Lazer noktası yer değiştirmesi ve çift taraflı kalınlık ölçüm algoritmasının geliştirilmesi
Lazer nokta yer değiştirmesi ve iki taraflı kalınlık ölçüm algoritmaları, belirtilen yönlerde yükseklik, strok, salgı ve sac kalınlığını ölçmek için geliştirilmiştir. Tanımlanmış fiziksel büyüklüklerin çıktısını almak için ışık noktası/kontur gözlemini mesafe kalibrasyonu, referans taban çizgisi ve senkronizasyon bilgileriyle birleştirir; piksel merkezini, yan yüksekliğini veya tek kare koordinatlarını doğrudan kalınlığa göre yeniden adlandırmaz.
Proje Karar Özeti
Süreç görevleri ve girdi
Nokta değişikliklerinin öncelikle gerçek uzaklıkla ilişkisinin kanıtlanması gerekir. Kalınlık ölçümü ayrıca her iki tarafta ve karşılık gelen noktalarda ortak veriler gerektirir. Malzeme salınımı, eğim ve çerçeve sıcaklığı kaymasının tümü sonuçları etkileyecektir.
Giriş gereksinimleri: her iki taraftaki nokta görüntüsü veya kalibrasyon noktaları/konturları, mesafe/yer değiştirme gerçek değerleri, gönderme ve alma geometrisi veya uygulanabilir mesafe kalibrasyonu, genel referans, zaman/konum uyumu, malzeme ve sıcaklık koşulları.
| İşlev | içerik işleme | mevcut taban |
|---|---|---|
| Nokta mesafe ilişkisi geliştirme | Optik yola dayalı olarak nokta-ışın kesişimini veya tek boyutlu doğrusal olmayan kalibrasyonu seçin ve aralığı, yüzey eğimini, benek ve kenar karışma noktalarını doğrulayın. | Geliştirilecek nokta aralık modeli |
| İkili kalınlık modeli | Her iki taraftaki koordinatları ve referans aralığını birleştirin, aynı konum/zamandaki etkili yüzeye göre kalınlığı hesaplayın ve eğim ve termal sürüklenme işlemlerini tamamlayın. | İki taraflı kalibrasyon ve eş zamanlı kalınlık ölçümü henüz geliştirilmemiştir. |
| Varyasyon ve Tolerans Analizi | Çıkış kalınlığı/yer değiştirme eğilimleri, tolerans dışı adaylar ve konum veya zamana göre geçersiz veriler ve dinamik görevler aynı zamanda örnekleme bant genişliğini de kontrol eder. | İstatistiksel temel yeniden kullanılabilir; kalınlık işinin geliştirilmesi gerekiyor |
Çıkış içeriği
| sonuç | birim veya form | Kullanım talimatları |
|---|---|---|
| Yer Değiştirme/Kalınlık | mm ve karşılık gelen zaman/konum | Noktanın, kesitin veya yanal dağılımın gerçek kapsamını ayrı ayrı açıklamalayın |
| durum ve referans | Kalibrasyon artıkları, senkronizasyon ve temel durum | Herhangi bir temel önkoşul eksikse etkin kalınlık çıktısı alınmayacaktır. |
| Trend ve tolerans dışı adaylar | Orijinal eğri, eşik ve konum | Proses alarmları ekipman güvenlik kontrollerinin yerini almaz |
Geçerli koşullar ve sınırlar
Uygulanabilir görevler: opak levha kalınlığı, belirlenen nokta yüksekliği/stroku, şaft veya silindir yüzeyi salgısı ve özel olarak doğrulanmış yumuşak/şeffaf malzemeler.
Mevcut lazer düzlemi arayüzü doğrudan nokta ışın mesafe algoritması olarak kullanılamaz. Bir tarafın yüksekliği kalınlığa eşit değildir; şeffaf çoklu katmanların etkili yüzeyi, kaplama kalınlığı ve toplam kalınlığının ayrı ayrı modellenmesi gerekir; kamera yöntemi lazer Doppler titreşim ölçümüne eşdeğer değildir.
Doğrulama esası ve teslimat kapsamı
Işık noktası konumlandırması, çizgi konturları ve kısmi regresyon/belirsizlik temelleri vardır; nokta aralığı, iki taraflı aynı nokta yazışması, raf termal kayması ve ürün kalınlığı ölçüm çekirdeği henüz tam bir doğrulama sistemi oluşturmamıştır.
Öncelikle tek bir malzeme ailesi ve net bir ölçüm aralığı için PoC'yi tamamlayın, ardından mesafe/kalınlık modelini, giriş arayüzünü, kalibrasyon formülünü ve istisna yönetimini geliştirin ve bağımsız bir ölçüm aracı karşılaştırma raporu sunun.
Gereksinim onay bilgileri: Kalınlık/yer değiştirme aralığı, hata gereksinimleri, her iki taraftan erişilebilirlik, malzeme şeffaflığı/pürüzlülüğü, hız, kalibrasyon gerçek değeri ve arayüz verilerini sağlayın.
SSS
İki taraflı kalınlık ölçümü yalnızca iki okumanın çıkarılmasını mı gerektiriyor?
HAYIR. Farklı konumlarda veya arızalı yüzeylerde okumaların eşleştirilmesinden kaçınmak için öncelikle aynı noktanın koordinatlarını, yönünü, taban çizgisini ve senkronizasyon ilişkisini birleştirmek gerekir.
Şeffaf film, metal levha doğrulandıktan sonra doğrudan ölçülebilir mi?
Doğrudan miras alınamaz. Şeffaf çoklu yansıma, kırılma ve etkili yüzey tanımlaması, bağımsız görüntüleme ve büyüklük doğrulaması gerektirir.
Kurumsal proje tanıtımı ve kabulü
- kapsam onayıEle alınması gereken nesneleri, iş istasyonlarını, girişleri, çıkışları, birimleri, arayüzleri ve anormal koşulları netleştirin.
- Örnek doğrulamaBir temel oluşturmak ve neyin işe yaradığını, neyin başarısız olduğunu ve veri boşluklarını kaydetmek için temsili normal ve anormal örnekleri kullanın.
- Geliştirme ortak hata ayıklamaOnaylanan kapsama göre algoritma, kalibrasyon, arayüz ve ekipman adaptasyonunu tamamlayın ve sürümü, parametreleri ve anormal durumu koruyun.
- Öğe kabulüSırasıyla hataları, tespitleri, tempoyu, kararlılığı ve çıktıları doğrulamak için bağımsız örnekleri ve referans değeri yeniden testlerini kullanın.
Geliştirme ve teslimat kapsamını netleştirmek için numuneleri ve ekipman koşullarını gönderin
Lazer noktası yer değiştirmesi ve çift taraflı kalınlık ölçüm algoritmasının geliştirilmesi
Lütfen görev nesnesini, orijinal resim veya videoyu, hedef göstergelerini, cihaz platformunu, arayüzü ve örnek durumu açıklayın.
Telefon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com