Sviluppo di algoritmi di misurazione dello spostamento del punto laser e dello spessore bilaterale
Gli algoritmi di spostamento del punto laser e di misurazione dello spessore bilaterale sono sviluppati per misurare altezza, corsa, eccentricità e spessore della lamiera in direzioni specifiche. Combina l'osservazione del punto luce/contorno con la calibrazione della distanza, la linea di base di riferimento e le informazioni di sincronizzazione per produrre quantità fisiche definite; non rinomina direttamente il centro del pixel, l'altezza del lato o le coordinate del singolo fotogramma in spessore.
Sintesi del giudizio sul progetto
Elaborare attività e input
I cambi di punto devono prima dimostrare la relazione con la distanza reale. La misurazione dello spessore richiede inoltre riferimenti comuni su entrambi i lati e punti corrispondenti. L'oscillazione del materiale, l'inclinazione e la deriva della temperatura del telaio influenzeranno tutti i risultati.
Requisiti di input: immagine del punto o punti/contorni di calibrazione su entrambi i lati, valori reali di distanza/spostamento, invio e ricezione di geometria o calibrazione della distanza applicabile, riferimento pubblico, corrispondenza tempo/posizione, condizioni di materiale e temperatura.
| Funzione | elaborazione dei contenuti | base attuale |
|---|---|---|
| Sviluppo della relazione punto-distanza | Seleziona l'intersezione puntuale dei raggi o la calibrazione non lineare unidimensionale in base al percorso ottico e verifica la gamma, l'inclinazione della superficie, la macchiolina e i punti di miscelazione dei bordi. | Modello di range da sviluppare |
| Modello di spessore bilaterale | Unificare le coordinate e la spaziatura di riferimento su entrambi i lati, calcolare lo spessore in base alla superficie effettiva nella stessa posizione/tempo e integrare l'elaborazione dell'inclinazione e della deriva termica. | La calibrazione bilaterale e la misurazione simultanea dello spessore devono ancora essere sviluppate. |
| Analisi delle variazioni e delle tolleranze | Anche le tendenze dello spessore/spostamento dell'output, i candidati fuori tolleranza e i dati non validi per posizione o tempo e le attività dinamiche controllano la larghezza di banda di campionamento. | La base statistica può essere riutilizzata; è necessario sviluppare il business degli spessori |
Contenuto in uscita
| risultato | unità o forma | Istruzioni per l'uso |
|---|---|---|
| Spostamento/Spessore | mm e tempo/posizione corrispondente | Annotare separatamente la copertura effettiva della distribuzione puntuale, trasversale o laterale |
| stato e riferimento | Residui di calibrazione, sincronizzazione e stato di base | Se manca un prerequisito chiave, lo spessore effettivo non verrà visualizzato. |
| Candidati trend e fuori tolleranza | Curva originale, soglia e posizione | Gli allarmi di processo non sostituiscono i controlli di sicurezza dell'apparecchiatura |
Condizioni e limiti applicabili
Attività applicabili: spessore della lamiera opaca, altezza del punto/corsa designata, eccentricità della superficie dell'albero o del rullo e materiali morbidi/trasparenti appositamente verificati.
L'interfaccia del piano laser esistente non può essere utilizzata direttamente come algoritmo di distanza punto-raggio. L'altezza di un lato non è uguale allo spessore; la superficie effettiva, lo spessore del rivestimento e lo spessore totale dei multistrati trasparenti devono essere modellati separatamente; il metodo della fotocamera non è equivalente alla misurazione delle vibrazioni laser Doppler.
Base di verifica e ambito di fornitura
Esistono il posizionamento dei punti luce, i contorni delle linee e i fondamenti di regressione parziale/incertezza; la gamma di punti, la corrispondenza bilaterale dello stesso punto, la deriva termica del rack e il nucleo di misurazione dello spessore del prodotto non hanno ancora formato un sistema di verifica completo.
Per prima cosa completa il PoC per una singola famiglia di materiali e un intervallo di misura chiaro, quindi sviluppa il modello di distanza/spessore, l'interfaccia di input, la formula di calibrazione e la gestione delle eccezioni, e fornisci un rapporto di confronto degli strumenti di misura indipendente.
Informazioni di conferma dei requisiti: fornire intervallo di spessore/spostamento, requisiti di errore, accessibilità su entrambi i lati, trasparenza/rugosità del materiale, velocità, valore reale di calibrazione e dati di interfaccia.
Domande frequenti
La misurazione dello spessore bilaterale richiede solo la sottrazione di due letture?
NO. È necessario unificare prima le coordinate, la direzione, la linea di base e la relazione di sincronizzazione dello stesso punto per evitare di accoppiare letture in posizioni diverse o superfici non riuscite.
È possibile misurare il film trasparente direttamente dopo la verifica della lamiera?
Non può essere ereditato direttamente. La multiriflessione trasparente, la rifrazione e l'identificazione efficace della superficie richiedono la verifica indipendente dell'imaging e della magnitudine.
Promozione e accettazione di progetti aziendali
- conferma dell'ambitoChiarire gli oggetti, le postazioni di lavoro, gli ingressi, le uscite, le unità, le interfacce e le condizioni anomale che devono essere coperte.
- Verifica del campioneUtilizza campioni rappresentativi normali e anomali per stabilire una linea di base e registrare cosa funziona, cosa fallisce e le lacune nei dati.
- Debug congiunto dello sviluppoCompletare l'algoritmo, la calibrazione, l'adattamento dell'interfaccia e dell'apparecchiatura in base all'ambito approvato e conservare la versione, i parametri e lo stato anomalo.
- Accettazione dell'articoloUtilizzare campioni indipendenti e ripetere i test dei valori di riferimento per confermare rispettivamente errori, rilevamento, ritmo, stabilità e risultati finali.
Invia campioni e condizioni dell'attrezzatura per chiarire l'ambito di sviluppo e consegna
Sviluppo di algoritmi di misurazione dello spostamento del punto laser e dello spessore bilaterale
Descrivi l'oggetto dell'attività, l'immagine o il video originale, gli indicatori di destinazione, la piattaforma del dispositivo, l'interfaccia e la situazione campione.
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