비전 알고리즘 및 장치 적응·성능 개요
비전 알고리즘 모듈 및 SDK 개발 서비스
장비 제조업체, 시스템 통합업체 및 기업 R&D 팀의 경우 이미지 처리 및 측정, 레이저 포인트 및 레이저 라인, 적외선 이미지 및 열화상 알고리즘 서비스를 업무에 따라 선택할 수 있습니다. 원본 샘플, 장비 조건, 인터페이스 및 승인 요구 사항을 결합하여 개발 범위, SDK 패키징, 장비 적응 및 버전 유지 관리를 명확히 합니다.
작업별 알고리즘 서비스 선택
서비스 범위
비전 알고리즘 프로젝트에는 일반적으로 이미징, 데이터, 알고리즘, 인터페이스 및 장치 운영 환경이 동시에 포함됩니다. 이 서비스는 고객의 감지 또는 측정 작업에서 시작하여 필요한 기능을 실행 가능한 솔루션으로 결합합니다.
| 고객 요구 | 서비스 내용 | 메인 출력 |
|---|---|---|
| 새로운 디바이스 알고리즘 개발 | 샘플 평가, 솔루션 설계, 알고리즘 조합, 인터페이스 개발 및 장비 조인트 디버깅 | 프로젝트 소프트웨어, 매개변수 구성, 인터페이스 문서화 및 검증 보고서 |
| 기존 장비의 최적화 | 문제 재발, 샘플 분석, 매개변수 또는 알고리즘 조정, 이전 버전과 새 버전의 회귀 | 최적화된 버전, 문제 기록, 비교 결과 및 업그레이드 지침 |
| 알고리즘 모듈 통합 | 입력 및 출력 확인, 라이브러리 또는 프로그램 액세스, 예외 상태 및 결과 형식 적응 | 호출 인터페이스, 예시, 상태 코드 및 배포 지침 |
| 다중 장치 복제 배포 | 고정 소프트웨어 및 구성, 장치 라이센스, 설치 확인 및 버전 관리 | 라이선스 기록, 배포 패키지, 장치 원장 및 복구 계획 |
| 지속적인 유지 관리 및 반복 | 원본 시나리오 문제 처리, 회귀 테스트, 제어된 업데이트 및 변경 평가 | 기록, 릴리스 노트, 반복 계획 유지 |
주요 알고리즘 기능
알고리즘 기능은 기업의 임무에 따라 구성됩니다. 프로젝트는 여러 모듈을 결합하고 이미징, 보정, 비즈니스 규칙 및 운영 플랫폼을 기반으로 프로젝트 적응을 추가할 수 있습니다.
| 능력 페이지 | 적용 가능한 작업 | 일반적인 출력 | 프로젝트 확정 포인트 |
|---|---|---|---|
| 레이저 스폿 포지셔닝 및 스폿 분석 | 단일 지점, 다중 지점 및 광점 감지 | 중심 좌표, 형태학적 매개변수, 품질 상태 및 교정 결과 | 파장, 노출, 스폿 크기, 기준 위치 및 장비 플랫폼 |
| 접촉각 및 액적 프로파일 분석 | 액적 프로파일, 기준선 및 동적 공정 분석 | 접촉각, 피팅 매개변수, 기하학적 수량 및 접촉선 상태 | 액적 모델, 기준선, 척도, 테스트 조건 및 참조 방법 |
| 2D 치수 및 윤곽 측정 | 모서리, 윤곽선 및 2D 점 세트 측정 | 위치, 크기, 적합 잔차, 형상 편차 | 도면, 공차, 데이텀, 교정, 광학 조건 및 참조 수량 |
| 이미지 등록 및 카메라 보정 | 이미지 정렬, 2D 매핑, 보정 및 왜곡 보정 | 변환 행렬, 카메라 매개변수, 왜곡 매개변수 및 잔차 | 좌표계, 변환 모델, 교정 플레이트, 시야 및 재교정 조건 |
| 이미지 분할 및 입자 분석 | 영역 추출, 입자 계수, 접착 분리 및 형태학적 통계 | 마스크, 개체, 개수, 윤곽선, 뼈대 및 분포 | 전경 정의, 주석 규칙, 접착제, 경계 객체 및 축척 |
| 모션 타이밍 및 프로세스 통계 | 움직임 추정, 추세, 주기, 이벤트 및 이상 징후 점수 | 변위, 궤적, 스펙트럼, 기간, 이벤트 및 점수 | 타임스탬프, 샘플링 속도, 규모, 작동 조건, 일반 기준선 및 이벤트 정의 |
| 습윤 물리적 특성 및 인터페이스 매개변수 반전 | 표면 에너지, 임계 장력, 분말 흡수 및 매달린 낙하 계산 | 물리적 특성 성분, 회귀 결과, 잔차 및 상태 | 모델, 액체 특성, 단위, 온도, 교정 및 참조 방법 |
| 측정 반복성 및 불확실성 평가 | 측정 시스템 분석, 교정 회귀 및 불확도 계산 | 분산 성분, 구간, 회귀 매개변수 및 불확실성 | 실험 설계, 참조 장비, 측정 범위, 공차 및 오류 모델 |
| 장비 인증 및 지속적인 최적화 서비스 | 최초의 프로토타입 개발, 장비 복제, 유지보수 및 버전 업그레이드 | 라이센스 범위, 버전 원장, 유지 관리 기록 및 변경 계획 | 장치 수, 시나리오, 기한, 교체, 오프라인 운영 및 서비스 범위 |
프로젝트 선정 방법
- 비즈니스 결과 정의: 좌표, 치수, 각도, 개수, 마스크, 추세, 물리적 매개변수 또는 통과 판단이 필요한지 여부를 결정하고 단위 및 다운스트림 용도를 설명합니다.
