Nguyên lý tam giác laser Micro-Epsilon
Truyền, nhận ảnh và đo khoảng cách sau khi hiệu chuẩn
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →LSP136 · Bao bì thực phẩm và thiết bị dược phẩm · Đóng gói, in ấn, dán nhãn và hậu cần
Có thể tái sử dụng một phần
Kiểm tra quang học tư thế đóng của đầu bịt kín
Đối diện với đầu bịt kín nhiệt, lấy góc đòn bẩy quang phản xạ làm đường quan sát, góc phản xạ và chênh lệch phản hồi đóng được dự định là đầu ra. Trang này dùng để đánh giá dự án và không có nghĩa là quá trình phát triển đã được hoàn thành hoặc đã được chấp nhận tại chỗ.
Tóm tắt phán quyết dự án
Sản phẩm/Thiết bịĐầu hàn nhiệt
Đo lộ trìnhGÓC · Góc đòn bẩy quang phản xạ
Chấm điểm năng lựcCó thể tái sử dụng một phần
Trạng thái xác minhViệc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện
Tính chất cảnh:Các kịch bản ứng dụng tiềm năng tương tự cho các điểm laze. Kịch bản ứng dụng tiềm năng vẫn chưa được phát triển thành hệ thống sản phẩm hoàn chỉnh; việc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện. Số lượng chấp nhận sản phẩm/miền sản phẩm thực tế trong thống kê danh mục là 0.
Nhiệm vụ kinh doanh và sản lượng dự kiến
- đối tượng mục tiêu
- Đầu dò nhiệt: Góc đòn bẩy quang phản chiếu
- đầu ra giả
- Góc phản xạ và chênh lệch phản hồi đóng
- Điều kiện áp dụng
- Nhiệt độ, áp suất và độ kín khí phải được kiểm tra và chấp nhận riêng biệt.
- sự ưu tiên
- Phần mở rộng chung. Việc xác minh cần phải được hoàn thành theo các điều kiện quang học, hiệu chuẩn và mẫu được liệt kê.
Đầu vào hình ảnh và định tuyến thuật toán
Điều kiện hình ảnh và thiết bị
Cố định ánh sáng tới và gương phản xạ, đồng thời hiệu chỉnh mối quan hệ tương ứng giữa camera/màn hình thu và giai đoạn góc. Trạm làm việc khép kín, tham chiếu ổn định và cửa sổ quang học có thể làm sạch
GÓC · Góc đòn bẩy quang phản xạ
Cố định ánh sáng tới và gương phản xạ, đồng thời hiệu chỉnh mối quan hệ tương ứng giữa camera/màn hình thu và giai đoạn góc
- A101Điểm laser ngưỡng thích ứng trung tâm thang độ xám
- A103Tâm điểm pixel phụ bề mặt logarit
- A107Chẩn đoán chất lượng điểm laser và khả năng sử dụng
- A109Hiệu chỉnh đa thức tọa độ pixel hai chiều thành vật lý
- A110Ánh xạ hiệu chuẩn điểm laser và truyền hiệp phương sai
- A112Độ lặp lại hai chiều của điểm laser và hình elip bao phủ
Bằng chứng thuật toán hiện có:A101–A112 chỉ hoàn thiện điểm tổng hợp phân tích và xác minh hình học có kiểm soát; xem laser_spot_benchmark.json
Năng lực hiện tại và khả năng cần bổ sung
Có thể tái sử dụng một phần
Yêu cầu hiệu chuẩn, đồng bộ hóa hoặc tích hợp
Mô-đun thống kê thời gian hoặc giao diện người dùng phát hiện điểm sáng có thể được sử dụng lại, nhưng dự án vẫn cần bổ sung hiệu chuẩn hình học, đồng bộ hóa thời gian, bù chuyển động hoặc tích hợp hệ thống thiết bị.
Những khoảng trống trong cảnh này:Cần có hình học đòn bẩy quang học, mối quan hệ góc đôi phản xạ và bù chuyển động điểm tới; góc gương và chuyển động mục tiêu phải được tách biệt. Nhiệt độ, áp suất và độ kín khí phải được kiểm tra riêng. Đối tượng đo là độ dịch chuyển của hình dạng/thiết bị, không đưa ra suy luận nào về thành phần, độ vô trùng hoặc độ kín khí
Khoảng trống ở cấp độ tuyến đường:Cần có hình học đòn bẩy quang học, mối quan hệ góc đôi phản xạ và bù chuyển động điểm tới; góc gương và dịch đích phải được tách biệt
"Có thể tái sử dụng một phần" chỉ mô tả khối lượng phát triển tương đối và không cấu thành cam kết về độ chính xác, nhịp độ, độ ổn định hoặc thời gian phân phối.
Phương pháp xác minh và điều kiện tiên quyết chấp nhận
Sử dụng giai đoạn góc/bộ chuẩn trực tự động độc lập để tiến hành kiểm tra hai chiều và đa thái độ, đồng thời báo cáo lỗi góc và chênh lệch trả về. So sánh các thùng chứa tiêu chuẩn/tấm dày, đồng hồ đo tiếp xúc và các mẫu bị lỗi độc lập
| Mặt hàng chấp nhận | Bằng chứng cần thiết để xác nhận dự án | Tình trạng hiện tại |
|---|---|---|
| Đầu vào và mẫu | Khung gốc của thiết bị thực, mẫu bình thường/bất thường, điều kiện phơi sáng và đường dẫn ánh sáng, nhóm mẫu và đặt sang một bên | Chưa được cung cấp, đang chờ đầu vào của dự án |
| Độ lớn và lỗi | Giá trị tham chiếu độc lập, bản ghi hiệu chuẩn, cỡ nòng thống kê lỗi và ngưỡng xác nhận lẫn nhau | Chưa được xác minh |
| Ngoại lệ và ranh giới | Dự kiến xử lý các phát hiện bị bỏ sót, phát hiện sai, phơi sáng quá mức, tắc nghẽn, phản chiếu, ngoài tầm nhìn và các bất thường trong giao tiếp | Để được xác định |
| Tích hợp hệ thống | Giao diện, đồng bộ hóa thời gian, nền tảng triển khai, nhịp độ, nhật ký, phiên bản và bản ghi chạy liên tục | Không tích hợp |
Nguồn bằng chứng và ranh giới trích dẫn
Nguồn hỗ trợ các nguyên tắc đo lường hoặc các ứng dụng tương tự; sự kết hợp mô-đun, thiết bị và phương pháp chấp nhận trong trường hợp này là nguồn gốc kỹ thuật và việc xác minh sản phẩm chưa được hoàn thành.
Ứng dụng dịch chuyển Micro-Epsilon
Các loại đo chiều cao, khoảng cách và vị trí công nghiệp
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Ứng dụng độ dày Micro-Epsilon
Đo độ dày kết hợp cảm biến dịch chuyển; các nguyên tắc đo lường khác nhau nên được chọn riêng
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Phạm vi sử dụng nguồn:Thông tin công khai được sử dụng để hỗ trợ nguyên tắc đo lường hoặc sự tồn tại của các ứng dụng tương tự và không chứng minh rằng kịch bản này đã được Jishi Technology phát triển, triển khai hoặc chấp nhận.
Tư vấn dự án
xuzhiyang0928@gmail.com
Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng
Kiểm tra quang học tư thế đóng của đầu bịt kín
Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.
Điện thoại: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com