Radyal Simetri Merkezi Orijinal Kağıdı
Yaklaşık radyal olarak simetrik hedeflerin alt piksel merkezi konumlandırması
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →LSP244 · Mikroskop ve optik cımbız araştırma aletleri · Mikroskobik görüntüleme ve parçacık araştırması
Yeni çekirdek eklenmesi gerekiyorAlgoritma geçişi · Lazer olmayan ürün uygulamaları
Mikrokürelerin 2 boyutlu konum zamanlamasının ön ucunun yakalanması
Optik cımbız deney cihazı karşısında, gözlem rotası olarak nokta benzeri parçacık görüntüleme geçişini kullanarak, mikroküre yörüngelerinin ve eksik çerçevelerin çıktısının alınması planlanmaktadır. Sayfa proje değerlendirmesi amaçlıdır ve geliştirmenin tamamlandığı veya sahada kabul edildiği anlamına gelmez.
Proje Karar Özeti
Ürün/CihazOptik cımbız deney cihazı
Rotayı ölçPARTICLE · Nokta benzeri parçacık görüntüleme geçişi
Yetenek DerecelendirmesiYeni çekirdek eklenmesi gerekiyor
Doğrulama durumuBu senaryonun gerçek makine/ürün alanı kabulü gerçekleştirilmedi
Taşıma talimatları:Parçacık/parlak nokta görüntülerinin konumlandırma algoritması geçişi, kanıtlanmış bir lazer ürünü uygulaması olarak ifade edilmemelidir. Potansiyel uygulama senaryosu henüz eksiksiz bir ürün sistemine dönüştürülmemiştir; Bu senaryonun gerçek makine/ürün alanı kabulü gerçekleştirilmemiştir. Katalog istatistiklerinde gerçek ürün/ürün alanı kabul miktarı 0'dır.
İş görevleri ve amaçlanan çıktı
- hedef kitle
- Optik cımbız deney cihazı: nokta benzeri parçacık görüntüleme geçişi
- sözde çıktı
- Mikroküre yörüngeleri ve eksik çerçeveler
- Geçerli koşullar
- Tuzak sertliği, pozlama telafisi ve dinamik kalibrasyon gerektirir.
- öncelik
- Özel geliştirme. Ölçüm/kontrol çekirdeğinin özel proje onayına göre desteklenmesi ve doğrulanması gerekiyor
Görüntüleme girişi ve algoritma yönlendirme
Görüntüleme ve cihaz koşulları
Parçacık görüntüleri lazer aydınlatma altında ayrıştırılabilmekte ve mikroskobik cetvel, pozlama ve örnekleme kalibrasyonu yapılabilmektedir. Mikroskoplar, röle örneklemesi ve dalga boyuna uyarlanmış kameralar
PARTICLE · Nokta benzeri parçacık görüntüleme geçişi
Parçacık görüntüleri lazer aydınlatma, mikroskobik cetvel, pozlama ve örnekleme kalibrasyonu altında ayrılabilir
- A22Kalman filtresi
- A25Welch güç spektrumu tahmini
- A102Çok lazerli noktaya bağlı etki alanı adayı çıkarma
- A104Degrade radyal simetri ışık noktası merkezi
- A108Çoklu lazer nokta referans bitlerinin bire bir eşleştirilmesi
Mevcut algoritmik kanıtlar:A101–A112 yalnızca tam analitik sentez noktası ve kontrollü geometri doğrulaması; laser_spot_benchmark.json'a bakın
Mevcut yetenekler ve desteklenmesi gereken yetenekler
Yeni çekirdek eklenmesi gerekiyor
Çekirdek bilişimin eklenmesi gerekiyor
Işık noktası çıkarma yalnızca bir gözlem ön ucu olarak kullanılabilir ve üç boyutlu yeniden yapılandırma, kapalı döngü kontrolü, dalga cephesi veya fiziksel miktar ters çevirme gibi temel yeteneklerin ayrıca geliştirilmesi ve doğrulanması gerekir.
