Wenge STM32H743 및 OV9281 광점 포지셔닝 케이스
임베디드 이미지 획득, 적응형 임계값 및 스팟 중심 공개 기능
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →광학 실험 플랫폼을 바라보고 대상 표면의 광점 위치를 관찰 경로로 삼아 중심 오차와 밝기 의존성을 출력할 계획입니다. 이 페이지는 프로젝트 평가를 위한 것이며 개발이 완료되었거나 현장에서 승인되었음을 의미하지 않습니다.
카메라와 대상 표면을 고정하고, 노출과 게인을 기록하고, 시야의 광점과 배경을 덮습니다. 폐쇄형 저전력 티칭 광로, 표준 타겟 및 알려진 모션 테이블
카메라와 대상 표면을 고정하고, 노출과 게인을 기록하고, 시야의 광점과 배경을 덮습니다.
기존 알고리즘 증거:A101-A112는 분석 합성 지점과 제어된 형상 검증만 완료합니다. laser_spot_benchmark.json를 참조하세요.
기존 광점 위치 지정, 품질 진단 또는 통계 모듈을 주요 계산 기반으로 사용할 수 있습니다. ROI, 교정, 임계값 및 인터페이스 검증은 여전히 장치별로 완료되어야 합니다.
이 시나리오의 격차:ROI, 눈금자/평면 교정 및 기준점 정의가 필요합니다. 대상 표면의 2차원 위치만 직접 관찰할 수 있습니다. 기준 중심은 변위 단계에 의해 제공됩니다. 교육 시연 데이터에는 모델, 샘플링 및 단위가 표시되어야 합니다.
경로 수준 격차:ROI, 눈금자/평면 교정 및 기준점 정의가 필요합니다. 대상 표면의 2차원 위치만 직접 관찰할 수 있습니다.
"재사용 가능한 모듈"은 상대적인 개발 규모만을 설명할 뿐 정확성, 속도, 안정성 또는 배송 시간에 대한 약속을 구성하지 않습니다.
2차원 변위 스테이지와 고정 기준점을 사용하여 독립적으로 테스트되었으며 중심 오류 P95, 감지 누락 및 잘못된 감지를 보고했습니다. 분석 합성 이미지와 물리적 벤치의 이중 검증
| 접수항목 | 프로젝트 확인에 필요한 증거 | 현황 |
|---|---|---|
| 입력 및 샘플 | 실제 장치 원본 프레임, 정상/비정상 샘플, 노출 및 광선 경로 조건, 샘플 그룹화 및 따로 보관 | 제공되지 않았습니다. 프로젝트 입력을 기다리는 중입니다. |
| 크기와 오류 | 독립적인 기준값, 교정 기록, 오류 통계 구경 및 상호 확인 임계값 | 확인되지 않음 |
| 예외 및 경계 | 감지 누락, 잘못된 감지, 노출 과다, 가려짐, 반사, 시야 밖 및 통신 이상에 대한 예상 처리 | 정의 예정 |
| 시스템 통합 | 인터페이스, 시간 동기화, 배포 플랫폼, 템포, 로그, 버전 및 연속 실행 기록 | 통합되지 않음 |
소스는 측정 원리 또는 유사한 애플리케이션을 지원합니다. 이 시나리오의 모듈 조합, 장치 및 승인 방법은 엔지니어링 파생이며 제품 검증이 완료되지 않았습니다.
임베디드 이미지 획득, 적응형 임계값 및 스팟 중심 공개 기능
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →광점 위치, 삼각형 거리 측정 및 위치 감지 감지 원리; PSD 하드웨어 성능은 카메라 구현으로 전송되지 않습니다.
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →회절 차수, 각도, 파장 및 격자 주기의 관계
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →소스 크기, 초점 거리 및 발산 각도 간의 관계
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →임계값 중심 대 피크 픽셀 방법
작업 개체, 원본 사진 또는 비디오, 대상 표시기, 장치 플랫폼, 인터페이스 및 샘플 상황을 설명하십시오.
전화: 13910119357