| Rozwój sprzętu wizyjnego CAN i karty sterowania peryferyjnego portu szeregowego | Transceiver magistrali, interfejs elektryczny, maszyna stanu poleceń, usuwanie błędów i oprogramowanie sprzętowe na poziomie płyty głównej | Definicje elektryczne, protokoły peryferyjne i ładowanie magistrali |
| Rozwój elektrycznego sterowania ostrością i sprzężeniem zwrotnym położenia kamery | Interfejs silnika, sprzężenie zwrotne położenia, ograniczenie, działanie ogniskujące i powiązanie przejrzystości obrazu | Gotowy siłownik obiektywu i dane zwrotne |
| Rozwój stolika mikroskopowego i sterowania ruchem skanującym | Gotowa do użycia kontrola platformy, limity początkowe, ścieżka skanowania i korelacja pozycji obrazu | Protokoły platformy, trasy i wymagania dotyczące powtarzania celów |
| Opracowanie płytki próbkującej synchronicznej obrazu i siły-przemieszczenia-temperatury | Interfejs analogowy, ADC, zegar próbkowania, wyzwalanie i korelacja danych obrazu | Wymagania dotyczące zakresu sygnału, szerokości pasma, czujnika i błędu czasowego |
| Rozwój oprogramowania sprzętowego do aktywnej kontroli temperatury terminala wizualnego | Próbkowanie temperatury, interfejs wentylatora lub gotowego termostatu, strategia sterowania i zapisy zabezpieczeń | Projektowanie termiczne, obiekty sterujące i obsługa wyjątków, podział pracy |
| Opracowanie wizualnego czyszczenia sprzętu i kontroli wykonania przeciwmgielnego | Gotowy interfejs wycieraczki, kurtyny powietrznej lub elementu grzewczego, harmonogram działań i powiązanie statusu obrazu | Gotowe komponenty wykonawcze, zasilanie i warunki środowiskowe |
| Opracowanie kontroli czasu podawania przedmiotu obrabianego i wizualnego odrzucania | Kolejka wyników kontroli, pozycja enkodera, kompensacja opóźnienia wykonania i potwierdzenie odrzucenia | Prędkość transportu, siłownik, czas cyklu i metoda śledzenia |
| Rozwój szybkiego rozpoznawania głowicy kamery i zarządzania parametrami | Identyfikacja dostępu, identyfikator modułu, powiązanie konfiguracji, weryfikacja kalibracji i kombinacja błędów | Złącza, zasady elektryczne i procedury wymiany |
| Opracowanie modułu ładującego urządzenie i trybu odzyskiwania | Proces uruchamiania, obraz partycji, weryfikacja aktualizacji, usuwanie awarii i narzędzia do przywracania zmian | Kod źródłowy łańcucha uruchamiania, układ pamięci i uprawnienia do debugowania |
| Trwałość parametrów produktu aparatu i rozwój przywracania ustawień fabrycznych | Nakładanie warstw parametrów, zgodna migracja, spójność przy wyłączaniu, wartości fabryczne i proces odzyskiwania | Prawa do modyfikacji oprogramowania sprzętowego, okres przechowywania i model parametrów |
| Opracowanie modelu funkcji GenICam po stronie urządzenia z kamerą | Opis węzła po stronie urządzenia, mapowanie rejestrów, kontrola dostępu i weryfikacja hosta | Sprzęt opracowany samodzielnie lub autoryzowany, dane protokołu i host testowy |
| Metadane wewnątrzklatkowe kamery i rozwój kanału zdarzeń | Numer klatki, ekspozycja, wyzwalacz, kodowanie i analizowanie danych dotyczących temperatury i stanu | Interfejs oprogramowania układowego po stronie urządzenia i protokół metadanych |
| Opracowanie parametrów kamery zdarzeń i oprogramowania do zarządzania hałasem | Gotowa kontrola parametrów modułu, filtrowanie zdarzeń, resetowanie czasu i interfejs diagnostyki danych | Uprawnienia oprogramowania sprzętowego i rejestru, które moduł może otworzyć |
| Opracowanie oprogramowania sprzętowego do wykonywania zadań pomiaru lokalnego kamery | Maszyna stanu zadania w maszynie, przełączanie receptur, wyniki pomiarów i wyjście interfejsu przemysłowego | Programowalne sterowanie główne, zasoby algorytmów i taktowanie interfejsu |