- 대표 데이터 제공: 시야, 해상도, 노출, 작동 거리, 샘플링 속도 및 필드 변화와 함께 정상, 경계선 및 비정상 샘플을 제출합니다.
- 평가 방법을 결정합니다. 참조 값, 라벨링 규칙, 샘플 계층화, 통계 분모 및 통과 임계값을 명확히 합니다.
- 운영 환경을 확인하십시오: 운영 체제, CPU/GPU/NPU, 메모리, 호출 언어, 인터페이스, 동시성, 장치 수 및 오프라인 요구 사항을 설명합니다.
- 완전한 샘플 검증: 독립된 데이터에 대한 영향, 장애 처리, 시간 소모, 리소스 사용량 등을 확인하고, 개발 및 배포 범위를 결정합니다.
기존 장비 업그레이드 프로젝트에서는 현재 소프트웨어 버전, 문제 샘플, 작업 로그, 카메라 및 광원 구성, 최근 하드웨어 변경 기록도 제공해야 합니다.
샘플 검증 및 성능 확인
알고리즘 성능은 이미징 조건, 샘플 분포, 대상 플랫폼 및 평가 구경과 직접적인 관련이 있습니다. 이 프로젝트는 단계적 검증을 채택하여 정확성, 탐지율, 허위 경보율, 처리 리듬 및 안정성이 명확한 적용 범위를 갖습니다.
| 무대 | 주요 업무 | 고객에게 결과 제공 |
|---|---|---|
| 데이터 확인 | 원본 데이터, 기준값, 비정상 시료 및 평가 규칙을 확인하세요. | 체크리스트, 공백 및 검증 계획 입력 |
| 샘플 기준선 | 알고리즘 경로를 비교하고 매개변수, 결과 및 실패 조건을 기록합니다. | 타당성 결론, 기준 결과 및 구현 권장 사항 |
| 프로젝트 개발 | 완전한 모듈 조합, 인터페이스, 구성, 상태 및 로그 | 실행 가능한 버전, 인터페이스 정보 및 테스트 기록 |
| 독립적인 데이터 수용 | 매개변수 조정에 참여하지 않은 데이터를 사용하거나 합의된 작업 스테이션에서 재테스트 | 지표 통계, 샘플별 결과 및 합격 기록 |
| 장비 작동 검증 | 지속적인 운영, 예외 복구, 자원 및 버전 관리 확인 | 보고서, 배포 지침 및 대체 시나리오 실행 |
성능 지표는 프로젝트 시작 시 정의되며 샘플 범위, 하드웨어 구성, 소프트웨어 버전 및 테스트 조건과 함께 문서화됩니다.
112 알고리즘 기능 카탈로그
아래 표는 예비 기술 선택에 사용되며 주요 입력, 사용 가능한 출력 및 프로젝트 확인 지점을 나열합니다. 최종 인터페이스 필드, 단위, 임계값, 플랫폼 및 승인 기준은 프로젝트 계획에서 결정됩니다.
F01 액적 프로파일 및 접촉각(9개 항목)
| 아니요. | 알고리즘 모듈 | 공통 입력 | 출력 가능 | 프로젝트 확인 포인트 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A01 | 높이-폭 방법(θ/2) | 액적 윤곽, 접촉 기준선 및 좌표 규칙 | 검토에 사용된 접촉각 및 기하학적 수량 | 구형 캡의 근사치가 적용됩니다. 임의의 물방울 모양 모델이 아님 |
| ALG-A02 | 대수적 최소 제곱 원 피팅 | 좌석 드롭 개요 및 접점 정의 | 피팅 원 매개변수 및 접촉각 | 전반적인 아크 가정; 중력 변형의 영향을 확인해야 함 |
| ALG-A03 | 타원 피팅 | 2D 윤곽점 | 타원 중심, 축 길이 및 방향 | 기하학적 타원 매개변수를 출력하는 데 사용됩니다. 접촉각은 기준선, 접촉점 및 각도 정의를 기반으로 계산되어야 합니다. |
| ALG-A04 | 견고한 국소 다항식 피팅 | 액적 윤곽, 다항식 순서 및 피팅 간격 | 접점 접선 및 각도 | 피팅 간격 및 기준선은 샘플을 기반으로 확인되어야 합니다. |
| ALG-A05 | 부드러운 큐빅 B-스플라인 핏 | 액적 윤곽, 제어점 및 평활화 매개변수 | 부드러운 윤곽, 국소 접선 및 각도 | 스무딩은 실제 폐색된 윤곽을 복원할 수 없습니다. |
| ALG-A06 | Young-Laplace / ADSA | 축 대칭과 정적 평형 조건을 만족하는 시트 드랍의 윤곽 | Zuodi 모델 피팅 매개변수 및 각도 | 앉은 방울 모형은 자동으로 매달린 방울 이미지 반전 제품이 되지 않습니다. |
| ALG-A28 | 축대칭 윤곽의 수치 적분 | 축 및 방사형 프로파일, 길이 척도 | 축대칭 부피 및 표면적 | 축 대칭과 안정적인 윤곽이 필요합니다. 물리량은 규모에 따라 달라집니다 |
| ALG-A92 | 기울기 기준선 좌표 수정 | 윤곽점, 기준선 끝점 및 이미지 축 방향 | 보정 좌표 및 변환 | 좌표 수정으로는 잘못된 접점을 수정할 수 없습니다. |
| ALG-A93 | 접촉선 동작상태 식별 | 시간, 접촉 반경, 각도 및 속도 임계값 | 접촉선 동작 상태 및 분할 | 상태 결정은 샘플링 속도와 임계값에 따라 제한됩니다. |
F02 기하학적 측정 및 프로파일 분석(16항목)
