LSP229 · MEMS與懸臂梁元件 · MEMS與微機電器件
部分可複用

開閉動作的光學位移觀測

面向微繼電器樣件,以點雷射三角位移為觀測路線,擬輸出動作終點與回位性。頁面用於專案評估,不代表已開發完成或已現場驗收。

項目判斷摘要

產品/裝置微繼電器樣件
測量路線TRI · 點雷射三角位移
能力分級部分可複用
驗證狀態未進行該場景實機/產品域驗收
場景性質:雷射光點同類潛在應用場景。潛在應用場景,尚未開發成完整產品系統;未進行該場景實機/產品域驗收。目錄統計中的產品實機/產品域驗收數量為0。

業務任務與擬輸出

目標對象
微繼電器樣件:點雷射三角位移
擬輸出
動作終點與回位性
適用條件
觸點電阻另測
優先權
常規擴展。需依所列光學條件、標定及樣件完成驗證

成像輸入與演算法路線

成像與裝置條件

固定雷射發射軸和接收相機基線,目標表面能形成可分離光點。顯微聚焦入射光、反射接收與獨立驅動參考

TRI · 點雷射三角位移

固定雷射發射軸和接收相機基線,目標表面能形成可分離光點

  • A97加權最小平方法線性標定
  • A100一階靈敏度不確定度傳播
  • A101自適應閾值雷射點灰階質心
  • A103對數二次曲面亞像素光點中心
  • A107雷射點品質與可用性診斷

現有演算法證據:A101–A112只完成解析合成光點與受控幾何驗證;參見laser_spot_benchmark.json

現有能力與待補能力

部分可複用

需補標定、同步或集成

可重複使用光點偵測前端或時序統計模組,但專案仍需增加幾何標定、時間同步、運動補償或設備系統整合。

本場景缺口:需新增點雷射射線求交或一維非線性距離標定適配;A97僅線性區,A21為雷射平面介面。觸點電阻另測。相機只覆蓋其採樣與曝光支援的頻帶

路線級缺口:需新增點雷射射線求交或一維非線性距離標定適配;A97僅線性區,A21為雷射平面介面

「部分可重複使用」只描述相對開發量,不構成精確度、節拍、穩定性或交付週期承諾。

驗證方法與驗收前提

使用量塊及位移台覆蓋量程與表麵條件,獨立報告物理誤差、重複性及散斑影響。獨立角度/位移儀和驅動掃頻對照

驗收項項目需確認的證據目前狀態
輸入與樣本真實設備原始影格、正常/異常樣本、曝光與光路條件、樣本分組及留出集未提供,待項目輸入
量值與誤差獨立參考量值、標定記錄、誤差統計口徑及雙方確認閾值未驗證
異常與邊界漏檢、誤檢、過曝、遮蔽、反光、出視場和通訊異常的預期處理待定義
系統整合介面、時間同步、部署平台、節拍、日誌、版本和連續運行記錄未集成

證據來源與引用邊界

來源支援測量原理或同類應用;本場景的模組組合、裝置與驗收方法為工程推導,未完成產品驗證

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來源使用範圍:公開資料用於支援測量原理或同類應用存在性,不證明本場景已由極視科技完成開發、部署或驗收。
專案諮詢

提交樣本與設備條件,明確開發與交付範圍

開閉動作的光學位移觀測

請說明任務物件、原始圖片或影片、目標指標、裝置平台、介面和樣本情況。

電話:13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

所填資訊僅用於本次項目評估與聯繫,請勿提交未經授權的個人資訊或敏感資料。