Prinsip Triangulasi Laser Mikro-Epsilon
Mengirim, menerima pencitraan dan pengukuran jarak setelah kalibrasi
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →LSP077 · Tinggi rakitan elektronik dan semikonduktor · Papan kosong PCB dan rakitan elektronik
Dapat digunakan kembali sebagian
Pemeriksaan konsistensi tinggi pada permukaan penyangga perlengkapan
Menghadapi perlengkapan penanganan wafer, titik perpindahan segitiga laser digunakan sebagai rute pengamatan, dan perbedaan ketinggian titik penyangga dimaksudkan sebagai keluaran. Halaman ini untuk evaluasi proyek dan tidak berarti bahwa pembangunan telah selesai atau telah diterima di lokasi.
Ringkasan Penilaian Proyek
Produk/PerangkatPerlengkapan penanganan wafer
Ukur ruteTRI·Titik perpindahan segitiga laser
Penilaian KemampuanDapat digunakan kembali sebagian
Status verifikasiPenerimaan domain mesin/produk sebenarnya dari skenario ini belum dilakukan
Adegan alam:Skenario penerapan potensial serupa untuk titik laser. Skenario penerapan potensial belum dikembangkan menjadi sistem produk yang lengkap; penerimaan domain mesin/produk sebenarnya dari skenario ini belum dilakukan. Kuantitas penerimaan produk/domain produk sebenarnya dalam statistik katalog adalah 0.
Tugas bisnis dan keluaran yang diharapkan
- target audiens
- Perlengkapan penanganan wafer: perpindahan segitiga laser titik
- keluaran semu
- Perbedaan ketinggian titik dukungan
- Ketentuan yang berlaku
- Inti evaluasi kerataan formal perlu ditambahkan
- prioritas
- Ekstensi umum. Verifikasi perlu diselesaikan sesuai dengan kondisi optik, kalibrasi, dan sampel yang tercantum.
Input pencitraan dan perutean algoritma
Kondisi pencitraan dan perangkat
Dengan memperbaiki sumbu emisi laser dan garis dasar kamera penerima, titik cahaya yang dapat dipisahkan dapat terbentuk pada permukaan target. Memperbaiki kepala penerima laser titik dasar dan platform Z kalibrasi
TRI·Titik perpindahan segitiga laser
Dengan memperbaiki sumbu emisi laser dan garis dasar kamera penerima, permukaan target dapat membentuk titik cahaya yang dapat dipisahkan.
- A97Kalibrasi linier kuadrat terkecil tertimbang
- A100Propagasi ketidakpastian sensitivitas orde pertama
- A101Centroid skala abu-abu titik laser ambang batas adaptif
- A103Pusat titik subpiksel permukaan kuadrat logaritmik
- A107Diagnostik kualitas dan kegunaan titik laser
Bukti algoritmik yang ada:A101–A112 hanya menyelesaikan tempat sintesis analitik dan verifikasi geometri terkontrol; lihat laser_spot_benchmark.json
Kemampuan dan kemampuan saat ini yang perlu ditambah
Dapat digunakan kembali sebagian
Memerlukan kalibrasi, sinkronisasi, atau integrasi
Modul front-end deteksi titik cahaya atau statistik waktu dapat digunakan kembali, tetapi proyek masih perlu menambahkan kalibrasi geometris, sinkronisasi waktu, kompensasi gerak, atau integrasi sistem peralatan.
Kesenjangan dalam skenario ini:Perlu menambahkan titik perpotongan sinar laser atau adaptasi kalibrasi jarak nonlinier satu dimensi; A97 hanya memiliki area linier, dan A21 adalah antarmuka bidang laser. Inti evaluasi kerataan formal perlu ditambahkan. Refleksi permukaan mesin sebenarnya dan rentang pengukuran yang kecil menentukan apakah titik efektif dapat dikumpulkan.
Kesenjangan tingkat rute:Perlu menambahkan titik perpotongan sinar laser atau adaptasi kalibrasi jarak nonlinier satu dimensi; A97 hanya berada di area linier, dan A21 adalah antarmuka bidang laser
"Dapat digunakan kembali sebagian" hanya menggambarkan volume pengembangan relatif dan bukan merupakan komitmen terhadap akurasi, tempo, stabilitas, atau waktu pengiriman.
Metode verifikasi dan prasyarat penerimaan
Gunakan blok pengukur dan tahapan untuk mencakup jangkauan dan kondisi permukaan dan secara independen melaporkan kesalahan fisik, keterulangan, dan efek bintik. Blok pengukur, pengukur ketinggian mikroskopis, dan perbandingan sampel perakitan independen
| Barang penerimaan | Bukti diperlukan untuk konfirmasi proyek | Status saat ini |
|---|---|---|
| Masukan dan sampel | Bingkai asli perangkat nyata, sampel normal/tidak normal, kondisi paparan dan jalur cahaya, pengelompokan sampel dan sisihkan | Tidak disediakan, menunggu masukan proyek |
| Besaran dan Kesalahan | Nilai referensi independen, catatan kalibrasi, kaliber statistik kesalahan, dan ambang batas konfirmasi bersama | Tidak terverifikasi |
| Pengecualian dan batasan | Penanganan yang diantisipasi atas deteksi yang terlewat, deteksi palsu, paparan berlebih, oklusi, refleksi, ketidaknormalan di luar pandangan, dan komunikasi | Untuk didefinisikan |
| Integrasi sistem | Antarmuka, sinkronisasi waktu, platform penerapan, tempo, log, versi, dan catatan berjalan berkelanjutan | Tidak terintegrasi |
Sumber bukti dan batasan kutipan
Sumbernya mendukung prinsip pengukuran atau aplikasi serupa; kombinasi modul, perangkat, dan metode penerimaan dalam skenario ini merupakan derivasi rekayasa, dan verifikasi produk belum selesai.
Aplikasi perpindahan Micro-Epsilon
Kategori pengukuran ketinggian, jarak dan posisi industri
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →Deskripsi Teknologi Pencitraan 3D NIST
Triangulasi titik aktif, geometri pindaian, dan propagasi kesalahan
Tanggal verifikasi: 24-10-2026
Lihat informasi publik asli →Cakupan penggunaan sumber:Informasi publik digunakan untuk mendukung prinsip pengukuran atau keberadaan aplikasi serupa, dan tidak membuktikan bahwa skenario ini telah dikembangkan, diterapkan, atau diterima oleh Jishi Technology.
Konsultasi proyek
xuzhiyang0928@gmail.com
Kirimkan sampel dan kondisi peralatan untuk memperjelas cakupan pengembangan dan pengiriman
Pemeriksaan konsistensi tinggi pada permukaan penyangga perlengkapan
Harap jelaskan objek tugas, gambar atau video asli, indikator target, platform perangkat, antarmuka, dan situasi sampel.
Telepon: 13910119357xuzhiyang0928@gmail.com