Duma 光束位置與光學裝調應用
光束位置、光學裝調和光斑形態的應用類別
核對日期：2026-10-24
看原始公開資料 →項目判斷摘要
產品/裝置光纖準直器
測量路線BM · 光斑形態與相對分佈
能力分級可複用模組
驗證狀態未進行該場景實機/產品域驗收
場景性質：雷射光點同類潛在應用場景。潛在應用場景，尚未開發成完整產品系統；未進行該場景實機/產品域驗收。目錄統計中的產品實機/產品域驗收數量為0。
業務任務與擬輸出
- 目標對象
- 光纖準直器：光斑形態與相對分佈
- 擬輸出
- 鎖緊前後中心與軸比
- 適用條件
- 機械夾持應力需記錄
- 優先權
- 優先驗證。用準直元件和固定衰減工裝驗證中心/形態
成像輸入與演算法路線
成像與裝置條件
線性響應成像、固定衰減與背景擷取，避免飽和與ROI截斷。近場/遠場轉接光學和可記錄位移的耦合工裝
BM · 光斑形態與相對分佈
線性響應成像、固定衰減與背景擷取，避免飽和與ROI截斷
- A101自適應閾值雷射點灰階質心
- A105雷射光斑二階矩與主軸直徑
- A106雷射光斑環圍能量直徑
- A107雷射點品質與可用性診斷
現有演算法證據：A101–A112只完成解析合成光點與受控幾何驗證；參見laser_spot_benchmark.json
現有能力與待補能力
可複用模組
現有模組可作為主體
現有光點定位、品質診斷或統計模組可作為主要計算基礎；仍需依設備完成ROI、標定、閾值及介面驗證。
本場景缺口：需像素尺度、背景扣除和動態範圍驗證；灰階積分不是瓦特或焦耳。機械夾持應力需記錄。近場位置與實際耦合效率分開量化
路線級缺口：需像素尺度、背景扣除和動態範圍驗證；灰階積分不是瓦特或焦耳
「可重複使用模組」只描述相對開發量，不構成精確度、節拍、穩定性或交付週期承諾。
驗證方法與驗收前提
與獨立光束分析儀或已知光斑圖對照，分別核驗中心、寬度和截斷。以獨立功率計和位移台核驗耦合效率峰值對應位置
| 驗收項 | 項目需確認的證據 | 目前狀態 |
|---|---|---|
| 輸入與樣本 | 真實設備原始影格、正常/異常樣本、曝光與光路條件、樣本分組及留出集 | 未提供，待項目輸入 |
| 量值與誤差 | 獨立參考量值、標定記錄、誤差統計口徑及雙方確認閾值 | 未驗證 |
| 異常與邊界 | 漏檢、誤檢、過曝、遮蔽、反光、出視場和通訊異常的預期處理 | 待定義 |
| 系統整合 | 介面、時間同步、部署平台、節拍、日誌、版本和連續運行記錄 | 未集成 |
證據來源與引用邊界
來源支援測量原理或同類應用；本場景的模組組合、裝置與驗收方法為工程推導，未完成產品驗證
Ophir 小光束測量
小光束近場、遠場與模式場測量中的光學條件
核對日期：2026-10-24
看原始公開資料 →來源使用範圍：公開資料用於支援測量原理或同類應用存在性，不證明本場景已由極視科技完成開發、部署或驗收。
專案諮詢
xuzhiyang0928@gmail.com
提交樣本與設備條件，明確開發與交付範圍
準直器鎖緊後的光軸漂移檢查
請說明任務物件、原始圖片或影片、目標指標、裝置平台、介面和樣本情況。
電話：13910119357xuzhiyang0928@gmail.com