| 아니요. | 알고리즘 모듈 | 공통 입력 | 출력 가능 | 프로젝트 확인 포인트 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A07 | 총 최소 제곱 직선 적합 | 동일한 좌표계에 설정된 2차원 점 | 선 방향, 위치 및 피팅 잔차 | 최소 제곱 결과는 이상값을 자동으로 제외하지 않습니다. |
| ALG-A08 | RANSAC 강력한 모델 추정 | 2D 점 세트, 모델 유형 및 내부 점 임계값 | 선 또는 원 모델, 내부 점 및 잔차 | 모델 유형과 임계값이 명확한 후에만 결과를 비교할 수 있습니다. |
| ALG-A09 | 허프 선형 감지 | 그레이스케일 또는 에지 맵, 길이 및 연결 임계값 | 후보 라인 세그먼트 및 위치 | 후보 라인 세그먼트는 식별된 제품 가장자리 카테고리가 아닙니다. |
| ALG-A10 | 하위 픽셀 그래디언트 캘리퍼 | 이미지, 캘리퍼 샘플링 라인 및 가장자리 극성 | 샘플 라인의 하위 픽셀 가장자리 위치 | 픽셀 위치는 물리적 크기 정확도와 직접적으로 동일하지 않습니다. |
| ALG-A17 | 볼록 선체 회전 캘리퍼 방식 | 동일한 좌표계의 윤곽점 | 최대 및 최소 페렛 직경 | 실제 크기에는 크기 조정이 필요합니다. |
| ALG-A18 | 일반 단면의 이중 모서리 폭 측정 | 바이너리 마스크, 중심선 및 일반 샘플링 매개변수 | 중심선을 따른 단면 너비 | 2D 너비는 트렌치 깊이로 해석될 수 없습니다. |
| ALG-A19 | 기호 디스턴스 필드 윤곽 편차 분석 | 등록된 참조 및 관찰 마스크 | 부호 있는 거리 및 윤곽선 편차 | 등록오류는 형상오류와 구별되어야 함 |
| ALG-A29 | 기하학적 직교 거리 원 피팅 | 2차원 근사원 점 집합 및 반복 매개변수 | 기하학적 거리 피팅 원 및 잔차 오차 | 수렴 결과는 초기값, 포인트 세트 품질 및 이상값 비율의 영향을 받습니다. |
| ALG-A30 | Huber IRLS 견고한 직선 피팅 | 2차원 점 집합, 반복 및 Huber 조정 매개변수 | 견고한 직선 및 중량 정보 | 견고성은 적용 범위가 있으며 샘플 품질 검사를 대체할 수 없습니다. |
| ALG-A34 | 모따기 거리 템플릿 일치 | 이미지 및 템플릿 가장자리 | 모따기 매칭 비용 및 후보 위치 | 일치하는 거리는 클래스 확률이 아닙니다. |
| ALG-A35 | Hu 모멘트 불변 윤곽 매칭 | 두 개의 2D 윤곽선 및 비교 방법 | Hu 모양 차이 점수 | 점수는 보정된 식별 신뢰도와 동일하지 않습니다. |
| ALG-A36 | 푸리에 윤곽 설명자 | 순서화된 폐곡선, 샘플 수 및 고조파 수 | 푸리에 윤곽 설명자 | 설명자는 제품 분류 라벨을 자동으로 제공하지 않습니다. |
| ALG-A41 | 3차원 점 세트 직교 평면 피팅 | 물리적인 의미를 지닌 3차원 점 집합 | 평면 법선, 위치 및 잔차 | 일반 2차원 사진에서는 3차원 점을 허공에서 생성할 수 없습니다. |
| ALG-A45 | 양방향 Hausdorff 및 모따기 윤곽 거리 | 동일한 좌표계의 두 윤곽선 | 양방향 Hausdorff 및 모따기 거리 | 거리 임계값은 제품 공차 및 샘플링을 기반으로 정의되어야 합니다. |
| ALG-A46 | 최소 면적 회전 봉투 직사각형 | 2D 점 세트 | 봉투 직사각형, 방향 및 크기 회전 | 외부 직사각형은 모든 치수 및 기하 공차를 대체하지 않습니다. |
| ALG-A99 | 2차원 최소 면적 직진도 | 제한된 2차원 샘플링 포인트 | 최소 엔벨로프 병렬 밴드 폭 및 방향 | ISO 또는 ASME 기하 공차 검사의 전체 세트를 직접적으로 구성하지 않습니다. |
F03 입자분할 및 영상개선(32항목)
| 아니요. | 알고리즘 모듈 | 공통 입력 | 출력 가능 | 프로젝트 확인 포인트 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A11 | Otsu Otsu 임계값 분할 | 회색조, 역색상 및 스무딩 설정 | 전역 임계값, 바이너리 마스크 | 전역 임계값에 적합해야 하는 그레이스케일 분포 |
| ALG-A12 | 연결된 도메인 라벨링 및 필터링 | 바이너리 마스크, 영역 하한 및 연결 규칙 | 지역 목록, 크기 및 위치 | 연결된 도메인은 제품 카테고리를 자동으로 구분할 수 없습니다. |
| ALG-A13 | 표시 관리 유역 | 이미지, 전경 마스크 또는 시드 매개변수 | 유역 지역 및 라벨 | 시드 및 전경 품질이 분리 가능성 조건을 결정합니다. |
