LSP031 · VCSEL 및 방출 어레이 · 반도체 웨이퍼 및 패키징
부분적으로 재사용 가능

단체운전시 포인트 채널 확인

VCSEL 드라이브 테스트 보드의 경우 분리 광점 배열 비교가 관찰 경로로 사용되며 의도된 출력 드라이브 그룹은 가시 지점에 해당합니다. 이 페이지는 프로젝트 평가를 위한 것이며 개발이 완료되었거나 현장에서 승인되었음을 의미하지 않습니다.

프로젝트 판단 요약

제품/기기VCSEL 드라이버 테스트 보드
경로 측정ARRAY·별도의 스팟 어레이 비교
능력 등급부분적으로 재사용 가능
확인 상태이 시나리오의 실제 시스템/제품 도메인 승인은 수행되지 않았습니다.
장면 성격:레이저 스폿에 대한 유사한 잠재적 응용 시나리오. 잠재적인 적용 시나리오는 아직 완전한 제품 시스템으로 개발되지 않았습니다. 이 시나리오의 실제 시스템/제품 도메인 승인은 수행되지 않았습니다. 카탈로그 통계의 실제 제품/제품 도메인 승인 수량은 0입니다.

비즈니스 작업 및 의도된 출력

타겟 고객
VCSEL 드라이버 테스트 보드: 분리 광점 배열 비교
의사 출력
드라이브 그룹은 보이는 지점에 해당합니다.
적용 조건
전기적 결함에는 전류 및 전압 증거가 필요합니다.
우선순위
일반 확장. 나열된 광학 조건, 교정 및 샘플에 따라 검증을 완료해야 합니다.

이미징 입력 및 알고리즘 라우팅

이미징 및 장치 조건

분리되고 번호가 매겨진 다중 광점, 고정된 수신 평면 및 시야. 근적외선 응답 감지기, 동기화된 트리거링 및 분리 가능한 근거리/원거리 지점 이미징

ARRAY·별도의 스팟 어레이 비교

분리되고 번호가 매겨진 다중 광점, 고정된 수신 평면 및 시야

  • A102다중 레이저 포인트 연결 도메인 후보 추출
  • A105레이저 스폿 2차 모멘트 및 주축 직경
  • A107레이저 스폿 품질 및 사용성 진단
  • A108다중 레이저 포인트 참조 비트의 일대일 매칭
  • A112레이저 스폿 2차원 반복성 및 적용 범위 타원

기존 알고리즘 증거:A101-A112는 분석 합성 지점과 제어된 형상 검증만 완료합니다. laser_spot_benchmark.json를 참조하세요.

현재 역량과 보완할 역량

부분적으로 재사용 가능

교정, 동기화 또는 통합이 필요합니다.

광점 감지 프런트엔드 또는 타이밍 통계 모듈을 재사용할 수 있지만 프로젝트에 기하학적 교정, 시간 동기화, 동작 보상 또는 장비 시스템 통합을 추가해야 합니다.

이 시나리오의 격차:포인트 시퀀스 번호 매기기, 로컬 ROI, 누화 및 폐색 처리가 필요합니다. A108은 동일한 좌표계에서 거리로만 일치합니다. 전기적 결함에는 전류 및 전압에 대한 증거도 필요합니다. 광점 수와 물리적 방출 단위 수는 일대일로 대응할 필요는 없습니다.

경로 수준 격차:포인트 시퀀스 번호 매기기, 로컬 ROI, 누화 및 폐색 처리가 필요합니다. A108은 동일한 좌표계에서 거리로만 일치합니다.

"부분적으로 재사용 가능"은 상대적인 개발 볼륨만을 설명할 뿐 정확성, 속도, 안정성 또는 전달 시간에 대한 약속을 구성하지 않습니다.

확인 방법 및 수락 전제 조건

알려진 격자 및 인공 결함/중복/스크램블링 데이터를 사용하여 포인트 수, 일치율 및 불일치를 확인합니다. 현미경 사진, 독립 복사계 및 설계 배열을 통한 교차 확인

접수항목프로젝트 확인에 필요한 증거현황
입력 및 샘플실제 장치 원본 프레임, 정상/비정상 샘플, 노출 및 광선 경로 조건, 샘플 그룹화 및 따로 보관제공되지 않았습니다. 프로젝트 입력을 기다리는 중입니다.
크기와 오류독립적인 기준값, 교정 기록, 오류 통계 구경 및 상호 확인 임계값확인되지 않음
예외 및 경계감지 누락, 잘못된 감지, 노출 과다, 가려짐, 반사, 시야 밖 및 통신 이상에 대한 예상 처리정의 예정
시스템 통합인터페이스, 시간 동기화, 배포 플랫폼, 템포, 로그, 버전 및 연속 실행 기록통합되지 않음

증거 출처 및 인용 경계

소스는 측정 원리 또는 유사한 애플리케이션을 지원합니다. 이 시나리오의 모듈 조합, 장치 및 승인 방법은 엔지니어링 파생이며 제품 검증이 완료되지 않았습니다.

LS-S11 · 원공장/과학연구기관/원고논문

Ophir VCSEL 측정

VCSEL 방출 배열 및 빔 형태 측정 범주

검증일자 : 2026-10-24

원본 공개 정보 보기 →
LS-S12 · 원공장/과학연구기관/원고논문

Ophir 광각 발산 빔

원거리 획득 및 광각 빔을 위한 이미징 조건

검증일자 : 2026-10-24

원본 공개 정보 보기 →
소스 사용 범위:공개 정보는 측정 원리 또는 유사한 응용 프로그램의 존재를 뒷받침하는 데 사용되며 이 시나리오가 Jishi Technology에서 개발, 배포 또는 승인되었음을 증명하지 않습니다.
프로젝트 상담

개발 및 납품 범위를 명확히 하기 위해 샘플 및 장비 조건을 제출하십시오.

단체운전시 포인트 채널 확인

작업 개체, 원본 사진 또는 비디오, 대상 표시기, 장치 플랫폼, 인터페이스 및 샘플 상황을 설명하십시오.

전화: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

작성하신 정보는 본 프로젝트에 대한 평가 및 연락용으로만 사용됩니다. 승인되지 않은 개인 정보나 민감한 데이터를 제출하지 마십시오.