การทดสอบความสูงของเอเพ็กซ์บอลบัดกรีระยะพิทช์ขนาดใหญ่

สรุปการตัดสินโครงการ

งานทางธุรกิจและผลลัพธ์ที่ตั้งใจไว้

กลุ่มเป้าหมาย

ตัวอย่างแพ็คเกจลูกประสาน: การสแกนจุดภูมิประเทศสามมิติ

เอาท์พุทหลอก

ความสูงของโดมและอัตราส่วนจุดที่มีประสิทธิภาพ

เงื่อนไขที่บังคับใช้

ข้อจำกัดด้านขนาดและการสะท้อนต้องมีการตรวจสอบด้วยแสงก่อนPoC

ลำดับความสำคัญ

การพัฒนาพิเศษ. แกนการวัด/การควบคุมจำเป็นต้องได้รับการเสริมและตรวจสอบตามการอนุมัติโครงการพิเศษ

อินพุตภาพและการกำหนดเส้นทางอัลกอริทึม

สภาพภาพและอุปกรณ์

กลไกการสแกนด้วยตัวเข้ารหัส รูปทรงของตัวรับส่งสัญญาณเลเซอร์แบบจุด และรูปภาพที่ซิงโครไนซ์ หัวรับเลเซอร์จุดพื้นฐานคงที่และแท่น Z สำหรับการสอบเทียบ

SCAN·การสแกนจุดภูมิประเทศ 3 มิติ

กลไกการสแกนด้วยตัวเข้ารหัส รูปทรงของตัวรับส่งสัญญาณเลเซอร์แบบจุด และรูปภาพที่ซิงโครไนซ์

• A41ชุดจุดสามมิติ ข้อต่อฟิตติ้ง ระนาบมุมฉาก
• A101จุดเลเซอร์จุดศูนย์กลางแบบปรับได้ระดับสีเทาเซนทรอยด์
• A103จุดศูนย์กลางพิกเซลย่อยของพื้นผิวกำลังสองแบบลอการิทึม
• A107การวินิจฉัยคุณภาพจุดเลเซอร์และการใช้งาน
• A111พิกเซลเลเซอร์พอยต์เป็นการแปลงมุมมองของกล้อง

หลักฐานอัลกอริทึมที่มีอยู่:A101–A112 ทำได้เฉพาะจุดการสังเคราะห์เชิงวิเคราะห์และการตรวจสอบเรขาคณิตแบบควบคุมเท่านั้น ดูที่ laser_spot_benchmark.json

ความสามารถและความสามารถในปัจจุบันที่จะเสริม

ช่องว่างในฉากนี้:จำเป็นต้องเพิ่มจุดตัดสามเหลี่ยมจุดใหม่ การสแกนพิกัดฟิวชั่น การสร้างพื้นผิวใหม่ และการประเมินรูปร่างและตำแหน่ง A41 เหมาะกับจุดสามมิติที่มีอยู่เท่านั้น ข้อจำกัดด้านขนาดและการสะท้อนต้องใช้ PoC แบบออปติคอลก่อน การสะท้อนพื้นผิวของเครื่องจริงและช่วงการวัดขนาดเล็กจะกำหนดว่าสามารถรวบรวมจุดที่มีประสิทธิภาพได้หรือไม่

ช่องว่างระดับเส้นทาง:จำเป็นต้องเพิ่มจุดตัดสามเหลี่ยมจุดใหม่ การสแกนพิกัดฟิวชั่น การสร้างพื้นผิวใหม่ และการประเมินรูปร่างและตำแหน่ง A41 เหมาะกับจุดสามมิติที่มีอยู่เท่านั้น

"ต้องใช้คอร์ใหม่" อธิบายเฉพาะปริมาณการพัฒนาที่สัมพันธ์กันเท่านั้น และไม่ถือเป็นความมุ่งมั่นต่อความแม่นยำ จังหวะ ความเสถียร หรือเวลาในการส่งมอบ

วิธีการตรวจสอบและข้อกำหนดเบื้องต้นในการยอมรับ

ใช้ตัวอย่างขั้นตอน/รูปร่างที่ทราบเพื่อทำการทดสอบแบบ Blind Test ด้วย CMM หรือเครื่องโปรไฟล์ เพื่อตรวจสอบพื้นที่ที่ขาดหายไปและระยะห่างของขั้นตอนการสแกน เกจบล็อก เกจวัดความสูงด้วยกล้องจุลทรรศน์ และการเปรียบเทียบตัวอย่างการประกอบอิสระ

แหล่งหลักฐานและขอบเขตการอ้างอิง

แหล่งที่มารองรับหลักการวัดหรือการใช้งานที่คล้ายกัน การรวมโมดูล อุปกรณ์ และวิธีการยอมรับในสถานการณ์นี้เป็นที่มาทางวิศวกรรม และการตรวจสอบผลิตภัณฑ์ยังไม่เสร็จสมบูรณ์

การใช้งานที่เป็นไปได้อื่นๆ สำหรับความสูงของชุดอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์และเซมิคอนดักเตอร์