| ALG-A14 | 정규화된 상호 상관 템플릿 일치 | 검색할 참조 템플릿 및 이미지 | 경기 점수 및 후보 위치 | 회전, 크기 조정 또는 원근감 변경은 해당 등록 방법을 선택하고 별도로 확인해야 합니다. |
| ALG-A15 | 장수엔(Zhang-Suen) 골격 개선 | 바이너리 마스크 및 반복 상한 | 단일 픽셀 뼈대 | 뼈대에는 결함 의미 체계가 자동으로 포함되지 않습니다. |
| ALG-A16 | 유클리드 거리 변환 | 바이너리 마스크 | 픽셀 거리 필드 | 2D 마스크 거리가 물리적 깊이와 동일하지 않습니다. |
| ALG-A27 | U-Net 의미론적 분할 | 법적으로 이용 가능한 제품 도메인 ONNX 중량 및 전처리 정의 | 분할 마스크 및 인터페이스 일치 결과 | 프로젝트는 해당 제품 카테고리에 대한 모델 가중치를 제공하거나 훈련해야 하며, 가중치 라이선스 및 제품 도메인 검증을 확인해야 합니다. |
| ALG-A43 | 다중 규모 LoG 얼룩 감지 | 이미지, 다중 규모 및 응답 임계값 | 스팟 후보 센터, 규모 및 응답 | 후보 규모는 물리적 입자 크기와 직접적으로 동일하지 않습니다. |
| ALG-A44 | DBSCAN 밀도 클러스터링 | 점 또는 특징, 인접 반경 및 밀도 하한 | 클러스터 레이블 및 노이즈 포인트 | 클러스터링은 결함 유형의 이름을 자동으로 지정할 수 없습니다. |
| ALG-A47 | 적응형 가우스 임계값 | 그레이스케일, 창 및 오프셋 | 로컬 임계값 및 바이너리 마스크 | 매개변수는 결함 규모와 결합되어야 하며 어떤 텍스처에도 적용할 수 없습니다. |
| ALG-A48 | Sauvola 로컬 임계값 | 그레이스케일 이미지, 창 및 로컬 통계 매개변수 | 로컬 임계값 맵 및 마스크 | 무조건적인 결함 감지가 아닌 독립적인 표시 및 확인이 필요합니다. |
| ALG-A49 | 삼각형 임계값 분할 | 회색조 이미지 및 반전 색상 설정 | 삼각측량 임계값 및 마스킹 | 임계값 모델을 준수해야 하는 이미징 분포 |
| ALG-A50 | GrabCut 전경 분할 | 컬러 이미지 및 직사각형 또는 초기 라벨 | 전경 레이블 및 마스크 | 제품 도메인 의미 모델이 아닌 초기화가 필요함 |
| ALG-A51 | K-색상 분할을 의미합니다. | 색상 지도, 색상 공간 및 클러스터 수 | 색상 클러스터 레이블 및 관련 결과 | 색상 클러스터는 합격 및 결함 카테고리와 동일하지 않습니다. |
| ALG-A52 | Chan-Vese 레벨 세트 | 회색조 이미지, 초기 마스크 및 진화 매개변수 | 영역 마스크 및 반복 결과 | 복잡한 텍스처는 다른 방법이나 조합을 사용하여 검증해야 합니다. |
| ALG-A53 | Log 제로 크로싱 에지 | 그레이스케일 이미지, 필터 스케일 및 대비 임계값 | 제로 크로싱 에지 | 에지 응답은 차원 수용 결과를 자동으로 형성하지 않습니다. |
| ALG-A54 | 샤르 그래디언트 엣지 | 회색조 이미지 및 그라데이션 임계값 | 경사 응답 및 가장자리 | 기울기 강도는 균열 깊이와 직접적으로 일치하지 않습니다. |
| ALG-A55 | 멀티스케일 모자 배경 보정 | 이미지, 다중 규모 구조 요소 및 목표 명암 특성 | 배경 보정 및 다중 스케일 응답 | 가공을 통해 대상 물질의 물리적 특성을 나타내지 않습니다. |
| ALG-A56 | CLAHE 국소 대비 향상 | 이미지, 대비 한계 및 그리드 | 이미지 향상 | 향상된 외관 변화는 새로운 측정 정보가 아닙니다. |
| ALG-A57 | 단일 스케일 Retinex 조명 보정 | 이미지 및 조명 규모 | Retinex 교정 차트 및 관련 결과 | 폐색이나 포화로 인해 손실된 정보를 복구하지 않습니다. |
| ALG-A58 | 양방향 필터링 | 이미지, 이웃 및 양측 가중치 | 노이즈가 제거된 이미지 | 노이즈 제거 효과는 측정 체인과 함께 평가되어야 합니다. |
| ALG-A59 | 비국소적 평균 잡음 제거 | 이미지, 노이즈 강도 및 검색 창 | 노이즈가 제거된 이미지 | 이미징 해상도 이하의 구조를 복구하겠다는 약속은 없습니다. |
| ALG-A60 | 형태학적 재구성 | 시드 그래프, 제약 그래프 및 연결 규칙 | 재구성 결과 및 반복 상태 | 시드 오류는 결과를 변경하며 의미론적 판단을 대체할 수 없습니다. |
| ALG-A61 | 바이너리 홀 채우기 | 바이너리 마스크 및 연결 규칙 | 홀 필링 마스크 및 가공 결과 | 실제 구멍이 감지 대상인 경우 전처리로 지울 수 없습니다. |
| ALG-A62 | 디스턴스 필드 h-최대 시드 | 바이너리 마스크, h 값 및 최소 간격 | 디스턴스 필드 시드 및 관련 결과 | 분할 시드만 생성되며 이는 대상이 올바르게 분리되었음을 의미하지 않습니다. |
