Nghiên cứu đo độ lệch quang nhiệt của IBM
Nguyên lý làm lệch chùm tia thăm dò do gradient chiết suất
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →LSP257 · Nghiên cứu quang nhiệt hóa học và vật liệu · Giao diện và làm ướt giọt hóa chất
Cần thêm lõi mới
Nghiên cứu độ lệch đầu dò gây ra bởi quá trình gia nhiệt hấp thụ
Đối diện với mẫu thử hấp thụ màng mỏng, độ lệch của đầu dò quang nhiệt được sử dụng làm đường quan sát, đồng thời các ứng cử viên về biên độ và pha được điều chế sẽ được đưa ra. Trang này dùng để đánh giá dự án và không có nghĩa là quá trình phát triển đã được hoàn thành hoặc đã được chấp nhận tại chỗ.
Tóm tắt phán quyết dự án
Sản phẩm/Thiết bịMẫu thử độ hấp thụ màng
Đo lộ trìnhNHIỆT ĐỘ · Độ lệch đầu dò quang nhiệt
Chấm điểm năng lựcCần thêm lõi mới
Trạng thái xác minhViệc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện
Tính chất cảnh:Các kịch bản ứng dụng tiềm năng tương tự cho các điểm laze. Kịch bản ứng dụng tiềm năng vẫn chưa được phát triển thành hệ thống sản phẩm hoàn chỉnh; việc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện. Số lượng chấp nhận sản phẩm/miền sản phẩm thực tế trong thống kê danh mục là 0.
Nhiệm vụ kinh doanh và sản lượng dự kiến
- đối tượng mục tiêu
- Mẫu thử hấp thụ màng mỏng: Độ lệch của đầu dò quang nhiệt
- đầu ra giả
- Biên độ lệch điều biến và ứng cử viên pha
- Điều kiện áp dụng
- Đảo ngược tốc độ hấp thụ yêu cầu mô hình nhiệt nhiều lớp
- sự ưu tiên
- Phát triển đặc biệt. Lõi đo lường/điều khiển cần được bổ sung và xác minh theo phê duyệt dự án đặc biệt
Đầu vào hình ảnh và định tuyến thuật toán
Điều kiện hình ảnh và thiết bị
Đường quang của bơm/đầu dò, tham chiếu điều chế và ranh giới nhiệt đã được biết và các mẫu bao gồm tần số điều chế. Đường quang bơm/đầu dò, điều chế đồng bộ và môi trường nhiệt độ được kiểm soát
NHIỆT ĐỘ · Độ lệch đầu dò quang nhiệt
Đường quang của bơm/đầu dò, tham chiếu điều chế và ranh giới nhiệt đã được biết và việc lấy mẫu bao gồm tần số điều chế
- A74STFT biến đổi Fourier thời gian ngắn
- A101Điểm laser ngưỡng thích ứng trung tâm thang độ xám
- A103Tâm điểm pixel phụ bề mặt logarit
- A107Chẩn đoán chất lượng điểm laser và khả năng sử dụng
- A112Độ lặp lại hai chiều của điểm laser và hình elip bao phủ
Bằng chứng thuật toán hiện có:A101–A112 chỉ hoàn thiện điểm tổng hợp phân tích và xác minh hình học có kiểm soát; xem laser_spot_benchmark.json
Năng lực hiện tại và khả năng cần bổ sung
Cần thêm lõi mới
Cần bổ sung thêm tính toán lõi
Việc trích xuất điểm sáng chỉ có thể được sử dụng làm giao diện quan sát và các khả năng cốt lõi như tái tạo ba chiều, điều khiển vòng kín, mặt sóng hoặc đảo ngược đại lượng vật lý cần được phát triển và xác minh riêng.
Những khoảng trống trong cảnh này:Cần thêm các mô hình khóa pha/khuếch tán nhiệt/khúc xạ mới và đảo ngược tham số đặc tính vật lý; độ lệch hình ảnh không trực tiếp tạo ra tính dẫn nhiệt hoặc khả năng hấp thụ. Đảo ngược tốc độ hấp thụ đòi hỏi một mô hình nhiệt nhiều lớp. Tất cả các đầu ra thuộc tính vật chất đều là những sự đảo ngược cần được phát triển và không được thay thế trực tiếp bằng các chuyển vị.
Khoảng trống ở cấp độ tuyến đường:Cần thêm các mô hình khóa pha/khuếch tán nhiệt/khúc xạ mới và đảo ngược tham số đặc tính vật lý; độ lệch hình ảnh không trực tiếp cung cấp khả năng dẫn nhiệt hoặc hấp thụ nhiệt
"Yêu cầu lõi mới" chỉ mô tả khối lượng phát triển tương đối và không cấu thành cam kết về độ chính xác, nhịp độ, độ ổn định hoặc thời gian phân phối.
Phương pháp xác minh và điều kiện tiên quyết chấp nhận
Xác minh sự đảo ngược bằng cách sử dụng vật liệu tham chiếu và máy phân tích nhiệt độc lập, tần số khác nhau, độ lệch chùm tia và các điều kiện biên. Tài liệu tham khảo, mẫu trắng và so sánh công cụ đặc tính vật lý độc lập
| Mặt hàng chấp nhận | Bằng chứng cần thiết để xác nhận dự án | Tình trạng hiện tại |
|---|---|---|
| Đầu vào và mẫu | Khung gốc của thiết bị thực, mẫu bình thường/bất thường, điều kiện phơi sáng và đường dẫn ánh sáng, nhóm mẫu và đặt sang một bên | Chưa được cung cấp, đang chờ đầu vào của dự án |
| Độ lớn và lỗi | Giá trị tham chiếu độc lập, bản ghi hiệu chuẩn, cỡ nòng thống kê lỗi và ngưỡng xác nhận lẫn nhau | Chưa được xác minh |
| Ngoại lệ và ranh giới | Dự kiến xử lý các phát hiện bị bỏ sót, phát hiện sai, phơi sáng quá mức, tắc nghẽn, phản chiếu, ngoài tầm nhìn và các bất thường trong giao tiếp | Để được xác định |
| Tích hợp hệ thống | Giao diện, đồng bộ hóa thời gian, nền tảng triển khai, nhịp độ, nhật ký, phiên bản và bản ghi chạy liên tục | Không tích hợp |
Nguồn bằng chứng và ranh giới trích dẫn
Nguồn hỗ trợ các nguyên tắc đo lường hoặc các ứng dụng tương tự; sự kết hợp mô-đun, thiết bị và phương pháp chấp nhận trong trường hợp này là nguồn gốc kỹ thuật và việc xác minh sản phẩm chưa được hoàn thành.
Nghiên cứu tam giác ánh sáng xanh của NIST gần ngọn lửa
Các phép đo độ dịch chuyển và hiệu ứng gradient nhiệt trong các thử nghiệm cháy cụ thể mà không cần ngoại suy các giá trị
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Nghiên cứu về độ bất định đốm của phép đo tam giác bằng laser
Ảnh hưởng của đốm đến độ không đảm bảo về vị trí và khoảng cách
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Phạm vi sử dụng nguồn:Thông tin công khai được sử dụng để hỗ trợ nguyên tắc đo lường hoặc sự tồn tại của các ứng dụng tương tự và không chứng minh rằng kịch bản này đã được Jishi Technology phát triển, triển khai hoặc chấp nhận.
Tư vấn dự án
xuzhiyang0928@gmail.com
Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng
Nghiên cứu độ lệch đầu dò gây ra bởi quá trình gia nhiệt hấp thụ
Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.
Điện thoại: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com