LSP021 · ファイバー結合とビーム伝送 · ファイバーおよび光通信デバイス
再利用可能なモジュール

制御可能な曲げ前後の発光形状の比較

光ファイバ曲げサンプルに面し、スポット形状と相対分布を観測経路として、ニアフィールド幅と中心の変化を出力する予定です。このページはプロジェクトの評価を目的としたものであり、開発が完了したり現場で承認されたことを意味するものではありません。

プロジェクトの審査概要

製品/デバイス光ファイバー曲げ試験片
ルートを測定するBM・スポット形状と相対分布
能力等級分け再利用可能なモジュール
検証状況このシナリオの実機/製品ドメインの受け入れは行われていません。
シーンの性質:レーザースポットについても同様の潜在的な応用シナリオが考えられます。潜在的なアプリケーション シナリオはまだ完全な製品システムとして開発されていません。このシナリオの実機/製品ドメインの受け入れは行われていません。カタログ統計における実際の製品/製品ドメインの受け入れ数量は 0 です。

ビジネスタスクと目的の出力

対象者
光ファイバー曲げサンプル:スポット形状と相対分布
擬似出力
ニアフィールドの幅と中心の変更
適用条件
曲げ損失は別途パワーメーターで測定する必要があります
優先順位
一般拡張。検証は、リストされた光学条件、キャリブレーション、およびサンプルに従って完了する必要があります。

画像入力とアルゴリズムルーティング

撮影と装置の状態

線形応答イメージング、固定減衰、およびバックグラウンド取得により、飽和と ROI の切り捨てが回避されます。変位を記録するためのニアフィールド/ファーフィールド切り替え光学系とカップリングツール

BM・スポット形状と相対分布

線形応答イメージング、飽和と ROI の切り捨てを回避するための固定減衰およびバックグラウンド取得

  • A101適応閾値レーザーポイントグレースケール重心
  • A105レーザースポット二次モーメントと主軸径
  • A106レーザースポット周囲エネルギー径
  • A107レーザースポットの品質と使いやすさの診断

既存のアルゴリズムの証拠:A101 ~ A112 のみが完全な解析合成スポットと制御されたジオメトリの検証を行います。 laser_spot_benchmark.json を参照してください。

現在の機能と追加される機能

再利用可能なモジュール

既存のモジュールをホストとして使用可能

既存の光点位置決め、品質診断、または統計モジュールを主な計算基礎として使用できます。 ROI、キャリブレーション、しきい値、およびインターフェイスの検証は、デバイスごとに完了する必要があります。

このシナリオのギャップ:ピクセルスケール、背景減算、ダイナミックレンジの検証が必要。グレースケール積分はワットやジュールではありません。曲げ損失は別途パワーメーターで測定する必要があります。近接場の位置と実際の結合効率は個別に定量化されます

ルートレベルのギャップ:ピクセルスケール、背景減算、ダイナミックレンジの検証が必要。ワットやジュールではなくグレースケール統合

「再利用可能なモジュール」は、相対的な開発量を説明するだけであり、精度、テンポ、安定性、または納期を約束するものではありません。

検証方法と承認の前提条件

スタンドアロンのビーム アナライザーまたは既知のスポット パターンに対して、中心、幅、カットオフを個別に検証します。独立したパワーメーターと変位ステージを使用して、対応する結合効率ピークの位置を検証します

受入品目プロジェクトの確認に必要な証拠現在の状況
入力とサンプル実際のデバイスのオリジナル フレーム、正常/異常サンプル、露出と光路条件、サンプルのグループ化と保存提供されていません。プロジェクトの入力を待っています
大きさと誤差独立した基準値、校正記録、誤差統計校正値および相互確認閾値未検証
例外と境界見逃し、誤検出、白とび、オクルージョン、反射、視野外、通信異常への想定される対応定義予定
システム統合インターフェース、時刻同期、展開プラットフォーム、テンポ、ログ、バージョン、継続的な実行記録統合されていない

証拠の出典と引用範囲

ソースは測定原理または同様のアプリケーションをサポートします。このシナリオにおけるモジュールの組み合わせ、デバイス、および受け入れ方法は技術的に導出されたものであり、製品検証は完了していません。

LS-S09・オリジナル工場/科学研究機関/オリジナル論文

Duma ビーム位置と光学調整アプリケーション

ビーム位置、光学セットアップ、スポット形状のアプリケーション カテゴリ

検証日: 2026-10-24

オリジナルの公開情報を見る→
LS-S30・オリジナル工場/科学研究機関/オリジナルペーパー

Ophir 小型ビーム測定

小ビームのニアフィールド、ファーフィールド、およびモードフィールド測定における光学条件

検証日: 2026-10-24

オリジナルの公開情報を見る→
ソースの使用範囲:公開情報は、測定原理や同様のアプリケーションの存在を裏付けるために使用されており、このシナリオが Jishi Technology によって開発、展開、または受け入れられたことを証明するものではありません。
プロジェクトの相談

開発および納入範囲を明確にするためにサンプルと装置条件を提出します。

制御可能な曲げ前後の発光形状の比較

タスクオブジェクト、元の画像またはビデオ、ターゲットインジケーター、デバイスプラットフォーム、インターフェイス、およびサンプル状況を説明してください。

電話: 13910119357
xuzhiyang0928@gmail.com

ご記入いただいた情報は、本プロジェクトの評価およびご連絡のみに使用させていただきます。許可されていない個人情報や機密データを送信しないでください。