Prinsip Triangulasi Laser Mikro-Epsilon
Mengirim, menerima pencitraan dan pengukuran jarak setelah kalibrasi
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →LSP079 · Tinggi rakitan elektronik dan semikonduktor · Papan kosong PCB dan rakitan elektronik
Dapat digunakan kembali sebagian
Pengukuran calon ketebalan gasket sebelum dan sesudah pemasangan press
Menghadapi rakitan bantalan termal, pengukuran diferensial kedua sisi/permukaan referensi digunakan sebagai rute observasi, dan ketebalan diferensial dari permukaan referensi dimaksudkan sebagai keluaran. Halaman ini untuk evaluasi proyek dan tidak berarti bahwa pembangunan telah selesai atau telah diterima di lokasi.
Ringkasan Penilaian Proyek
Produk/PerangkatPerakitan bantalan termal
Ukur ruteTEBAL · Pengukuran diferensial permukaan bilateral/referensi
Penilaian KemampuanDapat digunakan kembali sebagian
Status verifikasiPenerimaan domain mesin/produk sebenarnya dari skenario ini belum dilakukan
Adegan alam:Skenario penerapan potensial serupa untuk titik laser. Skenario penerapan potensial belum dikembangkan menjadi sistem produk yang lengkap; penerimaan domain mesin/produk sebenarnya dari skenario ini belum dilakukan. Kuantitas penerimaan produk/domain produk sebenarnya dalam statistik katalog adalah 0.
Tugas bisnis dan keluaran yang diharapkan
- target audiens
- Rakitan Bantalan Termal: Pengukuran Diferensial Permukaan Bilateral/Referensi
- keluaran semu
- Ketebalan diferensial permukaan referensi
- Ketentuan yang berlaku
- Rebound kompresi dan lengkungan media perlu dicatat secara bersamaan
- prioritas
- Ekstensi umum. Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Input pencitraan dan perutean algoritma
Kondisi pencitraan dan perangkat
Kepala perpindahan titik bilateral yang disinkronkan, atau kepala tunggal dengan bidang referensi stabil yang diketahui. Memperbaiki kepala penerima laser titik dasar dan platform Z kalibrasi
TEBAL · Pengukuran diferensial permukaan bilateral/referensi
Kepala perpindahan titik bilateral sinkron, atau kepala tunggal dengan permukaan referensi stabil yang diketahui
- A97Kalibrasi linier kuadrat terkecil tertimbang
- A100Propagasi ketidakpastian sensitivitas orde pertama
- A101Centroid skala abu-abu titik laser ambang batas adaptif
- A103Pusat titik subpiksel permukaan kuadrat logaritmik
- A107Diagnostik kualitas dan kegunaan titik laser
Bukti algoritmik yang ada:A101–A112 hanya menyelesaikan tempat sintesis analitik dan verifikasi geometri terkontrol; lihat laser_spot_benchmark.json
Kemampuan dan kemampuan saat ini yang perlu ditambah
Dapat digunakan kembali sebagian
Memerlukan kalibrasi, sinkronisasi, atau integrasi
Modul front-end deteksi titik cahaya atau statistik waktu dapat digunakan kembali, tetapi proyek masih perlu menambahkan kalibrasi geometris, sinkronisasi waktu, kompensasi gerak, atau integrasi sistem peralatan.
Kesenjangan dalam skenario ini:Diperlukan kalibrasi jarak laser titik, kolinearitas/sinkronisasi, dan model jarak referensi di kedua sisi; tinggi suatu titik tidak langsung sama dengan ketebalannya. Rebound kompresi dan lengkungan media perlu dicatat secara bersamaan. Refleksi permukaan mesin sebenarnya dan rentang pengukuran yang kecil menentukan apakah titik efektif dapat dikumpulkan.
Kesenjangan tingkat rute:Diperlukan kalibrasi jarak laser titik, kolinearitas/sinkronisasi, dan model jarak referensi di kedua sisi; tinggi suatu titik tidak langsung sama dengan ketebalannya
"Dapat digunakan kembali sebagian" hanya menggambarkan volume pengembangan relatif dan bukan merupakan komitmen terhadap akurasi, tempo, stabilitas, atau waktu pengiriman.
Metode verifikasi dan prasyarat penerimaan
Gunakan irisan tebal standar dan sampel melengkung untuk membandingkan, dan ubah sudut kemiringan dan fase gerak untuk memeriksa kesalahan diferensial. Blok pengukur, pengukur ketinggian mikroskopis, dan perbandingan sampel perakitan independen
| Barang penerimaan | Bukti diperlukan untuk konfirmasi proyek | Status saat ini |
|---|---|---|
| Masukan dan sampel | Bingkai asli perangkat nyata, sampel normal/tidak normal, kondisi paparan dan jalur cahaya, pengelompokan sampel dan sisihkan | Tidak disediakan, menunggu masukan proyek |
| Besaran dan Kesalahan | Nilai referensi independen, catatan kalibrasi, kaliber statistik kesalahan, dan ambang batas konfirmasi bersama | Tidak terverifikasi |
| Pengecualian dan batasan | Penanganan yang diantisipasi atas deteksi yang terlewat, deteksi palsu, paparan berlebih, oklusi, refleksi, ketidaknormalan di luar pandangan, dan komunikasi | Untuk didefinisikan |
| Integrasi sistem | Antarmuka, sinkronisasi waktu, platform penerapan, tempo, log, versi, dan catatan berjalan berkelanjutan | Tidak terintegrasi |
Sumber bukti dan batasan kutipan
Sumbernya mendukung prinsip pengukuran atau aplikasi serupa; kombinasi modul, perangkat, dan metode penerimaan dalam skenario ini merupakan derivasi rekayasa, dan verifikasi produk belum selesai.
Aplikasi perpindahan Micro-Epsilon
Kategori pengukuran ketinggian, jarak dan posisi industri
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →Deskripsi Teknologi Pencitraan 3D NIST
Triangulasi titik aktif, geometri pindaian, dan propagasi kesalahan
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →Cakupan penggunaan sumber:Informasi publik digunakan untuk mendukung prinsip pengukuran atau keberadaan aplikasi serupa, dan tidak membuktikan bahwa skenario ini telah dikembangkan, diterapkan, atau diterima oleh Jishi Technology.
Konsultasi proyek
xuzhiyang0928@gmail.com
Kirimkan sampel dan kondisi peralatan untuk memperjelas cakupan pengembangan dan pengiriman
Pengukuran calon ketebalan gasket sebelum dan sesudah pemasangan press
Harap jelaskan objek tugas, gambar atau video asli, indikator target, platform perangkat, antarmuka, dan situasi sampel.
Telepon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com