Nguyên lý tam giác laser Micro-Epsilon
Truyền, nhận ảnh và đo khoảng cách sau khi hiệu chuẩn
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →LSP135 · Bao bì thực phẩm và thiết bị dược phẩm · Đóng gói, in ấn, dán nhãn và hậu cần
Có thể tái sử dụng một phần
Lấy mẫu độ dày song phương của tấm composite
Đối diện với tấm bao bì nhôm-nhựa, phép đo chênh lệch bề mặt tham chiếu/hai bên được sử dụng làm lộ trình quan sát và độ dày chênh lệch cục bộ được lên kế hoạch để đưa ra. Trang này dùng để đánh giá dự án và không có nghĩa là quá trình phát triển đã được hoàn thành hoặc đã được chấp nhận tại chỗ.
Tóm tắt phán quyết dự án
Sản phẩm/Thiết bịTấm bao bì nhựa nhôm
Đo lộ trìnhDÀY · Đo chênh lệch bề mặt song phương/tham chiếu
Chấm điểm năng lựcCó thể tái sử dụng một phần
Trạng thái xác minhViệc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện
Tính chất cảnh:Các kịch bản ứng dụng tiềm năng tương tự cho các điểm laze. Kịch bản ứng dụng tiềm năng vẫn chưa được phát triển thành hệ thống sản phẩm hoàn chỉnh; việc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện. Số lượng chấp nhận sản phẩm/miền sản phẩm thực tế trong thống kê danh mục là 0.
Nhiệm vụ kinh doanh và sản lượng dự kiến
- đối tượng mục tiêu
- Tấm bao bì nhôm-nhựa: đo chênh lệch trên cả hai mặt/bề mặt tham chiếu
- đầu ra giả
- độ dày chênh lệch cục bộ
- Điều kiện áp dụng
- Hiệu ứng giảm bề mặt và nhiệt độ vật liệu phải được đánh giá
- sự ưu tiên
- Phần mở rộng chung. Việc xác minh cần phải được hoàn thành theo các điều kiện quang học, hiệu chuẩn và mẫu được liệt kê.
Đầu vào hình ảnh và định tuyến thuật toán
Điều kiện hình ảnh và thiết bị
Các đầu dịch chuyển điểm hai bên được đồng bộ hóa hoặc một đầu có mặt phẳng tham chiếu ổn định đã biết. Trạm làm việc khép kín, tham chiếu ổn định và cửa sổ quang học có thể làm sạch
DÀY · Đo chênh lệch bề mặt song phương/tham chiếu
Đầu dịch chuyển điểm song phương đồng bộ hoặc đầu đơn có bề mặt tham chiếu ổn định đã biết
- A97Hiệu chuẩn tuyến tính bình phương tối thiểu có trọng số
- A100Sự lan truyền độ không đảm bảo độ nhạy bậc nhất
- A101Điểm laser ngưỡng thích ứng trung tâm thang độ xám
- A103Tâm điểm pixel phụ bề mặt logarit
- A107Chẩn đoán chất lượng điểm laser và khả năng sử dụng
Bằng chứng thuật toán hiện có:A101–A112 chỉ hoàn thiện điểm tổng hợp phân tích và xác minh hình học có kiểm soát; xem laser_spot_benchmark.json
Năng lực hiện tại và khả năng cần bổ sung
Có thể tái sử dụng một phần
Yêu cầu hiệu chuẩn, đồng bộ hóa hoặc tích hợp
Mô-đun thống kê thời gian hoặc giao diện người dùng phát hiện điểm sáng có thể được sử dụng lại, nhưng dự án vẫn cần bổ sung hiệu chuẩn hình học, đồng bộ hóa thời gian, bù chuyển động hoặc tích hợp hệ thống thiết bị.
Những khoảng trống trong cảnh này:Cần có các mô hình hiệu chỉnh khoảng cách laser điểm, cộng tuyến/đồng bộ hóa và khoảng cách tham chiếu trên cả hai mặt; chiều cao của một điểm không trực tiếp bằng độ dày. Hiệu ứng giảm bề mặt và nhiệt độ vật liệu phải được đánh giá. Đối tượng đo là độ dịch chuyển của hình dạng/thiết bị, không đưa ra suy luận nào về thành phần, độ vô trùng hoặc độ kín khí
Khoảng trống ở cấp độ tuyến đường:Cần có các mô hình hiệu chỉnh khoảng cách laser điểm, cộng tuyến/đồng bộ hóa và khoảng cách tham chiếu trên cả hai mặt; chiều cao của một điểm không trực tiếp bằng độ dày
"Có thể tái sử dụng một phần" chỉ mô tả khối lượng phát triển tương đối và không cấu thành cam kết về độ chính xác, nhịp độ, độ ổn định hoặc thời gian phân phối.
Phương pháp xác minh và điều kiện tiên quyết chấp nhận
Sử dụng các lát cắt dày tiêu chuẩn và các mẫu bị cong vênh để so sánh, đồng thời thay đổi góc nghiêng và pha chuyển động để kiểm tra sai số vi phân. So sánh các thùng chứa tiêu chuẩn/tấm dày, đồng hồ đo tiếp xúc và các mẫu bị lỗi độc lập
| Mặt hàng chấp nhận | Bằng chứng cần thiết để xác nhận dự án | Tình trạng hiện tại |
|---|---|---|
| Đầu vào và mẫu | Khung gốc của thiết bị thực, mẫu bình thường/bất thường, điều kiện phơi sáng và đường dẫn ánh sáng, nhóm mẫu và đặt sang một bên | Chưa được cung cấp, đang chờ đầu vào của dự án |
| Độ lớn và lỗi | Giá trị tham chiếu độc lập, bản ghi hiệu chuẩn, cỡ nòng thống kê lỗi và ngưỡng xác nhận lẫn nhau | Chưa được xác minh |
| Ngoại lệ và ranh giới | Dự kiến xử lý các phát hiện bị bỏ sót, phát hiện sai, phơi sáng quá mức, tắc nghẽn, phản chiếu, ngoài tầm nhìn và các bất thường trong giao tiếp | Để được xác định |
| Tích hợp hệ thống | Giao diện, đồng bộ hóa thời gian, nền tảng triển khai, nhịp độ, nhật ký, phiên bản và bản ghi chạy liên tục | Không tích hợp |
Nguồn bằng chứng và ranh giới trích dẫn
Nguồn hỗ trợ các nguyên tắc đo lường hoặc các ứng dụng tương tự; sự kết hợp mô-đun, thiết bị và phương pháp chấp nhận trong trường hợp này là nguồn gốc kỹ thuật và việc xác minh sản phẩm chưa được hoàn thành.
Ứng dụng dịch chuyển Micro-Epsilon
Các loại đo chiều cao, khoảng cách và vị trí công nghiệp
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Ứng dụng độ dày Micro-Epsilon
Đo độ dày kết hợp cảm biến dịch chuyển; các nguyên tắc đo lường khác nhau nên được chọn riêng
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Phạm vi sử dụng nguồn:Thông tin công khai được sử dụng để hỗ trợ nguyên tắc đo lường hoặc sự tồn tại của các ứng dụng tương tự và không chứng minh rằng kịch bản này đã được Jishi Technology phát triển, triển khai hoặc chấp nhận.
Tư vấn dự án
xuzhiyang0928@gmail.com
Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng
Lấy mẫu độ dày song phương của tấm composite
Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.
Điện thoại: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com