Ứng dụng điều chỉnh vị trí chùm tia Duma và điều chỉnh quang học
Các danh mục ứng dụng cho vị trí chùm tia, thiết lập quang học và hình dạng điểm
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →LSP066 · Lắp ráp mô-đun hiển thị và hình ảnh · Mô-đun hiển thị và cảm ứng
Có thể tái sử dụng một phần
Hiệu chỉnh hai chiều của tọa độ chiếu và tọa độ camera
Đối với mô-đun chiếu vi mô, việc hiệu chỉnh tọa độ lệnh/mục tiêu hai chiều được sử dụng làm tuyến quan sát và toàn bộ phần dư tọa độ của trường xem được lên kế hoạch làm đầu ra. Trang này dùng để đánh giá dự án và không có nghĩa là quá trình phát triển đã được hoàn thành hoặc đã được chấp nhận tại chỗ.
Tóm tắt phán quyết dự án
Sản phẩm/Thiết bịMô-đun chiếu vi mô
Đo lộ trìnhCAL · Hiệu chuẩn tọa độ lệnh/mục tiêu hai chiều
Chấm điểm năng lựcCó thể tái sử dụng một phần
Trạng thái xác minhViệc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện
Tính chất cảnh:Các kịch bản ứng dụng tiềm năng tương tự cho các điểm laze. Kịch bản ứng dụng tiềm năng vẫn chưa được phát triển thành hệ thống sản phẩm hoàn chỉnh; việc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện. Số lượng chấp nhận sản phẩm/miền sản phẩm thực tế trong thống kê danh mục là 0.
Nhiệm vụ kinh doanh và sản lượng dự kiến
- đối tượng mục tiêu
- Mô-đun chiếu vi mô: hiệu chỉnh tọa độ lệnh/mục tiêu hai chiều
- đầu ra giả
- Toàn bộ trường nhìn tọa độ dư
- Điều kiện áp dụng
- Biến dạng hình ảnh có thể là mô hình siêu bậc hai
- sự ưu tiên
- Phần mở rộng chung. Việc xác minh cần phải được hoàn thành theo các điều kiện quang học, hiệu chuẩn và mẫu được liệt kê.
Đầu vào hình ảnh và định tuyến thuật toán
Điều kiện hình ảnh và thiết bị
Che các điểm tương ứng đã hiệu chỉnh và các điểm đặt độc lập của trường nhìn hai chiều, đồng thời cố định đường quang và mặt phẳng làm việc. Laser chuẩn trực, mục tiêu hình ảnh/chiếu và đồ đạc
CAL · Hiệu chuẩn tọa độ lệnh/mục tiêu hai chiều
Hiệu chuẩn các điểm tương ứng và các điểm đặt độc lập bao gồm trường nhìn hai chiều, đường quang cố định và mặt phẳng làm việc
- A101Điểm laser ngưỡng thích ứng trung tâm thang độ xám
- A107Chẩn đoán chất lượng điểm laser và khả năng sử dụng
- A109Hiệu chỉnh đa thức tọa độ pixel hai chiều thành vật lý
- A110Ánh xạ hiệu chuẩn điểm laser và truyền hiệp phương sai
- A112Độ lặp lại hai chiều của điểm laser và hình elip bao phủ
Bằng chứng thuật toán hiện có:A101–A112 chỉ hoàn thiện điểm tổng hợp phân tích và xác minh hình học có kiểm soát; xem laser_spot_benchmark.json
Năng lực hiện tại và khả năng cần bổ sung
Có thể tái sử dụng một phần
Yêu cầu hiệu chuẩn, đồng bộ hóa hoặc tích hợp
Mô-đun thống kê thời gian hoặc giao diện người dùng phát hiện điểm sáng có thể được sử dụng lại, nhưng dự án vẫn cần bổ sung hiệu chuẩn hình học, đồng bộ hóa thời gian, bù chuyển động hoặc tích hợp hệ thống thiết bị.
Những khoảng trống trong cảnh này:Yêu cầu thu thập hiệu chuẩn, xác định tọa độ và xác minh; ánh xạ thực nghiệm hai chiều không đại diện cho bất kỳ hiệu chuẩn ba chiều hoặc robot nào. Biến dạng hình ảnh có thể vượt quá mô hình bậc hai. Điểm laser được sử dụng để thử nghiệm không thể hiện chất lượng hình ảnh đầy đủ
Khoảng trống ở cấp độ tuyến đường:Yêu cầu thu thập hiệu chuẩn, xác định tọa độ và xác minh; ánh xạ thực nghiệm hai chiều không đại diện cho bất kỳ hiệu chuẩn ba chiều hoặc robot nào
"Có thể tái sử dụng một phần" chỉ mô tả khối lượng phát triển tương đối và không cấu thành cam kết về độ chính xác, nhịp độ, độ ổn định hoặc thời gian phân phối.
Phương pháp xác minh và điều kiện tiên quyết chấp nhận
Tách biệt các điểm hiệu chuẩn và điểm đặt để kiểm tra cạnh, qua lại, nhiệt độ và các lỗi kẹp lặp lại. Mặt phẳng hình ảnh tiêu chuẩn, bảng góc và biểu đồ kiểm tra hình ảnh được chấp nhận riêng
| Mặt hàng chấp nhận | Bằng chứng cần thiết để xác nhận dự án | Tình trạng hiện tại |
|---|---|---|
| Đầu vào và mẫu | Khung gốc của thiết bị thực, mẫu bình thường/bất thường, điều kiện phơi sáng và đường dẫn ánh sáng, nhóm mẫu và đặt sang một bên | Chưa được cung cấp, đang chờ đầu vào của dự án |
| Độ lớn và lỗi | Giá trị tham chiếu độc lập, bản ghi hiệu chuẩn, cỡ nòng thống kê lỗi và ngưỡng xác nhận lẫn nhau | Chưa được xác minh |
| Ngoại lệ và ranh giới | Dự kiến xử lý các phát hiện bị bỏ sót, phát hiện sai, phơi sáng quá mức, tắc nghẽn, phản chiếu, ngoài tầm nhìn và các bất thường trong giao tiếp | Để được xác định |
| Tích hợp hệ thống | Giao diện, đồng bộ hóa thời gian, nền tảng triển khai, nhịp độ, nhật ký, phiên bản và bản ghi chạy liên tục | Không tích hợp |
Nguồn bằng chứng và ranh giới trích dẫn
Nguồn hỗ trợ các nguyên tắc đo lường hoặc các ứng dụng tương tự; sự kết hợp mô-đun, thiết bị và phương pháp chấp nhận trong trường hợp này là nguồn gốc kỹ thuật và việc xác minh sản phẩm chưa được hoàn thành.
Nguyên lý ánh sáng Holo/Hoặc có cấu trúc
Nguyên tắc sử dụng các mẫu hình chiếu đã biết và các biến dạng hình học để đo
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Điều kiện chuẩn trực Edmund
Mối quan hệ giữa kích thước nguồn, tiêu cự và góc phân kỳ
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Phạm vi sử dụng nguồn:Thông tin công khai được sử dụng để hỗ trợ nguyên tắc đo lường hoặc sự tồn tại của các ứng dụng tương tự và không chứng minh rằng kịch bản này đã được Jishi Technology phát triển, triển khai hoặc chấp nhận.
Tư vấn dự án
xuzhiyang0928@gmail.com
Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng
Hiệu chỉnh hai chiều của tọa độ chiếu và tọa độ camera
Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.
Điện thoại: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com