Mikro-Epsilon Lazer Üçgenleme Prensibi
Kalibrasyondan sonra görüntüleme, alma ve mesafe ölçümü
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →LSP135 · Gıda paketleme ve farmasötik ekipmanlar · Paketleme, baskı, etiketleme ve lojistik
Kısmen yeniden kullanılabilir
Kompozit levhaların iki taraflı kalınlık örneklemesi
Alüminyum-plastik ambalaj levhasının karşısındaki çift taraflı/referans yüzey diferansiyel ölçümü gözlem rotası olarak kullanılmış ve lokal diferansiyel kalınlığın çıktısı alınması planlanmıştır. Sayfa proje değerlendirmesi amaçlıdır ve geliştirmenin tamamlandığı veya sahada kabul edildiği anlamına gelmez.
Proje Karar Özeti
Ürün/CihazAlüminyum plastik ambalaj sayfası
Rotayı ölçKALIN · İki taraflı/referans yüzey diferansiyel ölçümü
Yetenek DerecelendirmesiKısmen yeniden kullanılabilir
Doğrulama durumuBu senaryonun gerçek makine/ürün alanı kabulü gerçekleştirilmedi
Sahne doğası:Lazer noktaları için benzer potansiyel uygulama senaryoları. Potansiyel uygulama senaryosu henüz eksiksiz bir ürün sistemine dönüştürülmemiştir; Bu senaryonun gerçek makine/ürün alanı kabulü gerçekleştirilmemiştir. Katalog istatistiklerinde gerçek ürün/ürün alanı kabul miktarı 0'dır.
İş görevleri ve amaçlanan çıktı
- hedef kitle
- Alüminyum-plastik ambalaj sayfası: her iki tarafta/referans yüzeyinde diferansiyel ölçüm
- sözde çıktı
- yerel diferansiyel kalınlık
- Geçerli koşullar
- Yüzey kabartması ve malzeme sıcaklığı etkileri değerlendirilmelidir
- öncelik
- Genel uzantı. Doğrulamanın listelenen optik koşullara, kalibrasyona ve örneklere göre tamamlanması gerekir.
Görüntüleme girişi ve algoritma yönlendirme
Görüntüleme ve cihaz koşulları
Senkronize iki taraflı nokta yer değiştirme kafaları veya bilinen bir kararlı referans düzlemine sahip tek kafa. Kapalı çalışma istasyonu, sabit referans ve temizlenebilir optik pencere
KALIN · İki taraflı/referans yüzey diferansiyel ölçümü
Senkronize iki taraflı nokta yer değiştirme kafaları veya bilinen sabit bir referans yüzeyine sahip tek kafa
- A97Ağırlıklı en küçük kareler doğrusal kalibrasyonu
- A100Birinci dereceden hassasiyet belirsizlik yayılımı
- A101Uyarlanabilir eşik lazer noktası gri tonlamalı merkez
- A103Logaritmik ikinci dereceden yüzey alt piksel nokta merkezi
- A107Lazer nokta kalitesi ve kullanılabilirlik teşhisi
Mevcut algoritmik kanıtlar:A101–A112 yalnızca tam analitik sentez noktası ve kontrollü geometri doğrulaması; laser_spot_benchmark.json'a bakın
Mevcut yetenekler ve desteklenmesi gereken yetenekler
Kısmen yeniden kullanılabilir
Kalibrasyon, senkronizasyon veya entegrasyon gerektirir
Işık noktası algılama ön ucu veya zamanlama istatistik modülü yeniden kullanılabilir ancak projenin yine de geometrik kalibrasyon, zaman senkronizasyonu, hareket telafisi veya ekipman sistemi entegrasyonu eklemesi gerekiyor.
Bu sahnedeki boşluklar:Her iki tarafta nokta lazer mesafe kalibrasyonu, eşdoğrusallık/senkronizasyon ve referans aralığı modelleri gereklidir; Tek bir noktanın yüksekliği kalınlığa doğrudan eşit değildir. Yüzey kabartması ve malzeme sıcaklığı etkileri değerlendirilmelidir. Ölçüm nesnesi şekil/cihaz yer değiştirmesidir; bileşim, sterillik veya hava geçirmezlik hakkında hiçbir çıkarım yapılmaz
Rota düzeyindeki boşluklar:Her iki tarafta nokta lazer mesafe kalibrasyonu, eşdoğrusallık/senkronizasyon ve referans aralığı modelleri gereklidir; Tek bir noktanın yüksekliği kalınlığa doğrudan eşit değildir
"Kısmen yeniden kullanılabilir" yalnızca ilgili geliştirme hacmini tanımlar ve doğruluk, tempo, istikrar veya teslimat süresine ilişkin bir taahhüt teşkil etmez.
Doğrulama yöntemleri ve kabul ön koşulları
Karşılaştırmak için standart kalın dilimler ve çarpık numuneler kullanın ve diferansiyel hatayı kontrol etmek için eğim açısını ve hareket fazını değiştirin. Standart kapların/kalın levhaların, kontak göstergelerinin ve bağımsız kusurlu numunelerin karşılaştırılması
| Kabul öğeleri | Proje onayı için gerekli kanıtlar | Mevcut durum |
|---|---|---|
| Girdiler ve örnekler | Gerçek cihaz orijinal çerçeveleri, normal/anormal örnekler, pozlama ve ışık yolu koşulları, örnek gruplama ve ayırma | Sağlanmadı, proje girişi bekleniyor |
| Büyüklük ve Hata | Bağımsız referans değeri, kalibrasyon kaydı, hata istatistiksel kalibresi ve karşılıklı onay eşiği | Doğrulanmadı |
| İstisnalar ve sınırlar | Kaçırılan tespitler, yanlış tespitler, aşırı maruz kalma, tıkanma, yansıma, görüş dışı kalma ve iletişim anormalliklerinin öngörülen şekilde ele alınması | Tanımlanacak |
| Sistem entegrasyonu | Arayüz, zaman senkronizasyonu, dağıtım platformu, tempo, günlük, sürüm ve sürekli çalışan kayıt | Entegre değil |
Kanıt kaynakları ve alıntı sınırları
Kaynak, ölçüm ilkelerini veya benzer uygulamaları destekliyorsa; Bu senaryodaki modül kombinasyonu, cihaz ve kabul yöntemi mühendislikten türetilmiştir ve ürün doğrulaması tamamlanmamıştır.
Mikro-Epsilon yer değiştirme uygulamaları
Endüstriyel yükseklik, mesafe ve konum ölçüm kategorileri
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →Mikro-Epsilon Kalınlık Uygulaması
Yer değiştirme sensörü kombinasyonu kalınlık ölçümü; farklı ölçüm prensipleri ayrı ayrı seçilmelidir
Doğrulama tarihi: 2026-10-24
Orijinal genel bilgileri görüntüleyin →Kaynak kullanım kapsamı:Kamuya açık bilgiler, ölçüm ilkesini veya benzer uygulamaların varlığını desteklemek için kullanılır ve bu senaryonun Jishi Technology tarafından geliştirildiğini, uygulandığını veya kabul edildiğini kanıtlamaz.
Proje danışmanlığı
xuzhiyang0928@gmail.com
Geliştirme ve teslimat kapsamını netleştirmek için numuneleri ve ekipman koşullarını gönderin
Kompozit levhaların iki taraflı kalınlık örneklemesi
Lütfen görev nesnesini, orijinal resim veya videoyu, hedef göstergelerini, cihaz platformunu, arayüzü ve örnek durumu açıklayın.
Telefon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com