Ticari spektroskopi, SWIR, UV ve polarizasyon bileşenlerine dayalı kalibrasyon, tarama senkronizasyonu, çok kanallı edinim, malzeme veya numune analizi ve cihaz yazılımı geliştirin.
Aşağıdaki projeler, üzerinde anlaşılan bir aralık dahilinde görsel alt sistemlere veya komple makine prototiplerine bölünebilir. Öncelikle mevcut temel bileşenleri, örnekleri ve hedef çıktıları doğrulayın ve ardından devrelerin, kontrollerin, yapıların, algoritmaların ve yazılımın geliştirme içeriğini belirleyin.
Özel yöntemler ve ekipman arayüzlerinin öncelikle teknik değerlendirmeyi tamamlaması gerekir.
Lütfen ekipman kullanımını, mevcut sistem ve arayüz bilgilerini, temsili ham verileri, beklenen çıktıyı, referans ölçümü veya manuel yorumlama sonuçlarını sağlayın. Mekanizmalar, proses sistemleri veya profesyonel optik makineler söz konusu olduğunda tedarikçi bilgileri ve ortak hata ayıklama koşulları da sağlanacaktır.
Araştırma ve geliştirme planı sırasıyla JIVISION'un sorumlu olduğu işi, müşteri veya tedarikçi tarafından sağlanan sistemi ve kaynak kodunun, tasarım dosyalarının ve prototiplerin teslimat kapsamını açıklar.
| Ar-Ge bağlantısı | Teslimat içeriği | Onay önemlidir |
|---|---|---|
| Gereksinimler ve sistem arayüzleri | Ekipman görevleri, girdiler ve çıktılar, arayüzler ve test gereksinimleri | Müşterinin mevcut sistemlerine ve tedarikçi bileşenlerine ilişkin sorumluluk kapsamı |
| Tasarım ve yazılım geliştirme | Kararlaştırılan devre, yapı, donanım yazılımı, algoritma veya uygulama | Gerçek tasarım kapsamı, kaynak dosya hakları ve üçüncü taraf lisansları |
| Prototip ve mühendislik ortak hata ayıklama | Üzerinde anlaşmaya varılan yapılandırılmış prototip, parametreler, yapım ve kurulum bilgileri | Prototip sayısı, kurumsal koşullar ve yerinde ortak hata ayıklama düzenlemeleri |
| Doğrulama ve teknik devir | Yapılandırma listesi, test kayıtları, sorun giderme ve kullanım talimatları | Referans yöntemleri, değerlendirme standartları ve müteakip bakım kapsamı |
Koyu beyaz referansları, bant veya polarizasyon kalibrasyonlarını, kanal kayıtlarını ve referans örneklerini doğrulayın. Sınıflandırma modeli çıktısı ve niceliksel fiziksel özellik sonuçları ayrı ayrı kabul edilir ve hazır ikaz ve optik sistemlerin çalışma koşullarının kayıt altına alınması gerekir.
Proje testinden önce numuneleri, hedef konfigürasyonları, referans değerlerini, çalışma koşullarını ve değerlendirme yöntemlerini belirleyin. Teslimat kayıtları normal sonuçları, başarısız numuneleri, versiyonları, bilinen sınırlamaları ve yeniden test durumlarını korur.
Projeler, kullanıma hazır ekipmanlar için satın alma, kontrol arayüzü, algoritma veya işletim yazılımı geliştirme ile sınırlı olabilir. Belirli modeller, açık protokoller veya SDK'lar, veri örnekleri ve yetkilendirme koşullarının sağlanması ve öncelikle erişilebilir işlevlerin kontrol edilmesi gerekir.
Araştırma ve geliştirmenin kapsamı proje belgesinde madde madde kararlaştırılır. Hassas hareket, profesyonel optikler, uyarma, radyasyon veya diğer çekirdek sistemler müşteriler ve profesyonel tedarikçiler tarafından sağlanabilir; prototip geliştirme ve seri üretim ayrı ayrı onaylanır.
Koyu beyaz referansları, bant veya polarizasyon kalibrasyonlarını, kanal kayıtlarını ve referans örneklerini doğrulayın. Sınıflandırma modeli çıktısı ve niceliksel fiziksel özellik sonuçları ayrı ayrı kabul edilir ve hazır ikaz ve optik sistemlerin çalışma koşullarının kayıt altına alınması gerekir.
Gereksinimler aşamasında teslim edilecek devreleri, yapıları, donanım yazılımlarını, algoritmaları, yazılımları ve yapı malzemelerini onaylayın ve üçüncü taraf lisanslarını kontrol edin. Teslimat hakları ve kapsamı her iki tarafça onaylanan proje belgelerine tabi olacaktır.
Spektroskopi, UV ve polarizasyon cihazlarının geliştirilmesinin desteklenmesi
Lütfen ekipmanın amacını, mevcut sistemleri, kameraları ve arayüzleri, hedef çıktıyı, referans numunelerini, prototip miktarını ve tasarım verilerinin teslim gereksinimlerini açıklayın.
Telefon: 13910119357