Détection matricielle laser et algorithme d'étalonnage bidimensionnel
Des algorithmes de détection de réseau de points laser et d'étalonnage bidimensionnel sont utilisés pour identifier des points laser séparables, établir une correspondance de séquence de points et comparer les défauts, les points multiples, les distances de points et les écarts de position bidimensionnels. Il peut également être utilisé pour mapper les instructions de l'équipement aux points d'atterrissage réels sur le plan de travail, pour des tâches telles que le VCSEL, la projection de points DOE et l'étalonnage du galvanomètre.
Résumé du jugement du projet
Tâches de traitement et saisie
Le nombre correct de points ne signifie pas que l'espacement et la disposition des points sont corrects, et le bon ajustement des points d'étalonnage ne signifie pas que les autres positions sur le lieu de travail sont exactes. L'algorithme gère séparément l'extraction des points candidats, la mise en correspondance des références et la vérification indépendante de l'implantation.
Exigences d'entrée : numéro de réseau/point de référence, cadre d'origine réel, déplacement autorisé et plage de distance des points ; l'étalonnage bidimensionnel nécessite également des instructions sur le plan de travail - observation des points correspondants et des points de réserve indépendants. Le réseau d'impulsions nécessite un enregistrement d'exposition/déclenchement.
| Fonction | traitement du contenu | base actuelle |
|---|---|---|
| Extraction matricielle et correspondance | Générez les points et la qualité des candidats, puis faites-les correspondre en fonction de la relation de distance dans le même système de référence ; l'ordre des points, l'occlusion et le traitement des points redondants sont configurés en fonction de la scène. | Disposez déjà des bases pour l'extraction de candidats et l'appariement à distance |
| Comparaison de la géométrie du réseau | Calculez la distance des points, la différence centrale, les points manquants/supplémentaires et les résidus d'enregistrement, et ne considérez pas directement la différence d'échelle de gris de la caméra comme la différence de puissance de transmission. | Des calculs géométriques ont été effectués ; la vraie recette du tableau doit être vérifiée |
| Cartographie bidimensionnelle et tests de tenue | Utilisez des points correspondants collectés indépendamment pour adapter la cartographie de la surface de travail, et utilisez des points réservés, des trajectoires bidirectionnelles et des nouveaux tests de température pour évaluer la plage efficace. | Une cartographie bidimensionnelle est disponible ; l'inspection sur place reste à compléter |
Contenu de sortie
| résultat | unité ou forme | Mode d'emploi |
|---|---|---|
| résultats point par point | Numéro de point, px/plan calibré mm | Les points des candidats, les points correspondants et les points de disparité sont séparés |
| Déviation géométrique | Distance du point, déplacement, résidu d'enregistrement | Les versions du modèle de référence et du plan de travail sont enregistrées avec les résultats |
| Cartographie 2D | Paramètres de cartographie/résidus du système de coordonnées convenu | Les jeux d’étalonnage et les jeux d’attente ne sont pas mélangés. |
Conditions et limites applicables
Tâches applicables : réseau séparable et numérotable, enregistrement de projection de la surface de travail fixe, étalonnage du champ du galvanomètre et analyse de la différence de chemin de retour.
Le chevauchement dense, la diaphonie cohérente, l'ambiguïté symétrique de l'ordre des points et les conditions de points manquants nécessitent un traitement spécial. Actuellement, la correspondance par distance n’est pas équivalente au décodage universel de la lumière structurée 3D ; La cartographie 2D ne remplace pas l’étalonnage œil-main, TCP ou tout autre étalonnage 3D.
Base de vérification et étendue de la livraison
L'extraction de points existants, l'appariement, le mappage polynomial et la propagation des erreurs ont été vérifiés avec une géométrie synthétique/contrôlée. La diaphonie réelle de la matrice de points, l'exposition aux impulsions, l'interface de contrôle de l'équipement et la tolérance sur site n'ont pas encore été acceptées.
Les formules de treillis, les interfaces d'appariement/calibrage, les données de référence et d'implantation, les rapports résiduels et les instructions de réétiquetage peuvent être fournis dans le cadre convenu. L'opportunité de réécrire sur le contrôleur de numérisation et les protocoles de périphérique pris en charge doivent être spécifiés séparément dans l'ordre de mise en œuvre.
Informations de confirmation des exigences : Fournissez le modèle de référence, le cadre d'origine, le nombre de points/pas de point, les méthodes de conduite et d'exposition, la plage de la surface de travail et les défauts/erreurs de position admissibles.
FAQ
Un défaut signifie-t-il nécessairement que l'émetteur est en panne ?
incertain. L'occlusion, l'exposition, la diaphonie ou les points inséparables peuvent également provoquer des points manqués. Les causes candidates doivent être renvoyées et examinées conjointement avec les informations sur l'appareil.
Le calibrage d'origine peut-il continuer à être utilisé après le changement d'objectif ?
Ne peut pas être utilisé par défaut. La validité de l'étalonnage doit être reconfirmée après des modifications de la distance de travail, de l'objectif, de l'installation et de la surface de travail.
Promotion et acceptation des projets d'entreprise
- confirmation de la portéeClarifier les objets, postes de travail, entrées, sorties, unités, interfaces et conditions anormales qui doivent être couverts.
- Vérification d'échantillonUtilisez des échantillons représentatifs normaux et anormaux pour établir une référence et enregistrer ce qui fonctionne, ce qui échoue et les lacunes dans les données.
- Débogage conjoint du développementComplétez l'algorithme, l'étalonnage, l'interface et l'adaptation de l'équipement selon la portée approuvée, et conservez la version, les paramètres et l'état anormal.
- Acceptation de l'articleUtilisez des échantillons indépendants et des retests de valeurs de référence pour confirmer respectivement les erreurs, la détection, le tempo, la stabilité et les livrables.
Soumettre des échantillons et les conditions de l'équipement pour clarifier la portée du développement et de la livraison
Détection matricielle laser et algorithme d'étalonnage bidimensionnel
Veuillez décrire l'objet de la tâche, l'image ou la vidéo originale, les indicateurs cibles, la plate-forme de l'appareil, l'interface et un exemple de situation.
Téléphone : 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com