레이저 스팟 분석기 개발
- 개발 범위
- 상업용 수신기 구성 요소, 교정, 중앙 빔 모양, 배경 보정 및 보고
- 프로젝트 입력
- 수신기 장치, 감쇠 보호 및 기준점
고객 또는 전문 공급업체가 제공한 이미징 및 광기계 코어를 기반으로 스팟, 파면, 위상, 변위, 표면 형상 및 기타 측정 작업을 위한 획득 제어 및 결과 소프트웨어를 개발합니다.
다음 프로젝트는 합의된 범위 내에서 시각적 하위 시스템 또는 완전한 기계 프로토타입으로 분류될 수 있습니다. 먼저 기존 핵심 구성 요소, 샘플 및 대상 출력을 확인한 다음 회로, 제어, 구조, 알고리즘 및 소프트웨어의 개발 내용을 결정합니다.
특수한 방법과 장비 인터페이스는 먼저 기술 평가를 완료해야 합니다.
특수한 방법과 장비 인터페이스는 먼저 기술 평가를 완료해야 합니다.
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특수한 방법과 장비 인터페이스는 먼저 기술 평가를 완료해야 합니다.
특수한 방법과 장비 인터페이스는 먼저 기술 평가를 완료해야 합니다.
특수한 방법과 장비 인터페이스는 먼저 기술 평가를 완료해야 합니다.
장비 사용법, 기존 시스템 및 인터페이스 정보, 대표 원시 데이터, 예상 출력, 참조 측정 또는 수동 해석 결과를 제공하십시오. 메커니즘, 프로세스 시스템 또는 전문 광학 기계가 관련된 경우 공급업체 정보 및 공동 디버깅 조건도 제공됩니다.
연구 및 개발 계획에는 각각 JIVISION이 담당하는 작업, 고객 또는 공급업체가 제공하는 시스템, 소스 코드, 디자인 파일 및 프로토타입의 제공 범위가 설명되어 있습니다.
| 연구개발 링크 | 배송 내용 | 확인사항 |
|---|---|---|
| 요구 사항 및 시스템 인터페이스 | 장비 작업, 입력 및 출력, 인터페이스 및 테스트 요구 사항 | 고객의 기존 시스템 및 공급업체 구성 요소에 대한 책임 범위 |
| 디자인 및 소프트웨어 개발 | 합의된 회로, 구조, 펌웨어, 알고리즘 또는 애플리케이션 | 실제 디자인 범위, 소스 파일 권리 및 제3자 라이선스 |
| 프로토타입 및 엔지니어링 공동 디버깅 | 구성된 프로토타입, 매개변수, 구성 및 설치 정보 합의 | 프로토타입 수, 제도적 조건 및 현장 공동 디버깅 준비 |
| 검증 및 기술 인수 | 구성 목록, 테스트 기록, 문제 처리 및 사용 지침 | 참고 방법, 판단 기준 및 후속 유지 관리 범위 |
특정 물리량에 따라 규모, 위치 또는 파면 기준을 설정하고 광학 구성, 교정, 환경 및 계산 방법을 기록합니다. 계측기 출력, 알고리즘 적합 잔차, 최종 측정 오류를 구별합니다.
프로젝트 테스트 전에 샘플, 대상 구성, 기준 값, 작동 조건 및 판단 방법을 결정하십시오. 배송 기록에는 정상적인 결과, 실패한 샘플, 버전, 알려진 제한 사항 및 재테스트 상황이 유지됩니다.
프로젝트는 기성 장비에 대한 획득, 제어 인터페이스, 알고리즘 또는 운영 소프트웨어 개발로 제한될 수 있습니다. 특정 모델, 개방형 프로토콜 또는 SDK, 데이터 샘플 및 인증 조건을 제공하고 먼저 접근 가능한 기능을 확인해야 합니다.
연구개발 범위는 프로젝트 문서의 항목별로 합의됩니다. 정밀 모션, 전문 광학, 여기, 방사선 또는 기타 핵심 시스템은 고객 및 전문 공급업체에서 제공할 수 있습니다. 시제품 개발과 양산은 별도로 확정된다.
특정 물리량에 따라 규모, 위치 또는 파면 기준을 설정하고 광학 구성, 교정, 환경 및 계산 방법을 기록합니다. 계측기 출력, 알고리즘 적합 잔차, 최종 측정 오류를 구별합니다.
요구 사항 단계에서 제공될 회로, 구조, 펌웨어, 알고리즘, 소프트웨어 및 빌드 자재를 확인하고 타사 라이센스를 확인합니다. 납품 권리와 범위는 양 당사자가 확인한 프로젝트 문서에 따릅니다.
광학 측정 및 광학 기계 기기 개발 지원
장비의 목적, 기존 시스템, 카메라 및 인터페이스, 대상 출력, 참조 샘플, 프로토타입 수량 및 설계 데이터 전달 요구 사항을 설명하십시오.
전화: 13910119357