Micro-Epsilon 雷射三角測量原理
發射、接收成像與標定後的距離測量
核對日期:2026-10-24
看原始公開資料 →固定相機與靶面,記錄曝光與增益,視野覆蓋光點及背景。細光點、合適數值孔徑、穩定導向機構
固定相機與靶面,記錄曝光與增益,視野覆蓋光點及背景
現有演算法證據:A101–A112只完成解析合成光點與受控幾何驗證;參見laser_spot_benchmark.json
現有光點定位、品質診斷或統計模組可作為主要計算基礎;仍需依設備完成ROI、標定、閾值及介面驗證。
本場景缺口:需ROI、標尺/平面標定及參考點定義;只能直接觀測靶面二維位置。不能由此判鋼絲斷絲。最小目標尺寸由實際光斑和成像解析度決定
路線級缺口:需ROI、標尺/平面標定及參考點定義;只能直接觀測靶面二維位置
「可重複使用模組」只描述相對開發量,不構成精確度、節拍、穩定性或交付週期承諾。
用二維位移台和固定參考點獨立測試,報告中心誤差P95、漏檢和誤檢。顯微量具及標準絲/棒對照,控制速度與角度
| 驗收項 | 項目需確認的證據 | 目前狀態 |
|---|---|---|
| 輸入與樣本 | 真實設備原始影格、正常/異常樣本、曝光與光路條件、樣本分組及留出集 | 未提供,待項目輸入 |
| 量值與誤差 | 獨立參考量值、標定記錄、誤差統計口徑及雙方確認閾值 | 未驗證 |
| 異常與邊界 | 漏檢、誤檢、過曝、遮蔽、反光、出視場和通訊異常的預期處理 | 待定義 |
| 系統整合 | 介面、時間同步、部署平台、節拍、日誌、版本和連續運行記錄 | 未集成 |
來源支援測量原理或同類應用;本場景的模組組合、裝置與驗收方法為工程推導,未完成產品驗證
發射、接收成像與標定後的距離測量
核對日期:2026-10-24
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請說明任務物件、原始圖片或影片、目標指標、裝置平台、介面和樣本情況。
電話:13910119357