| Próbkowanie ze zmienną prędkością skanowania liniowego i rozwój rekonstrukcji współrzędnych | Próbkowanie enkodera, obsługa zmiany prędkości, korelacja położenia linii i korekcja skalowania obrazu | Enkodery, krzywe ruchu i skale referencyjne |
| Dopasowanie prędkości kamery TDI i rozwój gromadzenia danych | Parametry komercyjnej kamery TDI, powiązanie częstotliwości linii, diagnostyka akwizycji i niedopasowania | Protokoły kamer TDI, platformy ruchu i przepustowość interfejsu |
| Programowanie i rozwój sekwencji ekspozycji dla wielu kamer | Receptury ekspozycji, sekwencje wyzwalania, etykiety klatek i obsługa ramek wyjątków | Możliwości sekwencji kamer i wyzwalacze sprzętowe |
| Rozwój szybkiego gromadzenia pamięci podręcznej przed i po zdarzeniach | Pamięć podręczna pierścienia, przechowywanie przed wyzwoleniem, okna zdarzeń, planowanie zapisu i kontrole integralności | Docelowa przepustowość, pamięć, pamięć masowa i definicje wyzwalaczy |
| Rozwój diagnostyki błędów synchronizacji wzroku i silnika | Rejestracja znaczników czasu nabycia i wykonania, rozkład odchyleń, sprawdzanie dryftu i narzędzia diagnostyczne | Obserwowalne zegary i niezależne odniesienia do czasu |
| Opracowanie procesu pozyskiwania długich ekspozycji aparatu naukowego | Planowanie akwizycji ciemnego pola i odniesienia, rejestracja temperatury, złe sprawdzanie klatek i zachowanie surowych danych | Zestaw SDK do aparatu naukowego, próbki ciemnego pola i warunki kontroli temperatury |
| Opracowanie narzędzia diagnostycznego do wykrywania przeciążenia kamer GigE i utraty pakietów | Diagnostyka numerów sekwencyjnych pakietów, alokacja pasma, gromadzenie informacji o statusie retransmisji i rejestracja powtórzeń | Wybierz kamerę, kartę sieciową, przełącznik i warunki przechwytywania sieci |
| Opracowanie warstwy adaptacyjnej przemysłowej karty akwizycyjnej GenTL | Określ wyliczenie kart przechwytujących, buforowanie, zdarzenia, format danych i opakowanie odzyskiwania wyjątków | Karta przechwytująca SDK, sterownik i platforma docelowa |
| Rozwój adaptacji łącza światłowodowego do kamer przemysłowych | Ukończony dostęp do przedłużacza światłowodowego, kanał kontrolny, odzyskiwanie łącza i diagnostyka łącza | Gotowe łącze, warunki testu zasilania i opóźnienia |
| Kontener danych obrazu i rozwój odtwarzania z możliwością śledzenia | Oryginalne klatki, kalibracje, parametry, czasy i wersje są przechowywane i odtwarzane razem | Woluminy danych, definicje metadanych i zasady przechowywania |
| Rozwój spójności wyłączania urządzenia rejestrującego | Zapisy segmentowane, odzyskiwanie indeksów, naprawa plików i weryfikacja granic danych w przypadku przerwy w zasilaniu | Nośniki pamięci, model wyłączenia i warunki zasilania |
| Rozwój usługi planowania zadań gromadzenia danych na wielu urządzeniach | Arbitraż zasobów kamery, priorytet zadań, blokowanie receptur i przywracanie nieprawidłowego zakończenia | Reguły dostępu dla wielu procesów i zakres współbieżności zadań |
| Ujednolicony rozwój adaptacji SDK dla urządzeń wielu marek | Warstwa adaptacji urządzenia, zapytanie o możliwości, mapowanie parametrów i lista kompatybilności modeli | Wybrany model, producent SDK i licencja |
| Opis możliwości urządzenia wizualnego i rozwój interfejsu wtyczek | Opis funkcjonalny, wtyczka ABI, opcjonalne parametry i sprawdzenie kompatybilności środowiska uruchomieniowego | Zasady publikowania wtyczek i strategia wersji interfejsu |
| Sprzęt do symulacji kamer i rozwój zestawu SDK w trybie offline | Sprzęt do odtwarzania danych, symulacja parametrów, wstrzykiwanie błędów i brak prawdziwego interfejsu projektowania maszyn | Rzeczywiste próbki zachowań urządzeń i symulowany zasięg |
