Radyal Simetri Merkezi Orijinal Kağıdı
Yaklaşık radyal olarak simetrik hedeflerin alt piksel merkezi konumlandırması
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →LSP243 · Mikroskop ve optik cımbız araştırma aletleri · Mikroskobik görüntüleme ve parçacık araştırması
Kısmen yeniden kullanılabilir
Mikroskobik görüş alanının ve lazer noktasının iki boyutlu kaydı
Mikrolazer işleme platformunun karşısında, iki boyutlu komut/hedef yüzey koordinat kalibrasyonu gözlem rotası olarak kullanılmış ve mikroskobik XY koordinatının kalan hatasının çıktı olarak alınması planlanmıştır. Sayfa proje değerlendirmesi amaçlıdır ve geliştirmenin tamamlandığı veya sahada kabul edildiği anlamına gelmez.
Proje Karar Özeti
Ürün/CihazMikrolazer işleme masası
Rotayı ölçCAL · İki boyutlu komut/hedef koordinat kalibrasyonu
Yetenek DerecelendirmesiKısmen yeniden kullanılabilir
Doğrulama durumuBu senaryonun gerçek makine/ürün alanı kabulü gerçekleştirilmedi
Sahne doğası:Lazer noktaları için benzer potansiyel uygulama senaryoları. Potansiyel uygulama senaryosu henüz eksiksiz bir ürün sistemine dönüştürülmemiştir; Bu senaryonun gerçek makine/ürün alanı kabulü gerçekleştirilmemiştir. Katalog istatistiklerinde gerçek ürün/ürün alanı kabul miktarı 0'dır.
İş görevleri ve amaçlanan çıktı
- hedef kitle
- Mikrolazer işleme masası: iki boyutlu komut/hedef yüzey koordinat kalibrasyonu
- sözde çıktı
- Mikroskobik XY koordinat artıkları
- Geçerli koşullar
- Objektif lens büyütme ve kapak camının sabitlenmesi gerekiyor
- öncelik
- Genel uzantı. Doğrulamanın listelenen optik koşullara, kalibrasyona ve örneklere göre tamamlanması gerekir.
Görüntüleme girişi ve algoritma yönlendirme
Görüntüleme ve cihaz koşulları
İki boyutlu görüş alanının kalibre edilmiş karşılık gelen noktalarını ve bağımsız yerleştirme noktalarını örtün ve optik yolu ve çalışma düzlemini sabitleyin. Mikroskoplar, röle örneklemesi ve dalga boyuna uyarlanmış kameralar
CAL · İki boyutlu komut/hedef koordinat kalibrasyonu
İki boyutlu görüş alanını, sabit optik yolu ve çalışma düzlemini kapsayan kalibrasyona karşılık gelen noktalar ve bağımsız yerleştirme noktaları
- A101Uyarlanabilir eşik lazer noktası gri tonlamalı merkez
- A107Lazer nokta kalitesi ve kullanılabilirlik teşhisi
- A109İki boyutlu pikselden fiziksel koordinat polinomuna kalibrasyon
- A110Lazer noktası kalibrasyon haritalaması ve kovaryans yayılımı
- A112Lazer noktası iki boyutlu tekrarlanabilirlik ve kapsama elipsi
Mevcut algoritmik kanıtlar:A101–A112 yalnızca tam analitik sentez noktası ve kontrollü geometri doğrulaması; laser_spot_benchmark.json'a bakın
Mevcut yetenekler ve desteklenmesi gereken yetenekler
Kısmen yeniden kullanılabilir
Kalibrasyon, senkronizasyon veya entegrasyon gerektirir
Işık noktası algılama ön ucu veya zamanlama istatistik modülü yeniden kullanılabilir ancak projenin yine de geometrik kalibrasyon, zaman senkronizasyonu, hareket telafisi veya ekipman sistemi entegrasyonu eklemesi gerekiyor.
Bu sahnedeki boşluklar:Kalibrasyon edinimi, koordinat tanımı ve doğrulama gereklidir; iki boyutlu deneysel haritalama, herhangi bir üç boyutlu veya robot kalibrasyonunu temsil etmez. Objektif lens büyütmesi ve kapak camının sabitlenmesi gerekir. Parçacık görüntüsünün konumlandırılması bir algoritma geçişidir ve görüntü modelinin yeniden doğrulanması gerekir.
Rota düzeyindeki boşluklar:Kalibrasyon edinimi, koordinat tanımı ve doğrulama gereklidir; iki boyutlu ampirik haritalama herhangi bir üç boyutlu veya robot kalibrasyonunu temsil etmez
"Kısmen yeniden kullanılabilir" yalnızca ilgili geliştirme hacmini tanımlar ve doğruluk, tempo, istikrar veya teslimat süresine ilişkin bir taahhüt teşkil etmez.
Doğrulama yöntemleri ve kabul ön koşulları
Kenar, ileri-geri, sıcaklık ve tekrarlanan kenetleme hatalarını kontrol etmek için ayrı kalibrasyon noktaları ve yerleştirme noktaları. Mikroküre tablası, mikroskobik cetvel ve bağımsız konumlandırma referansı
| Kabul öğeleri | Proje onayı için gerekli kanıtlar | Mevcut durum |
|---|---|---|
| Girdiler ve örnekler | Gerçek cihaz orijinal çerçeveleri, normal/anormal örnekler, pozlama ve ışık yolu koşulları, örnek gruplama ve ayırma | Sağlanmadı, proje girişi bekleniyor |
| Büyüklük ve Hata | Bağımsız referans değeri, kalibrasyon kaydı, hata istatistiksel kalibresi ve karşılıklı onay eşiği | Doğrulanmadı |
| İstisnalar ve sınırlar | Kaçırılan tespitler, yanlış tespitler, aşırı maruz kalma, tıkanma, yansıma, görüş dışı kalma ve iletişim anormalliklerinin öngörülen şekilde ele alınması | Tanımlanacak |
| Sistem entegrasyonu | Arayüz, zaman senkronizasyonu, dağıtım platformu, tempo, günlük, sürüm ve sürekli çalışan kayıt | Entegre değil |
Kanıt kaynakları ve alıntı sınırları
Kaynak, ölçüm ilkelerini veya benzer uygulamaları destekliyorsa; Bu senaryodaki modül kombinasyonu, cihaz ve kabul yöntemi mühendislikten türetilmiştir ve ürün doğrulaması tamamlanmamıştır.
Optik cımbızlı kameranın konum kalibrasyonu üzerine araştırma
Sınırlı parçacık konumu tespiti ve maruz kalma ve örneklemenin kalibrasyon üzerindeki etkisi
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →Ophir küçük ışın ölçümü
Küçük ışın yakın alan, uzak alan ve mod alanı ölçümlerinde optik koşullar
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →Kaynak kullanım kapsamı:Kamuya açık bilgiler, ölçüm ilkesini veya benzer uygulamaların varlığını desteklemek için kullanılır ve bu senaryonun Jishi Technology tarafından geliştirildiğini, uygulandığını veya kabul edildiğini kanıtlamaz.
Proje danışmanlığı
xuzhiyang0928@gmail.com
Geliştirme ve teslimat kapsamını netleştirmek için numuneleri ve ekipman koşullarını gönderin
Mikroskobik görüş alanının ve lazer noktasının iki boyutlu kaydı
Lütfen görev nesnesini, orijinal resim veya videoyu, hedef göstergelerini, cihaz platformunu, arayüzü ve örnek durumu açıklayın.
Telefon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com