Pomiary Ophir VCSEL
Kategorie pomiarów tablicy emisyjnej VCSEL i morfologii wiązki
Data weryfikacji: 2026-10-24
Zobacz oryginalne informacje publiczne →LSP027 · VCSEL i tablica emisyjna · Płytki półprzewodnikowe i opakowania
Moduły wielokrotnego użytku
Porównanie stosunku osi plamki każdej strefy emisji
W obliczu komponentu pola dalekiego VCSEL kształt plamki i względny rozkład są wykorzystywane jako trasa obserwacji, a na wyjściu planuje się szerokość przegrody i rozkład kształtu. Strona służy do oceny projektu i nie oznacza, że prace rozwojowe zostały ukończone lub zaakceptowane na miejscu.
Podsumowanie oceny projektu
Produkt/urządzenieKomponenty pola dalekiego VCSEL
Zmierz trasęBM · Kształt plamki i rozkład względny
Ocena umiejętnościModuły wielokrotnego użytku
Stan weryfikacjiRzeczywista akceptacja domeny maszyny/produktu dla tego scenariusza nie została przeprowadzona
Charakter sceny:Podobne potencjalne scenariusze zastosowań plam laserowych. Potencjalny scenariusz zastosowania nie został jeszcze przekształcony w kompletny system produktu; faktyczna akceptacja tego scenariusza w domenie maszyny/produktu nie została przeprowadzona. Rzeczywista ilość akceptacji produktu/domeny produktu w statystykach katalogu wynosi 0.
Zadania biznesowe i zamierzony wynik
- grupa docelowa
- Komponenty pola dalekiego VCSEL: kształt plamki i rozkład względny
- pseudowyjście
- Szerokość strefy i rozkład morfologiczny
- Obowiązujące warunki
- Modele projekcji szerokokątnej wymagają specjalnej kalibracji
- priorytet
- Rozszerzenie ogólne. Weryfikację należy przeprowadzić zgodnie z wymienionymi warunkami optycznymi, kalibracją i próbkami.
Obrazowanie wejścia i routing algorytmu
Warunki obrazowania i urządzenia
Obrazowanie odpowiedzi liniowej, stałe tłumienie i pozyskiwanie tła pozwalają uniknąć nasycenia i obcięcia ROI. Detektor odpowiedzi bliskiej podczerwieni, zsynchronizowane wyzwalanie i oddzielne obrazowanie punktów w polu bliskim i dalekim
BM · Kształt plamki i rozkład względny
Obrazowanie odpowiedzi liniowej, stałe tłumienie i pozyskiwanie tła w celu uniknięcia nasycenia i obcięcia ROI
- A101Adaptacyjny próg punktowy punktu laserowego w skali szarości
- A105Drugi moment plamki laserowej i średnica osi głównej
- A106Plamka laserowa otaczająca średnicę energii
- A107Diagnostyka jakości i użyteczności plamki laserowej
Istniejące dowody algorytmiczne:A101–A112 tylko punkt pełnej syntezy analitycznej i weryfikacja kontrolowanej geometrii; zobacz laser_spot_benchmark.json
Aktualne możliwości i możliwości do uzupełnienia
Moduły wielokrotnego użytku
Istniejące moduły mogą służyć jako hosty
Główną podstawą obliczeń może być istniejące pozycjonowanie punktów świetlnych, diagnostyka jakości lub moduły statystyczne; ROI, kalibracja, próg i weryfikacja interfejsu nadal muszą zostać ukończone przez urządzenie.
Luki w tym scenariuszu:Wymagana skala pikseli, odejmowanie tła i weryfikacja zakresu dynamicznego; Integracja skali szarości to nie waty ani dżule. Modele projekcji szerokokątnej wymagają specjalnej kalibracji. Liczba punktów świetlnych i liczba jednostek emisji fizycznej nie muszą odpowiadać jeden do jednego.
Luki na poziomie trasy:Wymagana skala pikseli, odejmowanie tła i weryfikacja zakresu dynamicznego; integracja skali szarości, a nie waty czy dżule
„Moduły wielokrotnego użytku” opisują jedynie względną wielkość opracowania i nie stanowią zobowiązania co do dokładności, tempa, stabilności ani czasu dostawy.
Metody weryfikacji i warunki akceptacji
Sprawdź środek, szerokość i odcięcie oddzielnie w oparciu o niezależny analizator wiązki lub znany wzór plamki. Kontrola krzyżowa za pomocą mikrografów, niezależnych radiometrów i tablic projektowych
| Przedmioty akceptacji | Dowód wymagany do potwierdzenia projektu | Aktualny stan |
|---|---|---|
| Wejścia i próbki | Oryginalne klatki prawdziwego urządzenia, próbki normalne/nienormalne, warunki ekspozycji i ścieżki światła, grupowanie próbek i odkładanie na bok | Nie podano. Czekam na dane wejściowe projektu |
| Wielkość i błąd | Niezależna wartość odniesienia, zapis kalibracji, kaliber statystyczny błędu i próg wzajemnego potwierdzenia | Nie zweryfikowano |
| Wyjątki i granice | Przewidywane postępowanie w przypadku pominiętych wykryć, fałszywych wykryć, prześwietlenia, okluzji, odbić, utraty pola widzenia i nieprawidłowości w komunikacji | Do zdefiniowania |
| Integracja systemu | Interfejs, synchronizacja czasu, platforma wdrożeniowa, tempo, dziennik, wersja i ciągły zapis działania | Niezintegrowany |
Źródła dowodów i granice cytowań
Źródło obsługuje zasady pomiaru lub podobne zastosowania; kombinacja modułów, urządzenie i metoda akceptacji w tym scenariuszu są wyprowadzeniem inżynieryjnym, a weryfikacja produktu nie została zakończona.
Rozbieżna wiązka szerokokątna Ophir
Warunki obrazowania dla akwizycji dalekiego pola i wiązki szerokokątnej
Data weryfikacji: 2026-10-24
Zobacz oryginalne informacje publiczne →Zakres wykorzystania źródła:Informacje publiczne służą do wspierania zasady pomiaru lub istnienia podobnych aplikacji i nie dowodzą, że ten scenariusz został opracowany, wdrożony lub zaakceptowany przez Jishi Technology.
Konsultacje projektu
xuzhiyang0928@gmail.com
Prześlij próbki i warunki wyposażenia, aby wyjaśnić zakres rozwoju i dostawy
Porównanie stosunku osi plamki każdej strefy emisji
Proszę opisać obiekt zadania, oryginalne zdjęcie lub film, wskaźniki docelowe, platformę urządzenia, interfejs i przykładową sytuację.
Telefon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com