Ophir VCSEL 측정
VCSEL 방출 배열 및 빔 형태 측정 범주
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →LSP032 · VCSEL 및 방출 어레이 · 반도체 웨이퍼 및 패키징
재사용 가능한 모듈
작동 거리 변화에 따른 광점 분리성 검사
VCSEL 시준 패키징의 경우 관측 경로로 점 모양과 상대 분포를 사용하고 점 간격, 너비 및 병합 상태를 출력할 계획입니다. 이 페이지는 프로젝트 평가를 위한 것이며 개발이 완료되었거나 현장에서 승인되었음을 의미하지 않습니다.
프로젝트 판단 요약
제품/기기VCSEL 시준 패키지
경로 측정BM · 반점 형태 및 상대 분포
능력 등급재사용 가능한 모듈
확인 상태이 시나리오의 실제 시스템/제품 도메인 승인은 수행되지 않았습니다.
장면 성격:레이저 스폿에 대한 유사한 잠재적 응용 시나리오. 잠재적인 적용 시나리오는 아직 완전한 제품 시스템으로 개발되지 않았습니다. 이 시나리오의 실제 시스템/제품 도메인 승인은 수행되지 않았습니다. 카탈로그 통계의 실제 제품/제품 도메인 승인 수량은 0입니다.
비즈니스 작업 및 의도된 출력
- 타겟 고객
- VCSEL 콜리메이션 패키지: 스폿 모양 및 상대 분포
- 의사 출력
- 포인트 간격, 너비 및 병합 상태
- 적용 조건
- 비가우시안 광점은 2차 피팅에 강제로 맞춰지지 않습니다.
- 우선순위
- 일반 확장. 나열된 광학 조건, 교정 및 샘플에 따라 검증을 완료해야 합니다.
이미징 입력 및 알고리즘 라우팅
이미징 및 장치 조건
포화 및 ROI 잘림을 방지하기 위한 선형 응답 이미징, 고정 감쇠 및 배경 획득. 근적외선 응답 감지기, 동기화된 트리거링 및 분리 가능한 근거리/원거리 지점 이미징
BM · 반점 형태 및 상대 분포
포화 및 ROI 잘림을 방지하기 위한 선형 응답 이미징, 고정 감쇠 및 배경 획득
- A101적응형 임계값 레이저 포인트 회색조 중심
- A105레이저 스폿 2차 모멘트 및 주축 직경
- A106레이저 스폿 주변 에너지 직경
- A107레이저 스폿 품질 및 사용성 진단
기존 알고리즘 증거:A101-A112는 분석 합성 지점과 제어된 형상 검증만 완료합니다. laser_spot_benchmark.json를 참조하세요.
현재 역량과 보완할 역량
재사용 가능한 모듈
기존 모듈을 호스트로 사용할 수 있습니다.
기존 광점 위치 지정, 품질 진단 또는 통계 모듈을 주요 계산 기반으로 사용할 수 있습니다. ROI, 교정, 임계값 및 인터페이스 검증은 여전히 장치별로 완료되어야 합니다.
이 시나리오의 격차:픽셀 스케일, 배경 빼기 및 동적 범위 확인이 필요합니다. 그레이스케일 통합은 와트나 줄이 아닙니다. 비가우시안 광점은 2차 피팅을 강제로 적용하지 않습니다. 광점 수와 물리적 방출 단위 수는 일대일로 대응할 필요는 없습니다.
경로 수준 격차:픽셀 스케일, 배경 빼기 및 동적 범위 확인이 필요합니다. 와트나 줄이 아닌 그레이스케일 통합
"재사용 가능한 모듈"은 상대적인 개발 규모만을 설명할 뿐 정확성, 속도, 안정성 또는 배송 시간에 대한 약속을 구성하지 않습니다.
확인 방법 및 수락 전제 조건
독립형 빔 분석기 또는 알려진 스폿 패턴과 비교하여 중심, 너비 및 컷오프를 개별적으로 확인합니다. 현미경 사진, 독립 복사계 및 설계 배열을 통한 교차 확인
| 접수항목 | 프로젝트 확인에 필요한 증거 | 현황 |
|---|---|---|
| 입력 및 샘플 | 실제 장치 원본 프레임, 정상/비정상 샘플, 노출 및 광선 경로 조건, 샘플 그룹화 및 따로 보관 | 제공되지 않았습니다. 프로젝트 입력을 기다리는 중입니다. |
| 크기와 오류 | 독립적인 기준값, 교정 기록, 오류 통계 구경 및 상호 확인 임계값 | 확인되지 않음 |
| 예외 및 경계 | 감지 누락, 잘못된 감지, 노출 과다, 가려짐, 반사, 시야 밖 및 통신 이상에 대한 예상 처리 | 정의 예정 |
| 시스템 통합 | 인터페이스, 시간 동기화, 배포 플랫폼, 템포, 로그, 버전 및 연속 실행 기록 | 통합되지 않음 |
증거 출처 및 인용 경계
소스는 측정 원리 또는 유사한 애플리케이션을 지원합니다. 이 시나리오의 모듈 조합, 장치 및 승인 방법은 엔지니어링 파생이며 제품 검증이 완료되지 않았습니다.
Ophir 광각 발산 빔
원거리 획득 및 광각 빔을 위한 이미징 조건
검증일자 : 2026-10-24
원본 공개 정보 보기 →소스 사용 범위:공개 정보는 측정 원리 또는 유사한 응용 프로그램의 존재를 뒷받침하는 데 사용되며 이 시나리오가 Jishi Technology에서 개발, 배포 또는 승인되었음을 증명하지 않습니다.
프로젝트 상담
xuzhiyang0928@gmail.com
개발 및 납품 범위를 명확히 하기 위해 샘플 및 장비 조건을 제출하십시오.
작동 거리 변화에 따른 광점 분리성 검사
작업 개체, 원본 사진 또는 비디오, 대상 표시기, 장치 플랫폼, 인터페이스 및 샘플 상황을 설명하십시오.
전화: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com