Ứng dụng điều chỉnh vị trí chùm tia Duma và điều chỉnh quang học
Các danh mục ứng dụng cho vị trí chùm tia, thiết lập quang học và hình dạng điểm
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →LSP065 · Lắp ráp mô-đun hiển thị và hình ảnh · Mô-đun hiển thị và cảm ứng
Mô-đun tái sử dụng
Kiểm tra độ lệch mặt phẳng ảnh của điểm tham chiếu laser
Đối diện với ống kính chiếu, lấy vị trí điểm sáng trên bề mặt mục tiêu làm đường quan sát, độ lệch tâm mặt phẳng hình ảnh và thuộc tính trả về được dự định là đầu ra. Trang này dùng để đánh giá dự án và không có nghĩa là quá trình phát triển đã được hoàn thành hoặc đã được chấp nhận tại chỗ.
Tóm tắt phán quyết dự án
Sản phẩm/Thiết bịống kính chiếu
Đo lộ trìnhXY · Vị trí điểm sáng trên bề mặt mục tiêu
Chấm điểm năng lựcMô-đun tái sử dụng
Trạng thái xác minhViệc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện
Tính chất cảnh:Các kịch bản ứng dụng tiềm năng tương tự cho các điểm laze. Kịch bản ứng dụng tiềm năng vẫn chưa được phát triển thành hệ thống sản phẩm hoàn chỉnh; việc chấp nhận miền máy/sản phẩm thực tế của kịch bản này chưa được thực hiện. Số lượng chấp nhận sản phẩm/miền sản phẩm thực tế trong thống kê danh mục là 0.
Nhiệm vụ kinh doanh và sản lượng dự kiến
- đối tượng mục tiêu
- Thấu kính chiếu: vị trí của điểm sáng trên bề mặt mục tiêu
- đầu ra giả
- Sự khác biệt và khả năng quay trở lại của mặt phẳng hình ảnh
- Điều kiện áp dụng
- Cần ổn định mối quan hệ vật thể - hình ảnh
- sự ưu tiên
- Phần mở rộng chung. Việc xác minh cần phải được hoàn thành theo các điều kiện quang học, hiệu chuẩn và mẫu được liệt kê.
Đầu vào hình ảnh và định tuyến thuật toán
Điều kiện hình ảnh và thiết bị
Cố định máy ảnh và bề mặt mục tiêu, ghi lại độ phơi sáng và mức tăng, đồng thời che đi điểm sáng và nền trong trường nhìn. Laser chuẩn trực, mục tiêu hình ảnh/chiếu và đồ đạc
XY · Vị trí điểm sáng trên bề mặt mục tiêu
Cố định máy ảnh và bề mặt mục tiêu, ghi lại độ phơi sáng và mức tăng, đồng thời che điểm sáng và nền trong trường nhìn
- A101Điểm laser ngưỡng thích ứng trung tâm thang độ xám
- A107Chẩn đoán chất lượng điểm laser và khả năng sử dụng
- A112Độ lặp lại hai chiều của điểm laser và hình elip bao phủ
Bằng chứng thuật toán hiện có:A101–A112 chỉ hoàn thiện điểm tổng hợp phân tích và xác minh hình học có kiểm soát; xem laser_spot_benchmark.json
Năng lực hiện tại và khả năng cần bổ sung
Mô-đun tái sử dụng
Các mô-đun hiện có có thể được sử dụng làm máy chủ
Các mô-đun thống kê, chẩn đoán chất lượng hoặc định vị điểm sáng hiện có có thể được sử dụng làm cơ sở tính toán chính; ROI, việc hiệu chuẩn, xác minh ngưỡng và giao diện vẫn cần được thiết bị hoàn thành.
Những khoảng trống trong cảnh này:Cần phải có ROI, hiệu chỉnh thước/mặt phẳng và xác định điểm tham chiếu; chỉ có thể quan sát trực tiếp vị trí hai chiều của bề mặt mục tiêu. Mối quan hệ đối tượng-hình ảnh cần phải được ổn định. Điểm laser được sử dụng để thử nghiệm không thể hiện chất lượng hình ảnh đầy đủ
Khoảng trống ở cấp độ tuyến đường:Yêu cầu ROI, hiệu chuẩn thước/mặt phẳng và định nghĩa điểm tham chiếu; chỉ có thể quan sát trực tiếp vị trí hai chiều của bề mặt mục tiêu
"Các mô-đun có thể tái sử dụng" chỉ mô tả khối lượng phát triển tương đối và không cấu thành cam kết về độ chính xác, nhịp độ, độ ổn định hoặc thời gian phân phối.
Phương pháp xác minh và điều kiện tiên quyết chấp nhận
Được kiểm tra độc lập với bệ dịch chuyển hai chiều và các điểm tham chiếu cố định, lỗi trung tâm báo cáo P95, phát hiện sai và phát hiện sai. Mặt phẳng hình ảnh tiêu chuẩn, bảng góc và biểu đồ kiểm tra hình ảnh được chấp nhận riêng
| Mặt hàng chấp nhận | Bằng chứng cần thiết để xác nhận dự án | Tình trạng hiện tại |
|---|---|---|
| Đầu vào và mẫu | Khung gốc của thiết bị thực, mẫu bình thường/bất thường, điều kiện phơi sáng và đường dẫn ánh sáng, nhóm mẫu và đặt sang một bên | Chưa được cung cấp, đang chờ đầu vào của dự án |
| Độ lớn và lỗi | Giá trị tham chiếu độc lập, bản ghi hiệu chuẩn, cỡ nòng thống kê lỗi và ngưỡng xác nhận lẫn nhau | Chưa được xác minh |
| Ngoại lệ và ranh giới | Dự kiến xử lý các phát hiện bị bỏ sót, phát hiện sai, phơi sáng quá mức, tắc nghẽn, phản chiếu, ngoài tầm nhìn và các bất thường trong giao tiếp | Để được xác định |
| Tích hợp hệ thống | Giao diện, đồng bộ hóa thời gian, nền tảng triển khai, nhịp độ, nhật ký, phiên bản và bản ghi chạy liên tục | Không tích hợp |
Nguồn bằng chứng và ranh giới trích dẫn
Nguồn hỗ trợ các nguyên tắc đo lường hoặc các ứng dụng tương tự; sự kết hợp mô-đun, thiết bị và phương pháp chấp nhận trong trường hợp này là nguồn gốc kỹ thuật và việc xác minh sản phẩm chưa được hoàn thành.
Nguyên lý ánh sáng Holo/Hoặc có cấu trúc
Nguyên tắc sử dụng các mẫu hình chiếu đã biết và các biến dạng hình học để đo
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Điều kiện chuẩn trực Edmund
Mối quan hệ giữa kích thước nguồn, tiêu cự và góc phân kỳ
Ngày xác minh: 24-10-2026
Xem thông tin công khai ban đầu →Phạm vi sử dụng nguồn:Thông tin công khai được sử dụng để hỗ trợ nguyên tắc đo lường hoặc sự tồn tại của các ứng dụng tương tự và không chứng minh rằng kịch bản này đã được Jishi Technology phát triển, triển khai hoặc chấp nhận.
Tư vấn dự án
xuzhiyang0928@gmail.com
Gửi mẫu và điều kiện thiết bị để làm rõ phạm vi phát triển và giao hàng
Kiểm tra độ lệch mặt phẳng ảnh của điểm tham chiếu laser
Vui lòng mô tả đối tượng nhiệm vụ, hình ảnh hoặc video gốc, chỉ báo mục tiêu, nền tảng thiết bị, giao diện và tình huống mẫu.
Điện thoại: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com