| Powiązanie języka SDK urządzenia i opracowanie przykładowego projektu | Określ opakowania C, C# lub Python, reguły pamięci i opakowania dla interfejsów C++ | Kod źródłowy interfejsu, język docelowy i wymagania dotyczące dystrybucji |
| Rozwój narzędzi do zarządzania danymi kalibracyjnymi sprzętu wizyjnego | Wersja kalibracji, powiązanie numeru seryjnego, sprawdzenie ważności, import i eksport oraz śledzenie zmian | Format kalibracji, próbki referencyjne i zasady dotyczące numeru seryjnego |
| Diagnostyka inżynieryjna sprzętu i rozwój narzędzi do zbierania logów | Stan łącza ramki, parametry sprzętu, kody błędów, pakowanie dziennika i informacje o zdalnym powtarzaniu | Stan odsłonięty, uprawnienia do danych i interfejsy diagnostyczne |
| Metody testowania przyrządów i tworzenie oprogramowania procesów operacyjnych | Próbka, metoda, procedura, akwizycja, obliczenia, przegląd i raportowanie | Metody oprzyrządowania, role i wymagania dotyczące nagrywania |
| Formuła wyposażenia i rozwój oprogramowania do zmiany modelu | Model receptury, przegląd zmian, weryfikacja parametrów i przywracanie zmian | Model produktu, zależność parametrów i reguły uprawnień |
| Tworzenie oprogramowania terminali wizualnych offline | Zadania lokalne, przechowywanie, operacje odłączania sieci, eksport danych i dodatkowa obsługa konfliktów transmisji | Zasady czasu trwania, przechowywania i scalania danych w trybie offline |
| Tworzenie wielojęzycznego, interaktywnego oprogramowania dla sprzętu marki | Zasoby terminologiczne, formaty jednostek, procesy dotykowe, pomoc i pakiety aktualizacji instalacyjnych | Specyfikacje języka docelowego, ekranu i interfejsu marki |
| Tworzenie lokalnej konsoli internetowej urządzenia wizualnego | Konfiguracja, podgląd, zadania, uprawnienia, diagnostyka i koordynacja zasobów wielu klientów | Sieć lokalna, przeglądarka i prawa dostępu |
| Konfiguracja grupy urządzeń i rozwój usług dystrybucji oprogramowania | Konfiguracja grupy, sprawdzenie kompatybilności, aktualizacja wsadowa, odzyskiwanie po awarii i śledzenie statusu | Liczba urządzeń, uprawnienia sieciowe i dystrybucyjne |
| Rozwój oprogramowania do propagacji niepewności wyników pomiarów | Kalibracja i propagacja błędów dopasowania, statystyki powtarzalności i zakres możliwych wyników | Przejrzyste modele pomiarowe i identyfikowalne ilości referencyjne |
| Opracowanie obliczeń przemieszczenia i odkształcenia DIC | Korelacja plamek, przemieszczenie subpikseli, obliczanie odkształceń i porównanie testów referencyjnych | Warunki obrazowania, próbki plamek oraz niezależne odniesienia do przemieszczeń i odkształceń |
| Opracowanie obliczeń pola prędkości PIV | Przetwarzanie obrazu cząstek, korelacja krzyżowa, weryfikacja wektorów i kalibracja wielkości fizycznych | Gotowe układy doświadczalne, przedziały czasowe i kalibracja przestrzenna |
| Opracowanie fazy prążków interferencyjnych i obliczenia morfologii | Ekstrakcja faz, rozpakowywanie, systematyczna kompensacja błędów i obliczenia wysokości lub ścieżki optycznej | Gotowe systemy interferometryczne, dane fazowe i powierzchnie odniesienia |
| Rozwój syntezy wyników instrumentów multimodalnych | Kalibracja, korelacja i łączenie danych obrazu, widma, mapy termicznej lub danych mechanicznych | Surowe dane, relacje czasoprzestrzenne i etykiety referencyjne każdej modalności |
| Opracowanie specjalnego operatora instrumentu wizualnego i wtyczki metodycznej | Wersja metody, ograniczenia parametrów, interfejs wykonania algorytmu i adaptacja pola raportu | Definicje metod instrumentu, próbki algorytmów i uprawnienia interfejsu |
| Rozwój oprogramowania do automatycznego ustawiania ostrości do masowej produkcji aparatów | Gotowy siłownik ogniskowania, kryterium ostrości, proces ogniskowania i zapis wyników | Mechanizm ogniskowania, prototyp, cel i metoda oceny |