| ALG-A63 | 뼈대 그래프 경로 추적 | 단일 픽셀 뼈대 또는 명시적인 개선 옵션 | 뼈대 노드, 가지 및 경로 | 경로 추적은 균열, 긁힘 및 먼지를 자동으로 구별하지 않습니다. |
| ALG-A64 | 경계 경로의 동적 계획 | 2D 비용 맵, 경로 축 및 끝점 제약 조건 | 제약 경로 및 비용 | 보편적인 윤곽선 지상 진실이 아닌 경로 의존성 비용 맵 |
| ALG-A65 | 그레이스케일 무게 중심 레이저 중심선 | 레이저 라인 이미지, 스캐닝 축 및 배경 매개변수 | 회색조 중심선 | 픽셀 중심선이 보정된 3D 윤곽선과 동일하지 않습니다. |
| ALG-A66 | 가보르 텍스처 기능 | 이미지, 방향 및 파장 필터 매개변수 | Gabor 텍스처 응답 및 특성 | 특징 추출은 결함 분류를 자동으로 완료하지 않습니다. |
| ALG-A80 | 로컬 바이너리 패턴 LBP 텍스처 | 회색조 이미지 | LBP 코딩 및 텍스처 통계 | 코딩 자체에는 결함 범주 의미가 없습니다. |
| ALG-A81 | GLCM 회색도 동시 발생 매트릭스 텍스처 | 양자화된 그레이스케일 이미지, 레벨 및 공간 오프셋 | 동시 발생 매트릭스 및 텍스처 기능 | 작업에 따라 기능 임계값을 확인해야 합니다. |
| ALG-A82 | 주기적 줄무늬를 제거하기 위한 주파수 영역 가우스 노치 | 이미지, 프린지 주파수 위치 및 노치 대역폭 | 비주기적 프린지 이미지 | 실제 반복 구조와 간섭 줄무늬를 구별해야 함 |
F04 등록 카메라 및 레이저 형상(10개 항목)
| 아니요. | 알고리즘 모듈 | 공통 입력 | 출력 가능 | 프로젝트 확인 포인트 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A20 | 스테거 하위 픽셀 능선 추출 | 그레이스케일 선형 이미지, 스케일 및 곡률 매개변수 | 하위 픽셀 능선 위치 및 관련 응답 | 능선 추출은 완성된 3D 스캐닝 시스템이 아닙니다. |
| ALG-A21 | 레이저 삼각측량 | 카메라 내부 및 외부 매개변수, 레이저 평면 및 이미지 위치 | 광선과 교정 평면의 3차원 교차점 | 실제 장비를 사용하여 교정해야 하며, 합성 매개변수로는 물리적 정확도를 제공할 수 없습니다. |
| ALG-A31 | 단계 의존적 번역 등록 | 텍스처가 겹치는 참조 및 모바일 이미지 | 2D 번역 및 관련 응답 | 번역 추정에 적합합니다. 회전 또는 3차원 자세는 해당 모델을 선택해야 합니다. |
| ALG-A32 | ECC 강도 등록 | 오버레이 이미지, 모션 모델 및 초기 값 | 2차원 변환 및 관련 표시 지정 | 초기값과 이미지 유사성에 의존하여 프로젝트는 실패 결정을 설정해야 합니다. |
| ALG-A33 | ORB 및 RANSAC 호모그래피 등록 | 충분한 기능을 갖춘 소스 및 대상 이미지 | 특징 상관관계 및 호모그래피 변환 | 호모그래피에 적용 가능; 다중 깊이 장면을 자동으로 다루지 않습니다. |
| ALG-A37 | 2D 강체 ICP 등록 | 2D 포인트 세트, 대략적인 초기 포즈 및 가지치기 매개변수 | 2차원 강체 변환 및 정합 잔차 | 글로벌 등록도 아니고, 3D 로봇 손-눈 교정도 아닙니다. |
| ALG-A38 | 해당 포인트를 장착해야 합니다. | 같은 평면 위의 대응점 | 2차원 호모그래피 행렬 | 단일 평면 관계는 완전한 3차원 교정을 대체할 수 없습니다. |
| ALG-A39 | 멀티뷰 체커보드 카메라 보정 | 멀티뷰 체커보드 또는 모서리 지점, 치수 및 이미지 사양 | 카메라 내부 매개변수, 왜곡 및 보정 결과 | 변경 후에는 설치 및 렌즈 상태를 검토해야 합니다. |
| ALG-A40 | 이미지 및 점 왜곡 | 이미지 또는 픽셀, 카메라 고유 매개변수 및 왜곡 | 올바른 이미지 또는 점 좌표 | 효과적인 내부 매개변수에 의존하며 모든 광학적 오류를 제거할 것을 약속하지 않습니다. |
| ALG-A42 | SVD 강체 및 유사성 등록 | 순차적으로 대응하는 2차원 점 세트 및 스케일 옵션 | 강체 또는 유사한 변형 | 2차원 대응점에 적합합니다. 3차원 등록에는 독립적인 데이터 및 좌표 링크 설정이 필요합니다. |
F05 이동시기 및 처리통계(20항목)
| 아니요. | 알고리즘 모듈 | 공통 입력 | 출력 가능 | 프로젝트 확인 포인트 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A22 | 칼만 필터 | 초기 위치, 시간 단계 및 노이즈 설정 | 2차원 위치 및 속도 상태 추정 | 필터링된 출력은 유효하지 않은 측정값을 측정된 위치로 위장할 수 없습니다. |
