Ten kierunek rozkłada i wyjaśnia konkretne produkty, zadania pomiarowe, dane wejściowe do obrazowania, trasy algorytmów, proponowane wyniki i metody akceptacji, które można wykorzystać do oceny próbek i warunków systemowych przed ustanowieniem projektów korporacyjnych.
Zakres branży:Płytki półprzewodnikowe i opakowania.
Obejmuje trasy pomiarowe:Oddzielne porównanie układu plamek świetlnych, dwuwymiarowa kalibracja współrzędnych powierzchni sterującej/docelowej, kształt i względny rozkład plamki świetlnej, czas i dryf plamki świetlnej.
Porównanie gołych chipów VCSEL z oddzielnymi punktami
Odłączane punkty i lokalizacje defektów
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Moduł pakietu VCSEL · Dwuwymiarowa kalibracja poleceń/współrzędnych celu
Pozycja sieci i reszta odniesienia
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Komponent pola dalekiego VCSEL · Kształt plamki i rozkład względny
Szerokość strefy i rozkład morfologiczny
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Porównanie matrycy soczewek VCSEL z matrycą oddzielonych punktów
Lista przesunięć rejestracyjnych i wartości odstających
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Moduł impulsowy VCSEL · Punktowy pomiar czasu i dryft
Rundy wyzwalające i dyskretyzacja środkowa
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Moduł projekcji punktowej w bliskiej podczerwieni. Porównanie matrycy oddzielnych punktów świetlnych
Zmiany środka szyku i odstępów między punktami
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Płyta testowa sterownika VCSEL·Oddzielne porównanie matrycy plam świetlnych
Grupa napędów odpowiada widocznemu punktowi
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →Pakiet kolimacyjny VCSEL · Kształt plamki i rozkład względny
Odstępy między punktami, szerokość i stan scalania
Ogólne rozszerzenia:Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Zobacz dane wejściowe, wyniki, luki i metody walidacji →VCSEL i tablica emisyjna: 8 potencjalnych scenariuszy zastosowań algorytmów punktów laserowych i punktów świetlnych
Proszę opisać obiekt zadania, oryginalne zdjęcie lub film, wskaźniki docelowe, platformę urządzenia, interfejs i przykładową sytuację.
Telefon: 13910119357