LSP261 · Nghiên cứu quang nhiệt hóa học và vật liệu · Giao diện và làm ướt giọt hóa chất
Cần thêm lõi mới

Giám sát chuyển động của chùm tia truyền qua trong quá trình đóng rắn

Đối mặt với mẫu được xử lý bằng nhựa trong suốt, độ lệch truyền và nghịch đảo khúc xạ được sử dụng làm tuyến quan sát, đồng thời quỹ đạo trung tâm và trạng thái đa hình ảnh được lên kế hoạch làm đầu ra. Trang này dùng để đánh giá dự án và không có nghĩa là quá trình phát triển đã được hoàn thành hoặc đã được chấp nhận tại chỗ.

Tóm tắt phán quyết dự án

Sản phẩm/Thiết bịMẫu vật được xử lý bằng nhựa trong suốt
Đo lộ trìnhREFRACT · Độ lệch truyền và đảo ngược khúc xạ
Chấm điểm năng lựcCần thêm lõi mới
Trạng thái xác minhViệc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện
Tính chất cảnh:Các kịch bản ứng dụng tiềm năng tương tự cho các điểm laze. Kịch bản ứng dụng tiềm năng vẫn chưa được phát triển thành hệ thống sản phẩm hoàn chỉnh; việc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện. Số lượng chấp nhận sản phẩm/miền sản phẩm thực tế trong thống kê danh mục là 0.

Nhiệm vụ kinh doanh và sản lượng dự kiến

đối tượng mục tiêu
Mẫu được xử lý bằng nhựa trong suốt: độ lệch truyền và khúc xạ nghịch đảo
đầu ra giả
Vị trí trung tâm và trạng thái đa ảnh
Điều kiện áp dụng
Những thay đổi khúc xạ và hình học co lại cần được tách riêng
sự ưu tiên
Phát triển đặc biệt. Lõi đo lường/điều khiển cần được bổ sung và xác minh theo phê duyệt dự án đặc biệt

Đầu vào hình ảnh và định tuyến thuật toán

Điều kiện hình ảnh và thiết bị

Một thiết bị truyền dẫn đã biết góc tới, chiều dài đường quang, ranh giới trung bình và nhiệt độ. Đường quang bơm/đầu dò, điều chế đồng bộ và môi trường nhiệt độ được kiểm soát

REFRACT · Độ lệch truyền và đảo ngược khúc xạ

Thiết bị truyền dẫn đã biết góc tới, độ dài đường quang, ranh giới trung bình và nhiệt độ

  • A101Điểm laser ngưỡng thích ứng trung tâm thang độ xám
  • A103Tâm điểm pixel phụ bề mặt logarit
  • A107Chẩn đoán chất lượng điểm laser và khả năng sử dụng
  • A111Chuyển đổi pixel điểm laser sang góc nhìn của camera
  • A112Độ lặp lại hai chiều của điểm laser và hình elip bao phủ

Bằng chứng thuật toán hiện có:A101–A112 chỉ hoàn thiện điểm tổng hợp phân tích và xác minh hình học có kiểm soát; xem laser_spot_benchmark.json

Năng lực hiện tại và khả năng cần bổ sung

Cần thêm lõi mới

Cần bổ sung thêm tính toán lõi

Việc trích xuất điểm sáng chỉ có thể được sử dụng làm giao diện quan sát và các khả năng cốt lõi như tái tạo ba chiều, điều khiển vòng kín, mặt sóng hoặc đảo ngược đại lượng vật lý cần được phát triển và xác minh riêng.

Những khoảng trống trong cảnh này:Cần bổ sung thêm tính năng dò tìm tia/snell và phân tích nhận dạng tham số; độ lệch không thể chứng minh duy nhất thành phần hoặc nồng độ. Những thay đổi khúc xạ và hình học co lại cần phải được tách riêng. Tất cả các đầu ra thuộc tính vật chất đều là những sự đảo ngược cần được phát triển và không được thay thế trực tiếp bằng các chuyển vị.

