Service d'algorithme · ALG-M01Services de développement, modèles de télémétrie de points et de mesures multi-têtes à compléter

Développement d’algorithmes de déplacement de point laser et de mesure d’épaisseur bilatérale

Des algorithmes de déplacement de point laser et de mesure d'épaisseur bilatérale sont développés pour mesurer la hauteur, la course, le faux-rond et l'épaisseur de la feuille dans des directions spécifiées. Il combine l'observation de points lumineux/contours avec l'étalonnage de distance, la ligne de base de référence et les informations de synchronisation pour produire des quantités physiques définies ; il ne renomme pas directement le centre du pixel, la hauteur du côté ou les coordonnées d'une seule image en épaisseur.

Illustration de la chaîne de traitement depuis l'entrée de la caméra jusqu'à l'algorithme, l'étalonnage, la sortie commerciale et l'acceptation des sous-éléments des points laser, des matrices de points et des lignes laser
Schéma de la chaîne de traitement. Les indicateurs réels de chemin optique, d'étalonnage, d'interface, de sortie et d'acceptation sont confirmés par projet.

Résumé du jugement du projet

Nature des pagesServices de développement d’algorithmes et d’adaptation d’appareils
entrée d'imagerieSpot laser ou ligne laser
sortie principaleDéplacement, épaisseur bilatérale, tendance, candidats hors tolérance et état de synchronisation d'étalonnage
Conditions préalables à la mise en œuvreApplicable au modèle opto-mécanique, aux coordonnées bilatérales et à la distance de référence, aux informations de synchronisation, à la valeur réelle de l'épaisseur indépendante
Statut actuel :Services de développement, modèles de télémétrie de points et de mesures multi-têtes à compléter

Tâches de traitement et saisie

Les changements de points doivent d'abord prouver la relation avec la distance réelle. La mesure de l'épaisseur nécessite également des références communes des deux côtés et des points correspondants. Le changement de matériau, l'inclinaison et la dérive de la température du cadre affecteront tous les résultats.

Exigences d'entrée : image du point ou points/contours d'étalonnage des deux côtés, valeurs réelles de distance/déplacement, géométrie d'envoi et de réception ou étalonnage de distance applicable, référence publique, correspondance temps/position, conditions de matériau et de température.

Fonctiontraitement du contenubase actuelle
Développement de relations entre points et distancesSélectionnez l'intersection point-rayon ou l'étalonnage non linéaire unidimensionnel en fonction du chemin optique, et vérifiez la plage, l'inclinaison de la surface, les taches et les points de mélange des bords.Modèle de télémétrie ponctuelle à développer
Modèle d'épaisseur bilatéraleUnifiez les coordonnées et l'espacement de référence des deux côtés, calculez l'épaisseur en fonction de la surface effective à la même position/heure et complétez le traitement de l'inclinaison et de la dérive thermique.L’étalonnage bilatéral et la mesure simultanée de l’épaisseur restent à développer.
Analyse des variations et des tolérancesLes tendances d'épaisseur/déplacement en sortie, les candidats hors tolérance et les données invalides par position ou heure, ainsi que les tâches dynamiques vérifient également la bande passante d'échantillonnage.La base statistique peut être réutilisée ; le business des épaisseurs est à développer

Contenu de sortie

résultatunité ou formeMode d'emploi
Déplacement/Épaisseurmm et heure/position correspondanteAnnoter séparément la couverture réelle de la distribution ponctuelle, transversale ou latérale
statut et référenceRésidus d’étalonnage, synchronisation et état de référenceSi une condition préalable clé est manquante, l’épaisseur effective ne sera pas affichée.
Candidats tendance et hors toléranceCourbe, seuil et position d'origineLes alarmes de processus ne remplacent pas les contrôles de sécurité des équipements

Conditions et limites applicables

Tâches applicables : épaisseur de la feuille opaque, hauteur/course de point désignée, faux-rond de la surface de l'arbre ou du rouleau et matériaux souples/transparents spécialement vérifiés.

L'interface de plan laser existante ne peut pas être directement utilisée comme algorithme de distance point-rayon. La hauteur d’un côté n’est pas égale à l’épaisseur ; la surface effective, l'épaisseur du revêtement et l'épaisseur totale des multicouches transparentes doivent être modélisées séparément ; la méthode de la caméra n’est pas équivalente à la mesure des vibrations laser Doppler.

Base de vérification et étendue de la livraison

Il existe le positionnement des points lumineux, les contours de lignes et les fondements de régression/incertitude partielle ; La télémétrie des points, la correspondance bilatérale au même point, la dérive thermique du rack et le noyau de mesure de l'épaisseur du produit n'ont pas encore formé un système de vérification complet.

Complétez d'abord le PoC d'une seule famille de matériaux et d'une plage de mesure claire, puis développez le modèle distance/épaisseur, l'interface d'entrée, la formule d'étalonnage et la gestion des exceptions, et fournissez un rapport de comparaison indépendant des outils de mesure.

Informations de confirmation des exigences : fournissez la plage d'épaisseur/déplacement, les exigences d'erreur, l'accessibilité des deux côtés, la transparence/rugosité du matériau, la vitesse, la valeur réelle d'étalonnage et les données d'interface.

FAQ

La mesure bilatérale de l’épaisseur nécessite-t-elle uniquement la soustraction de deux lectures ?

Non. Il est nécessaire d'unifier d'abord les coordonnées, la direction, la ligne de base et la relation de synchronisation du même point pour éviter d'appairer les lectures à différentes positions ou sur des surfaces défaillantes.

Le film transparent peut-il être mesuré directement après la vérification de la tôle ?

Ne peut pas être hérité directement. La multi-réflexion transparente, la réfraction et l'identification efficace des surfaces nécessitent une imagerie indépendante et une vérification de l'amplitude.

Promotion et acceptation des projets d'entreprise

  1. confirmation de la portéeClarifier les objets, postes de travail, entrées, sorties, unités, interfaces et conditions anormales qui doivent être couverts.
  2. Vérification d'échantillonUtilisez des échantillons représentatifs normaux et anormaux pour établir une référence et enregistrer ce qui fonctionne, ce qui échoue et les lacunes dans les données.
  3. Débogage conjoint du développementComplétez l'algorithme, l'étalonnage, l'interface et l'adaptation de l'équipement selon la portée approuvée, et conservez la version, les paramètres et l'état anormal.
  4. Acceptation de l'articleUtilisez des échantillons indépendants et des retests de valeurs de référence pour confirmer respectivement les erreurs, la détection, le tempo, la stabilité et les livrables.
Consultation de projet

Soumettre des échantillons et les conditions de l'équipement pour clarifier la portée du développement et de la livraison

Développement d’algorithmes de déplacement de point laser et de mesure d’épaisseur bilatérale

Veuillez décrire l'objet de la tâche, l'image ou la vidéo originale, les indicateurs cibles, la plate-forme de l'appareil, l'interface et un exemple de situation.

Téléphone : 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

Les informations renseignées ne seront utilisées qu'à des fins d'évaluation et de contact pour ce projet. Veuillez ne pas soumettre d’informations personnelles non autorisées ou de données sensibles.