LSP034 · DOE與點陣投影機 · 結構光與繞射元件
部分可複用

點距均勻性與排列偏差檢查

面向二維點陣發生器,以分離光點陣列比對為觀測路線,擬輸出行列點距與局部殘差。頁面用於專案評估,不代表已開發完成或已現場驗收。

項目判斷摘要

產品/裝置二維點陣發生器
測量路線ARRAY · 分離光點陣列比對
能力分級部分可複用
驗證狀態未進行該場景實機/產品域驗收
場景性質:雷射光點同類潛在應用場景。潛在應用場景,尚未開發成完整產品系統;未進行該場景實機/產品域驗收。目錄統計中的產品實機/產品域驗收數量為0。

業務任務與擬輸出

目標對象
二維點陣產生器:分離光點陣列比對
擬輸出
行列點距和局部殘差
適用條件
透視畸變先標定
優先權
優先驗證。固定平面點陣適合建立可複核幾何對照

成像輸入與演算法路線

成像與裝置條件

分離且可編號的多個光點,固定接收平面和視場。固定投射距離、靶板與相機,已知設計點陣

ARRAY · 分離光點陣列比對

分離且可編號的多個光點,固定接收平面和視場

  • A102多雷射點連通域候選萃取
  • A105雷射光斑二階矩與主軸直徑
  • A107雷射點品質與可用性診斷
  • A108多雷射點參考位元一對一匹配
  • A112雷射點二維重複性與覆蓋橢圓

現有演算法證據:A101–A112只完成解析合成光點與受控幾何驗證;參見laser_spot_benchmark.json

現有能力與待補能力

部分可複用

需補標定、同步或集成

可重複使用光點偵測前端或時序統計模組,但專案仍需增加幾何標定、時間同步、運動補償或設備系統整合。

本場景缺口:需點序編號、局部ROI、串擾和遮蔽處理;A108只在同一座標係依距離相符。透視畸變先標定。點陣前端可重複使用;三維深度與絕對效率須另建模型

路線級缺口:需點序編號、局部ROI、串擾和遮蔽處理;A108只在同一座標係依距離匹配

「部分可重複使用」只描述相對開發量,不構成精確度、節拍、穩定性或交付週期承諾。

驗證方法與驗收前提

用已知點陣和人為缺點/重疊/置亂資料核驗點數、匹配率和誤配。標準靶板與人為遮蔽/錯位試驗核驗

驗收項項目需確認的證據目前狀態
輸入與樣本真實設備原始影格、正常/異常樣本、曝光與光路條件、樣本分組及留出集未提供,待項目輸入
量值與誤差獨立參考量值、標定記錄、誤差統計口徑及雙方確認閾值未驗證
異常與邊界漏檢、誤檢、過曝、遮蔽、反光、出視場和通訊異常的預期處理待定義
系統整合介面、時間同步、部署平台、節拍、日誌、版本和連續運行記錄未集成

證據來源與引用邊界

來源支援測量原理或同類應用;本場景的模組組合、裝置與驗收方法為工程推導,未完成產品驗證

LS-S16 · 原廠/研究機構/原始論文

Holo/Or 多點衍射分束器

雷射點陣、繞射級次、點間距及光學配置

核對日期:2026-10-24

看原始公開資料 →
LS-S17 · 原廠/研究機構/原始論文

Holo/Or 結構光原理

已知投影圖案及幾何變形用於測量的原理

核對日期:2026-10-24

看原始公開資料 →
來源使用範圍:公開資料用於支援測量原理或同類應用存在性,不證明本場景已由極視科技完成開發、部署或驗收。
專案諮詢

提交樣本與設備條件,明確開發與交付範圍

點距均勻性與排列偏差檢查

請說明任務物件、原始圖片或影片、目標指標、裝置平台、介面和樣本情況。

電話:13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

所填資訊僅用於本次項目評估與聯繫,請勿提交未經授權的個人資訊或敏感資料。