Ophir VCSEL 測定
VCSEL 発光アレイとビーム形態測定のカテゴリ
検証日: 2026-10-24
オリジナルの公開情報を見る→LSP025 · VCSEL および発光アレイ · 半導体ウェハおよびパッケージング
部分的に再利用可能
低密度発光点欠落候補のスクリーニング
VCSELベアチップについては、観察ルートとして分離光スポット配列比較を使用し、分離可能点数と欠陥位置を出力する予定です。このページはプロジェクトの評価を目的としたものであり、開発が完了したり現場で承認されたことを意味するものではありません。
プロジェクトの審査概要
製品/デバイスVCSELベアダイ
ルートを測定するARRAY・個別スポットアレイ比較
能力等級分け部分的に再利用可能
検証状況このシナリオの実機/製品ドメインの受け入れは行われていません。
シーンの性質:レーザースポットについても同様の潜在的な応用シナリオが考えられます。潜在的なアプリケーション シナリオはまだ完全な製品システムとして開発されていません。このシナリオの実機/製品ドメインの受け入れは行われていません。カタログ統計における実際の製品/製品ドメインの受け入れ数量は 0 です。
ビジネスタスクと目的の出力
- 対象者
- VCSEL ダイ: 分離光スポット アレイの比較
- 擬似出力
- 脱着箇所と欠陥箇所
- 適用条件
- 高密度アレイには新たな重複点分離が必要
- 優先順位
- 一般拡張。検証は、リストされた光学条件、キャリブレーション、およびサンプルに従って完了する必要があります。
画像入力とアルゴリズムルーティング
撮影と装置の状態
個別で番号付け可能な複数の光スポット、固定受光面と視野。近赤外線応答検出器、同期トリガー、分離可能な近視野/遠視野点イメージング
ARRAY・個別スポットアレイ比較
独立して番号付け可能な複数の光スポット、固定受光面と視野
- A102マルチレーザー点連結領域候補抽出
- A105レーザースポット二次モーメントと主軸径
- A107レーザースポットの品質と使いやすさの診断
- A108マルチレーザーポイント参照ビットの 1 対 1 マッチング
- A112レーザースポットの二次元再現性と適用範囲の楕円
既存のアルゴリズムの証拠:A101 ～ A112 のみが完全な解析合成スポットと制御されたジオメトリの検証を行います。 laser_spot_benchmark.json を参照してください。
現在の機能と追加される機能
部分的に再利用可能
校正、同期、または統合が必要です
光点検出フロントエンドまたはタイミング統計モジュールは再利用できますが、プロジェクトでは幾何学的なキャリブレーション、時間同期、動き補償、または機器システム統合を追加する必要があります。
このシナリオのギャップ:ポイント シーケンスの番号付け、ローカル ROI、クロストーク、オクルージョン処理が必要です。 A108 は、同じ座標系での距離によってのみ一致します。高密度アレイには、新たな重複点分離が必要です。光点の数と物理的発光ユニットの数は 1 対 1 に対応している必要はありません。
ルートレベルのギャップ:ポイント シーケンスの番号付け、ローカル ROI、クロストーク、オクルージョン処理が必要です。 A108 は、同じ座標系内の距離によってのみ一致します。
「部分的に再利用可能」とは、相対的な開発量を説明するだけであり、精度、テンポ、安定性、または配信時間に対するコミットメントを構成するものではありません。
検証方法と承認の前提条件
既知の格子と人為的な欠陥/オーバーラップ/スクランブリング データを使用して、ポイント カウント、一致率、不一致を検証します。顕微鏡写真、独立した放射計、デザインアレイによるクロスチェック
| 受入品目 | プロジェクトの確認に必要な証拠 | 現在の状況 |
|---|---|---|
| 入力とサンプル | 実際のデバイスのオリジナル フレーム、正常/異常サンプル、露出と光路条件、サンプルのグループ化と保存 | 提供されていません。プロジェクトの入力を待っています |
| 大きさと誤差 | 独立した基準値、校正記録、誤差統計校正値および相互確認閾値 | 未検証 |
| 例外と境界 | 見逃し、誤検出、白とび、オクルージョン、反射、視野外、通信異常への想定される対応 | 定義予定 |
| システム統合 | インターフェース、時刻同期、展開プラットフォーム、テンポ、ログ、バージョン、継続的な実行記録 | 統合されていない |
証拠の出典と引用範囲
ソースは測定原理または同様のアプリケーションをサポートします。このシナリオにおけるモジュールの組み合わせ、デバイス、および受け入れ方法は技術的に導出されたものであり、製品検証は完了していません。
Ophir 広角発散ビーム
遠視野取得と広角ビームの撮影条件
検証日: 2026-10-24
オリジナルの公開情報を見る→ソースの使用範囲:公開情報は、測定原理や同様のアプリケーションの存在を裏付けるために使用されており、このシナリオが Jishi Technology によって開発、展開、または受け入れられたことを証明するものではありません。
プロジェクトの相談
xuzhiyang0928@gmail.com
開発および納入範囲を明確にするためにサンプルと装置条件を提出します。
低密度発光点欠落候補のスクリーニング
タスクオブジェクト、元の画像またはビデオ、ターゲットインジケーター、デバイスプラットフォーム、インターフェイス、およびサンプル状況を説明してください。
電話: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com