Khoảng trống ở cấp độ tuyến đường:Cần bổ sung thêm tính năng dò tìm tia/snell và phân tích nhận dạng tham số; độ lệch không thể chứng minh duy nhất thành phần hoặc nồng độ

"Yêu cầu lõi mới" chỉ mô tả khối lượng phát triển tương đối và không cấu thành cam kết về độ chính xác, nhịp độ, độ ổn định hoặc thời gian phân phối.

Phương pháp xác minh và điều kiện tiên quyết chấp nhận

Kiểm tra độ nhạy chéo hình học/thành phần bằng cách sử dụng môi trường tham chiếu lăng kính hoặc chỉ số khúc xạ đã biết và nhiệt độ được kiểm soát. Tài liệu tham khảo, mẫu trắng và so sánh công cụ đặc tính vật lý độc lập

Mặt hàng chấp nhậnBằng chứng cần thiết để xác nhận dự ánTình trạng hiện tại
Đầu vào và mẫuKhung gốc của thiết bị thực, mẫu bình thường/bất thường, điều kiện phơi sáng và đường dẫn ánh sáng, nhóm mẫu và đặt sang một bênChưa được cung cấp, đang chờ đầu vào của dự án
Độ lớn và lỗiGiá trị tham chiếu độc lập, bản ghi hiệu chuẩn, cỡ nòng thống kê lỗi và ngưỡng xác nhận lẫn nhauChưa được xác minh
Ngoại lệ và ranh giớiDự kiến ​​xử lý các phát hiện bị bỏ sót, phát hiện sai, phơi sáng quá mức, tắc nghẽn, phản chiếu, ngoài tầm nhìn và các bất thường trong giao tiếpĐể được xác định
Tích hợp hệ thốngGiao diện, đồng bộ hóa thời gian, nền tảng triển khai, nhịp độ, nhật ký, phiên bản và bản ghi chạy liên tụcKhông tích hợp

Nguồn bằng chứng và ranh giới trích dẫn

Nguồn hỗ trợ các nguyên tắc đo lường hoặc các ứng dụng tương tự; sự kết hợp mô-đun, thiết bị và phương pháp chấp nhận trong trường hợp này là nguồn gốc kỹ thuật và việc xác minh sản phẩm chưa được hoàn thành.

LS-S22 · Nhà máy gốc/cơ quan nghiên cứu khoa học/giấy gốc

Nghiên cứu đo độ lệch quang nhiệt của IBM

Nguyên lý làm lệch chùm tia thăm dò do gradient chiết suất

Ngày xác minh: 24-10-2026

Xem thông tin công khai ban đầu →
LS-S27 · Nhà máy gốc/cơ quan nghiên cứu khoa học/giấy gốc

Nghiên cứu tam giác ánh sáng xanh của NIST gần ngọn lửa

Các phép đo độ dịch chuyển và hiệu ứng gradient nhiệt trong các thử nghiệm cháy cụ thể mà không cần ngoại suy các giá trị

Ngày xác minh: 24-10-2026

Xem thông tin công khai ban đầu →
LS-S28 · Nhà máy gốc/cơ quan nghiên cứu khoa học/giấy gốc

Nghiên cứu về độ bất định đốm của phép đo tam giác bằng laser

Ảnh hưởng của đốm đến độ không đảm bảo về vị trí và khoảng cách

Ngày xác minh: 24-10-2026

Xem thông tin công khai ban đầu →
Phạm vi sử dụng nguồn:Thông tin công khai được sử dụng để hỗ trợ nguyên tắc đo lường hoặc sự tồn tại của các ứng dụng tương tự và không chứng minh rằng kịch bản này đã được Jishi Technology phát triển, triển khai hoặc chấp nhận.
Tư vấn dự án

Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng

Giám sát chuyển động của chùm tia truyền qua trong quá trình đóng rắn

Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.

Điện thoại: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

Thông tin điền vào sẽ chỉ được sử dụng để đánh giá và liên hệ cho dự án này. Vui lòng không gửi thông tin cá nhân trái phép hoặc dữ liệu nhạy cảm.