Ophir 雷射光束分析
相機光斑分析與工業雷射診斷;功率測量需專用感測器
核對日期:2026-10-24
看原始公開資料 →固定雷射發射軸和接收相機基線,目標表面能形成可分離光點。光路取樣或焊接前標靶採集,強製程光需濾光與觸發
固定雷射發射軸和接收相機基線,目標表面能形成可分離光點
現有演算法證據:A101–A112只完成解析合成光點與受控幾何驗證;參見laser_spot_benchmark.json
可重複使用光點偵測前端或時序統計模組,但專案仍需增加幾何標定、時間同步、運動補償或設備系統整合。
本場景缺口:需新增點雷射射線求交或一維非線性距離標定適配;A97僅線性區,A21為雷射平面介面。羽流和粉塵會造成丟點。僅描述入射束/導引束狀態,焊縫內部品質需獨立檢測
路線級缺口:需新增點雷射射線求交或一維非線性距離標定適配;A97僅線性區,A21為雷射平面介面
「部分可重複使用」只描述相對開發量,不構成精確度、節拍、穩定性或交付週期承諾。
使用量塊及位移台覆蓋量程與表麵條件,獨立報告物理誤差、重複性及散斑影響。光束儀和焊接試樣截面/製程日誌交叉核驗
| 驗收項 | 項目需確認的證據 | 目前狀態 |
|---|---|---|
| 輸入與樣本 | 真實設備原始影格、正常/異常樣本、曝光與光路條件、樣本分組及留出集 | 未提供,待項目輸入 |
| 量值與誤差 | 獨立參考量值、標定記錄、誤差統計口徑及雙方確認閾值 | 未驗證 |
| 異常與邊界 | 漏檢、誤檢、過曝、遮蔽、反光、出視場和通訊異常的預期處理 | 待定義 |
| 系統整合 | 介面、時間同步、部署平台、節拍、日誌、版本和連續運行記錄 | 未集成 |
來源支援測量原理或同類應用;本場景的模組組合、裝置與驗收方法為工程推導,未完成產品驗證
相機光斑分析與工業雷射診斷;功率測量需專用感測器
核對日期:2026-10-24
看原始公開資料 →雷射點陣、繞射級次、點間距及光學配置
核對日期:2026-10-24
看原始公開資料 →散斑對位置和距離不確定度的影響
核對日期:2026-10-24
看原始公開資料 →沉積頭相對基材的點位移監測
請說明任務物件、原始圖片或影片、目標指標、裝置平台、介面和樣本情況。
電話:13910119357