| ALG-A23 | 헝가리 경기 | 비용 매트릭스 및 거부 기준점 | 일대일 연관 및 일치하지 않는 항목 | 연관 결과는 실제 식별을 구성하지 않습니다. |
| ALG-A24 | Savitzky-Golay 평활화 및 파생 | 시퀀스, 윈도우, 순서, 샘플링 간격 및 미분 순서 | 평활 또는 파생 시퀀스 | 균일한 샘플링과 매개변수 합법성이 명확해야 합니다. |
| ALG-A25 | Welch 전력 스펙트럼 추정 | 신호, 샘플링 속도 및 분할 창 | 주파수 및 전력 스펙트럼 밀도 | 장기적인 장비 상태는 단일 스펙트럼 세그먼트에서 추론할 수 없습니다. |
| ALG-A26 | Mahalanobis 거리 이상 탐지 | 일반 훈련 기능, 정규화 및 테스트 기능 | 거리 점수 및 확인 이상 판정 | 보편적인 결함 식별자가 아닌 진정한 정규 분포가 필요합니다. |
| ALG-A67 | Lucas-Kanade 희소 광학 흐름 | 두 개의 연속 프레임, 초기 코너 포인트 및 추적 매개변수 | 희소 포인트 모션 및 유효 상태 | 광학 흐름 추적은 거울 간 ID 상관 관계와 동일하지 않습니다. |
| ALG-A68 | Farneback 고밀도 광학 흐름 | 두 개의 연속 프레임 및 광학 흐름 매개변수 | 조밀한 2차원 변위장 | 이미지 변위는 3차원 속도와 직접적으로 동일하지 않습니다. |
| ALG-A69 | MOG2 배경 분리 | 연속 프레임 및 배경 학습 매개변수 | 전경 마스크 | 잠재 고객은 사람, 불꽃 등 특정 범주가 아닙니다. |
| ALG-A70 | 듀얼 프레임 차동 모션 감지 | 두 프레임, 차이 임계값 및 형태학적 매개변수 | 모션 차동 마스크 | 움직이는 대상의 카테고리나 위험 수준을 독립적으로 판단할 수 없습니다. |
| ALG-A71 | 지수이동평균 EWMA | 수열, 평활화 계수 및 초기값 | EWMA 평활화 시리즈 | 평활화는 시스템 드리프트를 제거할 수 없습니다. |
| ALG-A72 | Hampel 중앙값 절대 편차 이상 필터링 | 숫자 시퀀스, 창 및 MAD 임계값 | 이상치 마커 및 처리 순서 | 대체 값은 원래의 유효한 측정값을 가장할 수 없습니다. |
| ALG-A73 | 양측 누적합(CUSUM) 변경 감지 | 시퀀스, 목표 평균, 허용 편차 및 임계값 | 통계 및 알람 후보 변경 | 경보 임계값 및 장비 폐기는 별도로 합의됩니다. |
| ALG-A74 | 단시간 푸리에 변환 STFT | 신호, 샘플링 속도, 창 및 단계 크기 | 시간 스펙트럼 | 샘플링 속도가 충분하지 않으면 앨리어싱 정보를 복구할 수 없습니다. |
| ALG-A75 | FFT 자기상관 기간 추정 | 시퀀스, 샘플링 속도 및 검색 지연 범위 | 기간 또는 빈도 추정 및 관련 수량 | 사이클의 존재가 장비 고장 유형을 직접적으로 입증하지는 않습니다. |
| ALG-A76 | 동적 시간 왜곡 DTW | 2-시퀀스 및 경로 창 | DTW 거리 및 정렬 경로 | 유사성 거리가 실제 사건 동일성과 같지 않음 |
| ALG-A77 | 재귀 최소제곱 RLS | 특징 벡터, 관찰 및 재귀 매개변수 | 온라인 모델 계수 및 상태 | 모델 및 데이터 인센티브 조건을 정의해야 합니다. |
| ALG-A78 | Welford 온라인 평균 및 공분산 | 차원적으로 일관된 관찰 순서 | 온라인 평균, 공분산 및 개수 | 통계는 프로세스 자격 판단을 자동으로 제공하지 않습니다. |
| ALG-A79 | PCA 재구성 잔여 이상 점수 | 정규 샘플, 기능 정규화 및 주성분 점수 | 재구성된 잔차 차이 분수 | 일반적인 고장진단이 아닌 정상적인 기준선 확립이 필요 |
| ALG-A83 | 단시간 RMS 포락선 | 신호, 창 및 계단 | 단시간 RMS 포락선 | 물리적 단위는 입력 교정에 따라 달라집니다. |
| ALG-A84 | 1차원 피크 유의성 탐지 | 1차원 시퀀스, 돌출성 및 최소 간격 | 피크 위치 및 피크 상관량 | 피크는 자동으로 결함 이벤트로 명명될 수 없습니다. |
F06 습윤물성역전(7항목)
| 아니요. | 알고리즘 모듈 | 공통 입력 | 출력 가능 | 프로젝트 확인 포인트 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A85 | OWRK 고체 표면 에너지 반전 | 다중 프로브 액체 접촉각 및 구성 요소의 물리적 특성 | OWRK 고체 표면 에너지 성분 | 일관된 물리적 특성 단위와 적용 가능한 표면 모델을 사용해야 합니다. |