Bu sahnedeki boşluklar:Parçacık korelasyonu/dinamiği/bulanıklık telafisinin eklenmesi gerekiyor; parçacık görüntüsü konumlandırma algoritması tarafından taşınır ve orijinal lazer ışınının merkezi olarak kullanılamaz. Tuzak sertliği, pozlama telafisi ve dinamik kalibrasyon gerektirir. Parçacık görüntüsünün konumlandırılması bir algoritma geçişidir ve görüntü modelinin yeniden doğrulanması gerekir.
Rota düzeyindeki boşluklar:Parçacık korelasyonu/dinamiği/bulanıklık telafisinin eklenmesi gerekiyor; parçacık görüntüsü konumlandırma algoritması tarafından taşınır ve orijinal lazer ışınının merkezi olarak kullanılamaz
"Yeni çekirdekler gerekli" yalnızca göreceli geliştirme hacmini tanımlar ve doğruluk, tempo, istikrar veya teslimat süresi konusunda bir taahhüt teşkil etmez.
Doğrulama yöntemleri ve kabul ön koşulları
Mikroküreler bir yer değiştirme aşaması tarafından tahrik edilir ve bağımsız yörünge işaretlemesiyle test edilir ve fiziksel özelliğin tersine çevrilmesi için referans sıvı/kuvvet kalibrasyonu kullanılır. Mikroküre tablası, mikroskobik cetvel ve bağımsız konumlandırma referansı
| Kabul öğeleri | Proje onayı için gerekli kanıtlar | Mevcut durum |
|---|---|---|
| Girdiler ve örnekler | Gerçek cihaz orijinal çerçeveleri, normal/anormal örnekler, pozlama ve ışık yolu koşulları, örnek gruplama ve ayırma | Sağlanmadı, proje girişi bekleniyor |
| Büyüklük ve Hata | Bağımsız referans değeri, kalibrasyon kaydı, hata istatistiksel kalibresi ve karşılıklı onay eşiği | Doğrulanmadı |
| İstisnalar ve sınırlar | Kaçırılan tespitler, yanlış tespitler, aşırı maruz kalma, tıkanma, yansıma, görüş dışı kalma ve iletişim anormalliklerinin öngörülen şekilde ele alınması | Tanımlanacak |
| Sistem entegrasyonu | Arayüz, zaman senkronizasyonu, dağıtım platformu, tempo, günlük, sürüm ve sürekli çalışan kayıt | Entegre değil |
Kanıt kaynakları ve alıntı sınırları
Kaynak, ölçüm ilkelerini veya benzer uygulamaları destekliyorsa; Bu senaryodaki modül kombinasyonu, cihaz ve kabul yöntemi mühendislikten türetilmiştir ve ürün doğrulaması tamamlanmamıştır.
Optik cımbızlı kameranın konum kalibrasyonu üzerine araştırma
Sınırlı parçacık konumu tespiti ve maruz kalma ve örneklemenin kalibrasyon üzerindeki etkisi
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →Ophir küçük ışın ölçümü
Küçük ışın yakın alan, uzak alan ve mod alanı ölçümlerinde optik koşullar
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →Kaynak kullanım kapsamı:Kamuya açık bilgiler, ölçüm ilkesini veya benzer uygulamaların varlığını desteklemek için kullanılır ve bu senaryonun Jishi Technology tarafından geliştirildiğini, uygulandığını veya kabul edildiğini kanıtlamaz.
Proje danışmanlığı
xuzhiyang0928@gmail.com
Geliştirme ve teslimat kapsamını netleştirmek için numuneleri ve ekipman koşullarını gönderin
Mikrokürelerin 2 boyutlu konum zamanlamasının ön ucunun yakalanması
Lütfen görev nesnesini, orijinal resim veya videoyu, hedef göstergelerini, cihaz platformunu, arayüzü ve örnek durumu açıklayın.
Telefon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com