิภาพ และการเปรียบเทียบผลลัพธ์ | โครงการเดิม หลักเป้าหมาย และตัวบ่งชี้การยอมรับการทดแทน |
| การพัฒนาทดแทนระบบการจัดหากล้องเก่า | การย้ายลิงค์กล้องดั้งเดิม การปรับโปรโตคอล รูปภาพและการตรวจสอบความสอดคล้องของผลลัพธ์การวัด | เครื่องจักรดั้งเดิม ข้อมูล อินเทอร์เฟซ และความทนทานต่อการทดแทน |
| การพัฒนาทางวิศวกรรมของอุปกรณ์วิชั่นต้นแบบ | การสร้างวงจรต้นแบบและซอฟต์แวร์ใหม่ ส่วนต่อประสานโครงสร้าง การทดสอบ และการปรับปรุงข้อมูลการผลิต | วิศวกรรมต้นแบบ ปัญหาที่ทราบ และเงื่อนไขการผลิตเป้าหมาย |
| การพัฒนาแพลตฟอร์มอินเทอร์เฟซอุปกรณ์วิชันซิสเต็มแบบพกพาแบบแยกส่วน | การระบุโมดูล การเชื่อมต่อสายไฟ อินเทอร์เฟซข้อมูล โครงสร้างแบบถอดได้ และการตรวจสอบการกำหนดค่า | เมทริกซ์อุปกรณ์เสริม สายเคเบิล เงื่อนไขการติดตั้งและการจัดส่ง |
| การพัฒนาการโยกย้ายเวอร์ชันซอฟต์แวร์และอุปกรณ์ฮาร์ดแวร์ของแบรนด์ | การย้ายข้อมูล ความเข้ากันได้ของพารามิเตอร์ แพ็คเกจอัปเกรด การย้อนกลับ และเครื่องมือการตรวจสอบในสถานที่ | เวอร์ชันในอดีต ข้อมูลผู้ใช้ และเส้นทางการอัปเกรด |
| ข้อมูลดิบของ OCT และการพัฒนาการวิเคราะห์เอกซเรย์ | การเข้าถึงข้อมูลระบบเชิงพาณิชย์ ส่วนต่อประสานการสร้างใหม่ ความหนาของขอบเขตชั้น และซอฟต์แวร์ควบคุมอุปกรณ์ | แกน OCT การเข้าถึงข้อมูล การสอบเทียบเชิงแสง และตัวอย่างอ้างอิง |
| การพัฒนาการสอบเทียบและการวัดด้วยแสงของจอแสดงผลระยะใกล้ | พิกัดการวัด แผนภูมิทดสอบ การปรับเทียบภาพ ผลลัพธ์ทางแสง และรายงาน | ระบบออพติคอลเฉพาะ ส่วนประกอบการสอบเทียบ และวิธีการอ้างอิง |
| การพัฒนาโพลาไรเซชันเชิงปริมาณและการวิเคราะห์ความเครียด | การสอบเทียบเครื่องมือ การผกผันพารามิเตอร์โพลาไรซ์ การปรับแบบจำลอง และการเปรียบเทียบการอ้างอิง | ระบบออพติคอลโพลาไรเซชัน แบบจำลองวัสดุ และตัวอย่างมาตรฐาน |
| การสอบเทียบสเปกโตรมิเตอร์ด้วยภาพและการพัฒนาการประมวลผลข้อมูล | การอ้างอิงสีขาวเข้ม การปรับเทียบพื้นที่สเปกตรัม การประมวลผลพิกเซลที่ไม่ดี การสร้างคิวบ์และการส่งออก | สเปกโตรมิเตอร์เชิงพาณิชย์ ข้อมูลการสอบเทียบ และการอ้างอิง |