| ALG-A86 | Wu 고조파 평균 표면 에너지 반전 | 접촉각 및 프로브 액체 분산 및 극성 구성 요소 | Wu 표면에너지 성분 | 보정되지 않은 단일 그래프에서 물리적 특성을 직접 추론하지 마십시오. |
| ALG-A87 | vOCG 산-염기 표면 에너지 반전 | 접촉각, 프로브 액체 LW 및 산-염기 함량 | vOCG 표면에너지 성분 | 프로브 유체 조합과 모델 가정이 명확해야 합니다. |
| ALG-A88 | Zisman 임계 표면 장력 추정 | 직렬 접촉각과 액체 표면 장력 | 임계 표면 장력 외삽 및 피팅 | 외삽된 값은 보편적인 고체 표면 에너지의 실제 값과 동일하지 않습니다. |
| ALG-A89 | Washburn 분말 액체 흡수 접촉각 | SI 액체의 시간, 액체 흡수 품질, 재료 상수 및 물리적 특성 | 분체액 흡수 접촉각 및 퇴행량 | 재료 상수는 동일한 충전 조건으로 보정됩니다. 서로 다른 합의된 상수는 혼합될 수 없습니다. |
| ALG-A90 | 매달린 드롭 Young-Laplace 순방향 통합 | 본드 매개변수, 통합 호 길이 및 단계 크기 | 무차원 펜던트 드롭 포워드 프로필 | 사진에서 알 수 없는 표면장력의 완전한 ADSA를 찾을 필요는 없습니다. |
| ALG-A91 | 매달린 낙하 곡률 회귀 장력 추정 | 사전 평활화된 반윤곽, 밀도 차이 및 중력(미터) | 곡률 회귀 장력 추정 | 높이 방향은 일관되어야 합니다. 완전한 비선형 ADSA 피팅이 아닙니다. |
F07 측정통계 및 불확실성(6항목)
| 아니요. | 알고리즘 모듈 | 공통 입력 | 출력 가능 | 프로젝트 확인 포인트 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A94 | 부트스트랩 백분위수 신뢰 구간 | 샘플, 통계 함수, 신뢰 수준 및 리샘플링 설정 | 백분위수 간격 및 통계 결과 | 신뢰 수준 설정은 유한 샘플에 대한 실제 적용 범위 증명과 동일하지 않습니다. |
| ALG-A95 | 몬테카를로 측정 불확실성 전파 | 측정 모델, 입력 평균 및 공분산, 샘플링 설정 | 모델 출력 분포 및 불확실성 통계 | 누락된 시스템 항목은 샘플링을 통해 자동으로 완성되지 않습니다. |
| ALG-A96 | 교차 분산 분석 게이지 R&R | 부품, 연산자, 반복 횟수별 데이터 균형 | Gage R&R 및 분산 성분 | 상호작용 용어를 자동으로 통합하거나 전체 유의성 테스트를 수행하지 마세요. |
| ALG-A97 | 가중 최소 제곱 선형 교정 | 기준 x와 측정 y 및 표준 불확도 | 선형 교정 계수 및 잔차 | 회귀 잔차는 전체 장비 불확실성이 아닙니다. |
| ALG-A98 | 데밍 이변량 오류 회귀 | 두 가지 변수 관찰 및 오차 분산 비율 | 데밍 회귀계수 | 오차 분산 비율에는 기초가 있어야 합니다. |
| ALG-A100 | 1차 민감도 불확실성 전파 | 측정 모델, 평균, 공분산 및 차이 단계 크기 | 민감도 및 1차 전파 결과 | 강한 비선형성과 누락된 시스템 수량은 별도로 평가해야 합니다. |
F08 레이저 스팟분석(12항목)
| 아니요. | 알고리즘 모듈 | 공통 입력 | 출력 가능 | 프로젝트 확인 포인트 |
|---|---|---|---|---|
| ALG-A101 | 적응형 임계값 레이저 포인트 회색조 중심 | 그레이스케일 프레임, ROI, 배경 및 후보 필터링 매개변수 | 단일 밝은 점 중심, 면적 및 에너지 관련 수량 | 물리적 좌표 출력은 대상 카메라, 렌즈 및 교정 데이터로 확인되어야 합니다. |
| ALG-A102 | 다중 레이저 포인트 연결 도메인 후보 추출 | 그레이스케일 프레임, ROI 및 연결된 도메인 필터링 매개변수 | 다수의 하이라이트 후보와 그 특징 | 접촉 또는 중첩된 밝은 점은 자동으로 분리되지 않습니다. |
| ALG-A103 | 대수 2차 표면 하위 픽셀 스폿 중심 | 대략적인 가우스 지점, 창 및 배경 매개변수 | 로그 2차 중심 및 피팅 결과 | 강한 채도, 비가우시안 및 창 잘림으로 인해 편향이 발생할 수 있음 |
| ALG-A104 | 그라데이션 방사형 대칭 광점 중심 | 근방사형 대칭 지점 및 그라데이션 스크리닝 매개변수 | 방사형 대칭 중심 및 잔차 | 반사 대상의 모양과 이미징 조건에 따라 위치 효과를 검증해야 합니다. |
| ALG-A105 | 레이저 스폿 2차 모멘트 및 주축 직경 | 스팟 강도, 배경 및 ROI에 대한 선형 응답 | 질량 중심, 2차 모멘트 1차 및 2차 축 직경 및 방향 | 완전한 ISO11146 측정 시스템이 아닌 2차 모멘트 계산만 구현됩니다. |