| Opracowanie oprogramowania narzędziowego do kalibracji masowej produkcji obejmującej wiele kamer | Proces na stanowisku pracy, rozwiązanie kalibracyjne, określanie błędu resztkowego, zapisywanie parametrów i identyfikowalność | Związek pomiędzy stacją roboczą, obiektem docelowym i instalacją produktu |
| Rozwój automatycznej weryfikacji sprzętu w pętli | Rzeczywiste wejścia/wyjścia, dane odtwarzania, potwierdzenia synchronizacji, wstrzykiwanie wyjątków i kod raportowania testów | Przetestowane interfejsy, stanowiska testowe i powtarzalne modele awarii |
| Rozwój automatycznej weryfikacji długoterminowej stabilności akwizycji | Automatyczne rejestrowanie integralności ramki, temperatury, pamięci, przepustowości i zachowania odzyskiwania | Prototyp, warunki pracy, cykl i kryteria awarii |
| Opracowanie systemu zapisu parametrów fabrycznych i kalibracji | Numer seryjny, oprogramowanie sprzętowe, kalibracja, konfiguracja, korelacja zleceń i eksport wyników | Interfejs zapisu, format danych i uprawnienia systemu fabrycznego |
| Zgodność wersji urządzenia automatycznie powraca do stanu deweloperskiego | Testowanie kombinacji sprzętu, oprogramowania sprzętowego, SDK, algorytmów i systemów operacyjnych oraz raportowanie różnic | Macierze pomocnicze, stanowiska testowe i próbki regresji |
| Rozwój platformy publicznej dla serii sprzętu wizualnego | Tablice i oprogramowanie publiczne, moduły wymienne, konfiguracje modeli i projekty pochodne | Rodziny produktów, tabele różnic i zakresy stabilności interfejsów |
| Wymiana i rekonstrukcja głównego sprzętu wizyjnego | Autoryzuj przeszczepienie oryginalnego projektu, wymianę interfejsu, sterownik, wydajność i porównanie wyników | Oryginalny projekt, docelowe wskaźniki główne i zastępcze |
| Rozwój zastępczy starego systemu akwizycji kamer | Migracja oryginalnego łącza kamery, adaptacja protokołu, sprawdzenie spójności obrazu i wyników pomiarów | Oryginalna maszyna, dane, interfejs i tolerancja substytucji |
| Opracowanie inżynieryjne prototypowego sprzętu wizyjnego | Rekonstrukcja obwodu prototypowego i oprogramowania, interfejs strukturalny, testowanie i ulepszanie danych produkcyjnych | Inżynieria prototypów, znane problemy i docelowe warunki produkcji |
| Opracowanie modułowej platformy interfejsu przenośnych urządzeń wizyjnych | Identyfikacja modułu, podłączenie zasilania, interfejs danych, wymienna konstrukcja i weryfikacja konfiguracji | Zestaw akcesoriów, kable, warunki instalacji i wysyłki |
| Opracowanie oprogramowania sprzętowego marki i migracja wersji sprzętu | Migracja danych, kompatybilność parametrów, pakiety aktualizacji, narzędzia do wycofywania zmian i weryfikacji na miejscu | Wersje historyczne, dane użytkowników i ścieżki aktualizacji |
| Opracowanie surowych danych OCT i analizy tomograficznej | Dostęp do danych systemu komercyjnego, interfejs rekonstrukcji, grubość granic warstw i oprogramowanie do kontroli sprzętu | Rdzeń OCT, dostęp do danych, kalibracja optyczna i próbki referencyjne |
| Kalibracja optyczna wyświetlacza bliskiego oka i rozwój pomiarów | Współrzędne pomiarów, karty testowe, kalibracja obrazowania, wyniki optyczne i raporty | Dedykowane układy optyczne, elementy kalibracyjne i metody referencyjne |
| Ilościowa polaryzacja i rozwój analizy naprężeń | Kalibracja przyrządu, inwersja parametrów polaryzacji, dopasowanie modelu i porównanie referencji | Układ optyczny polaryzacyjny, model materiału i próbka wzorcowa |
| Kalibracja spektrometru obrazowego i rozwój przetwarzania danych | Ciemnobiałe odniesienie, kalibracja przestrzeni widmowej, przetwarzanie złych pikseli, generowanie i eksport kostek | Spektrometry komercyjne, dane kalibracyjne i odniesienia |