Questa direzione suddivide e spiega prodotti specifici, attività di misurazione, input di immagini, percorsi di algoritmi, output proposti e metodi di accettazione, che possono essere utilizzati per valutare campioni e condizioni del sistema prima della creazione di progetti aziendali.
Ambito del settore:MEMS e dispositivi microelettromeccanici.
Implica percorsi di misurazione:Angolo della leva ottica di riflessione, calibrazione delle coordinate bidimensionali della superficie di comando/bersaglio, inversione meccanica della leva ottica, spostamento triangolare del punto laser, forma dello spot e relativa distribuzione.
Riflettore MEMS · Angolo della leva ottica riflettente
Candidati per tensione e angolo di riflessione
Estensioni generali:La verifica deve essere completata in base alle condizioni ottiche, alla calibrazione e ai campioni elencati.
Visualizza input, output, lacune e metodi di convalida →Specchio di scansione MEMS · Calibrazione delle coordinate target/comando 2D
Traiettoria di comando e residuo del punto
Estensioni generali:La verifica deve essere completata in base alle condizioni ottiche, alla calibrazione e ai campioni elencati.
Visualizza input, output, lacune e metodi di convalida →Campione di trave micro-cantilever · Inversione meccanica della leva ottica
Angolo finale rispetto alla curva di carico
Sviluppo speciale:Il nucleo di misurazione/controllo deve essere integrato e verificato in base all'approvazione speciale del progetto
Visualizza input, output, lacune e metodi di convalida →Microdiaframma · Inversione meccanica della leva ottica
La pressione corrisponde allo spostamento del punto di riflessione
Sviluppo speciale:Il nucleo di misurazione/controllo deve essere integrato e verificato in base all'approvazione speciale del progetto
Visualizza input, output, lacune e metodi di convalida →Campione di microrelay · Spostamento triangolare del punto laser
Endpoint dell'azione e restituibilità
Estensioni generali:La verifica deve essere completata in base alle condizioni ottiche, alla calibrazione e ai campioni elencati.
Visualizza input, output, lacune e metodi di convalida →Micropiattaforma piezoelettrica · Calibrazione bidimensionale delle coordinate comando/bersaglio
Mappatura 2D e differenza di backhaul
Estensioni generali:La verifica deve essere completata in base alle condizioni ottiche, alla calibrazione e ai campioni elencati.
Visualizza input, output, lacune e metodi di convalida →Fascio microtorto · Inversione meccanica della leva ottica
Angolo di torsione e anello di caricamento
Sviluppo speciale:Il nucleo di misurazione/controllo deve essere integrato e verificato in base all'approvazione speciale del progetto
Visualizza input, output, lacune e metodi di convalida →Attuatore a microlente · Forma dello spot e relativa distribuzione
Quantità di guida e forma del punto
Estensioni generali:La verifica deve essere completata in base alle condizioni ottiche, alla calibrazione e ai campioni elencati.
Visualizza input, output, lacune e metodi di convalida →MEMS e dispositivi a trave a sbalzo: 8 potenziali scenari applicativi di algoritmi di punto laser e punto luce
Descrivi l'oggetto dell'attività, l'immagine o il video originale, gli indicatori di destinazione, la piattaforma del dispositivo, l'interfaccia e la situazione campione.
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