| ALG-A106 | 레이저 스폿 주변 에너지 직경 | 스팟, 센터, 에너지 비율 및 규모 | 주변 에너지 반경과 직경의 비율 지정 | 그레이스케일 적분은 자동으로 와트 또는 줄로 변환되지 않습니다. |
| ALG-A107 | 레이저 스폿 품질 및 사용성 진단 | 스팟, 노출 관련 정보 및 품질 제한 | 포화, 잘림, 축 비율 등 수량 진단 및 한계 확인 | 품질 임계값은 장비 테스트가 필요하며 자동 승인 기준이 아닙니다. |
| ALG-A108 | 다중 레이저 포인트 참조 비트의 일대일 매칭 | 동일 좌표계 내 검출점, 기준점, 거리 상한 | 일대일 일치 및 누락된 항목 | 외부 매개변수를 추정하지 않으며 대상의 신원을 증명하지도 않습니다. |
| ALG-A109 | 2차원 픽셀에서 물리적 좌표 다항식 교정으로 | 참조 좌표 및 매핑 순서와 동일한 평면에 있는 픽셀 | 2차원 매핑 계수 및 피팅 결과 | 2차원 경험적 매핑은 3차원 보정을 대체하지 않습니다. |
| ALG-A110 | 레이저 포인트 교정 매핑 및 공분산 전파 | 픽셀 포인트, 효과적인 2D 보정 및 픽셀 공분산 | 주어진 공분산의 좌표 매핑 및 전파 | 교정 플레이트, 온도 드리프트 및 모델 편차는 자동으로 포함되지 않습니다. |
| ALG-A111 | 레이저 포인트 픽셀을 카메라 시야각으로 변환 | 픽셀, 카메라 내장 및 왜곡 | 카메라 좌표계 단위 시선 및 각도 | 거리 정보 누락, 3D 포인트 개별 복구 불가 |
| ALG-A112 | 레이저 스폿 2차원 반복성 및 적용 범위 타원 | 2D 좌표 및 적용 범위 수준에 대해 동일한 조건을 반복합니다. | 평균, 공분산, 방사형 RMS 및 피복 타원 | 2차원 정규 피복 가정은 물리적 정확성이나 장기 안정성을 입증하지 않습니다. |
평가부터 배송까지
- 확인 필요: 작업, 데이터, 출력, 지표, 플랫폼, 인터페이스, 장치 수 및 계획된 시간을 명확히 합니다.
- 샘플 검증: 고정된 샘플과 평가 수준은 알고리즘 기준, 적용 가능한 조건 및 구현 범위를 형성합니다.
- 개발 및 공동 디버깅: 완전한 알고리즘 조합, 데이터 액세스, 매개변수 구성, 비정상 상태, 결과 인터페이스 및 로그.
- 독립적인 수용: 합의된 데이터 또는 장비 스테이션을 기반으로 효과, 시간 소모, 안정성 및 복구 메커니즘을 검증합니다.
- 승인 및 유지 관리: 장치, 시나리오 및 버전에 따라 실행 중인 라이센스를 결정하고 원래 시나리오 문제 및 제어된 업그레이드를 지속적으로 처리합니다.
제공 콘텐츠에는 알고리즘 라이브러리 또는 프로그램, 호출 예제, 인터페이스 및 매개변수 설명, 구성 또는 교정 파일, 테스트 보고서, 버전 노트 및 복구 계획이 포함될 수 있습니다. 소스 코드, 프로젝트별 모델, 타사 구성 요소, 하드웨어 및 새로운 플랫폼 적응은 견적에서 별도로 확인됩니다.
FAQ
기존 알고리즘이 내 장치에서 작동하는지 어떻게 알 수 있나요?
먼저 원본 샘플, 임무 목표, 참조 결과 및 장비 조건을 제공하십시오. 데이터 점검 및 샘플 검증을 완료한 후 재사용성, 보완이 필요한 개발, 예상 결과물, 승인 방식 등을 명확히 할 수 있습니다.
Windows, Linux 및 임베디드 플랫폼이 지원됩니까?
적응은 대상 시스템, 프로세서 및 호출 인터페이스를 기반으로 평가할 수 있습니다. 또한 프로젝트에서는 종속성, 리소스, 배송 형태, 설치 방법 및 성능 테스트 조건을 확인합니다.
프로젝트별로 정확성과 처리 속도를 확인해야 하는 이유는 무엇입니까?
표시기는 샘플 난이도, 이미지 해상도, 알고리즘 조합, 하드웨어 및 통계 수준에 따라 달라집니다. 고객 샘플과 대상 플랫폼 테스트를 통해 수용 가능한 프로젝트 지표를 형성할 수 있습니다.
장치 수에 따라 라이센스가 가능합니까?
라이선스는 고객 엔터티, 장비 또는 워크스테이션, 알고리즘 시나리오, 제공 버전 및 마감일을 기준으로 합의될 수 있습니다. 기계 교체, 오프라인 작동, 복구 및 새 장비에 대한 규칙은 계약서에 명시되어 있습니다.
앞으로도 계속해서 최적화할 수 있나요?
원본 장면에서 새로운 샘플, 오판 문제 및 작업 조건의 변화를 재현, 개선 및 회귀 검증할 수 있습니다. 새로운 제품, 하드웨어 또는 기능은 변경 범위에 따라 평가됩니다.
프로젝트 상담
xuzhiyang0928@gmail.com
개발 및 납품 범위를 명확히 하기 위해 샘플 및 장비 조건을 제출하십시오.
비전 알고리즘 모듈 및 SDK 개발 서비스
작업 개체, 원본 사진 또는 비디오, 대상 표시기, 장치 플랫폼, 인터페이스 및 샘플 상황을 설명하십시오.
전화: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com